專利名稱：電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子元件測試裝置部件，特別是一種電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架。
如

圖1所示，習(xí)知測試插置座20設(shè)置于載有測試電路的測試機板10上，電子元件5系裝載于測試插置座20中。
如圖2所示，習(xí)知的測試插置座20通常由可固定在測試機板10上的基座202及疊合于基座202上的壓控框架201組成，基座202設(shè)有用以安裝測試電子元件5的錫球夾持陣列203。錫球夾持陣列203上包括提供兩交錯設(shè)置為固定腳組及移動腳組的陣列夾腳組。壓控框架201與基座202間設(shè)有相對有數(shù)個由兩者構(gòu)形凹凸組成的下壓沖程間隙204，這些下壓沖程間隙204彼此間的構(gòu)形寬度或有不同，惟其高度則為共同裝置行程1s，此裝置行程1s即為壓控結(jié)構(gòu)201可下壓基座202的距離。
當(dāng)要將電子元件5架設(shè)或插置至測試插置座20的錫球夾持陣列203時，系借由人力或機械臂力，將壓控框架201向基座202方向均勻地彈性下壓兩者間的裝置行程1s，借此移動錫球夾持陣列203上的移動腳組，使移動腳組與固定腳組的各接觸腳間產(chǎn)生預(yù)定的裝置間隙，再將電子元件5由壓控框架201的上方安裝至錫球夾持陣列203上預(yù)定的位置上，并使電子元件5的引腳或錫球適切地落在相對應(yīng)的裝置間隙中；之后，再釋放施加于壓控框架201上的外力，使壓控框架201彈性回復(fù)至與基座202間原保有裝置行程1s距離的位置，此時，錫球夾持陣列203上的移動腳組的接觸腳即回移并縮小其與固定腳組相對應(yīng)接觸腳間的間隙，借此，可使電子元件5的各引腳或錫球穩(wěn)固地限制于各相對應(yīng)的接觸腳間，達成測試前的測試件安裝作業(yè)。
反之，當(dāng)要由測試裝置座20上卸下電子元件5時，只要在壓控框架201上施加外力，使錫球夾持陣列203的移動腳組與固定腳組間產(chǎn)生預(yù)定的位移，即可使電子元件5的引腳或錫球由相對應(yīng)的接觸腳間釋放，此時，再以人工或械臂、自壓控框架201的上方移除電子元件5即可。
顯然借由測試裝置座20的介面效果，乃可使不同封裝厚度及與引腳或錫球數(shù)的電子元件輕易地配合通用的測試電路試驗。
然而，在習(xí)知的測試裝置座20的實際運用中，‘試驗中需避免任何外力觸及壓控框架201’乃為成功試驗必要的條件。如圖3所示，咎此條件形成的原因，乃是在任何外力觸及下，皆可能會使壓控框架201與基座202間的間距，亦即下壓沖程間隙204的高度瞬間小于裝置行程1s，在此情形下，將會使錫球夾持陣列203上的移動腳組2032與固定腳組2031間產(chǎn)生瞬間位移，以致電子元件5由錫球夾持陣列203上彈起并產(chǎn)生些微的偏移，此時，電子元件5即可能由正確的位置轉(zhuǎn)移至如虛線所示的電子元件5’和錯誤的位置上，且錫球51亦脫離原預(yù)定的接觸腳間；而此些許轉(zhuǎn)移量顯然會對進行的試驗造成負(fù)面效果，且通常不會立即為測試人員所察覺，以致產(chǎn)生錯誤的試驗結(jié)果而不自知。
同前所述，‘試驗中需避免任何外力觸及壓控框架201’的要求或可在提高試驗進行時的警覺性下達成；惟，會影響至壓控框架201與基座202間相對關(guān)系的外力，除可預(yù)防的人力碰觸外，尚可能為鄰近機臺震動、相關(guān)設(shè)備的連帶觸動影響或甚至是地震等無法預(yù)期的因素，因此，借由提高警覺性的預(yù)防顯然是無法符合百分百的效果，而試驗的非預(yù)期誤失乃成為此測試插置座設(shè)備潛在的隱憂。
本發(fā)明的目的是提供一種確實維持裝置行程、穩(wěn)固測試插座上電子元件的設(shè)置、避免錯誤測試結(jié)果的電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架。
本發(fā)明包括疊置于基座上并與基座間形成數(shù)個以凹凸可嵌合構(gòu)形下壓沖程間隙的壓控框架及至少一構(gòu)建壓控框架上并鄰近至少一下壓沖程間隙的卡栓機構(gòu)；卡栓機構(gòu)包括鎖穴、滑動槽及借由鎖穴與滑動槽移動的突鎖塊；鎖穴系呈開放內(nèi)鑿的方式設(shè)置于壓控框架中，并與壓控框架的外緣面形成間隔壁，并形成面對下壓沖程間隙的槽口；滑動槽系以滑向下壓沖程間隙的方式貫穿設(shè)于間隔壁上，并連接鎖穴與壓控框架的外緣面；突鎖塊為與鎖穴及滑動槽配合形成用以突入下壓沖程間隙的塊體，其包括設(shè)置于壓控框架外以作為卡栓機構(gòu)輸入端的主動部、設(shè)置于鎖穴中的突鎖部及連接主動部與突鎖部并滑動位于滑動槽內(nèi)的滑動部；滑動部與滑動槽構(gòu)成使卡栓機構(gòu)處于收藏狀態(tài)/限位狀態(tài)的滑動副。
其中卡栓機構(gòu)滑動槽遠離相鄰下壓沖程間隙的一端延伸設(shè)有尾切槽。
卡栓機構(gòu)的滑動槽系為藕結(jié)式切槽。
壓控框架的外緣面上設(shè)有與滑動槽平行設(shè)借用以限制主動部于平行滑動槽方向上位移的的限位突起。
卡栓機構(gòu)突鎖塊的滑動部系為借用以限制主動部于平行滑動槽方向上位移的兩分別設(shè)立的短柱體。
由于本發(fā)明包括與基座形成數(shù)個下壓沖程間隙的壓控框架及至少一構(gòu)建壓控框架上并鄰近至少一下壓沖程間隙的卡栓機構(gòu)；卡栓機構(gòu)包括鎖穴、滑動槽及借由鎖穴與滑動槽移動的突鎖塊；鎖穴系呈開放內(nèi)鑿的方式設(shè)置于壓控框架中，并與壓控框架的外緣面形成間隔壁，并形成面對下壓沖程間隙的槽口；滑動槽系以滑向下壓沖程間隙的方式貫穿設(shè)于間隔壁上，并連接鎖穴與壓控框架的外緣面；突鎖塊為與鎖穴及滑動槽配合形成用以突入下壓沖程間隙的塊體，其包括設(shè)置于壓控框架外以作為卡栓機構(gòu)輸入端的主動部、設(shè)置于鎖穴中的突鎖部及連接主動部與突鎖部并滑動位于滑動槽內(nèi)的滑動部；滑動部與滑動槽構(gòu)成使卡栓機構(gòu)處于收藏狀態(tài)/限位狀態(tài)的滑動副。當(dāng)欲將突鎖部系內(nèi)縮于鎖穴內(nèi)的處于收藏狀態(tài)的卡栓機構(gòu)轉(zhuǎn)換成限位狀態(tài)時，系利用外力將主動部向相鄰的下壓沖程間隙推移預(yù)定距離，即可將突鎖部的前端由鎖穴的槽口突出進入至下壓沖程間隙中，并與下壓沖程間隙下方的基座的上緣面形成幾何卡制的限位關(guān)系，借此，即可防止壓控框架向基座方向的任何下壓進給，即令卡栓機構(gòu)處于限位狀態(tài)中。當(dāng)欲處于限位狀態(tài)的卡栓機構(gòu)轉(zhuǎn)換成收藏狀態(tài)時，系利用相反方向的外力將主動部向遠離相鄰的下壓沖程間隙推移預(yù)定距離，以使突鎖塊的突鎖部的前端縮回至鎖穴中，此時，卡栓機構(gòu)即可轉(zhuǎn)換至原收藏狀態(tài)，同時，因限位關(guān)系的解除，可使壓控框架回復(fù)其可向基座下壓進給的功能。即本發(fā)明借由卡栓機構(gòu)提供的限位關(guān)系，可選擇性維持基座與壓控框架間的距離在固定的裝置行程上，借此于測試插置座上形成穩(wěn)固的結(jié)構(gòu)化關(guān)系，有效確保電子元件于測試插置座上的設(shè)置。不僅確實維持裝置行程，而且穩(wěn)固測試插座上電子元件的設(shè)置、避免錯誤測試結(jié)果，從而達到本發(fā)明的目的。
圖2、為習(xí)知的電子元件測試插置座結(jié)構(gòu)示意立體圖。
圖3、為習(xí)知的插置電子元件后的電子元件測試插置座結(jié)構(gòu)示意側(cè)視圖。
圖4、為組設(shè)本發(fā)明的電子元件測試插置座結(jié)構(gòu)示意立體圖。
圖5、為圖4中A3部局部放大圖。
圖6、為圖4中A3部局部放大分解結(jié)構(gòu)示意立體圖。
圖7、為圖4中A3部局部放大分解結(jié)構(gòu)示意立體圖(滑動部為兩分別設(shè)立的短柱體)。
如圖4所示，本發(fā)明系設(shè)置于電子元件測試插置座20上。電子元件測試插置座20包括基座202及疊置于基座202上的壓控框架201，壓控框架201與基座202間包括數(shù)個以凹凸可嵌合構(gòu)形的下壓沖程間隙204，每一下壓沖程間隙204雖可有不同的寬度、但具有相同為用以提供壓控框架201下壓基座202的進給行程裝置行程1s的高度；本發(fā)明即是利用阻塞其中至少一下壓沖程間隙204的方式，避免基座202與壓控框架201間的任何進給位移，借此以防止錫球夾持陣列203中固定腳組與移動腳組間的任何可能偏移，確保電子元件于測試插置座20中的定位。
本發(fā)明包括壓控制框架201及至少一構(gòu)建于壓控制框架201上并鄰近至少一下壓沖程間隙204側(cè)邊上的卡栓機構(gòu)7。卡栓機構(gòu)7系用以形成壓控框架201與基座202間限位關(guān)系。
在壓控框架201與基座202間系具有數(shù)個可用以構(gòu)建卡栓機構(gòu)7的區(qū)域A1、A2、A3、An，如圖4所示，其中只要于區(qū)域A3上構(gòu)建有卡栓機構(gòu)7，即可有效提供測試插置座20上基座202與壓控框架201間的結(jié)構(gòu)固定化選擇。
如圖5、圖6所示，卡栓機構(gòu)7系設(shè)于鄰近下壓沖程間隙204的壓控框架201上?？ㄋC構(gòu)7包括鎖穴72、滑動槽73及借由鎖穴72與滑動槽73移動的突鎖塊71。
鎖穴72系呈開放內(nèi)鑿的方式設(shè)置于壓控框架201中，并使鎖穴72與壓控框架201的外緣面2011間隔具一定厚薄度的間隔壁2012，其于面對相鄰下壓沖程間隙204處形成有供突鎖塊71部分突出至下壓沖程間隙204中的槽口721。
滑動槽73系以滑向相鄰下壓沖程間隙204的方式貫穿設(shè)于間隔壁2012上，其可連接鎖穴72與壓控框架201的外緣面2011，并形成突鎖塊71相對壓控框架201或下壓沖程間隙204間位移的滑軌；滑動槽7 3系以藕結(jié)式切槽成形，借此，可與突鎖塊71自然配合形成具有數(shù)個穩(wěn)定位置的滑動配合副；在滑動槽73遠離相鄰下壓沖程間隙204的一端延伸設(shè)有尾切槽731，借由尾切槽731所形成的幾何關(guān)系，可更有效增進滑動槽73下方之間隔壁2012材料于壓控框架201上所形成的彈性懸臂梁效果。
突鎖塊71為與鎖穴72與滑動槽73配合形成用以突入相鄰下壓沖程間隙204的塊體，其包括主動部711、突鎖部712及連接主動部711與突鎖部712的滑動部713。
于裝置組合時，主動部711系裝設(shè)貼置于壓控框架201的外緣面2011上，借以作為卡栓機構(gòu)7的推移操作的輸入端；突鎖部712于裝置時系設(shè)置于鎖穴72中；滑動部713位于滑動槽73內(nèi)，借以將突鎖塊71跨騎于滑動槽73上，并與滑動槽73配合形成為可向相鄰下壓沖程間隙204進給移動的滑動副，在如圖所示的實施例中，滑動部713系以短柱體成形。
本發(fā)明裝置于壓控框架201上的卡栓機構(gòu)7系具有如圖5中實線部分所示的收藏狀態(tài)及如圖5中虛線部分所示的限位狀態(tài)。
當(dāng)卡栓機構(gòu)7處于收藏狀態(tài)時，其突鎖部712系內(nèi)縮于鎖穴72內(nèi)。
當(dāng)欲使卡栓機構(gòu)7處于限位狀態(tài)時，系利用施力方向為1F的外力將主動部711向相鄰的下壓沖程間隙204推移預(yù)定距離，即可將突鎖部712的前端7121由鎖穴72的槽口721突出進入至下壓沖程間隙204中，并與下壓沖程間隙204下方的基座202的上緣面2021形成幾何卡制的限位關(guān)系，借此，即可防止壓控框架201向基座202方向的任何下壓進給，即令卡栓機構(gòu)7處于限位狀態(tài)中。
相反地，當(dāng)卡栓機構(gòu)7處于限位狀態(tài)時，系利用施力方向為與1F方向相反的外力將主動部711向遠離相鄰的下壓沖程間隙204推移預(yù)定距離，以使突鎖塊71的突鎖部712的前端7121縮回至鎖穴72中，此時，卡栓機構(gòu)7即可轉(zhuǎn)換至原收藏狀態(tài)，同時，因限位關(guān)系的解除，可使壓控框架201回復(fù)其可向基座202下壓進給的功能。
如圖5、圖6所示，壓控框架201的外緣面2011上設(shè)有與滑動槽73平行設(shè)置的限位突起74，用以配合突鎖塊71的主動部711，使其推移滑動的操作限制于平行滑動槽73的方向上。
如圖7所示，突鎖塊71的滑動部713系兩分別設(shè)立的短柱體，借此與滑動槽73的耦合構(gòu)形配合，而因分別設(shè)立的短柱體的構(gòu)形，而無須設(shè)置限位突起74。
綜上所述，本發(fā)明借由卡栓機構(gòu)7提供的限位關(guān)系，可選擇性維持基座202與壓控框架201間的距離在固定的裝置行程1s上，借此于測試插置座20上形成穩(wěn)固的結(jié)構(gòu)化關(guān)系，有效確保電子元件于測試插置座20上的設(shè)置。
權(quán)利要求
1.一種電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架，它包括疊置于基座上并與基座間形成數(shù)個以凹凸可嵌合構(gòu)形下壓沖程間隙的壓控框架；其特征在于所述的壓控框架上構(gòu)建至少一鄰近至少一下壓沖程間隙的卡栓機構(gòu)；卡栓機構(gòu)包括鎖穴、滑動槽及借由鎖穴與滑動槽移動的突鎖塊；鎖穴系呈開放內(nèi)鑿的方式設(shè)置于壓控框架中，并與壓控框架的外緣面形成間隔壁，并形成面對下壓沖程間隙的槽口；滑動槽系以滑向下壓沖程間隙的方式貫穿設(shè)于間隔壁上，并連接鎖穴與壓控框架的外緣面；突鎖塊為與鎖穴及滑動槽配合形成用以突入下壓沖程間隙的塊體，其包括設(shè)置于壓控框架外以作為卡栓機構(gòu)輸入端的主動部、設(shè)置于鎖穴中的突鎖部及連接主動部與突鎖部并滑動位于滑動槽內(nèi)的滑動部；滑動部與滑動槽構(gòu)成使卡栓機構(gòu)處于收藏狀態(tài)/限位狀態(tài)的滑動副。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架，其特征在于所述的卡栓機構(gòu)滑動槽遠離相鄰下壓沖程間隙的一端延伸設(shè)有尾切槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架，其特征在于所述的卡栓機構(gòu)的滑動槽系為藕結(jié)式切槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架，其特征在于所述的壓控框架的外緣面上設(shè)有與滑動槽平行設(shè)借用以限制主動部于平行滑動槽方向上位移的的限位突起。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架，其特征在于所述的卡栓機構(gòu)突鎖塊的滑動部系為借用以限制主動部于平行滑動槽方向上位移的兩分別設(shè)立的短柱體。
全文摘要
一種電子元件測試插置座的可固鎖式壓控框架。為提供一種確實維持裝置行程、穩(wěn)固測試插座上電子元件的設(shè)置、避免錯誤測試結(jié)果的電子元件測試裝置部件，提出本發(fā)明，它包括壓控框架及至少一構(gòu)建壓控框架上的卡栓機構(gòu)；卡栓機構(gòu)包括設(shè)置于壓控框架中的鎖穴、滑動槽及突鎖塊；鎖穴與壓控框架的外緣面形成間隔壁，并形成面對下壓沖程間隙的槽口；滑動槽貫設(shè)于間隔壁上，并連接鎖穴與壓控框架的外緣面；突鎖塊為突入下壓沖程間隙的塊體，其包括設(shè)置于壓控框架外以作為卡栓機構(gòu)輸入端的主動部、設(shè)置于鎖穴中的突鎖部及連接主動部與突鎖部并滑動位于滑動槽內(nèi)的滑動部；滑動部與滑動槽構(gòu)成使卡栓機構(gòu)處于收藏狀態(tài)/限位狀態(tài)的滑動副。
文檔編號G01R31/00GK1479105SQ0314599
公開日2004年3月3日 申請日期2003年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月18日
發(fā)明者王德弘 申請人:威盛電子股份有限公司