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高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀的制作方法

文檔序號(hào):5418792閱讀:239來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種井況測(cè)量?jī)x器,尤其涉及一種石油測(cè)井行業(yè)油井內(nèi)高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀。
背景技術(shù)
電磁法檢測(cè)可確定套管的厚度、井徑、裂縫、變形、錯(cuò)斷、內(nèi)外壁腐蝕、射孔質(zhì)量、多層管柱的缺陷。電磁檢測(cè)儀是一種無(wú)損、非接觸式的儀器,它不受井內(nèi)液體、套管積垢、結(jié)蠟及井壁附著物的影響,測(cè)量精度較高。由于電磁法檢測(cè)有其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn),因此成為目前最廣泛應(yīng)用的套管損壞檢測(cè)技術(shù)之一。國(guó)內(nèi)外利用電磁法對(duì)套管進(jìn)行厚度檢測(cè)的儀器較多,基本上可分為兩大類第一類只有一個(gè)傳感器線圈,單發(fā)單收,測(cè)量精度可以達(dá)到士 0. 5mm,但只可以作為定性分析, 因?yàn)樵摫诤駵y(cè)量值為周壁厚的平均值,如俄羅斯的電磁探傷儀EMTS和MID-K,可以測(cè)量多層套管,測(cè)出的厚度是一個(gè)周壁厚均值;如斯倫貝謝公司的多頻電磁波測(cè)厚儀(METT),該儀器以三種不同的頻率工作,高頻測(cè)量不受鋼管厚度的影響,只與套管內(nèi)徑發(fā)生聯(lián)系;中頻測(cè)量依金屬的內(nèi)徑、電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率而定;低頻測(cè)量對(duì)應(yīng)常規(guī)儀器的測(cè)量,依據(jù)上述兩種參數(shù)和鋼的厚度而定,所測(cè)厚度也是一個(gè)周壁厚的平均值;第二類,通過(guò)傳感器陣列將套管分為多個(gè)扇區(qū),單發(fā)多收,可以對(duì)準(zhǔn)確測(cè)量套管各個(gè)扇區(qū)的壁厚,所測(cè)的厚度為一個(gè)相對(duì)值, 如英國(guó)SONDEX公司的MTT。
發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有的電磁測(cè)厚井徑儀單發(fā)單收、只可以作為定性分析、且所測(cè)厚度是一個(gè)相對(duì)值的技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型提供一種高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其在實(shí)施測(cè)量井徑的過(guò)程中,擁有很高的分辨率和很高的精度,并且可以根據(jù)計(jì)算出的套管電磁特性計(jì)算出不同扇區(qū)的絕對(duì)壁厚。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特殊之處在于包括磁保護(hù)套、線圈組件、控制單元、測(cè)厚單元、固定組件以及測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;所述線圈組件和控制單元均位于磁保護(hù)套內(nèi),所述測(cè)厚單元設(shè)置在固定組件上, 所述固定組件連接磁保護(hù)套和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;所述測(cè)厚單元包括多個(gè)測(cè)厚傳感器;所述線圈組件包括高頻電磁線圈和中頻電磁線圈,所述高頻電磁線圈4位于中頻電磁線圈5的上方,所述中頻電磁線圈5位于控制單元2的上方,所述控制單元2通過(guò)固定組件與測(cè)厚單元連接。上述控制單元包括DSP處理器、供電電源、程序控制增益單元、通道選擇單元以及多個(gè)采集通道,所述供電電源給測(cè)厚單元和DSP處理器供電,所述DSP處理器控制高頻電磁線圈所述DSP處理器控制測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元的發(fā)射頻率,所述測(cè)厚傳感器通過(guò)采集通道、程序控制增益單元與DSP處理器連接,所述DSP處理器通過(guò)通道選擇單元選擇采集通道。上述測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元為低頻電磁線圈。上述固定組件包括傳感器基座、板簧固定座、中心軸以及繞中心軸圓周分布的多個(gè)板簧,所述傳感器基座與磁保護(hù)套固定連接,所述中心軸固定在傳感器基座上,所述板簧的兩端分別固定在傳感器基座和板簧固定座上,所述中心軸上套接有拉伸彈簧和固定有拉簧固定座,所述拉伸彈簧的一端固定在拉簧固定座上,所述拉伸彈簧的另一端驅(qū)動(dòng)板簧固定座沿中心軸運(yùn)動(dòng),所述測(cè)厚傳感器一對(duì)一的設(shè)置在板簧中部。上述測(cè)厚傳感器包括承壓外殼、以及設(shè)置在承壓外殼內(nèi)的測(cè)厚線圈和電路板、與承壓外殼固定密封連接的堵頭、與堵頭連接的單芯導(dǎo)線以及插針,所述電路板的一端與測(cè)厚線圈連接,所述電路板的另一端與單芯導(dǎo)線連接,所述單芯導(dǎo)線的另一端與插針連接。上述控制單元包括還包括放大單元,所述一級(jí)放大單元和二級(jí)放大單元,所述一級(jí)放大單元設(shè)置在采集通道和程序控制增益單元之間,所述二級(jí)放大單元設(shè)置在測(cè)厚傳感器和采集通道之間;所述一級(jí)放大單元包括至少兩個(gè)串聯(lián)的放大器;所述二級(jí)放大單元包括多個(gè)放大器,所述放大器與測(cè)厚傳感器一對(duì)一設(shè)置。上述板簧和測(cè)厚傳感器均有10-16個(gè)。上述高頻電磁線圈和中頻電磁線圈之間距離為350mm-400mm。上述測(cè)厚傳感器12和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)線圈13之間距離為500mm-600mm。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于1、本實(shí)用新型采用采用高頻線圈與中頻線圈結(jié)合的結(jié)構(gòu)用高頻線圈測(cè)量套管的內(nèi)徑,加上金屬屏蔽罩后,屏蔽罩內(nèi)會(huì)產(chǎn)生渦流,該渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于高頻線圈。 從高頻線圈角度看,屏蔽罩使線圈電感量減小,Q值降低。屏蔽罩尺寸越小,對(duì)線圈的影響就越大。磁井徑回路中特定等效參數(shù)是線圈與套管內(nèi)表面之間的距離(井徑)的函數(shù),與套管的電磁特性無(wú)關(guān),由此測(cè)得套管井徑;用中頻線圈測(cè)量套管的電磁特性,主要是在高頻線圈測(cè)得的套管內(nèi)徑基礎(chǔ)上計(jì)算出準(zhǔn)確的套管電磁特性,如電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率。根據(jù)計(jì)算出的電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率和傳感器陣列測(cè)得的各扇區(qū)套管壁厚,可計(jì)算出套管各個(gè)扇區(qū)的絕對(duì)壁厚。2、本實(shí)用新型采用10-16個(gè)測(cè)厚傳感器緊貼管壁,分時(shí)采集10-16個(gè)測(cè)厚傳感器信號(hào)和高頻線圈探頭信號(hào)、中頻線圈探頭信號(hào),提高了儀器對(duì)套管等金屬管柱周向的分辨精度。4本實(shí)用新型在其實(shí)施測(cè)量井徑的過(guò)程中,擁有很高的分辨率和很高的精度,通過(guò)測(cè)得的不同井段的井徑,精確地計(jì)算出不同井段的套管的電磁特性;通過(guò)傳感器陣列測(cè)量套管壁厚,提高了周向套管的分辨率,并且可以根據(jù)計(jì)算出的套管電磁特性計(jì)算出不同扇區(qū)的絕對(duì)壁厚,能夠?qū)μ坠芎穸冗M(jìn)行定量分析。5、本實(shí)用新型高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀正常生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行測(cè)井,不受管內(nèi)流體、套管表面結(jié)蠟和污垢的影響,可對(duì)縱向裂縫和橫向裂縫作出判斷。6、高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀可以根據(jù)所測(cè)井徑數(shù)據(jù)和測(cè)厚數(shù)據(jù)判斷是套管外部損傷還是內(nèi)部損傷。如果厚度數(shù)據(jù)有異常而井徑數(shù)據(jù)正常,則是外部損傷;如果厚度數(shù)據(jù)有異常而井徑數(shù)據(jù)也有異常,則是內(nèi)部損傷。
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本實(shí)用新型的測(cè)厚傳感器的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為本實(shí)用新型控制單元的原理示意圖;其中附圖標(biāo)號(hào)為1-磁保護(hù)套,2-控制單元,3-測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元,4-高頻電磁線圈, 5-中頻電磁線圈,6-傳感器基座,8-板簧,9-主軸,10-拉伸彈簧,11-板簧固定座,12-測(cè)厚傳感器,13-測(cè)厚驅(qū)動(dòng)線圈,14-拉簧固定座,1201-上堵頭,1202-承壓護(hù)管,1203-下堵頭, 1204-毛細(xì)管,1205-毛細(xì)管護(hù)帽,1206-插針護(hù)帽,1207-防插入擋塊,1208-插針絕緣護(hù)套, 1209-插針,1210-單芯導(dǎo)線,1211-傳感器電路板,1212-連接體,1213-感應(yīng)線圈,1214-磁芯護(hù)帽,1215-銅柱,1216-銷釘,1217-密封圈,1218-接觸彈簧。
具體實(shí)施方式
如圖1、圖2所示,高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀包括磁保護(hù)套1、線圈組件、控制單元2、測(cè)厚單元、固定組件以及測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元,線圈組件和控制單元均位于磁保護(hù)套內(nèi),測(cè)厚單元設(shè)置在固定組件上,固定組件連接磁保護(hù)套和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元,測(cè)厚單元包括多個(gè)測(cè)厚傳感器,線圈組件包括高頻電磁線圈和中頻電磁線圈,高頻電磁線圈4位于中頻電磁線圈 5的上方,中頻電磁線圈5位于控制單元2的上方,控制單元2通過(guò)固定組件與測(cè)厚單元連接,測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元為低頻電磁線圈??刂茊卧―SP處理器、供電電源、程序控制增益單元、通道選擇單元以及多個(gè)采集通道,供電電源給測(cè)厚單元和DSP處理器供電,DSP處理器控制高頻線圈的發(fā)射頻率, 然后采集高頻線圈上接收線圈的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì),DSP處理器控制中頻線圈的發(fā)射頻率,然后采集中頻線圈上接收線圈的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì),DSP處理器通過(guò)I/O 口控制測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元的發(fā)射頻率,測(cè)厚傳感器通過(guò)采集通道、程序控制增益單元與DSP處理器連接,DSP處理器通過(guò)通道選擇單元選擇采集通道。固定組件包括傳感器基座、板簧固定座、中心軸以及繞中心軸圓周分布的多個(gè)板簧,傳感器基座與磁保護(hù)套固定連接,中心軸固定在傳感器基座上,所述板簧的兩端分別固定在傳感器基座和板簧固定座上,中心軸上套接有拉伸彈簧和固定有拉簧固定座,拉伸彈簧的一端固定在拉簧固定座上,拉伸彈簧的另一端驅(qū)動(dòng)板簧固定座沿中心軸運(yùn)動(dòng),測(cè)厚傳感器一對(duì)一的設(shè)置在板簧中部。如圖3所示,測(cè)厚傳感器的結(jié)構(gòu)示意圖,電磁測(cè)厚渦流探頭包括上堵頭1201、承壓外殼1202、下堵頭1203、毛細(xì)管1204、毛細(xì)管護(hù)帽1205、單芯插針護(hù)帽1206、防插入擋塊 1207、插針絕緣護(hù)套1208、插針1209,以及感應(yīng)線圈1213、連接體1212和電路板1211等,感應(yīng)線圈1213安裝在承壓外殼1202內(nèi)部空腔中的上半部分,連接體12安裝在承壓外殼2中部空腔內(nèi),電路板11安裝在承壓外殼2下部空腔中,單芯導(dǎo)線1210安裝在毛細(xì)管內(nèi),一端與電路板1211相連,另一端與插針1209相連,毛細(xì)管1204 —端與下堵頭1203相連,另一端與插針護(hù)帽1206連接,毛細(xì)管護(hù)帽1205內(nèi)部插入毛細(xì)管1204,同時(shí)與插針護(hù)帽1206相連,插針護(hù)帽1206內(nèi)部一端插入毛細(xì)管1204,與毛細(xì)管護(hù)帽相連,插針護(hù)帽1206另一端內(nèi)安裝有插針絕緣護(hù)套1208,防插入擋塊1207和插針1209 ;上堵頭1、承壓外殼2、下堵頭3、毛細(xì)管4、毛細(xì)管護(hù)帽5、單芯插針護(hù)帽6組成探頭的外部殼體,除承受外部壓力,保護(hù)內(nèi)部元件,同時(shí)還作為測(cè)量回路的地線。外部殼體各部件之間連接均采用焊接方式,且采用的焊接方法不能造成部件的機(jī)械變形、扭曲和穿孔,影響探頭的耐壓、防水性能,因而采用真空電子束焊、激光焊等高精密焊接方法;插針1209、單芯導(dǎo)線1210、電路板1211、連接體1212的銅柱1215、感應(yīng)線圈1213、 與外部殼體組成信號(hào)測(cè)量回路,實(shí)現(xiàn)渦流信號(hào)的感應(yīng),變換和耦合;插針護(hù)帽1206、防插入擋塊1207、插針絕緣護(hù)套1208、插針1209組成單芯插頭,可直接插入儀器探頭安裝孔內(nèi),實(shí)現(xiàn)探頭的快速安裝或替換;插針護(hù)帽1206外部設(shè)置有一道拆卸槽、兩道密封圈1217和一道接觸彈簧1218 ;拆卸槽的設(shè)置有利于探頭的快速拆卸,借助于插入扳手,可快速實(shí)現(xiàn)探頭的拆卸;兩道密封圈1217的設(shè)置保證探頭與儀器骨架組裝后具有較強(qiáng)的耐壓能力,同時(shí)防止水、油等滲入儀器與探頭內(nèi)部,造成儀器內(nèi)部短路事故; 接觸彈簧1218的設(shè)置可保證探頭安裝時(shí)與儀器安裝孔同軸,同時(shí)可以增大探頭與儀器的接觸面積;電路板1211插入下堵頭1203所留電路板插槽,電路板1211上焊接有彈簧銅片, 可保證電路板1211與下堵頭1203接觸良好,同時(shí)保證探頭外殼與電路板良好的共地;電路板1211、連接體1212、感應(yīng)線圈1213、磁芯護(hù)帽1214和銅柱1215組成信號(hào)檢測(cè)的核心部分,安裝在承壓外殼內(nèi)部空腔中,彼此間通過(guò)膠結(jié)、銷釘鉚接等方式實(shí)現(xiàn)固定,保證在這些部件在組裝完成時(shí)感應(yīng)線圈1213的繞制漆包線不會(huì)斷開(kāi),同時(shí)便于直接插入承壓護(hù)管 1202,可實(shí)現(xiàn)快速組裝;磁芯護(hù)帽1214安裝在感應(yīng)線圈1213的磁芯上,可有效防止漆包線在繞制時(shí)脫落;高溫絕緣護(hù)套一般為粉末狀絕緣絕熱材料,填充于承壓護(hù)管內(nèi)部未被檢測(cè)核心部分占據(jù)的空間,保證探頭具有的較強(qiáng)的防水性和高溫性能。本實(shí)用新型的工作過(guò)程控制單元2開(kāi)啟測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元13 (即低頻電磁線圈),并以頻率8Hz-20Hz的方波驅(qū)動(dòng)低頻電磁線圈產(chǎn)生交變電磁場(chǎng),對(duì)10 16個(gè)測(cè)厚傳感器在測(cè)厚驅(qū)動(dòng)信號(hào)周期內(nèi)連續(xù)采樣。低頻電磁線圈是發(fā)射探頭,感應(yīng)線圈是接受探頭??刂茊卧?開(kāi)啟中頻電磁線圈5,并以800Hz-10KHz方波驅(qū)動(dòng)中頻電磁線圈5,關(guān)閉中頻電磁線圈后,測(cè)量中頻電磁線圈5作為中頻電磁探頭的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)。中頻驅(qū)動(dòng)線圈驅(qū)動(dòng)后,對(duì)中頻線圈探頭進(jìn)行采樣。中頻電磁線圈5既是發(fā)射探頭也是接收探頭??刂茊卧?開(kāi)啟高頻電磁線圈4,并以20KHz-650KHz方波驅(qū)動(dòng)高頻電磁線圈4,關(guān)閉高頻電磁線圈4后,測(cè)量高頻電磁線圈4作為高頻電磁探頭的電感量。高頻驅(qū)動(dòng)線圈驅(qū)動(dòng)后,對(duì)高頻線圈探頭進(jìn)行采樣。高頻電磁線圈4既是發(fā)射探頭也是接收探頭。測(cè)厚傳感器12的探頭距離測(cè)厚驅(qū)動(dòng)線圈13中心的距離為500mm-600mm之間。高頻電磁線圈4中心和中頻電磁線圈5中心之間距離為350mm-400mm之間。本實(shí)用新型磁保護(hù)套為耐高壓、耐高溫、無(wú)磁、高硬度材料。正常施工時(shí),10-16個(gè)測(cè)厚傳感器緊貼管壁,分時(shí)采集10-16個(gè)測(cè)厚傳感器信號(hào)和高頻線圈探頭信號(hào)、中頻線圈探頭信號(hào)。高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,測(cè)厚驅(qū)動(dòng)線圈的驅(qū)動(dòng)頻率為8Hz 20Hz。高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,中頻線圈的驅(qū)動(dòng)頻率為800Hz ΙΟΚΗζ。高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,高頻線圈的驅(qū)動(dòng)頻率為20KHz 650KHZ。本實(shí)用新型的工作原理[0048]本實(shí)用新型通過(guò)傳感器陣列將套管分成多個(gè)扇區(qū),測(cè)量電磁波相位移,根據(jù)相位移與套管的平均厚度的線性關(guān)系測(cè)量套管不同扇區(qū)的壁厚。用高頻線圈測(cè)量套管的內(nèi)徑, 加上金屬屏蔽罩后,屏蔽罩內(nèi)會(huì)產(chǎn)生渦流,該渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于高頻線圈。從高頻線圈角度看,屏蔽罩使線圈電感量減小,Q值降低。屏蔽罩尺寸越小,對(duì)線圈的影響就越大。 磁井徑回路中特定等效參數(shù)是線圈與套管內(nèi)表面之間的距離(井徑)的函數(shù),與套管的電磁特性無(wú)關(guān),由此測(cè)得套管井徑。用中頻線圈測(cè)量套管的電磁特性,主要是在高頻線圈測(cè)得的套管內(nèi)徑基礎(chǔ)上計(jì)算出準(zhǔn)確的套管電磁特性,如電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率。根據(jù)計(jì)算出的電導(dǎo)率、 磁導(dǎo)率和傳感器陣列測(cè)得的各扇區(qū)套管壁厚,可計(jì)算出套管各個(gè)扇區(qū)的絕對(duì)壁厚。以上所述,僅是本實(shí)用新型的較佳方案,并非對(duì)本實(shí)用新型作任何限制,凡是根據(jù)本實(shí)用新型技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上所述所做的任何簡(jiǎn)單修改、變更以及等效結(jié)構(gòu)變換,均仍屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于包括磁保護(hù)套、線圈組件、控制單元、測(cè)厚單元、固定組件以及測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;所述線圈組件和控制單元均位于磁保護(hù)套內(nèi),所述測(cè)厚單元設(shè)置在固定組件上,所述固定組件連接磁保護(hù)套和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;所述測(cè)厚單元包括多個(gè)測(cè)厚傳感器;所述線圈組件包括高頻電磁線圈和中頻電磁線圈,所述高頻電磁線圈(4)位于中頻電磁線圈(5)的上方,所述中頻電磁線圈(5)位于控制單元(2)的上方,所述控制單元(2)通過(guò)固定組件與測(cè)厚單元連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述控制單元包括DSP處理器、供電電源、程序控制增益單元、通道選擇單元以及多個(gè)采集通道,所述供電電源給測(cè)厚單元和DSP處理器供電,所述DSP處理器控制高頻電磁線圈,所述DSP處理器控制測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元的發(fā)射頻率,所述測(cè)厚傳感器通過(guò)采集通道、程序控制增益單元與DSP處理器連接,所述DSP處理器通過(guò)通道選擇單元選擇采集通道。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元為低頻電磁線圈。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述固定組件包括傳感器基座、板簧固定座、中心軸以及繞中心軸圓周分布的多個(gè)板簧,所述傳感器基座與磁保護(hù)套固定連接,所述中心軸固定在傳感器基座上,所述板簧的兩端分別固定在傳感器基座和板簧固定座上,所述中心軸上套接有拉伸彈簧和固定有拉簧固定座,所述拉伸彈簧的一端固定在拉簧固定座上,所述拉伸彈簧的另一端驅(qū)動(dòng)板簧固定座沿中心軸運(yùn)動(dòng),所述測(cè)厚傳感器一對(duì)一的設(shè)置在板簧中部。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述測(cè)厚傳感器包括承壓外殼、以及設(shè)置在承壓外殼內(nèi)的測(cè)厚線圈和電路板、與承壓外殼固定密封連接的堵頭、與堵頭連接的單芯導(dǎo)線以及插針,所述電路板的一端與測(cè)厚線圈連接,所述電路板的另一端與單芯導(dǎo)線連接,所述單芯導(dǎo)線的另一端與插針連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述控制單元包括還包括放大單元,所述一級(jí)放大單元和二級(jí)放大單元,所述一級(jí)放大單元設(shè)置在采集通道和程序控制增益單元之間,所述二級(jí)放大單元設(shè)置在測(cè)厚傳感器和采集通道之間;所述一級(jí)放大單元包括至少兩個(gè)串聯(lián)的放大器;所述二級(jí)放大單元包括多個(gè)放大器,所述放大器與測(cè)厚傳感器一對(duì)一設(shè)置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述板簧和測(cè)厚傳感器均有10-16個(gè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述高頻電磁線圈和中頻電磁線圈之間距離為350mm-400mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,其特征在于所述測(cè)厚傳感器 (12)和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)線圈(13)之間距離為500mm-600mm。
專利摘要本實(shí)用新型涉及高精度井下電磁測(cè)厚井徑儀,包括磁保護(hù)套、線圈組件、控制單元、測(cè)厚單元、固定組件以及測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;線圈組件和控制單元均位于磁保護(hù)套內(nèi),測(cè)厚單元設(shè)置在固定組件上,固定組件連接磁保護(hù)套和測(cè)厚驅(qū)動(dòng)單元;厚單元包括多個(gè)測(cè)厚傳感器;線圈組件包括高頻電磁線圈和中頻電磁線圈,高頻電磁線圈位于中頻電磁線圈的上方,中頻電磁線圈位于控制單元的上方,控制單元通過(guò)固定組件與測(cè)厚單元連接。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有的電磁測(cè)厚井徑儀單發(fā)單收、只可以作為定性分析、且所測(cè)厚度是一個(gè)相對(duì)值的技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型所提供的在實(shí)施測(cè)量井徑的過(guò)程中,有的分辨率和很高的精度,可計(jì)算出不同扇區(qū)的絕對(duì)壁厚。
文檔編號(hào)E21B47/085GK202280455SQ201120369989
公開(kāi)日2012年6月20日 申請(qǐng)日期2011年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月29日
發(fā)明者劉征科, 張志虎, 朱治理, 陳濤 申請(qǐng)人:西安思坦儀器股份有限公司
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