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一種多元稀土六硼化物(La0.6CexPr0.4?x)B6單晶體的制備方法與流程

文檔序號:11319972閱讀:445來源:國知局
一種多元稀土六硼化物(La0.6CexPr0.4?x)B6單晶體的制備方法與流程

本發(fā)明屬于稀土六硼化物陰極材料技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及多元稀土六硼化物單晶體的制備方法。



背景技術(shù):

lab6和ceb6是優(yōu)異的熱電子發(fā)射陰極材料,廣泛應(yīng)用在軍用、民用領(lǐng)域。然而ceb6和lab6陰極工作溫度仍然偏高,影響到器件的壽命,因此研究者希望在不降低稀土六硼化物發(fā)射性能的基礎(chǔ)上,降低陰極材料的工作溫度。近期研究結(jié)果證明在二元稀土六硼化物中摻雜其它低逸出功的稀土元素,可以有效地提高陰極材料的發(fā)射性能,從而使得該陰極材料在較低的工作溫度下其發(fā)射能力也能滿足器件的要求,目前制備的三元六硼化物單晶如:(la-ce)b6、(la-pr)b6、(ce-pr)b6,但是它們性能雖然比二元稀土有所提高,但性能仍然滿足不了要求,因此,迫切需要開展四元稀土六硼化物單晶的制備及性能的研究,然而關(guān)于大尺寸、高質(zhì)量、高性能四元稀土六硼化物單晶的制備未見報道。

目前,單晶塊體的研制方法主要有:al熔劑法、熔鹽電解法、區(qū)熔法。其中,al熔劑法制備得到的單晶尺寸小、純度低,無法實現(xiàn)工業(yè)應(yīng)用需求,且制備過程中不可避免的引入了al雜質(zhì)從而降低了單晶純度,影響其發(fā)射性能;而熔鹽電解法制備單晶體的周期較長,得到的單晶體容易含有其他雜質(zhì),純度較低,僅適用于制備對純度要求不是很高的小尺寸單晶體。區(qū)熔法是一種在相對大的固相原料中熔化少量材料形成穩(wěn)定熔區(qū),并使熔區(qū)緩慢通過整個原料的一種方法,此過程中保持穩(wěn)定、連續(xù)的熔區(qū)是制備單晶的必要條件。與al熔劑法和熔鹽電解法相比,區(qū)熔法可用于制備高純度、大尺寸單晶。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明旨在克服現(xiàn)有單晶制備技術(shù)存在的如單晶尺寸小、性能低等缺陷,提供了一種高質(zhì)量、高性能、大尺寸的多元稀土六硼化物(la0.6cexpr0.4-x)b6(0.1≤x≤0.3)單晶體的制備方法。

本發(fā)明采用放電等離子燒結(jié)(sps)技術(shù)結(jié)合光學(xué)區(qū)熔法制備高質(zhì)量、高性能、大尺寸的多元稀土六硼化物(la0.6cexpr0.4-x)b6(0.1≤x≤0.3),具體步驟如下:

(1)按照0.6:x:0.4-x的摩爾比,0.1≤x≤0.3,將lab6、ceb6、prb6粉末高能球磨均勻后放入石墨模具中,然后將石墨模具放入放電等離子燒結(jié)爐的腔體內(nèi),在真空度5-10pa下進(jìn)行燒結(jié),工藝參數(shù)設(shè)置為:燒結(jié)溫度1600-1700℃,燒結(jié)壓力40-50mpa,保溫時間5min,升溫速率100-110℃/min;燒結(jié)完成后隨爐冷卻至室溫,取出,得到多晶樣品;

(2)將所述多晶樣品切割成多晶棒,將兩根多晶棒分別作為上料棒和下料棒,加入到光學(xué)區(qū)熔爐中進(jìn)行一次區(qū)熔,上、下料棒反向旋轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)動速度為15-30rpm、一次區(qū)熔速度為20-30mm/h;整個晶體生長過程在密閉的石英管中進(jìn)行,石英管內(nèi)通入氬氣氣流;

(3)以一次區(qū)熔的產(chǎn)物作為上料棒、以lab6單晶作為下料棒,加入到光學(xué)區(qū)熔爐中進(jìn)行二次區(qū)熔,上、下料棒反向旋轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)動速度為15-30rpm、二次區(qū)熔速度為5-15mm/h;整個晶體生長過程在密閉的石英管中進(jìn)行,石英管內(nèi)通入氬氣氣流;二次區(qū)熔后即獲得(la0.6cexpr0.4-x)b6單晶體。

進(jìn)一步的,上述方法中所用的lab6、ceb6、prb6粉末的純度均不低于99.9%,粒度為200-400目。

與現(xiàn)有單晶制備技術(shù)相比較,本發(fā)明有以下有益效果:

本發(fā)明方法制備得到的四元稀土六硼化物((la0.6cexpr0.4-x)b6單晶體具有尺寸大、質(zhì)量高、性能好等優(yōu)點;由所得樣品的實物照片可以看出,樣品粗細(xì)均勻、表面光滑,說明晶體生長均勻;由所得樣品的xrd圖譜和其單晶x射線衍射圖譜可知,樣品為單晶且單晶質(zhì)量良好。

附圖說明

圖1為實施例1制備得到的(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的實物照片;

圖2為實施例1制備得到的(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的xrd圖譜;

圖3為實施例1制備得到的(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的搖擺曲線圖譜;

圖4為實施例1制備得到的(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的單晶x射線衍射圖譜;

圖5為實施例1制備得到的(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的伏安特性曲線。

具體實施方式

下面結(jié)合具體實施例對本發(fā)明進(jìn)行說明。以下實施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進(jìn)一步理解本發(fā)明,但不以任何形式限制本發(fā)明。任何在不改變發(fā)明構(gòu)思的前提下所進(jìn)行的任何變形及改進(jìn),都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

下述實施例所用放電等離子燒結(jié)爐型號為labox-350;

下述實施例所用光學(xué)區(qū)熔爐型號為fz-t-2000-x-i-vpo-pc,由四個氙燈加熱,每個氙燈功率為5kw,最高溫度可達(dá)3000℃。

下述實施例所用的lab6、ceb6、prb6粉末的純度均為99.9%,粒度為200-400目。

實施例1

本實施例按如下步驟制備(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體:

(1)將lab6、ceb6、prb6粉末按照6:1:3的摩爾比高能球磨均勻后放入內(nèi)徑為30mm、高度為90mm的石墨模具中,然后將石墨模具放入放電等離子燒結(jié)爐的腔體內(nèi)(sps),在真空度5-10pa下進(jìn)行燒結(jié),工藝參數(shù)設(shè)置為:燒結(jié)溫度1700℃,燒結(jié)壓力40mpa,保溫時間5min,升溫速率100℃/min;燒結(jié)完成后隨爐冷卻至室溫,取出,得到多晶樣品;

(2)利用電火花線切割設(shè)備將多晶樣品切割成直徑φ6mm多晶棒,將兩根多晶棒分別作為上料棒和下料棒,加入到光學(xué)區(qū)熔爐中進(jìn)行一次區(qū)熔,為使熔區(qū)更加均勻,上、下料棒反向旋轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)動速度為15rpm、一次區(qū)熔速度為20mm/h;整個晶體生長過程在密閉的石英管中進(jìn)行,為了有效抑制生長過程中l(wèi)a、ce、pr元素的揮發(fā)和氧化,石英管內(nèi)通入流動氬氣;

(3)以一次區(qū)熔的產(chǎn)物作為上料棒、以lab6單晶作為下料棒,加入到光學(xué)區(qū)熔爐中進(jìn)行二次區(qū)熔,上、下料棒反向旋轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)動速度為15rpm、二次區(qū)熔速度為5mm/h;整個晶體生長過程在密閉的石英管中進(jìn)行,石英管內(nèi)通入流動氬氣;二次區(qū)熔后即獲得(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體。

圖1為本實施例所得(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的實物照片,可以看出(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體粗細(xì)均勻、表面光滑,說明晶體生長均勻。晶體直徑約為6.1mm,長度約為22mm。

圖2為本實施例所得(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的xrd圖譜,結(jié)果表明晶體為單一相,沒有雜質(zhì)生成,同時圖譜顯示為一組平行衍射峰,符合單晶體xrd圖譜的一般結(jié)果。

圖3為(la0.6ce0.1pr0.3)b6單晶體的搖擺曲線圖譜,衍射峰尖銳,對稱性好,半高寬僅為0.148°,表明單晶結(jié)晶質(zhì)量良好。圖4為其單晶x射線衍射圖譜,從圖中可以看出衍射斑點清晰,相互獨立,沒有出現(xiàn)多晶環(huán)以及劈裂現(xiàn)象,可判斷樣品為單晶且單晶質(zhì)量良好。

圖5為本實施例所得la0.6ce0.1pr0.3b6單晶體的伏安特性曲線,從圖中可以看出外加電壓1kv、工作溫度1600℃時,la0.6ce0.1pr0.3b6單晶體的熱發(fā)射電流密度為51.06a/cm2,與二元稀土六硼化物單晶相比,熱發(fā)射性能顯著提升。

實施例2

本實施例按實施例1相同的方式制備(la0.6ce0.2pr0.2)b6單晶體,區(qū)別僅在于:步驟(1)中l(wèi)ab6、ceb6、prb6粉末的摩爾比為6:2:2、燒結(jié)溫度為1600℃、燒結(jié)壓力50mpa、升溫速率為110℃/min;步驟(2)中的一次區(qū)熔速度為25mm/h;步驟(3)中的二次區(qū)熔速度為10mm/h。

由實物照片可以看出,本實施例所得(la0.6ce0.2pr0.2)b6單晶體粗細(xì)均勻,表面光滑,說明晶體生長均勻。晶體直徑約為6.3mm,長度為20mm。

由xrd圖譜和其單晶x射線衍射圖譜可知,本實施例所得樣品為單晶且單晶質(zhì)量良好。

實施例3

本實施例按實施例1相同的方式制備(la0.6ce0.3pr0.1)b6單晶體,區(qū)別僅在于:步驟(1)中l(wèi)ab6、ceb6、prb6粉末的摩爾比為6:3:1、保溫時間為10min;步驟(2)中的一次區(qū)熔速度為30mm/h、上下料棒反向轉(zhuǎn)動速度為30rpm;步驟(3)中的二次區(qū)熔速度為15mm/h、上下料棒反向轉(zhuǎn)動速度為30rpm。

由實物照片可以看出,本實施例所得(la0.6ce0.3pr0.1)b6單晶體粗細(xì)均勻,表面光滑,說明晶體生長均勻。晶體直徑約為6mm,長度為18mm。

由xrd圖譜和其單晶x射線衍射圖譜可知,本實施例所得樣品為單晶且單晶質(zhì)量良好。

以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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