專利名稱：多功能校準(zhǔn)量規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型是一種多功能量規(guī)，涉及幾何量計量儀器標(biāo)準(zhǔn)檢定器具制作的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀是一種可用來測量平行平面之間距離、孔軸直徑、中心距及形位誤差的幾何量計量儀器。對其示值誤差的檢定，一般使用有以下幾種方法1.以量塊作標(biāo)準(zhǔn)。以幾塊量塊組合成一定尺寸，立放于工作臺上，立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀對該尺寸測量，得到示值誤差。但對于尺寸較大的檢定點，需要幾塊大尺寸的量塊研合，使得量塊在檢定過程中容易傾倒，使量塊和設(shè)備受到損壞。
2.以雙頻激光干涉儀作標(biāo)準(zhǔn)。將分光鏡置于工作臺，角錐棱鏡固定于立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的垂直運動部件上，并把立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的采樣控制信號引出同時控制雙頻激光干涉儀，使兩者能同時對測得數(shù)據(jù)采樣，兩個數(shù)據(jù)之差就是示值誤差。但這種方法光路調(diào)整繁鎖，又需要電路連接，而且大多數(shù)廠家的計量部沒有雙頻激光干涉儀，此方法難以普及。
3.以高度校準(zhǔn)量規(guī)作標(biāo)準(zhǔn)。
以上三種方法，其標(biāo)準(zhǔn)器具都只能對立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的示值誤差進行檢定，而無法對其導(dǎo)軌運行垂直度和儀器功能進行檢定。
本實用新型的目的可以通過以下措施來達到在物化性能穩(wěn)定的直角尺中部設(shè)置一環(huán)規(guī)，其直角邊從上至下分布有若干量塊。
本實用新型的目的還可以通過以下措施來達到環(huán)規(guī)和量塊粘貼在直角尺上；環(huán)規(guī)的內(nèi)圓為孔，外圓為軸。
本實用新型相比已有技術(shù)具有如下優(yōu)點產(chǎn)品結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計合理，既可對立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的示值誤差進行檢定，也可對儀器導(dǎo)軌垂直度和儀器功能進行檢定；相對于使用量塊作標(biāo)準(zhǔn)，安全性有保證，而且由于對溫度變化不敏感，能夠保證檢定精度；由于直角尺在各計量部門的擁有量，相對于雙頻激光干涉儀和高度校準(zhǔn)量規(guī)，具有很高的經(jīng)濟性。
量塊3的上表面至直角尺底面的準(zhǔn)確高度，即可成為高度量規(guī)，用來檢定立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的示值誤差；直角尺的正面用來檢定儀器導(dǎo)軌運行垂直度；環(huán)規(guī)2和量塊3的上下測量面可用來對立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀的功能進行考核，其方法如下大多數(shù)的立式坐標(biāo)數(shù)顯測量儀均有測量凸臺和凹槽的厚度、孔和軸的直徑、它們的中心對參考點的高度以及相互間的中心距的功能，在對儀器檢定時應(yīng)對其功能進行考核。本實用新型中每塊量塊的上測量面與其本身及在它下面的量塊的下測量面構(gòu)成了不同厚度的凸臺，而每塊量塊的下測量面與在它上面的量塊的上測量面構(gòu)成了不同厚度的凹槽，環(huán)規(guī)的內(nèi)圓為孔，外圓為軸，可以很方便地考核儀器功能。
權(quán)利要求1.包括有量塊構(gòu)成的多功能校準(zhǔn)量規(guī)，其特征在于在物化性能穩(wěn)定的直角尺(1)中部設(shè)置一環(huán)規(guī)(2)，其直角邊從上至下分布有若干量塊(3)。
2.如權(quán)利要求1述的多功能校準(zhǔn)量規(guī)，其特征在于環(huán)規(guī)(2)和量塊(3)粘貼在直角尺(1)上。
3.如權(quán)利要求1或2所述的多功能校準(zhǔn)量規(guī)，其特征在于環(huán)規(guī)(2)的內(nèi)圓為孔，外圓為軸。
專利摘要本實用新型是一種多功能校準(zhǔn)量規(guī),涉及幾何量計量儀器標(biāo)準(zhǔn)檢定器具技術(shù)領(lǐng)域。其特征是在物化性能穩(wěn)定的直角尺中部設(shè)置一環(huán)規(guī),在直角邊從上至下分布有若干量塊。其結(jié)構(gòu)簡單、實用性強、功能多,既可對立式坐標(biāo)數(shù)顯儀的正負值誤差進行檢定,也可對儀器導(dǎo)軌垂直度和儀器功能進行檢定,能保證檢定精度,可廣泛用于各計量部門。
文檔編號G01B3/30GK2508214SQ0125664
公開日2002年8月28日 申請日期2001年11月21日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月21日
發(fā)明者匡龍, 范天泉, 吳學(xué)巧 申請人:中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所