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一種生長GaN的SiC襯底的剝離方法與流程

文檔序號:12883638閱讀:1016來源:國知局
一種生長GaN的SiC襯底的剝離方法與流程

本發(fā)明涉及生長gan的sic襯底的剝離技術,具體涉及一種生長gan的sic襯底的剝離方法。



背景技術:

傳統(tǒng)的gan單晶生長工藝是在藍寶石襯底上外延gan材料,然后通過激光剝離襯底,從而得到gan單晶材料。由于藍寶石襯底的晶格與gan晶體晶格常數(shù)失配較大,因此,與gan單晶有較好晶格匹配的sic材料較藍寶石襯底有很大優(yōu)勢。但是,sic禁帶寬度接近并略小于gan材料,不能用激光剝離的方法去掉sic襯底。



技術實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種生長gan的sic襯底的剝離方法,以克服現(xiàn)有技術的不足。

為達到上述目的,本發(fā)明采用如下技術方案:

一種生長gan的sic襯底的剝離方法,具體包括以下步驟:

步驟1)、在sic襯底表層下形成氫層;

步驟2)、在形成氫層的sic襯底表層上生成gan單晶;

步驟3)、從sic襯底的氫層通過激光切割使sic襯底和gan單晶分離,從而實現(xiàn)生長gan的sic襯底剝離。

進一步的,具體的,步驟1)中,在sic襯底下形成氫層前將sic襯底依次通過丙酮、酒精和去離子水各超聲清洗5-10min,然后通過氮氣吹干,用于去除sic襯底表面的氧化物;其中酒精濃度大于95%,濃硫酸濃度大于95%。

進一步的,具體的,步驟1)中,在sic襯底表層下注入氫離子形成氫離子層,使sic襯底注入氫離子層處于富氫狀態(tài)從而形成氫層。

進一步的,在室溫下將能量為200kev量級的h+離子束注入sic材料中,注入量為2×1017ions/cm2,注入方向由上至下傾斜7o

進一步的,將注入h+離子的sic襯底氬氣氛圍下在850℃-950℃下退火5-15min形成氫層。

進一步的,步驟1)中,在sic襯底表層下注入氫離子前在sic襯底表面沉積氧化層,用于防止氫離子注入時的穿通效應;氧化層厚度為20-40nm。

進一步的,步驟2)中,在形成氫層的sic襯底上通過mocvd法生長gan單晶,采用氣壓為4.5×104-5.5×104pa,由氫氣攜帶三甲基鎵和氨氣進入反應腔室,sic襯底溫度為950-1050℃;生長gan厚度為400-600um。

進一步的,將步驟3)中激光切除后的gan單晶通過化學機械研磨法除去gan單晶表面的剩余sic即可得到gan單晶。

進一步的,將步驟3)中切除后的sic襯底通過化學機械平坦化磨平以備下次使用。

與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明具有以下有益的技術效果

本發(fā)明一種生長gan的sic襯底的剝離方法,通過在sic襯底表層下形成氫層,然后再在形成氫層的sic襯底表層上生成gan單晶,由于在生長gan的過程中,sic襯底經歷了一千多度的熱氛圍,注入到sic襯底中氫層會在sic襯底中橫向連成一層氣泡,最后采用激光沿sic襯底形成的氫層切割將gan和sic襯底剝離出來,即可完成生長gan單晶的sic襯底的剝離,避免造成剝離過程中gan單晶受損,本方法簡單快捷,避免了直接通過激光切割將生長gan和sic襯底剝離,避免了sic襯底材料的浪費。

進一步的,通過在sic襯底表層下注入氫離子形成氫離子層,使得sic襯底表層下的氫離子層處于富氫狀態(tài)從而形成氫層,方法簡單且形成氫層穩(wěn)定。

進一步的,通過sic襯底注入氫層,將切除后的sic襯底通過化學機械平坦化磨平以備下次使用,大大降低了生產成本。

附圖說明

圖1為本發(fā)明氫離子注入結構示意圖。

圖2為本發(fā)明激光切割位置結構示意圖。

圖3為本發(fā)明sic襯底分離結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發(fā)明做進一步詳細描述:

一種生長gan的sic襯底的剝離方法,具體包括以下步驟:

步驟1)、在sic襯底表層下形成氫層;

步驟2)、在形成氫層的sic襯底表層上生成gan單晶;

步驟3)、從sic襯底的氫層通過激光切割使sic襯底和gan單晶分離,從而實現(xiàn)生長gan的sic襯底剝離。

具體的,步驟1)中,在sic襯底下形成氫層前將sic襯底依次通過丙酮、酒精和去離子水各超聲清洗5-10min,然后通過氮氣吹干,置于光學顯微鏡下觀察,看表面是否潔凈,采用這種處理方法除去sic襯底表面的氧化物;其中酒精濃度大于95%,濃硫酸濃度大于95%;

步驟1)中,在sic襯底表層下注入氫離子形成氫離子層,在sic襯底表層下注入氫離子前在sic襯底表面沉積氧化層,用于防止氫離子注入時的穿通效應;氧化層厚度為20-40nm,室溫下,將能量為200kev量級的h+離子束入射到sic襯底表層中去,注入量為2×1017ions/cm2,注入方向傾斜7o,h+會在sic表面下1-1.4um處形成富氫狀態(tài),注入位置如圖1所示;將注入h+離子的sic襯底氬氣氛圍下在850℃-950℃下退火5-15min,以修復離子注入損傷,使sic襯底注入氫離子層處于富氫狀態(tài)從而形成氫層;

步驟2)中,在注氫的sic襯底表層上通過mocvd法生長gan單晶;在生長gan單晶前先去除sic襯底表層上的氧化層,再清洗殘留溶液,通過氮氣吹干;用mocvd方法在sic襯底上生長gan單晶,采用氣壓為4.5×104-5.5×104pa,由氫氣攜帶三甲基鎵(tmga)和氨氣(nh3)進入反應腔室,sic襯底溫度為950-1050℃;生長gan厚度為400-600um。

經過高溫后,sic襯底中的h+離子已經結合成為氫氣,由于在生長gan的過程中,sic襯底經歷了一千多度熱氛圍,注入的sic中氫會在橫向連成一層氣泡,然后用激光在圖2位置處切割;sic襯底在氫氣的壓力下剝離下來,如圖3所示,剝離出來的sic拋光之后還可以重復利用,大大降低的gan的制備成本;

將步驟3)中激光切除后的gan單晶通過化學機械研磨除去gan單晶表面的剩余sic即可得到gan單晶;

將步驟3)中切除后的sic襯底通過化學機械平坦化磨平以備下次使用。



技術特征:

技術總結
本發(fā)明公開了一種生長GaN的SiC襯底的剝離方法,通過在SiC襯底表層下形成氫層,然后再在形成氫層的SiC襯底表層上生成GaN單晶,由于在生長GaN的過程中,SiC襯底經歷了一千多度的熱氛圍,注入到SiC襯底中氫層會在SiC襯底中橫向連成一層氣泡,最后采用激光沿SiC襯底形成的氫層切割將GaN和SiC襯底剝離出來,即可完成生長GaN單晶的SiC襯底的剝離,避免造成剝離過程中GaN單晶受損,本方法簡單快捷,避免了直接通過激光切割將生長GaN和SiC襯底剝離,避免了SiC襯底材料的浪費,通過在SiC襯底表層下注入氫離子形成氫離子層,使得SiC襯底表層下的氫離子層處于富氫狀態(tài)從而形成氫層,方法簡單且形成氫層穩(wěn)定。

技術研發(fā)人員:張景文;陳旭東;翟文博;王進軍;卜忍安;王宏興;侯洵
受保護的技術使用者:西安交通大學
技術研發(fā)日:2017.07.28
技術公布日:2017.11.07
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