專利名稱:一種碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的制備方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于碳微機電技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種表面集成微納金屬褶皺的碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的制備方法,所制備的陣列結(jié)構(gòu)可作為微電極,應(yīng)用于微型電池、生物芯片和微型電化學傳感器等微機電領(lǐng)域中。
背景技術(shù):
碳微機電系統(tǒng)(C-MEMS)技術(shù)是一種厚膠光刻結(jié)合高溫熱解(通常1000度左右)的制造技術(shù),該技術(shù)基于高粘性的光刻膠(如SU-8膠)和常規(guī)光刻工藝生成三維交聯(lián)微結(jié)構(gòu),然后在熱解爐中和惰性氣氛條件下,通過升溫控制交聯(lián)結(jié)構(gòu)熱解轉(zhuǎn)換成玻璃碳結(jié)構(gòu)。該技術(shù)具有大批量、工藝簡單和可制造多種多樣的三維碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的特點。生成的碳結(jié)構(gòu)具有優(yōu)良的機械、導(dǎo)電、導(dǎo)熱和電化學特性,并有碳材料獨特的生物兼容性,在新型微電 池和傳感器開發(fā),尤其在生物器件領(lǐng)域具有獨特的應(yīng)用前景。薄膜在壓縮應(yīng)力作用下發(fā)生曲屈生成褶皺是一種常見力學現(xiàn)象。以往,曲屈現(xiàn)象通常被認為是影響結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性、導(dǎo)致結(jié)構(gòu)失效的不利因素,需要設(shè)法避免。因此,早期的研究主要關(guān)注的是薄膜裙皺的生成現(xiàn)象和機理。1998年,美國哈佛大學的Bowden等人在“Spontaneous formation of ordered structures in thin films of metals supportedon an elastomeric polymer” 一文(Nature, 1998,393:146-149)報道了平坦表面上薄膜褶皺的研究成果,展示了在平坦表面上由熱脹冷縮產(chǎn)生的各向同性的應(yīng)力所生成的褶皺具有無序的紋理。他們率先提出利用此現(xiàn)象可制造表面微結(jié)構(gòu),還提出通過制作微結(jié)構(gòu)來調(diào)控平坦表面上的褶皺紋理。近年來,大量研究證實了覆蓋在彈性基底表面的剛性薄膜在壓縮應(yīng)力作用下可以自發(fā)形成具有多樣紋理的褶皺。隨著薄膜褶皺的應(yīng)用價值不斷被認識和微納制造技術(shù)的發(fā)展,各種微納米加工方法的不斷涌現(xiàn)為微納米褶皺膜的加工提供了手段,人們開始把目光轉(zhuǎn)向薄膜褶皺的加工上,并開始利用薄膜生成褶皺這一力學現(xiàn)象來制造表面微納結(jié)構(gòu)。在生成薄膜裙皺結(jié)構(gòu)方面,Lin等在“Spontaneous formation ofone-dimensional ripples in transit to highly ordered two-dimensionalherringbone structures through sequential and unequal biaxial mechanicalstretching”一文(Applied Physics Letter, 2007, 90:241903)報道了在 PDMS 表面制作薄膜褶皺的方法。通過不同方式對應(yīng)力進行釋放,可生成高度有序的人字形褶皺或無序的褶皺。相比于熱脹-冷縮方法,Lin等提出的拉伸-回縮方法可以產(chǎn)生較大的預(yù)應(yīng)變,并根據(jù)預(yù)應(yīng)變的不同可以生成波長為250納米至10微米的褶皺。此方法還可以控制應(yīng)力釋放過程,從而對褶皺紋理進行調(diào)控。美國哈佛大學的Moon和韓國首爾國立大學的Hutchinson等人在“Wrinkled hardskins on polymers created by focused ion beam” 一文(PNAS, 2007,104(4):1130 -1133)中提出,將PDMS暴露在聚焦離子束中,聚焦粒子束輻射改變了 PDMS表面的化學組成,使得其靠近粒子束的表面生成一層剛性薄膜,該薄膜與彈性基底之間應(yīng)力發(fā)生變化,從而導(dǎo)致薄膜褶皺的產(chǎn)生。通過控制聚焦離子束的頻率及暴露在其中的PDMS的面積,可實現(xiàn)褶皺波長在微米到亞微米范圍內(nèi)變化,而褶皺紋理也從簡單的一維結(jié)構(gòu)到復(fù)雜分層嵌套結(jié)構(gòu)各不相同。種種研究表明,通過將薄膜曲屈現(xiàn)象和傳統(tǒng)的微納加工技術(shù)結(jié)合,可以制作出復(fù)雜的微納結(jié)構(gòu)。但這些褶皺結(jié)構(gòu)的生成大多局限于聚合物結(jié)構(gòu),還不具備成為電極結(jié)構(gòu)用于器件開發(fā)的條件。在薄膜裙皺的制備工藝方面,Xie等人在“Encoding localizedstrain history through wrinkle based structural colors,, 一文(AdvancedMaterial, 2010,22:4390-4394)提出采用形狀記憶聚合物制作基底,將其加熱至轉(zhuǎn)變溫度后,利用壓印技術(shù)在基底表面制作微結(jié)構(gòu),然后降溫并沉積金屬薄膜,最后將其升溫至轉(zhuǎn)變溫度,此時微結(jié)構(gòu)側(cè)壁上的金屬薄膜將發(fā)生曲屈生成褶皺,但是此方法無法在整個表面生成褶皺。也有人提出了許多其他不同的制造工藝,但是這些薄膜褶皺生成的工藝研究均在平坦表面進行,沒有考慮在已有微技術(shù)加工的基礎(chǔ)上制備納米褶皺結(jié)構(gòu),實現(xiàn)微納集成結(jié)構(gòu)的制造。 另一方面,C-MEMS的研究從美國勞倫斯國家實驗室開始并由美國加州大學Madou教授領(lǐng)導(dǎo)的課題組得到了深入發(fā)展。國外研究組對C-MEMS技術(shù)在微電池、燃料電池、葡萄糖傳感器等方面的應(yīng)用也進行了嘗試。研究發(fā)現(xiàn)C-MEMS工藝可大面積制備出平面工藝所難以企及的三維碳微電極陣列,用于微電池可極大地增大電池容量并減小電池的重量,可解決電池微型化所面臨的工藝及材料難題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種碳微電機陣列結(jié)構(gòu)的制備方法,該方法所制備的陣列結(jié)構(gòu)具有較大的比表面積,因此具有良好的電學性能。本發(fā)明提供的一種碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,該方法包括如下步驟(I)光刻步驟在基片上使用負膠進行光刻,得到光刻膠的陣列結(jié)構(gòu);(2)沉積金屬步驟在所得到的光刻膠的陣列結(jié)構(gòu)上沉積至少一層金屬層;所述各金屬層為單金屬或合金;(3)熱解步驟在保護氣體環(huán)境下進行熱解,得到表面集成了金屬納米褶皺結(jié)構(gòu)的碳微結(jié)構(gòu)。作為上述技術(shù)方案的一種改進,所述單金屬或合金的熔點為600°C至1500°C。作為上述技術(shù)方案的另一種改進,保護氣體為惰性氣體,或者氮氣。作為上述技術(shù)方案的一種進一步改進,在保護氣體中混入氫氣,氫氣的體積百分比在10%以下。作為上述技術(shù)方案的另一種進一步改進,熱解時,最高溫度為600°C至1100°C ;或者熱解通過單步、兩步或多步完成。作為上述技術(shù)方案的更進一步改進,步驟(I)中,光刻的具體過程為(I. I)清洗光刻前清洗硅基片;(I. 2)勻膠在清洗后的基片上涂覆光刻膠,然后利用勻膠機進行勻膠;勻膠結(jié)束后對勻膠后的基片進行前烘處理;(I. 3)曝光將前烘處理后的基片在光刻機上使用掩膜版進行對準曝光,曝光后得到的基片再拿去進行中烘處理;(1.4)顯影在中烘處理后,對基片再進行顯影操作,待顯影充分后,進行后烘處理,得到光刻膠的陣列結(jié)構(gòu)。本發(fā)明中,優(yōu)先選用SU-8負膠通過厚膠光刻工藝,金屬沉積工藝,以及熱解工藝得到大量生長集成金屬納米褶皺納米結(jié)構(gòu)的碳微結(jié)構(gòu)。本發(fā)明中,沉積金屬的選擇很重要,單層金屬中鎳、鋁等金屬所得到的褶皺結(jié)構(gòu)表面積較大,而雙層或多層結(jié)構(gòu)則較為復(fù)雜,可變性更多。本發(fā)明中,采用多步熱解工藝對樣品進行熱解,可有效地降低熱解完成后碳結(jié)構(gòu)和金屬褶皺結(jié)構(gòu)中的殘余應(yīng)力和微裂縫的數(shù)量,減少發(fā)生微結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,延長使用壽命。如在具體的一個實施例中,熱解升溫前對爐管進行抽真空后通入保護氣體,避免空氣 的環(huán)境下在熱解中發(fā)生結(jié)構(gòu)氧化;熱解過程中還可以在保護氣體中混入氫氣,其中氫氣的作用是進一步起還原作用,避免氧化反應(yīng)的發(fā)生。最后自然退火,在保持保護氣體氣氛的條件下冷卻至室溫。特別地,為了使碳微架構(gòu)上生長出良好的金屬褶皺結(jié)構(gòu),熱解過程中最高溫度的控制尤為的重要。綜上所述,本發(fā)明將厚膠光刻、金屬沉積和熱解相結(jié)合,制得在表面生長集成了金屬納米褶皺結(jié)構(gòu)的碳微結(jié)構(gòu),極大的提高微結(jié)構(gòu)的表面積,可運用于微機電系統(tǒng)中,具有工藝簡便、成本低廉,可大批量生產(chǎn),圖形精細、結(jié)構(gòu)牢固的特點,其使用壽命長,可作為微電極應(yīng)用于微型電池、微型電化學傳感器等微機電領(lǐng)域中。
圖I為工藝過程流程圖,其中a為光刻后的結(jié)構(gòu),b為沉積金屬層后的結(jié)構(gòu),c為熱解后得到的生長集成有金屬納米褶皺結(jié)構(gòu)的碳微結(jié)構(gòu);圖2 (a)為實施例I熱解后得到的單個碳柱的SEM照片;圖2 (b)為實例I在圖3 (a)中單個碳柱中褶皺的SEM照片;圖3 (a)為實施例2熱解后單個碳柱的SEM照片;圖3 (b)為實例2在圖3 (a)中單個碳柱中褶皺的SEM照片;圖4 (a)為實施例3熱解后碳微結(jié)構(gòu)陣列的SEM照片;圖4 (b)為實例3在圖4 (a)中單個碳柱的SEM照片;
具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實施例,對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。實施例I :(I)光刻步驟(I. I)清洗步驟將一片2寸娃片,使用丙酮超聲清洗IOmin后,放入SPM (濃硫酸和雙氧水混合溶液)中,在80°C的環(huán)境中加熱清洗15min,然后用去離子水徹底清潔后,放在200°C熱板上烘烤15min使其完全干燥;(I. 2)勻膠步驟在KW-4A型勻膠機上對清洗后的硅基片上涂覆SU-82100負型光刻膠(用相關(guān)稀釋液如丙二醇甲醚乙酸酯(PGMEA)稀釋),勻膠分兩步進行,勻膠機先以低速500r/min旋轉(zhuǎn)50s,再以高速1000r/min旋轉(zhuǎn)IOOs ;勻膠后對硅基片進行前烘處理,溫度為65°C,加熱60min;前烘的作用是溶劑揮發(fā),令膠層固定下來,為了更好的曝光做準備,若前烘不足則易導(dǎo)致曝光時膠層與掩膜板粘連,但是前烘的時間也不是越長越好,前烘過量易影響光刻膠成型效果;前烘處理結(jié)束后在120°C的情況下再加熱2min,然后進行下一步的操作。(I. 3)曝光步驟將前烘處理后的硅基片使用掩膜版進行對準曝光(優(yōu)選所用光刻機型號為Karl Suss MA6),曝光劑量為325mJ/cm2,曝光時間為100s,曝光后及時將硅基片進行中烘處理;中烘處理時,溫度95°C,加熱30min ;曝光和中烘兩個步驟結(jié)合起來才能使SU-8光照部分充分交聯(lián),若圖形不明顯則說明這兩個步驟進行不充分;中烘結(jié)束后自然 冷卻至室溫,再進行下一步操作。(I. 4)顯影步驟對中烘處理后的硅基片進行顯影,顯影液為SU-8光刻膠配套的專用顯影液,由于膠層較厚,顯影時要不斷振蕩顯影液,必要時要用超聲振蕩輔助,充分沖刷未曝光部分的光刻膠;顯影時可以利用異丙醇檢驗顯影是否完全,若出現(xiàn)白色薄膜則說明顯影不足,需放回顯影液繼續(xù)顯影,以此反復(fù)檢驗未曝光的光刻膠是否完全去除,知道確定顯影完全;最后用去離子水沖洗樣片,并進行后烘處理,溫度110°C,加熱3min ;整個操作時間不宜過長以防光刻膠在空氣中氧化。以上各步的工藝參數(shù)如表I所示表I實施例I的厚膠光刻工藝參數(shù)(SU-82100型光刻膠)
轉(zhuǎn)速(r/min)500
過程I__
時_ (S)50
勻膠___
轉(zhuǎn)速(r/min) 1000 EIh 2__
WfiiJ (S)100
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時間(inin)60
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后烘__
時間(min )3(2)金屬層沉積步驟用磁控濺射鍍膜機,在光刻后結(jié)構(gòu)上濺射沉積一層鎳金屬,厚度約為500nm。
(3)熱解步驟將經(jīng)過后烘處理的硅基片放入GSL-1400X型真空管式爐,分三次逐步升高溫度進行熱解,得到碳微與金屬納米褶皺的集成機構(gòu)。(3. I)抽真空,真空度達到10_3Tor,目的是排出氧氣以防光刻膠結(jié)構(gòu)被燒毀;(3. 2)以2000標況毫升每分(sccm)通入氮氣,目的是進一步排出多余的氧;(3. 3)從常溫以升溫速率3°C /min升到250°C,保溫30min,持續(xù)以2000sccm通入氮氣;這一過程為的是進一步去除水汽加強附著,達到堅膜作用,用較低的升溫速率以及250°C保持30min,是為了使堅膜充分進行;(3. 4)接著以升溫速率5°C /min從250°C升到500°C,保溫30min,持續(xù)以2000sccm通入氮氣;熱分解主要發(fā)生在這個溫度區(qū)間,光刻膠的質(zhì)量收縮也最大;采用較低的升溫速率有利于光刻膠充分熱解并排放氣體副產(chǎn)物;保溫30min是為了使排氣反應(yīng)劇烈的膠層得以穩(wěn)定一段時間,從而使氮氣充分帶走氣態(tài)副產(chǎn)物,以免膠層發(fā)生形變;(3. 5)最后以升溫速率10°C /min從500°C升溫到900°C,此時通入氮氣(95%)/氫氣(5%)并保溫80min,使膠層碳化更徹底,電阻率更低;混合氣體中氫氣的作用是進一步降低氧含量;(3. 6)熱解完之后使硅基片自然冷卻至室溫,以減少薄膜的內(nèi)應(yīng)力,同時繼續(xù)以2000sCCm通入氮氣,不但可以加速降溫,并且可以帶走熱解碳層表面的氧氣。設(shè)定升溫過程為逐步上升而不是一步到位的原因在于,保持環(huán)境溫度始終低于膠層逐步上升的玻化溫度,防止膠層發(fā)生流動畸變。本實施例中三步熱解主要工藝參數(shù)列于表2中。表2實施例I的三步法熱解工藝參數(shù)
權(quán)利要求
1.一種碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,該方法包括如下步驟 (I)光刻步驟在基片上使用負膠進行光刻,得到光刻膠的陣列結(jié)構(gòu); (2)沉積金屬步驟在所得到的光刻膠的陣列結(jié)構(gòu)上沉積至少一層金屬層;所述各金屬層為單金屬或合金; (3)熱解步驟在保護氣體環(huán)境下進行熱解,得到表面集成了金屬納米褶皺結(jié)構(gòu)的碳微結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的制備方法,其特征在于,所述單金屬或合金的熔點為600°C至1500。。。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,保護氣體為惰性氣體,或者氮氣。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于,熱解過程中,在保護氣體中混入氫 氣,氫氣的體積百分比在10%以下。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,熱解時,最高溫度為600°C至1100°C。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制備方法,其特征在于,熱解通過單步、兩步或多步完成。
7.根據(jù)權(quán)利要求I至6中任一所述的制備方法,其特征在于,步驟(I)中,光刻的具體過程為 (I. D清洗光刻前清洗硅基片; (I. 2)勻膠在清洗后的基片上涂覆光刻膠,然后利用勻膠機進行勻膠;勻膠結(jié)束后對勻膠后的基片進行前烘處理; (I. 3)曝光將前烘處理后的基片在光刻機上使用掩膜版進行對準曝光,曝光后得到的基片再拿去進行中烘處理; (1.4)顯影在中烘處理后,對基片再進行顯影操作,待顯影充分后,進行后烘處理,得到光刻膠的陣列結(jié)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,步驟(I)所采用的光刻膠為SU-8負膠。
全文摘要
本發(fā)明屬于碳微機電技術(shù)領(lǐng)域,為一種碳微電極陣列結(jié)構(gòu)的制備方法。其步驟包括①光刻步驟,得到陣列的碳微結(jié)構(gòu)部分;②沉積金屬步驟在所得到的碳微結(jié)構(gòu)表面沉積一層或多層金屬層;③熱解步驟在惰性氣體氛圍或惰性混合氣體氛圍環(huán)境下,在不同的溫度下進行多步熱解;通過上述步驟,即可生長得到表面集成碳納米結(jié)構(gòu)的碳微電極陣列結(jié)構(gòu)。本發(fā)明將厚膠光刻、金屬沉積和熱解相結(jié)合,得到的微納集成結(jié)構(gòu)擁有較大的比表面積,本發(fā)明的方法運用于微機電系統(tǒng)中,具有工藝簡便,成本低廉、可控性高、可大批量生長、結(jié)構(gòu)優(yōu)良等特點,得到的微納集成結(jié)構(gòu)具有良好的電學性能,故可作為電機,在微型電池、微型電化學傳感器等微機領(lǐng)域中會有較廣泛的應(yīng)用。
文檔編號B81C1/00GK102730628SQ20121018683
公開日2012年10月17日 申請日期2012年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月8日
發(fā)明者習爽, 劉丹, 史鐵林, 夏奇, 廖廣蘭, 徐亮亮, 湯自榮, 龍胡 申請人:華中科技大學