專利名稱：測量電容的漏電流的測量輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型為一種測量電子組件漏電流的輔助裝置，特別是指對電容器的漏電流的測量輔助裝置。
背景技術(shù)：
電子零件的種類及用途非常廣泛，有些作成DIP型式的零件，因為該零件特性的關(guān)系必須特別注意該零件的內(nèi)層構(gòu)造，或者是零件的端點間的絕緣組抗變化，或者是考慮端點間是否有漏電流的產(chǎn)生，這些常見零件例如是電容器、二極管等。一般常見對這些零件的測量，即是用人工方式使用測試線將該零件接到測試儀器上(例如是鱷魚夾)，而對于電容器測量是否有漏電流則需將該電容器充電再予以測量，在測試絕緣組抗時則需在一高電壓環(huán)境下執(zhí)行，有時操作人員稍一不慎則會對操作人員產(chǎn)生不安全影響。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為解決上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點而提供一種測量電容的漏電流的測量輔助裝置，以對電容的漏電流的測量提供一便利、安全有效的測量輔助。
本實用新型的測量電容的漏電流的測量輔助裝置包括一充電單元、一測試單元以及一放電單元。其中該充電單元通過一電源供應(yīng)裝置對該電容充電；該測試單元則將該充電后電容通過該測試單元連接至一漏電流測試裝置并予以測量；該放電單元，是將該測試完的電容予以放電處理。
較佳者，該充電單元包括一第一充電部以及一第二充電部。該第一充電部是供該電容的一端予以插置；該第二充電部，是供該電容的另一端予以插置。
較佳者，充電單元還包括至少一彈性裝置以及一固定部，該彈性裝置是連接該第二充電部以及該固定部，通過該彈性裝置得以帶動該第二充電部，并使得該第二充電部與該第一充電部的距離為可調(diào)整。
較佳者，測試單元包括一第一測試部與一第二測試部，該第一測試部連接至該第一充電部，該第一測試部與該第二測試部可以容置該電容兩端的插置并接受測試儀器的測試。
較佳者，本實用新型也可測量二極管的絕緣阻抗。
為更清楚理解本實用新型的目的、特點和優(yōu)點，下面將結(jié)合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細說明。


圖1為本實用新型的一較佳實施例示意圖。
圖2為本實用新型的一較佳實施例對電容測試的示意圖。
圖3為本實用新型的一較佳實施例對二極管測試的示意圖。
具體實施方式
本實用新型是一種測量電容器的漏電流的測量輔助裝置，它可對電容器予以測量以確定在充飽電量的情形下是否有漏電流產(chǎn)生。
請參閱圖1，它是本實用新型的一較佳實施例示意圖。如圖1所示，本實用新型的測量輔助裝置包括有充電單元1、測試單元2以及放電單元3。該充電單元1，是通過一電源供應(yīng)裝置將所要測試的電容充電以達到充飽電荷狀態(tài)；而該測試單元2，是將該充電后電容通過該測試單元連接至一漏電流測試裝置以檢測是否有漏電流產(chǎn)生；而該放電單元3，則是將該測試完的電容予以放電，使本來以充滿電荷的電容恢復(fù)不帶電狀態(tài)。
而該充電單元1則包括有一個第一充電部10、一個第二充電部11、一個固定部12以及若干個彈性裝置。其中該第一充電部10是供測試電容4的一端予以插置，該第二充電部11，則是供該測試電容4的另一端予以插置。而該第二充電部11可調(diào)整移動，使得該第一充電部10以及該第二充電部11的距離為可調(diào)整，其目的在通過調(diào)整第一充電部10的距離與第二充電部11的距離，以可對各種不同腳位距離的電容均可測量。而在該第一充電部10以及該第二充電部11上可分別設(shè)置一插槽100、110，以讓待測試電容的腳位予以插入。
另外，充電單元1還包括有若干個彈性裝置，譬如是彈簧130、131、132以及一個固定部12，該若干個彈簧130、131、132是連接該第二充電部11以及該固定部12，該固定部12是不可移動的，通過該彈簧130、131、132得以帶動該第二充電部11的位置，并且在取得適當(dāng)距離后再對該第二充電部11予以固定的，以使得該第二充電部11與該第一充電部10的距離為可調(diào)整。這樣即使是待測電容尺寸的不同，也可因為彈簧130、131、132的適當(dāng)拉力而調(diào)整第二充電部11與該固定部12的一適當(dāng)力量的外擴張力，即使待測電容腳位很短也可調(diào)整第二充電部11與該第一充電部10的距離使該電容得以插置。
測試單元2包括一個第一測試部20與一個第二測試部21，該第一測試部20可連接至該第一充電部10，并且可形成一電性連接的狀態(tài)，該第一測試部20與該第二測試部21可以容置在充電部1充完電后的電容4的插置，在考慮測試過程便利性，以及接受不同規(guī)格電容腳位的距離的情況下，可將第一測試部20與第二測試部21設(shè)計成一V字形狀，這樣電容腳位距離較短者則可插置在第一測試部20與第二測試部21的最接近處，也即是在該V字形狀的底部，而電容腳位距離較長者則可插置在第一測試部20與第二測試部21的相對距離較遠處，也即可能是在該V字形狀的中間部份或是較上面部份。
另外，該放電部3包括一個電阻30以及兩個插置孔301、302。該放電部3是將由測試部2測試完但仍保有電荷的電容予以放電處理，以使該電容保持不帶電狀態(tài)以保持該電容的壽命，該兩個插置孔301、302可接受測試電容的插置，該放電的電阻可使用100/10W的電阻。
請參閱圖2，為本實用新型較佳實施例進行電容測試的示意圖。
其中待測電容可同時有若干個，當(dāng)電容41、42、43、44插置在第一充電部10與第二充電部11后，即可使用一電源供應(yīng)器5對該充電部1予以充電，來自電源供應(yīng)器5的電流與電壓隨即通過第一充電部10與第二充電部11對電容41、42、43、44予以充電，并在若干時間后充滿。
假設(shè)電容40是在該充電部1充滿電荷后，則可將電容40插置在第一測試部20與第二測試部21上，并且第一測試部20與第二測試部21是分別連接到一測試漏電流的儀器6上，而該第一測試部20可與該第一充電部10設(shè)置成電性連通狀態(tài)。待對電容40的漏電流測試完畢后即可將測試部40、41上的仍充滿電荷的電容40移至放電部的插置孔301、302以通過該電阻30對電容40予以放電處理，此時則完成對電容漏電流的測試工作。
請參閱圖3，為本實用新型較佳實施例對二極管進行測試的示意圖。本實用新型也可提供二極管測量絕緣阻抗的輔助。例如可將二極管7放置第一充電部10與第二充電部11上，并且連接上一絕緣阻抗測試機8，在由一電源供應(yīng)裝置5對該二極管7施以逆向電壓，假設(shè)該二極管7可承受500V的逆向電壓，則在對該二極管7施以500V的逆向電壓后，啟動該絕緣阻抗測試機8予以測量的即可。
本實用新型是提供對電容組件或二極管組件或其它DIP電子組件的相關(guān)特性的輔助測試，在本實用新型的實施下是可有效的提升測試流程的效率并具有下列優(yōu)點1.不會因為電子組件的腳位太短而無法測量。
2.通過彈性承載的設(shè)計，使各種尺寸的待測組件均可適用。
3.針對電容組件的測試整合充電、測量以及放電的功能。
4.測量絕緣阻抗時通常需在高電壓的情形下予以測量，本實用新型提供了一安全方便的輔助裝置。
5.本實用新型制作簡易、構(gòu)造不復(fù)雜、成本低、效率高。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，但并不用來限定本實用新型所的范圍。凡是根據(jù)本實用新型精神所作的種種等效變化或等效替換，皆應(yīng)仍屬于本新型專利涵蓋的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，包括一充電單元，它通過一電源供應(yīng)裝置對該電容充電；一測試單元，將該充電后電容通過該測試單元連接至一漏電流測試裝置；以及一放電單元，將該測試完的電容予以放電。
2.如權(quán)利要求1所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的充電單元包括一第一充電部，它供該電容的一端予以插置；一第二充電部，它供該電容的另一端予以插置。
3.如權(quán)利要求2所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的第二充電部是可移動的，以使該第一充電部以及該第二充電部的距離為可調(diào)整。
4.如權(quán)利要求2所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的充電單元更包括至少一彈性裝置以及一固定部，該彈性裝置是連接該第二充電部以及該固定部，通過該彈性裝置得以帶動該第二充電部，并使得該第二充電部與該第一充電部的距離為可調(diào)整。
5.如權(quán)利要求4所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的彈性裝置為彈簧。
6.如權(quán)利要求1所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的測試單元包括一第一測試部與一第二測試部，該第一測試部連接至該第一充電部，該第一測試部與該第二測試部可容置該電容兩端的插置。
7.如權(quán)利要求6所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的第一測試部與第二測試部設(shè)置成V字形。
8.如權(quán)利要求1所述的測量電容的漏電流的測量輔助裝置，其特征在于，所述的放電單元為一電阻，以將該電容予以放電。
專利摘要本實用新型是提出一種測量電容的漏電流的測量輔助裝置，以對電容的漏電流提供一便利有效的測量輔助，它包括一充電單元、一測試單元以及一放電單元。其中該充電單元是通過一電源供應(yīng)裝置使電容充電；該測試單元則將該充電后電容通過該測試單元連接至一漏電流測試裝置并予以測量；該放電單元，是將該測試完的電容予以放電處理。該充電單元包括一第一充電部以及一第二充電部，測試單元包括一第一測試部與一第二測試部。
文檔編號G01R27/26GK2526855SQ01280518
公開日2002年12月18日 申請日期2001年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2001年12月29日
發(fā)明者楊鴻 申請人:神達電腦股份有限公司