專(zhuān)利名稱(chēng):原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及原位測(cè)試的方法及系統(tǒng),尤其涉及一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在巖土工程勘察中,原位測(cè)試是重要勘察方法,而靜力觸探是原位測(cè)試方法之一, 規(guī)范要求在靜力觸探試驗(yàn)時(shí),當(dāng)靜力觸探探頭貫入到一定深度后(上海規(guī)范規(guī)定是30m), 須下護(hù)管,以防止靜力觸探探桿偏斜或斷裂。當(dāng)前勘察外業(yè)施工勞務(wù)化程度較高,外業(yè)施工隊(duì)伍水平良莠不齊,靜力觸探試驗(yàn)在外業(yè)操作中,常常出現(xiàn)操作不規(guī)范現(xiàn)象,尤其是不按照要求下護(hù)管,導(dǎo)致勘探孔偏斜、探桿斷裂等現(xiàn)象經(jīng)常發(fā)生。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種對(duì)靜力觸探試驗(yàn)過(guò)程中的下護(hù)管操作進(jìn)行監(jiān)控,降低勘探孔偏斜、探桿斷裂等現(xiàn)象發(fā)生的幾率,從而迫使操作人員規(guī)范化操作,保證外業(yè)施工質(zhì)量的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法及系統(tǒng)。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,包括如下步驟啟動(dòng)原位測(cè)試采集儀,并輸入采集信息,所述采集信息包括工程名稱(chēng)、工程編號(hào)、 勘探孔孔號(hào)和設(shè)計(jì)孔深;進(jìn)行靜力觸探原位測(cè)試工作由靜力觸探探頭上的傳感器每深入巖土 Xcm采集一次貫入阻力數(shù)據(jù),同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),并將所采集的貫入阻力數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)以模擬信號(hào)的方式傳送到AD轉(zhuǎn)換單元中,所述X值根據(jù)不同工程而設(shè)定,其范圍為8彡X彡12 ;所述AD轉(zhuǎn)換單元將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),并將所述數(shù)字信號(hào)傳送至所述單片機(jī)處理芯片進(jìn)行處理;當(dāng)單片機(jī)處理芯片上的報(bào)警模塊檢測(cè)到所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的深度時(shí),則控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)所述設(shè)計(jì)孔深,所述預(yù)先設(shè)定的深度由各地的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。上述技術(shù)方案中,所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。上述技術(shù)方案中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后,在所述原位測(cè)試采集儀自帶的顯示屏上顯示。上述技術(shù)方案中,所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。上述技術(shù)方案中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后,存儲(chǔ)于所述原位測(cè)試采集儀自帶的勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡。上述技術(shù)方案中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后形成數(shù)據(jù)曲線(xiàn),所述數(shù)據(jù)曲線(xiàn)在所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏上顯示。
上述技術(shù)方案中所述靜力觸探探頭傳感器每深入巖土 IOcm采集一次貫入阻力數(shù)據(jù)。上述技術(shù)方案中,所述報(bào)警模塊檢測(cè)到所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到30m時(shí),控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作。本發(fā)明還提供了一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),包括靜力觸探探頭和原位測(cè)試采集儀,其中所述靜力觸探探頭上有靜力觸探探頭傳感器,用于采集巖土的貫入阻力數(shù)據(jù),同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),并將所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)以模擬信號(hào)的方式傳送給所述原位測(cè)試采集儀;所述原位測(cè)試采集儀包括AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)處理芯片和報(bào)警模塊;所述AD轉(zhuǎn)換單元用于接收所述模擬信號(hào)并將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后將所述數(shù)字信號(hào)傳送給所述單片機(jī)處理芯片;所述單片機(jī)處理芯片用于處理所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù);所述報(bào)警模塊運(yùn)行在所述單片機(jī)處理芯片上,用于檢測(cè)當(dāng)所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的深度時(shí),控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)設(shè)計(jì)孔深,所述預(yù)先設(shè)定的深度由各地的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。上述技術(shù)方案中,所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。上述技術(shù)方案中,所述原位測(cè)試采集儀還包括顯示屏,所述顯示屏與所述單片機(jī)處理芯片相連接,用于顯示所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。上述技術(shù)方案中,所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。上述技術(shù)方案中,所述原位測(cè)試采集儀還包括勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡,所述勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡與所述單片機(jī)處理芯片相連接,用于存儲(chǔ)所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。上述技術(shù)方案中,所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏還用于顯示所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后所形成的數(shù)據(jù)曲線(xiàn)。本發(fā)明是在傳統(tǒng)原位測(cè)試采集儀的單片機(jī)處理芯片上加載報(bào)警模塊,當(dāng)靜力觸探試驗(yàn)進(jìn)行到需下護(hù)管的深度時(shí),自動(dòng)進(jìn)行報(bào)警,提醒外業(yè)操作人員下護(hù)管,并停止采集貫入阻力數(shù)據(jù)直至外業(yè)操作人員完成下護(hù)管操作,迫使操作人員規(guī)范化操作,從而保證外業(yè)施工質(zhì)量。以下將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進(jìn)一步說(shuō)明,以充分地了解本發(fā)明的目的、特征和效果。
圖1是本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例的工作流成圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示,本發(fā)明公開(kāi)了一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其包括如下步驟一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,包括如下步驟
啟動(dòng)原位測(cè)試采集儀,并輸入工程名稱(chēng)、工程編號(hào)、勘探孔孔號(hào)和設(shè)計(jì)孔深等采集 fn息ο開(kāi)始進(jìn)行靜力觸探原位測(cè)試工作將靜力觸探探頭貫入巖土,所述靜力觸探探頭每深入巖土 10cm,探頭上的傳感器采集一次貫入阻力數(shù)據(jù),并記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),同時(shí)將所采集的所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)以模擬信號(hào)的方式傳送到多通道AD轉(zhuǎn)換單元中,所述多通道AD轉(zhuǎn)換單元將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),并將該數(shù)字信號(hào)傳送至所述單片機(jī)處理芯片進(jìn)行處理;所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后形成數(shù)據(jù)曲線(xiàn),在所述原位測(cè)試采集儀自帶的觸摸式點(diǎn)陣顯示屏上顯示,以方便外業(yè)操作人員讀取,同時(shí)所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理后的貫入阻力數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于原位測(cè)試采集儀自帶的勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡。在所述靜力觸探原位測(cè)試工作過(guò)程中,運(yùn)行在所述單片機(jī)處理芯片上的報(bào)警模塊實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)所述靜力觸探探頭上的傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù),當(dāng)所述傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到30m,即相當(dāng)于所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度達(dá)到30m時(shí),所述報(bào)警模塊控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)所述設(shè)計(jì)孔深。本發(fā)明還公開(kāi)了一種用于實(shí)現(xiàn)上述方法的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),包括靜力觸探探頭和原位測(cè)試采集儀,其中所述靜力觸探探頭上有靜力觸探探頭傳感器,用于采集巖土的貫入阻力數(shù)據(jù),同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),并將所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)以模擬信號(hào)的方式傳送給所述原位測(cè)試采集儀;所述原位測(cè)試采集儀包括多通道AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)處理芯片、報(bào)警模塊、觸摸式點(diǎn)陣顯示屏和勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡;所述多通道AD轉(zhuǎn)換單元用于接收所述模擬信號(hào)并將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后將所述數(shù)字信號(hào)傳送給所述單片機(jī)處理芯片;所述單片機(jī)處理芯片用于處理所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)并形成數(shù)據(jù)曲線(xiàn);所述報(bào)警模塊運(yùn)行在所述單片機(jī)處理芯片上,用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)所述靜力觸探探頭上的傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù),當(dāng)所述傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到30m,即相當(dāng)于所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度達(dá)到30m時(shí),所述報(bào)警模塊控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)所述設(shè)計(jì)孔深;所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏與所述單片機(jī)處理芯片相連接,用于顯示所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)和所述數(shù)據(jù)曲線(xiàn);所述勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡與所述單片機(jī)處理芯片相連接用于存儲(chǔ)所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的較佳具體實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)理解,本領(lǐng)域的普通技術(shù)無(wú)需創(chuàng)造性勞動(dòng)就可以根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)思作出諸多修改和變化。因此,凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本發(fā)明的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過(guò)邏輯分析、推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng)在由權(quán)利要求書(shū)所確定的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,包括如下步驟啟動(dòng)原位測(cè)試采集儀,并輸入采集信息,所述采集信息包括工程名稱(chēng)、工程編號(hào)、勘探孔孔號(hào)和設(shè)計(jì)孔深;進(jìn)行靜力觸探原位測(cè)試工作由靜力觸探探頭上的傳感器每深入巖土 Xcrn采集一次貫入阻力數(shù)據(jù),同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),并將所采集的貫入阻力數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)以模擬信號(hào)的方式傳送到AD轉(zhuǎn)換單元中,所述X值根據(jù)不同工程而設(shè)定,其范圍為 8彡X彡12 ;所述AD轉(zhuǎn)換單元將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),并將所述數(shù)字信號(hào)傳送至所述單片機(jī)處理芯片進(jìn)行處理;當(dāng)單片機(jī)處理芯片上的報(bào)警模塊檢測(cè)到所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的深度時(shí),則控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)所述設(shè)計(jì)孔深,所述預(yù)先設(shè)定的深度由各地的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
2.如權(quán)利要求1所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。
3.如權(quán)利要求2所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后,在所述原位測(cè)試采集儀自帶的顯示屏上顯示ο
4.如權(quán)利要求3所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。
5.如權(quán)利要求3所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后,存儲(chǔ)于所述原位測(cè)試采集儀自帶的勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡。
6.如權(quán)利要求4所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后形成數(shù)據(jù)曲線(xiàn),所述數(shù)據(jù)曲線(xiàn)在所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏上顯示。
7.如權(quán)利要求1所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述靜力觸探探頭傳感器每深入巖土 IOcm采集一次貫入阻力數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求1所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,其中,所述報(bào)警模塊檢測(cè)到所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到30m時(shí),控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作。
9.一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),包括靜力觸探探頭和原位測(cè)試采集儀,其中所述靜力觸探探頭上有靜力觸探探頭傳感器,用于采集巖土的貫入阻力數(shù)據(jù),同時(shí)記錄對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù),并將所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)以模擬信號(hào)的方式傳送給所述原位測(cè)試采集儀;所述原位測(cè)試采集儀包括AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)處理芯片和報(bào)警模塊;所述AD轉(zhuǎn)換單元用于接收所述模擬信號(hào)并將所述模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后將所述數(shù)字信號(hào)傳送給所述單片機(jī)處理芯片;所述單片機(jī)處理芯片用于處理所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù);所述報(bào)警模塊運(yùn)行在所述單片機(jī)處理芯片上,用于檢測(cè)當(dāng)所述靜力觸探探頭貫入的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的深度時(shí),控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),直至所述靜力觸探探頭到達(dá)設(shè)計(jì)孔深,所述預(yù)先設(shè)定的深度由各地的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
10.如權(quán)利要求9所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),其中,所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD 轉(zhuǎn)換單元。
11.如權(quán)利要求9所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),其中,所述原位測(cè)試采集儀還包括顯示屏,所述顯示屏與所述單片機(jī)處理芯片相連接,用于顯示所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求11所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),其中,所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。
13.如權(quán)利要求9所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),其中,所述原位測(cè)試采集儀還包括勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡,所述勘探孔信息測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存卡與所述單片機(jī)處理芯片相連接,用于存儲(chǔ)所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過(guò)的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。
14.如權(quán)利要求12所述的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),其中,所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏還用于顯示所述貫入阻力數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后所形成的數(shù)據(jù)曲線(xiàn)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警方法,是在傳統(tǒng)靜力觸探原位測(cè)試采集儀上加載報(bào)警模塊,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)所述靜力觸探探頭上的傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù),當(dāng)所述傳感器采集到的巖土深度數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)先設(shè)定的深度時(shí),所述報(bào)警模塊控制所述原位測(cè)試采集儀停止工作,等到外業(yè)操作人員拔出靜力觸探探桿并設(shè)置護(hù)管后,才允許所述原位測(cè)試采集儀繼續(xù)采集貫入阻力數(shù)據(jù),迫使外業(yè)操作人員規(guī)范化操作,從而保證外業(yè)施工質(zhì)量。本發(fā)明還公開(kāi)了一種用于實(shí)現(xiàn)上述方法的原位測(cè)試自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)。
文檔編號(hào)E02D1/02GK102296584SQ20111015526
公開(kāi)日2011年12月28日 申請(qǐng)日期2011年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月9日
發(fā)明者徐敏生, 殷立宏, 沈日庚 申請(qǐng)人:上海市城市建設(shè)設(shè)計(jì)研究院