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用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤的制作方法

文檔序號(hào):40610624發(fā)布日期:2025-01-07 20:53閱讀:11來源:國知局
用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤的制作方法

本發(fā)明有關(guān)于一種晶圓承載盤,尤其指一種可用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤。


背景技術(shù):

1、化學(xué)氣相沉積(cvd)、物理氣相沉積(pvd)及原子層沉積(ald)皆是常用的薄膜沉積設(shè)備,并普遍被使用在集成電路、發(fā)光二極管及顯示器等制備工藝中。

2、沉積的設(shè)備主要包括一腔體及一晶圓承載盤,其中晶圓承載盤位于腔體內(nèi),并用以承載至少一晶圓。以物理氣相沉積為例,腔體內(nèi)需要設(shè)置一靶材,其中靶材面對(duì)晶圓承載盤上的晶圓。在進(jìn)行物理氣相沉積時(shí),可將惰性氣體及/或反應(yīng)氣體輸送至腔體內(nèi),并分別對(duì)靶材及晶圓承載盤施加偏壓,其中晶圓承載盤還會(huì)控制承載的晶圓的溫度。腔體內(nèi)的惰性氣體會(huì)因?yàn)楦邏弘妶龅淖饔茫纬呻x子化的惰性氣體。離子化的惰性氣體會(huì)受到靶材上的偏壓吸引而轟擊靶材。從靶材濺出的靶材原子或分子會(huì)受到晶圓承載盤上的偏壓吸引,并沉積在加熱的晶圓的表面,以在晶圓的表面形成薄膜。

3、具體而言,晶圓承載盤產(chǎn)生的溫度的穩(wěn)定度及均勻度會(huì)對(duì)晶圓表面的薄膜沉積質(zhì)量造成相當(dāng)大的影響,為此如何使得晶圓承載盤產(chǎn)生穩(wěn)定且均勻的溫度,是薄膜沉積制備工藝中重要的課題之一。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、如現(xiàn)有技術(shù)所述,在進(jìn)行沉積步驟時(shí)通常需要調(diào)整晶圓承載盤的溫度,以在晶圓的表面形成厚度均勻的薄膜。為此本發(fā)明提出一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,主要通過一擴(kuò)散單元承載晶圓,其中擴(kuò)散單元由多孔性材料所制成,并可向承載的晶圓提供均勻且穩(wěn)定的加熱氣體或冷卻氣體,使得晶圓的溫度分布更為均勻,有利于提高制備工藝的品質(zhì)。

2、本發(fā)明的一目的,在于提出一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其中擴(kuò)散單元可以向晶圓的底表面提供分布均勻的氣體,可避免氣體過度集中在晶圓底表面的部分區(qū)域,使得晶圓的各個(gè)區(qū)域的溫度分布較為均勻。

3、本發(fā)明的一目的,在于提出一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其中擴(kuò)散單元提供給晶圓的氣流較為均勻且和緩,可避免擴(kuò)散單元提供的氣體吹動(dòng)晶圓,而導(dǎo)致晶圓相對(duì)于晶圓承載盤位移。

4、此外可進(jìn)一步計(jì)算晶圓的重量及擴(kuò)散單元提供的氣體壓力,使得在不使用靜電吸盤或固定環(huán)的情況下,晶圓仍舊可以穩(wěn)固的放置在晶圓承載盤的表面。

5、為了達(dá)到上述的目的,本發(fā)明提出一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,包括:一支撐組件,包括:至少一凹槽,設(shè)置在支撐組件的一頂表面上;一進(jìn)氣管線,與凹槽連接,并用以將一氣體輸送至位于頂表面的凹槽;一擴(kuò)散單元,位于支撐組件的頂表面上,并為一多孔性材料,包括;一本體;多個(gè)凸起部,位于本體的一承載面上,并用以承載至少一晶圓;至少一擴(kuò)散通道,相鄰的多個(gè)凸起部之間。

6、本發(fā)明提供另一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,包括:一支撐組件,包括:至少一凹槽,設(shè)置在支撐組件的一頂表面上;一進(jìn)氣管線,連接凹槽,并用以將一氣體輸送至位于頂表面的凹槽;一擴(kuò)散單元,用以承載至少一晶圓,并位于支撐組件的頂表面上,其中擴(kuò)散單元為一多孔性材料,包括;一第一擴(kuò)散區(qū)域;一第二擴(kuò)散區(qū)域,第二擴(kuò)散區(qū)域位于第一擴(kuò)散區(qū)域的外側(cè),其中第一擴(kuò)散區(qū)域的透氣率與第二擴(kuò)散區(qū)域的透氣率不同。

7、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中支撐組件包括一基座及一承載單元,承載單元設(shè)置在基座上,而凹槽則設(shè)置在承載單元上。

8、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中承載單元為一鈦盤,而擴(kuò)散單元的導(dǎo)熱系數(shù)大于鈦盤的導(dǎo)熱系數(shù)。

9、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中凸起部的面積為本體的承載面的面積的30%至70%之間。

10、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中凸起部的高度為0.3mm至1mm之間。

11、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中凸起部的直徑約為6mm至10mm之間,而相鄰的凸起部之間的間距為1mm至5mm之間。

12、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中第一擴(kuò)散區(qū)域的透氣率大于第二擴(kuò)散區(qū)域。

13、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中第一擴(kuò)散區(qū)域?yàn)閳A盤狀,而第二擴(kuò)散區(qū)域?yàn)榄h(huán)狀,且第二擴(kuò)散區(qū)域環(huán)繞設(shè)置在第一擴(kuò)散區(qū)域的周圍。

14、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,包括多個(gè)凸起部設(shè)置于第一擴(kuò)散區(qū)域及第二擴(kuò)散區(qū)域,并于相鄰的多個(gè)凸起部之間形成至少一擴(kuò)散通道。

15、所述用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤至少一實(shí)施例中,其中第一擴(kuò)散區(qū)域及第二擴(kuò)散區(qū)域?yàn)榘l(fā)泡金屬,且制作第一擴(kuò)散區(qū)域及第二擴(kuò)散區(qū)域的發(fā)泡時(shí)間及發(fā)泡溫度不同。

16、本發(fā)明提出一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,可向承載的晶圓提供均勻且穩(wěn)定的加熱氣體或冷卻氣體,使得晶圓的溫度分布更為均勻,有利于提高制備工藝的品質(zhì)。



技術(shù)特征:

1.一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,包括:

2.如權(quán)利要求1所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該支撐組件包括一基座及一承載單元,該承載單元設(shè)置在該基座上,而該凹槽則設(shè)置在該承載單元上。

3.如權(quán)利要求2所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該承載單元為一鈦盤,而該擴(kuò)散單元的導(dǎo)熱系數(shù)大于該鈦盤的導(dǎo)熱系數(shù)。

4.如權(quán)利要求1所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該凸起部的面積為該本體的該承載面的面積的30%至70%之間。

5.如權(quán)利要求1所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該凸起部的高度為0.3mm至1mm之間。

6.如權(quán)利要求5所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該凸起部的直徑約為6mm至10mm之間,而相鄰的該凸起部之間的間距為1mm至5mm之間。

7.一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,包括:

8.如權(quán)利要求7所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該第一擴(kuò)散區(qū)域的透氣率大于該第二擴(kuò)散區(qū)域。

9.如權(quán)利要求7所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該第一擴(kuò)散區(qū)域?yàn)閳A盤狀,而該第二擴(kuò)散區(qū)域?yàn)榄h(huán)狀,且該第二擴(kuò)散區(qū)域環(huán)繞設(shè)置在該第一擴(kuò)散區(qū)域的周圍。

10.如權(quán)利要求7所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,包括多個(gè)凸起部設(shè)置于該第一擴(kuò)散區(qū)域及該第二擴(kuò)散區(qū)域,并于相鄰的該多個(gè)凸起部之間形成至少一擴(kuò)散通道。

11.如權(quán)利要求7所述的用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,其特征在于,該第一擴(kuò)散區(qū)域及該第二擴(kuò)散區(qū)域?yàn)榘l(fā)泡金屬,且制作該第一擴(kuò)散區(qū)域及該第二擴(kuò)散區(qū)域的發(fā)泡時(shí)間及發(fā)泡溫度不同。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明為一種用以提供均勻溫度分布的晶圓承載盤,主要包括一支撐組件及一擴(kuò)散單元,其中支撐組件包括至少一凹槽及一進(jìn)氣管線。擴(kuò)散單元由多孔性材料所制作,并設(shè)置在支撐組件的頂表面。擴(kuò)散單元包括一本體、多個(gè)凸起部及至少一擴(kuò)散通道,其中凸起部及擴(kuò)散通道設(shè)置在本體的一承載面上。擴(kuò)散單元的凸起部用以承載一晶圓,其中支撐組件的進(jìn)氣管線將一氣體輸送至凹槽,并通過凹槽輸送至擴(kuò)散單元。氣體會(huì)通過擴(kuò)散單元的孔隙傳輸至承載面及凸起部,并與擴(kuò)散單元上晶圓的底部接觸,以調(diào)整晶圓的溫度,并有利于提高晶圓溫度分布的均勻度。

技術(shù)研發(fā)人員:王俊富,鄭啟鴻,鄭耀璿,劉啟翔,劉國儒,易錦良
受保護(hù)的技術(shù)使用者:天虹科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/1/6
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