專利名稱：一種三軸無磁校驗臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種三軸無磁校驗臺。
背景技術(shù)：
對油田鉆井和地質(zhì)鉆探領(lǐng)域，采用磁測量原理的測斜儀是必不可少的測量儀器。 而對該儀器精度的標(biāo)定都往往采用機(jī)械式的三軸校驗臺。該類校驗臺往往都采用了機(jī)械刻度盤來讀取數(shù)據(jù)，但是由于校驗臺的測量精度高，刻度線往往很細(xì)很密，因而很容易會造成視覺誤差，此外每一個人站的位置不同，其所讀取的同一點的刻度就會不同，這些都極大了影響了標(biāo)定的精度。而采用傳統(tǒng)的光電編碼器的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取的話，則會因其軸承的材料含磁而導(dǎo)致無法測量。當(dāng)前，磁測量領(lǐng)域現(xiàn)在已日漸普及，相關(guān)的測試設(shè)備也早已開始研制。但由于磁傳感器對周圍磁場環(huán)境的特殊要求，用于標(biāo)定的校驗臺必須是無磁的，所以一般的校驗臺無法滿足。因此需要一種及不會有磁性的影響，又能保證讀數(shù)精確的編碼器和的測試平臺，以使得測協(xié)議能準(zhǔn)確測量并方便精確的讀取數(shù)據(jù)。

實用新型內(nèi)容本實用新型提供一種三軸無磁校驗臺，該種校驗臺整體均是無磁的，避免了磁性對測試儀器的影響，而且通過其通過光電編碼器讀數(shù)的唯一性，又避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測量數(shù)據(jù)讀取的準(zhǔn)確。該種校驗臺不僅極大的方便了調(diào)試人員的調(diào)試工作， 而且在提高儀器準(zhǔn)確度的同時也降低了調(diào)試人員的工作量。為實現(xiàn)上述目的，采用以下技術(shù)方案一種三軸無磁校驗臺，其組成包括方位軸、井斜軸和工具面軸，所述方位軸上安裝有方位光電編碼器、差分刻度盤、方位鎖定手輪和調(diào)平裝置，并有微調(diào)機(jī)構(gòu)，其臺面可以圍繞臺體和下軸套旋轉(zhuǎn)，需要鎖定或微調(diào)時，擰緊臺面頂部的方位鎖定手輪，然后轉(zhuǎn)動微調(diào)機(jī)構(gòu)，進(jìn)行微調(diào)，調(diào)整好后可將臺面鎖定，光電編碼器固定在臺面的軸上，隨臺面一起轉(zhuǎn)動，可以保證安裝在校驗臺上的測試儀方位的準(zhǔn)確性；所述井斜軸安裝在方位平臺上的兩根立柱上，其上安裝有井斜光電編碼器，并有鎖緊機(jī)構(gòu)、刻度盤和微調(diào)機(jī)構(gòu)，兩個井斜半軸與固定塊可圍繞兩個立柱內(nèi)鑲的軸套旋轉(zhuǎn)，保證測試需要；所述工具面軸上安裝有工具面光電編碼器，并配有鎖緊手輪、刻度盤和微調(diào)機(jī)構(gòu)，其旋轉(zhuǎn)軸可以在鑲在固定塊內(nèi)的軸套中旋轉(zhuǎn)， 需要微調(diào)時，轉(zhuǎn)動微調(diào)機(jī)構(gòu)，進(jìn)行微調(diào)，需要鎖定時，調(diào)整鎖緊螺釘，可實現(xiàn)鎖定。進(jìn)一步的，所述三軸無磁校驗臺的光電編碼器為特制的無磁光電編碼器，校驗臺整體也全部采用無磁材料制作而成，因此避免了磁性對測試儀器的干擾，保證了測試儀器的正常工作。進(jìn)一步的，測試儀器安裝在工具面軸的旋轉(zhuǎn)軸軸孔內(nèi)，調(diào)整軸孔兩端的鎖緊手輪可以將測試儀器固定或松開，每個軸上均裝有刻度盤和差分盤，可以進(jìn)行讀數(shù)，同時光電編碼器顯示讀數(shù)，避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測試的精確，又方便了數(shù)據(jù)讀取，極大減輕了測試的工作量，使得測試更簡便和易于操作。
下面根據(jù)實施例和附圖對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖1是本實用新型所述一種三軸無磁校驗臺方位軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；圖2是本實用新型所述一種三軸無磁校驗臺井斜軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；圖3是本實用新型所述一種三軸無磁校驗臺工具面軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；圖4是本實用新型所述的一種三軸無磁校驗臺整體結(jié)構(gòu)示意圖；圖中1、方位光電編碼器；2、方位鎖定手輪；3、方位鎖定軸；4、臺面；5、臺體；6、差分刻度盤；7、線路板；8、調(diào)平裝置；9、臺體擋塊；10、下軸套；11、鎖緊母；12、離合錐塊；13、微調(diào)機(jī)構(gòu)；14、井斜光電編碼器罩；15、井斜光電編碼器；16、過度套；17、半軸A ；18、軸套；19、立柱A ；20、固定塊；21、半軸B ；22、立柱B ；23、軸套；24、鎖緊機(jī)構(gòu)；25、刻度盤；26、微調(diào)機(jī)構(gòu)； 27、鎖緊手輪；28、刻度盤；29、工具面光電編碼器罩；30、工具面光電編碼器；31、軸套；32、 微調(diào)機(jī)構(gòu)；33、旋轉(zhuǎn)軸；34、方位軸；35、井斜軸；36、工具面軸；37、固定螺釘；38、軸孔。
具體實施方式
如圖1至4所示，給出了本實用新型所述的一種三軸無磁校驗臺的具體實施例，圖中，三軸分別為方位軸34、井斜軸35、和工具面軸36，所述方位軸34底端有固定螺釘37，可以固定安裝在地面上，其臺體5內(nèi)安裝有方位光電編碼器1、線路板7，所述臺體5的周圍是差分刻度盤6，臺體5中心裝有方位鎖定軸3，其頂端有方位鎖定手輪2，在臺體5內(nèi)的方位鎖定軸3下端安裝有下軸套10，通過離合錐塊12與方位鎖定軸3連接，所述的下軸套10上端還套裝有微調(diào)結(jié)構(gòu)13，所述方位鎖定軸3底端有鎖緊螺母11和臺體擋塊9用于臺體5的定位，因此方位軸34的臺面4可以圍繞臺體5和下軸套10旋轉(zhuǎn)，需要鎖定或微調(diào)時，擰緊臺面頂部的方位鎖定手輪2，然后轉(zhuǎn)動微調(diào)機(jī)構(gòu)13，進(jìn)行微調(diào)，不動微調(diào)機(jī)構(gòu)13，可以將臺面4鎖定，光電編碼器1固定在臺面4的方位鎖定軸3上，隨臺面4 一起轉(zhuǎn)動；；所述井斜軸35安裝在固定在方位軸34臺面4上的立柱A19和立柱B22上，其兩端的半軸A17和半軸B21分別插入在裝在所述立柱A19和立柱B22上端的軸套A18和軸套B23內(nèi)，半軸A17 末端的過度套16外端一側(cè)端面上安裝有井斜光電編碼器15，其外罩有井斜光電編碼器罩 14，所述兩根半軸的中間安裝有固定塊20，所述半軸B21的末端裝有刻度盤25，并套裝有鎖緊機(jī)構(gòu)對，所述鎖緊機(jī)構(gòu)M和刻度盤25之間安裝有微調(diào)機(jī)構(gòu)沈，其一端連接半軸B21，另一端連接在立柱B22上，井斜軸35的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)方案是半軸A17和半軸B21與固定塊20圍繞立柱A19和立柱B22內(nèi)鑲的軸套A18和軸套B23旋轉(zhuǎn)，需要微調(diào)時，轉(zhuǎn)動微調(diào)機(jī)構(gòu)沈，進(jìn)行微調(diào)，需要鎖定時，調(diào)整鎖緊機(jī)構(gòu)M的調(diào)整螺釘，可實現(xiàn)鎖定；所述工具面軸36的旋轉(zhuǎn)軸 33套裝在井斜軸35的軸套31內(nèi)，上端套裝有刻度盤觀，在所述旋轉(zhuǎn)軸33上的刻度盤觀下端套裝有工具面光電編碼器30，并外罩有工具面光電編碼器罩四。所述工具面軸36的軸孔38用于安裝測試儀器，其兩端各裝有一個鎖緊手輪27，調(diào)整軸孔38兩端的鎖緊手輪27可以將測試儀器固定或松開，所述方位軸34、井斜軸35和工具面軸36上均裝有刻度盤和差分盤，可以進(jìn)行讀數(shù)，同時均有光電編碼器顯示讀數(shù)，避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測試的精確，又方便了數(shù)據(jù)讀取，極大減輕了測試的工作量，使得測試更簡便和易于操作；所述三軸無磁校驗的所有光電編碼器均為特制的無磁光電編碼器，校驗臺整體也全部采用無磁材料制作而成，因此避免了磁性對測試儀器的干擾， 保證了測試儀器的正常工作。
權(quán)利要求1.一種三軸無磁校驗臺，其組成包括方位軸(34)、井斜軸(35)、工具面軸(36)，其特點在于，所述方位軸(34)底端有固定螺釘(37)，其臺體(5)內(nèi)安裝有方位光電編碼器(1)、線路板(7)，所述臺體(5)的周圍是差分刻度盤(6)，臺體(5)中心裝有方位鎖定軸(3)，其頂端有方位鎖定手輪0)，在臺體(5)內(nèi)的方位鎖定軸C3)下端安裝有下軸套(10)，通過離合錐塊(1 與方位鎖定軸( 連接，所述方位鎖定軸( 上的下軸套(10)上端還套裝有微調(diào)結(jié)構(gòu)(13)，所述方位鎖定軸(3)底端有鎖緊螺母(11)和臺體擋塊(9)；所述井斜軸(35)安裝在固定在方位軸(34)臺面上的立柱A (19)和立柱^2 上，其半軸(17)和半軸Ql)分別插入在所述立柱A(19)和立柱W22)的軸套A(18)和軸套W23)內(nèi)，半軸A(17)的末端的過度套(16)外端安裝有井斜光電編碼器(15)，其外罩有井斜光電編碼器罩(14)，所述兩根半軸的中間安裝有固定塊(20)，所述半軸^21)的末端裝有刻度盤(25)，并套裝有鎖緊機(jī)構(gòu)(M)，鎖緊機(jī)構(gòu)(24)和刻度盤(25)之間安裝有微調(diào)機(jī)構(gòu)( )，其一端連接半軸B (21)， 另一端連接在立柱^2 上；所述工具面軸(36)的旋轉(zhuǎn)軸(3 套裝在井斜軸(3 的軸套 (31)內(nèi)，上端套裝有刻度盤(觀)，在所述旋轉(zhuǎn)軸(3 上的刻度盤08)下端套裝有工具面光電編碼器(30)，并外罩有工具面光電編碼器罩09)；所述的一種三軸無磁校驗臺，其全部構(gòu)件均由無磁材料制成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種三軸無磁校驗臺，其特征在于，所述工具面軸(36)的軸孔(38)用于安裝測試儀器，其兩端各裝有一個鎖緊手輪⑵)。
專利摘要一種三軸無磁校驗臺，其組成包括方位軸、井斜軸和工具面軸，方位軸臺面上有兩根立柱，井斜軸的兩個半軸插入在立柱上端的軸套內(nèi)，工具面軸的旋轉(zhuǎn)軸套裝在井斜軸的軸套內(nèi)，測試儀器安裝在工具面軸的旋轉(zhuǎn)軸軸孔內(nèi)，調(diào)整軸孔兩端的鎖緊手輪可以將測試儀器固定或松開，每個軸上均裝有刻度盤和差分盤，可以進(jìn)行讀數(shù)，同時光電編碼器顯示讀數(shù)，避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測試的精確，又方便了數(shù)據(jù)讀取，極大減輕了測試的工作量，使得測試更簡便和易于操作。進(jìn)一步的，所述的光電編碼器均為特制的無磁光電編碼器，校驗臺整體也全部采用無磁材料制成，因此避免了磁性對測試儀器的干擾，保證了測試儀器的正常工作。
文檔編號E21B47/02GK202017484SQ20102065244
公開日2011年10月26日 申請日期2010年12月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月10日
發(fā)明者余磊 申請人:北京深度科技有限責(zé)任公司