專利名稱：有機(jī)發(fā)光顯示器像素測試方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明提供一種測試方法及裝置，在植入(implantation)有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一有機(jī)發(fā)光顯示器的像素的驅(qū)動電路。
背景技術(shù)：
隨著科技的進(jìn)步，屏幕顯示技術(shù)也跟著日新月異。繼發(fā)光二極管(LED)顯示技術(shù)之后，市面上出現(xiàn)了一種全新的平面顯示技術(shù)，這種新技術(shù)稱為有機(jī)發(fā)光二極管(organic light emitting diode)顯示技術(shù)。有機(jī)發(fā)光二極管需要一個驅(qū)動電路來驅(qū)動。以有機(jī)發(fā)光顯示技術(shù)(organic light emittingdisplay，簡稱OLED)為例，驅(qū)動電路產(chǎn)生一電流以驅(qū)動有機(jī)發(fā)光二極管發(fā)光，發(fā)的光可為紅、綠、藍(lán)等單色，甚至可以達(dá)到全彩的效果。有機(jī)發(fā)光二極管不僅可以卷起來帶著走，還完全沒有視角問題。同時壽命長達(dá)數(shù)千小時，而且耗電量非常低。由于有機(jī)發(fā)光二極管有上述的優(yōu)點，因此極有可能取代傳統(tǒng)的發(fā)光二極管，成為下一代顯示技術(shù)的主流。
利用有機(jī)發(fā)光二極管制作顯示器時，每一個像素(pixel)需要一個有機(jī)發(fā)光二極管，也就是每一個像素需要一個驅(qū)動電路。因此一個顯示器會有數(shù)以萬計甚至百萬計的驅(qū)動電路。如何有效地測試這些驅(qū)動電路便是一個很大工程。圖1為目前較常使用的驅(qū)動電路。如圖1所示，現(xiàn)有測試驅(qū)動電路的方法是在植入有機(jī)發(fā)光二極管D1后，由寫入掃描線WSL各別啟動單一驅(qū)動電路，再由數(shù)據(jù)線DL輸入一電壓電平。此電壓電平經(jīng)由此驅(qū)動電路轉(zhuǎn)換為電流信號I，此電流信號I驅(qū)動有機(jī)發(fā)光二極管D1而使其發(fā)光。測試人員便依據(jù)輸入的電壓電平，目測有機(jī)發(fā)光二極管D1的發(fā)光亮度是否正常，來判斷此驅(qū)動電路可否正常工作。此現(xiàn)有方法會因測試人員主觀認(rèn)定的差異，造成測試結(jié)果不精確。更嚴(yán)重的問題是，若某一個驅(qū)動電路無法正常工作，連帶使植入在該驅(qū)動電路的有機(jī)發(fā)光二極管D1也跟著報廢，無法回收，而導(dǎo)致成本的提高。因此，便需要一種測試方法，可在植入有機(jī)發(fā)光二極管D1之前，有效并準(zhǔn)確地測試每一個驅(qū)動電路。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種方法及裝置，在植入有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一有機(jī)發(fā)光顯示器像素上的驅(qū)動電路。有機(jī)發(fā)光顯示器包含一寫入掃描線、一數(shù)據(jù)線、一電源線及一數(shù)組基板(array glass)，驅(qū)動電路包含一第一晶體管、一第二晶體管及一第一電容。
本發(fā)明所提供的測試方法如下重復(fù)以下步驟，直到所有的驅(qū)動電路的測試信號都已提取完畢為止。經(jīng)由寫入掃描線，選擇下一個要測試的一驅(qū)動電路。經(jīng)由第一晶體管，對第一電容充放電，并從數(shù)據(jù)線提取一第一信號。放置一金屬平板于數(shù)組基板上方，使得金屬平板與數(shù)組基板形成一第二電容。經(jīng)由第二晶體管，對第二電容充放電，并從電源線提取一第二信號。
在儲存所有第一及第二信號后，分別就第一及第二信號求得一平均值，根據(jù)此一平均值，分析所提取到的第一及第二信號是否在正常范圍內(nèi)，由此判斷該驅(qū)動電路可否正常工作。
本發(fā)明所提供的測試裝置包含像素選擇器(pixel selection device)、信號提取器(signal extractor)及信號分析器(signal analyzer)。像素選擇器輸入一信號，以選擇要測試的驅(qū)動電路。信號提取器用來提取第一及第二信號。信號分析器與信號提取器相連接，用來儲存并分析所提取到的第一及第二信號，以判斷此驅(qū)動電路可否正常工作。


圖1為現(xiàn)有測試OLED像素的電路圖；圖2為利用本發(fā)明的方法提取第一信號的電路圖；圖3為本發(fā)明測試方法的流程圖；圖4為利用本發(fā)明的方法提取第二信號的電路圖；圖5為本發(fā)明測試裝置提取第一信號的示意圖；圖6為本發(fā)明測試裝置提取第二信號的示意圖。
具體實施例方式
首先說明本發(fā)明中的附圖標(biāo)記1有機(jī)發(fā)光顯示器，3第一接頭，5第二接頭，7第三接頭，9金屬平板，11驅(qū)動電路，13輸入襯墊，15信號，17第一信號，19第二信號，21像素選擇器，23信號提取器，25信號分析器，31連接器。
本發(fā)明提供一種在植入有機(jī)發(fā)光二極管之前，測試一有機(jī)發(fā)光顯示器像素上的驅(qū)動電路的方法。假設(shè)此有機(jī)發(fā)光顯示器具有多個驅(qū)動電路，用來驅(qū)動多個有機(jī)發(fā)光二極管，還包含一寫入掃描線、一數(shù)據(jù)線、一電源線及一數(shù)組基板。寫入掃描線可傳輸一信號給每一個驅(qū)動電路，用來啟動(enable)或停止(disable)某一特定驅(qū)動電路。數(shù)據(jù)線可傳送另一信號至該特定驅(qū)動電路，在植入有機(jī)發(fā)光二極管后，用來驅(qū)動有機(jī)發(fā)光二極管發(fā)光。電源線在植入有機(jī)發(fā)光二極管后，用來供給驅(qū)動電路電源。數(shù)組基板是一半導(dǎo)體材質(zhì)的平板，用來將驅(qū)動電路制作在它的上面。
圖2是一常用的驅(qū)動電路(尚未植入有機(jī)發(fā)光二極管)。如圖2所示，驅(qū)動電路包含一第一晶體管M1、一第二晶體管M2及一第一電容C1。第一晶體管M1及第二晶體管M2各包含一源極(source)S、一柵極(gate)G及一漏極(drain)D。第一電容C1包含一第一端n1及一第二端n2。其中，第一晶體管M1的源極S(或漏極)連接到有機(jī)發(fā)光顯示器的數(shù)據(jù)線DL，第一晶體管M1的柵極G連接到有機(jī)發(fā)光顯示器的寫入掃描線WSL，第一電容C1的第一端n1與有機(jī)發(fā)光顯示器的電源線POWER連接到第二晶體管M2的源極S(或漏極)，第一電容C1的第二端n2連接到第二晶體管M2的柵極G，第二晶體管M2的漏極D(或源極)連接到有機(jī)發(fā)光顯示器的數(shù)組基板，在植入有機(jī)發(fā)光二極管之后，則連接至有機(jī)發(fā)光二極管。
本發(fā)明所提供的測試方法如圖3所示。在執(zhí)行步驟301時，檢查是否所有驅(qū)動電路的測試信號都已提取完畢。若否，則執(zhí)行步驟303，輸入一電壓電平至寫入掃描線WSL，以選擇(啟動)下一個要測試的驅(qū)動電路。以圖2的驅(qū)動電路為例，由于第一晶體管M1為一P通道薄膜晶體管(P-channel TFT)。因此在執(zhí)行步驟303時，寫入掃描線WSL會傳送一低電平電壓至第一晶體管M1的柵極G，使第一晶體管M1導(dǎo)通。在執(zhí)行步驟305時，如圖2中虛線箭頭所示，對第一電容C1進(jìn)行充放電，并從數(shù)據(jù)線DL提取來自第一電容C1放電所產(chǎn)生的第一信號。
要對第一電容C1進(jìn)行充電時，數(shù)據(jù)線DL提供高電壓，使得電源線POWER上的電壓相對而言為低電壓，以形成電子回路(數(shù)據(jù)線DL->第一晶體管M1->第一電容C1->電源線POWER)。由于在步驟303時第一晶體管M1已導(dǎo)通，所以會有一電流經(jīng)由第一晶體管M1，對第一電容C1充電。在一段適當(dāng)時間使第一電容C1完全充電后，數(shù)據(jù)線DL上的電壓降至低電壓，使得電源線POWER上的電壓相對而言為高電壓，因此，又形成另一電子回路(電源線POWER->第一電容C1->第一晶體管M1->數(shù)據(jù)線DL)，第一電容C1便經(jīng)由第一晶體管M1對數(shù)據(jù)線DL放電。在放電的過程中，自數(shù)據(jù)線DL上提取來自第一電容C1放電所產(chǎn)生的第一信號。
在執(zhí)行步驟307時，于數(shù)組基板上方，放置一金屬平板，并將此金屬平板連接到接地端。此一安排可使數(shù)組基板與金屬平板形成一個平行板電容。如圖4所示，圖中的第二電容C2即為此一步驟所產(chǎn)生的平行板電容。在執(zhí)行步驟309時，如圖4中虛線箭頭所示，經(jīng)由第二晶體管M2，對第二電容C2充放電，并自電源線POWER提取來自第二電容C2放電所產(chǎn)生的第二信號。
要對第二電容C2充電時，電源線POWER提供一高電壓，以形成電子回路(電源線POWER->第二晶體管M2->第二電容C2->接地端)。因此，電流會經(jīng)由第二晶體管M2，對第二電容C2充電。在一段適當(dāng)時間使第二電容C2完全充電后，電源線POWER上的電壓降至一低電壓，使得接地端相對而言為一高電壓。此時又形成另一電子回路(接地端->第二電容C2->第二晶體管M2->電源線POWER)，第二電容C2便經(jīng)由第二晶體管M2對電源線POWER放電。在放電的過程中，自電源線POWER上提取來自第二電容C2放電所產(chǎn)生的第二信號。
執(zhí)行完步驟309后，便回到步驟301，重復(fù)上述的流程，對所有驅(qū)動電路提取其第一及第二信號，之后執(zhí)行步驟311。在執(zhí)行步驟311時，對所有第一及第二信號做分析，以判斷驅(qū)動電路可否正常工作。
第一信號與第二信號可以是電荷值、電壓值或電流值。在此一實施例中，以電荷值做為參考來判斷驅(qū)動電路的功能是否正常。首先，將所有第一及第二信號分別取平均值，再與每一個第一及第二信號做比較。若某一第一信號的電荷值位于平均值約0.25至1.75倍的范圍內(nèi)，則視其驅(qū)動電路內(nèi)的第一晶體管M1與第一電容C1可正常工作。例如第一信號平均值為5pC，其正常范圍應(yīng)落在1.25pC與8.75pC之間，因此，若有一驅(qū)動電路所提取到的第一信號為3pC，則此驅(qū)動電路中的第一晶體管M1與第一電容C1可正常工作。同理，若某一第二信號的電荷值位于平均值約0.25至1.75倍的范圍內(nèi)，則視其驅(qū)動電路內(nèi)的第二晶體管M2可正常工作。
以本發(fā)明的測試方法來測試OLED的驅(qū)動電路，可精確并有效地完成整個測試流程。不會因為測試人員主觀的不同，而產(chǎn)生測試結(jié)果因人而異的缺點。
雖然OLED的驅(qū)動電路有許多不同的結(jié)構(gòu)，但要驅(qū)動有機(jī)發(fā)光二極管，圖2中的第一晶體管M1、第二晶體管M2及第一電容C1為必備，也是最重要的組件。若此三個組件可正常工作，便可確保該驅(qū)動電路的功能正常。因此，本發(fā)明的測試方法不僅適用于圖2所示的驅(qū)動電路，也可適用于其它類似的驅(qū)動電路。
本發(fā)明同時公開一種裝置，用來執(zhí)行上述的測試方法。圖5為利用本發(fā)明的方法提取第一信號時的裝置示意圖。如圖5所示，有機(jī)發(fā)光顯示器1具有一輸入襯墊(input panel)13，圖2中的數(shù)據(jù)線DL、寫入掃描線WSL及電源線POWER皆連接至輸入襯墊13，并經(jīng)由連接器31上的第一接頭3、第二接頭5及第三接頭7供輸入及輸出信號。此裝置包含一像素選擇器21、一信號提取器23及一信號分析器25。像素選擇器21透過第一接頭3與有機(jī)發(fā)光顯示器1的寫入掃描線WSL相連接，在步驟303時，用來輸入一信號15，以選擇要測試的驅(qū)動電路11。信號提取器23經(jīng)第三接頭7與有機(jī)發(fā)光顯示器1的數(shù)據(jù)線DL相連接，在步驟305時，提供一高電壓對第一電容C1充電，并在第一電容C1放電時，提取第一信號17。信號分析器25與信號提取器23相連接，用來儲存所有提取到的第一信號17，在步驟311時，分析并判斷第一晶體管M1及第一電容C1可否正常工作。第二接頭5與有機(jī)發(fā)光顯示器1的電源線POWER相連接，為了測試方便，將其連接至接地端。
圖6為利用本發(fā)明的方法提取第二信號時的裝置示意圖。如圖6所示，一金屬平板9放置于數(shù)組基板上方，以形成圖4中的第二電容C2。信號提取器23經(jīng)第二接頭5與有機(jī)發(fā)光顯示器1的電源線POWER相連接，在步驟309時，提供一高電壓對第二電容C2充電，并在第二電容C2放電時，提取第二信號19。信號分析器25與信號提取器23相連接，用來儲存所有提取到的第二信號19，在步驟311時，分析并判斷第二晶體管M2可否正常工作。
以上的敘述僅為說明本發(fā)明的精神，不應(yīng)以此做為限制。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可對本發(fā)明做適當(dāng)?shù)淖兓?br> 權(quán)利要求
1.一種植入有機(jī)發(fā)光二極管之前測試有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED)的多個驅(qū)動電路的方法，該有機(jī)發(fā)光顯示器包含一寫入掃描線，用以啟動要測試的一驅(qū)動電路；一數(shù)據(jù)線；一電源線；以及一數(shù)組基板，用以將該多個驅(qū)動電路制作于其上；該驅(qū)動電路包含一第一晶體管及一第二晶體管，分別包含一源極、一柵極及一漏極；以及一第一電容，包含一第一端及一第二端；該方法包含下列步驟(a)重復(fù)步驟(b)至步驟(e)，直到該多個驅(qū)動電路的一第一及一第二信號都已提取完畢為止；(b)經(jīng)由該寫入掃描線，啟動要測試的一驅(qū)動電路；(c)經(jīng)由該第一晶體管，對該第一電容充放電，并從該數(shù)據(jù)線提取該第一信號；(d)放置一金屬平板于該數(shù)組基板上方，使得該金屬平板與該數(shù)組基板形成一第二電容；(e)經(jīng)由該第二晶體管，對該第二電容充放電，并從該電源線提取該第二信號；以及(f)分析該第一及第二信號，以判斷該驅(qū)動電路可否正常工作。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中步驟(c)還包含(g)由該數(shù)據(jù)線提供一高電壓，經(jīng)該第一晶體管，對該第一電容充電；(h)由該數(shù)據(jù)線提供一低電壓，使該第一電容經(jīng)該第一晶體管，對該數(shù)據(jù)線放電；以及(i)在該第一電容放電的過程中，從該數(shù)據(jù)線提取該第一信號。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中步驟(e)還包含(j)由該電源線提供一高電壓，經(jīng)該第二晶體管，對該第二電容充電；(k)由該電源線提供一低電壓，使該第二電容經(jīng)該第二晶體管，對該電源線放電；以及(l)在該第二電容放電的過程中，從該電源線提取該第二信號。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該第一及第二信號為一電荷值、電壓值或電流值其中之一。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中步驟(f)還包含(m)對該多個驅(qū)動電路的該第一及第二信號分別計算一平均值；(n)當(dāng)該第一信號介于該第一信號的該平均值約0.25倍至1.75倍的范圍時，即表示該第一晶體管及該第一電容可正常工作；以及(o)當(dāng)該第二信號介于該第二信號的該平均值約0.25倍至1.75倍的范圍時，即表示該第二晶體管可正常工作。
6.一種在植入有機(jī)發(fā)光二極管之前測試有機(jī)發(fā)光顯示器的多個驅(qū)動電路的裝置，該有機(jī)發(fā)光顯示器包含一寫入掃描線，用以啟動要測試的一驅(qū)動電路；以及一數(shù)據(jù)線；一電源線；以及一數(shù)組基板，用以將該多個驅(qū)動電路制作于其上；該驅(qū)動電路包含一第一晶體管及一第二晶體管，分別包含一源極、一柵極以及一漏極；以及一第一電容，包含一第一端及一第二端；該裝置包含一像素選擇器，用以選擇要測試的一驅(qū)動電路；一信號提取器，用以提取一信號；以及一信號分析器，連接至該信號提取器，用以儲存并分析該信號，以判斷要測試的該驅(qū)動電路可否正常工作。
全文摘要
本發(fā)明提供一種方法及裝置，在植入有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED)的多個像素(pixel)的驅(qū)動電路。本發(fā)明的方法及裝置先選擇要測試的一驅(qū)動電路，放置一金屬平板于數(shù)組基板(array glass)上形成一電容，同時利用有機(jī)發(fā)光顯示器的數(shù)據(jù)線(data line)、寫入掃描線(writescan line)及電源線(power line)輸入并提取信號，以完成測試的工作。
文檔編號G01R31/28GK1566979SQ03141128
公開日2005年1月19日 申請日期2003年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月9日
發(fā)明者蔡善宏, 孫銘賢, 石安 申請人:統(tǒng)寶光電股份有限公司