一種工件姿態(tài)磁力校正機構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種視覺檢測設備上料工序的工件姿態(tài)校正技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]視覺檢測設備一般由:上料系統(tǒng)、視覺分選系統(tǒng)、出料分揀系統(tǒng)組成。視覺檢測系統(tǒng)利用高分辨率相機采集待檢工件光學成像,通過軟件像素分析進而判定工件的外觀、尺寸等特征是否符合預定要求。其物流載體為勻速旋轉(zhuǎn)的圓環(huán)形玻璃盤,為達到較高檢測精度和檢測效率,需工件上料至玻璃盤時,姿態(tài)穩(wěn)定、統(tǒng)一。
[0003]傳統(tǒng)上料技術(shù)對于若干類型工件無法高效篩選正確姿態(tài)(例如邊長相近的六面體),對于若干類型工件仍無法保證高速下穩(wěn)定輸送(例如瘦高型易倒伏工件),從而形成上料環(huán)節(jié)瓶頸。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本發(fā)明的目的是提供一種簡單有效、易調(diào)整的工件姿態(tài)校正機構(gòu),從而優(yōu)化上料穩(wěn)定性、姿態(tài)正確率和上料速度。
[0005]本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:一種工件姿態(tài)磁力校正機構(gòu),其中,磁鐵和C型磁鐵安裝座構(gòu)成磁通回路,工件在由上料器直振軌道掉落到玻璃盤后,緊接從C型缺口處通過。工件會在磁場力作用下,實現(xiàn)工件極性方向和磁場方向趨同,工件姿態(tài)被校正。
[0006]此外,本發(fā)明還提供如下附屬技術(shù)方案:上述結(jié)構(gòu)的安裝支架保留X、Y、Z三個方向的自由度,便于控制校正區(qū)域磁場強度和位置,高度方向通過螺紋頂絲結(jié)構(gòu)實現(xiàn)精密調(diào)整。
【附圖說明】
[0007]圖1:上料系統(tǒng)和視覺分選系統(tǒng)布局圖;
圖中:1、旋轉(zhuǎn)臺2、工件姿態(tài)磁力校正機構(gòu)3、上料系統(tǒng);
圖2:本發(fā)明結(jié)構(gòu)圖;
圖3:C型磁鐵安裝座結(jié)構(gòu)圖;
圖4:磁鐵護罩結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0008]下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例作進一步地詳細描述。
[0009]本發(fā)明機械結(jié)構(gòu)包括:1、C型磁鐵安裝座2、磁鐵3、磁鐵護罩4可調(diào)支架; 磁鐵與C型磁鐵安裝座構(gòu)成磁通回路,其中磁場為豎直方向。磁材工件通過磁場時,在磁場力作用下,工件姿態(tài)被校正。
[0010]C型磁鐵安裝座起固定支撐作用,磁鐵吸附在C型磁鐵安裝座上。磁鐵護罩包覆磁鐵,降低工件掉落至磁鐵上被磁化的風險。C型磁鐵安裝座安裝在可調(diào)支架上,提供X、Y、Z三個調(diào)整自由度,水平x、Y自由度用于調(diào)整磁場區(qū)域水平位置,Z方向自由度用于控制核心磁場強度。
[0011]以上所述,僅為本發(fā)明較佳的【具體實施方式】,但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領域的技術(shù)人員在本發(fā)明披露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護范圍應該以權(quán)利要求書的保護范圍為準。
【主權(quán)項】
1.一種視覺檢測設備的工件姿態(tài)磁力校正機構(gòu),其特征在于通過磁鐵及導磁材料構(gòu)建磁通回路,形成特定方向磁場,利用磁材工件在磁場中會順應磁場方向的特性,實現(xiàn)工件姿態(tài)統(tǒng)一
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于視覺檢測設備的工件姿態(tài)磁力校正機構(gòu)。該機構(gòu)由C型磁鐵安裝座、磁鐵、磁鐵護罩以及可調(diào)支架組成。該機構(gòu)通過磁力對上料工序中的工件姿態(tài)進行校正,從而優(yōu)化上料穩(wěn)定性、姿態(tài)正確率和上料速度。
【IPC分類】B07C5/34, B07C5/10
【公開號】CN105149236
【申請?zhí)枴緾N201510524216
【發(fā)明人】崔凱翔, 崔忠偉, 吳桐, 杜新征, 趙猛
【申請人】北京領邦儀器技術(shù)有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年8月25日