專利名稱：化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，其中，該化學(xué)皮膜層形成于一電子產(chǎn)品外殼的表面。
背景技術(shù)：
近年來，隨著電子產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展，為適應(yīng)電子產(chǎn)品日益輕、薄、短、小的趨勢(shì)，電子產(chǎn)品的外殼逐漸選用輕量化、高強(qiáng)度的合金材料來制造。然而，以筆記本電腦為例，外界不明的電磁波會(huì)干擾電腦內(nèi)部傳送的信號(hào)的頻率或振幅，因而影響電腦內(nèi)部的運(yùn)作，產(chǎn)生電磁干擾(Electro-Magnetic Interference，EMI)。因此，選擇具有高電磁屏蔽性的金屬，作為筆記本電腦外殼的材料，可借助于金屬的屏蔽作用，即電磁屏蔽的能力，使得電腦內(nèi)部傳送的信號(hào)，不受外界不明電磁波的干擾。
鋁鎂合金具有質(zhì)輕、強(qiáng)度高、耐沖擊、耐磨耗的優(yōu)點(diǎn)，并結(jié)合其優(yōu)良的散熱性及良好的電磁屏蔽性，使得鋁鎂合金大量應(yīng)用在筆記本電腦、移動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)及各種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存系統(tǒng)等等的電子產(chǎn)品外殼的材質(zhì)上。由于鋁鎂合金是一種高活性金屬，在成形并經(jīng)過加工之后，必須進(jìn)行表面處理，才能使成品具有耐蝕及美觀的表面，而表面處理中最重要的是化學(xué)皮膜處理。其中，化學(xué)皮膜處理是在鋁鎂合金成品的表面上，形成一化學(xué)皮膜層，其材質(zhì)例如為鉻酸鹽或鎳磷合金，用以增加表面的耐腐蝕性與耐摩擦性。此外，可通過滲透作用，將有機(jī)或無機(jī)染料滲入皮膜的毛細(xì)孔內(nèi)，形成有顏色的成品。或以電鍍的方式，將二硫化鋁(MoS2)或鐵氟龍(PTFE)填入皮膜的毛細(xì)孔內(nèi)，以增加表面的潤滑性。
由于鋁鎂合金已廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的外殼材料，例如筆記本電腦外殼、手機(jī)外殼。然而，以鋁鎂合金制作成電子產(chǎn)品的外殼時(shí)，在外殼表面的化學(xué)皮膜層的組成均勻度及厚度，除了影響鋁鎂合金表面的耐腐蝕性之外，對(duì)于鋁鎂含金外殼的電磁屏蔽能力，具有絕對(duì)性的影響。因此，當(dāng)鋁鎂合金外殼表面在經(jīng)過化學(xué)皮膜處理之后，必須對(duì)化學(xué)皮膜層進(jìn)行電阻抗值的測(cè)試，進(jìn)而控制及改善化學(xué)皮膜層的品質(zhì)。
一般量測(cè)鋁鎂合金外殼上的化學(xué)皮膜層的電阻抗值的方法，是借助于量測(cè)工具，其包括兩根金屬探針、一個(gè)微歐姆計(jì)及兩條連接探針與微歐姆計(jì)的金屬導(dǎo)線，以人工操作的方式，將兩根金屬探針的針頭同時(shí)接觸待測(cè)表面，即化學(xué)皮膜層的表面，并同時(shí)量取一段固定距離，透過微歐姆計(jì)所量測(cè)出的電阻抗值，以判斷化學(xué)皮膜層表面的固定距離間的電阻抗值是否符合在標(biāo)準(zhǔn)電阻值以下。然而，此種量測(cè)的方式，具有下列缺點(diǎn)1.當(dāng)探針的針頭接觸待測(cè)表面時(shí)，量測(cè)者不易控制針頭與待測(cè)表面之間的接觸壓力，使得量測(cè)出的電阻抗值與真實(shí)的電阻抗值差異甚大。
2.當(dāng)量測(cè)待測(cè)表面上某一段固定距離之間的電阻抗值，并判斷是否在標(biāo)準(zhǔn)值以下時(shí)，是通過人工的操作來量取此段固定距離，因此將會(huì)有較大的誤差出現(xiàn)，若量取的距離大于或小于此固定距離，將使得適用于此固定距離的標(biāo)準(zhǔn)電阻值，不再適用于此段誤差距離所產(chǎn)生的電阻值。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提出一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，用以量測(cè)一鋁鎂合金外殼上的化學(xué)皮膜層、其表面的電阻抗值的大小及狀態(tài)，以確保此量測(cè)的電阻抗值不受人為因素的影響。
根據(jù)本實(shí)用新型的上述及其他目的，本實(shí)用新型提出一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，其至少包括一固定座，大約呈“”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中凹槽為凹陷于固定座的底面，而這些嵌孔則位于固定座的內(nèi)部；二探針，分別嵌入對(duì)應(yīng)的嵌孔，并分別具有一探測(cè)端及一傳輸端，其中這些探測(cè)端大約與固定座的底面對(duì)齊，并由于凹槽而裸露于外，在檢測(cè)時(shí)，這些探測(cè)端分別與化學(xué)皮膜層的表面的兩點(diǎn)相接觸；以及一電阻計(jì)，其分別與對(duì)應(yīng)的探針的傳輸端電連接，用以檢測(cè)化學(xué)皮膜層的上述兩點(diǎn)間的電阻抗值。
根據(jù)本實(shí)用新型的上述及其他目的，本實(shí)用新型提出一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，至少包括一固定座，具有一底面及二嵌孔，其中這些嵌孔位于固定座的內(nèi)部；二探針，分別嵌入對(duì)應(yīng)的嵌孔，這些探針分別具有一探測(cè)端及一傳輸端，其中這些探測(cè)端大約與固定座的底面對(duì)齊，在檢測(cè)時(shí)，這些探測(cè)端分別與化學(xué)皮膜層的表面的兩點(diǎn)相接觸以及一電阻計(jì)，其分別與對(duì)應(yīng)的探針的傳輸端電連接，用以檢測(cè)化學(xué)皮膜層的上述兩點(diǎn)間的電阻抗值。
為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例，并配合所附圖示，進(jìn)行詳細(xì)說明。


圖1所示為根據(jù)本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置置于一化學(xué)皮膜層上的剖面示意圖；圖2所示為圖1的固定座的底部形狀改變后的剖面示意圖。
具體實(shí)施方式
參考圖1，其為根據(jù)本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置置于一化學(xué)皮膜層上的剖面示意圖。本實(shí)用新型的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置包括一固定座10、兩根探針20、一電阻計(jì)30及導(dǎo)線40。固定座10的截面形狀大約呈“”形，并具有一底面12、一凹槽14及兩個(gè)嵌孔16，其中凹槽14凹陷于固定座10的底面12，而嵌孔16位于固定座10之中，并可通過貫穿固定座10的中央而形成，用以分別使探針20嵌入。此外，探針20為嵌入對(duì)應(yīng)的嵌孔16之中，探針20具有一探測(cè)端22及一傳輸端24，探測(cè)端22大約與固定座10的底面12對(duì)齊，以便于在檢測(cè)時(shí)，探針20的探測(cè)端22能與化學(xué)皮膜層50的待測(cè)表面52相接觸，其中，探針20的探測(cè)端22可由于槽14而裸露于外。另外，電阻計(jì)30，例如為一微歐姆計(jì)，通過導(dǎo)線40與對(duì)應(yīng)的探針20的傳輸端24電連接，并通過探針20的探測(cè)端22與待測(cè)表面52相接觸，用以量測(cè)待測(cè)表面52上兩點(diǎn)54、56間的電阻抗值，其中兩點(diǎn)54、56之間的距離為一預(yù)設(shè)距離58，其大小可任意改變。
為說明本實(shí)用新型的使用方法，參考圖1，首先，將配置有探針20的固定座10放置于化學(xué)皮膜層50的待測(cè)表面52上，并由導(dǎo)線40分別將探針20的傳輸端24連接至電阻計(jì)30。其次，透過凹槽14以檢視裸露出探針20的探測(cè)端22是否與待測(cè)表面52相接觸，并檢視導(dǎo)線40與探針20的傳輸端24是否有松脫及接觸不良的情形，確認(rèn)無誤之后，讀取電阻計(jì)的數(shù)值，即可得到待測(cè)表面52上的兩點(diǎn)54、56之間的電阻抗值。其中，為了不影響量測(cè)出的電阻抗值，固定座10的材質(zhì)以絕緣材料為佳。
同樣參考圖1，在嵌孔16的內(nèi)壁與探針20的外緣間，可配置一管狀的襯套26，用以緊密配合嵌孔16的內(nèi)壁與探針20的外緣，從而固定探針20，其中，襯套26的材質(zhì)可為一彈性材料。為了確保探針20的探測(cè)端22與待測(cè)表面52接觸，可使探測(cè)端22稍微突出于固定座10的底面12，同時(shí)在襯套26的材質(zhì)為一彈性材料的情況下，富固定座10置于待測(cè)表面52時(shí)，探針20突出的探測(cè)端22將受到待測(cè)表面52的上頂而上移，直到探測(cè)端22大約與底面12對(duì)齊，并造成襯套26的彈性變形，此時(shí)可借助于襯套26的彈性恢復(fù)力，使得探測(cè)端22持續(xù)下壓特測(cè)表面52，以維持探測(cè)端22與待測(cè)表面52之間的接觸。通過上述的方式，可使得過于突出的探測(cè)端22得以彈性回縮，以避免固定座10與探針20的重量均集中在探測(cè)端22的尖端而下壓待測(cè)表面52，因而在待測(cè)表面52上形成壓痕。
為簡化數(shù)值讀取的步驟，參考圖1，對(duì)于待測(cè)表面52的預(yù)設(shè)距離58之間的電性阻抗，設(shè)定一最大容許的電阻抗值，作為一標(biāo)準(zhǔn)值，并設(shè)定在電阻計(jì)30中，且連接一指示燈32至電阻計(jì)30，其中指示燈32包括發(fā)光二極管(LED)，用以顯示待測(cè)表面52的電阻抗值的狀態(tài)。在量測(cè)不同的待測(cè)表面52的情況下，當(dāng)電阻計(jì)30的量測(cè)值大于上述所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，電阻計(jì)30將發(fā)出警示信號(hào)至指示燈32，使指示燈32發(fā)出警示燈號(hào)，例如發(fā)出紅色燈號(hào)，以表示此待測(cè)表面52的電阻抗值大于標(biāo)準(zhǔn)值。反之，當(dāng)電阻計(jì)30的量測(cè)值小于上述設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，電阻計(jì)30將發(fā)出通過信號(hào)至指示燈32，使指示燈32發(fā)出通過燈號(hào)，例如發(fā)出綠色燈號(hào)，以表示此待測(cè)表面52的電阻抗值小于標(biāo)準(zhǔn)值。通過在電阻計(jì)30內(nèi)設(shè)定一標(biāo)準(zhǔn)值，并以指示燈32顯示待測(cè)表面52的電阻抗值的狀態(tài)，將易于辨識(shí)此電阻抗值是否合乎標(biāo)準(zhǔn)，從而可大幅縮短檢測(cè)的時(shí)間。
參考圖2，其為圖1的固定座的底部形狀改變后的剖面示意圖。由于圖1的凹槽14可裸露出探針20的探測(cè)端22，故可通過目視來辨識(shí)探測(cè)端22是否與待測(cè)表面52接觸。盡管圖2的固定座110雖不具有如圖1所示的凹槽14，仍然可將探針120的探測(cè)端122與待測(cè)表面152接觸，根據(jù)電阻計(jì)130是否測(cè)得出數(shù)值來獲知探針120的探測(cè)端122是否與待測(cè)表面152接觸。同樣地，可將探測(cè)端122稍微突出于固定座110的底面112，以確保探測(cè)端122與待測(cè)表面152接觸，同時(shí)在襯套126的材質(zhì)為一彈性材料的情況下，當(dāng)固定座110置于待測(cè)表面152時(shí)，探針120的突出的探測(cè)端22將受到待測(cè)表面152的上頂而上移，直到探測(cè)端122大約與底面112對(duì)齊，并造成襯套126的彈性變形，此時(shí)可借助于襯套126的彈性恢復(fù)力，使得探測(cè)端122持續(xù)下壓待測(cè)表面152，以維持探測(cè)端122與待測(cè)表面152之間的接觸。
綜上所述，本實(shí)用新型的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，具有下列優(yōu)點(diǎn)(1)使用本實(shí)用新型的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，可使探針的探測(cè)端與化學(xué)皮膜層的待測(cè)表面之間持續(xù)接觸，以避免接觸不良而影響量測(cè)出的電阻抗值，進(jìn)而提高量測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度。
(2)使用本實(shí)用新型的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，可固定探針的探測(cè)端之間的預(yù)設(shè)距離，使得對(duì)應(yīng)此預(yù)設(shè)距離而訂出的標(biāo)準(zhǔn)的電阻抗值，適用于此預(yù)設(shè)距離所量測(cè)出來的電阻抗值。
(3)使用本實(shí)用新型的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，將電阻計(jì)連接一指示燈，根據(jù)量測(cè)值是否在標(biāo)準(zhǔn)值以下，而顯示警示燈號(hào)或是通過燈號(hào)，將使得檢測(cè)人員無須讀取電阻計(jì)上的數(shù)值，即可得知此待測(cè)表面上兩點(diǎn)之間的電阻值是否符合標(biāo)準(zhǔn)值，以縮短檢測(cè)的時(shí)間。
雖然本實(shí)用新型已通過一較佳實(shí)施例進(jìn)行了上述說明，然其并非用以限定本實(shí)用新型，任何本專業(yè)技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下，都可進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖儎?dòng)和改進(jìn)，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以權(quán)利要求所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，至少包括一固定座，大約呈“”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中該凹槽凹陷于該固定座的該底面，而所述嵌孔位于該固定座的內(nèi)部；二探針，分別嵌入對(duì)應(yīng)的這些嵌孔，這些探針分別具有一探測(cè)端及一傳輸端，其中所述探測(cè)端大約與所述底面對(duì)齊，并因所述凹槽而裸露于外，在檢測(cè)時(shí)，該探測(cè)端分別與該化學(xué)皮膜層的表面的兩點(diǎn)相接觸；以及一電阻計(jì)，其分別與對(duì)應(yīng)的這些探針的所述傳輸端電連接，用以檢測(cè)該化學(xué)皮膜層的所述兩點(diǎn)間的電阻抗值。
2.如權(quán)利要求1所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中在所述嵌孔的內(nèi)壁與對(duì)應(yīng)的所述探針的外緣之間，可分別配置一襯套，用以分別緊密配合這些探針的外緣與這些嵌孔的內(nèi)壁，以固定這些探針。
3.如權(quán)利要求2所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，所述襯套的材質(zhì)包括彈性材料。
4.如權(quán)利要求1所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述固定座的材質(zhì)包括絕緣材料。
5.如權(quán)利要求1所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述電阻計(jì)包括微歐姆計(jì)。
6.如權(quán)利要求1所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述電阻計(jì)還連接一指示燈。
7.如權(quán)利要求6所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其所述指示燈包括一發(fā)光二極管。
8.一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，至少包括一固定座，具有一底面及二嵌孔，其中所述嵌孔位于該固定座的內(nèi)部；二探針，分別嵌入對(duì)應(yīng)的所述嵌孔，所述探針分別具有一探測(cè)端及一傳輸端，其中所述探測(cè)端大約與所述底面對(duì)齊，在檢測(cè)時(shí)，該探測(cè)端分別與該化學(xué)皮膜層的表面的兩點(diǎn)相接觸；以及一電阻計(jì)，其分別與對(duì)應(yīng)的所述探針的所述傳輸端電連接，用以檢測(cè)該化學(xué)皮膜層的所述兩點(diǎn)間的電阻抗值。
9.如權(quán)利要求8所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述嵌孔的內(nèi)壁與對(duì)應(yīng)的所述探針的外緣之間，可分別配置一襯套，用以分別緊密配合這些探針的外緣與這些嵌孔的內(nèi)壁，以固定這些探針。
10.如權(quán)利要求9所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，所述襯套的材質(zhì)包括彈性材料。
11.如權(quán)利要求8所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述固定座的材質(zhì)包括絕緣材料。
12.如權(quán)利要求8所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述電阻計(jì)包括微歐姆計(jì)。
13.如權(quán)利要求8所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述電阻計(jì)還連接一指示燈。
14.如權(quán)利要求13所述的化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，其中所述指示燈包括一發(fā)光二極管。
專利摘要一種化學(xué)皮膜阻抗值檢測(cè)裝置，適用于檢測(cè)一化學(xué)皮膜層的表面的電阻抗值，包括一固定座，大約呈“冂”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中凹槽凹陷于固定座的底面，而嵌孔位于固定座的內(nèi)部；二探針，分別嵌入對(duì)應(yīng)的嵌孔，并分別具有一探測(cè)端及一傳輸端，其中兩探測(cè)端大約與底面對(duì)齊，并因凹槽而裸露于外，在檢測(cè)時(shí)，這些探測(cè)端分別與化學(xué)皮膜層的表面的兩點(diǎn)相接觸；以及一電阻計(jì)，其分別與對(duì)應(yīng)的探針的傳輸端電連接，用以檢測(cè)化學(xué)皮膜層的上述兩點(diǎn)間的電阻抗值。
文檔編號(hào)G01N27/02GK2537976SQ01259630
公開日2003年2月26日 申請(qǐng)日期2001年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2001年8月31日
發(fā)明者彭文宏 申請(qǐng)人:神基科技股份有限公司