專(zhuān)利名稱(chēng)：一種校準(zhǔn)工具和包括該校準(zhǔn)工具的研磨機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于打磨眼鏡片的研磨機(jī)的校準(zhǔn)工具，該研磨機(jī)具有兩個(gè)由 支架支撐的鏡片承載半軸和用于移動(dòng)所述半軸的裝置，并且本發(fā)明還涉及一 種包括該校準(zhǔn)工具的研磨機(jī)。
背景技術(shù)：
為了精確和自動(dòng)地打磨眼鏡片，必須精確地知道一組砂輪中每個(gè)砂輪的 位置，并且可能的話，也必須精確地知道輔助工具的每個(gè)元件(如用于開(kāi)槽 或斜削的小砂輪，或者小鉆頭)的位置。
為了這個(gè)目的，眾所周知的是，可以將已知半徑的金屬校準(zhǔn)工具置于支 架的鏡片承載半軸之間，并且通過(guò)移動(dòng)支撐柱塞以相對(duì)砂輪的軸線基本徑向 地移動(dòng)所述支架，直到校準(zhǔn)工具支撐砂輪為止。校準(zhǔn)工具是否支撐一組砂輪 中的一個(gè)砂輪由與支架移動(dòng)裝置的柱塞的接觸損失來(lái)檢測(cè)。
然而，由于這種測(cè)量方法的執(zhí)行與置于校準(zhǔn)工具上的支架的重量有關(guān)， 因此這種柱塞接觸損失的檢測(cè)不是很精確，并且缺乏重現(xiàn)性。因此，支架和 鏡片承載半軸的變形會(huì)降低測(cè)量質(zhì)量。此外，該測(cè)量方法會(huì)導(dǎo)致在砂輪的表 面上施加較大的力。
此外，為了確定砂輪或者輔助工具的軸向位置，所述支架被驅(qū)動(dòng)平移的 步進(jìn)電機(jī)沿著與鏡片承載半軸的軸線垂直的軸線平移，直到電機(jī)的一步不對(duì) 應(yīng)任何位移為止。
但是，該方法在砂輪上產(chǎn)生很大的力，而砂輪可能是易碎的。此外，歩 進(jìn)電機(jī)在損失一步時(shí)的測(cè)量精確性與增加或減少兩步時(shí)的測(cè)量精確性幾乎 相等。這種測(cè)量方法不足以精確地調(diào)整研磨機(jī)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種校準(zhǔn)工具，該校準(zhǔn)工具更加精確，并且不存在 損壞研磨機(jī)的砂輪或者輔助工具的風(fēng)險(xiǎn)。
基于這個(gè)目的，本發(fā)明提供上述類(lèi)型的校準(zhǔn)工具，其特征在于，該校準(zhǔn) 工具包括適于安裝在鏡片承載半軸上的支撐件；固定在所述支撐件上的至少 一個(gè)壓電元件；以及由所述支撐件承載的至少一個(gè)檢測(cè)件，該檢測(cè)件具有檢 測(cè)區(qū)和至少一個(gè)支撐面，該支撐面適于在所述檢測(cè)區(qū)和研磨機(jī)的表面接觸 時(shí)，在所述壓電元件上施加壓力，使該壓電元件產(chǎn)生代表所述接觸的檢測(cè)信
號(hào)
在具體實(shí)施方式
中，所述校準(zhǔn)工具包括如下的一個(gè)或多個(gè)特征 所述檢測(cè)件的安裝方式使得所述檢測(cè)件相對(duì)于所述支撐件移動(dòng)，并且當(dāng) 檢測(cè)區(qū)與研磨機(jī)的表面之間產(chǎn)生接觸時(shí)，所述檢測(cè)件適于相對(duì)于所述支撐件位移。
所述校準(zhǔn)工具還包括將所述支撐件連接到檢測(cè)件的彈性件，當(dāng)檢測(cè)件與 研磨機(jī)的表面接觸時(shí)，所述彈性件發(fā)生變形。
所述支撐件包括至少一個(gè)用于限定所述檢測(cè)件的檢測(cè)區(qū)的位移行程的 鄰接件。
所述檢測(cè)件包括至少兩個(gè)支撐面，每個(gè)支撐面適于將壓力施加在所述壓 電元件的相應(yīng)的不同的面上，并且所述壓電元件適于產(chǎn)生兩個(gè)檢測(cè)信號(hào)，每 個(gè)檢測(cè)信號(hào)代表被施加壓力的面。
所述檢測(cè)件包括將固定到彈性件的固定部連接到接觸部的角形部(彎曲 部)，所述固定部適于在接觸部沿垂直于或平行于所述鏡片承載半軸的軸線 的方向位移的過(guò)程中，僅沿基本垂直于鏡片承載半軸的軸線的方向位移。
所述檢測(cè)件的檢測(cè)區(qū)適于僅沿基本垂直于所述鏡片承載半軸的軸線的 方向位移。
所述校準(zhǔn)工具包括第二壓電元件和第二檢測(cè)件，所述第二壓電元件固定 到所述支撐件上，所述第二檢測(cè)件適于僅沿基本平行于鏡片承載半軸的所述 軸線的方向位移，并且適于在與研磨機(jī)的第二表面接觸時(shí)將壓力施加在第二 壓電元件上。
所述壓電元件或每個(gè)壓電元件包括壓電板，所述壓電板通過(guò)一端剛性固 定到所述支撐件上并且從所述支撐件伸出，檢測(cè)件的所述支撐面適于與壓電 板的自由端協(xié)作。
所述彈性件包括靠近壓電元件安裝在支撐件上的彈性薄膜，所述彈性薄 膜的安裝方式使得該彈性薄膜具有面向壓電元件的面和相反的面，檢測(cè)件的 支撐面固定在彈性薄膜的相反的面上，從而所以支撐面適于在檢測(cè)件位移的 過(guò)程中通過(guò)彈性薄膜的變形將壓力施加在壓電元件上。
所述彈性件為薄板。
本發(fā)明還提供一種該類(lèi)型的研磨機(jī)，該研磨機(jī)包括兩個(gè)由支架承載的鏡 片承載半軸和用于位移所述半軸的裝置，其特征在于，該研磨機(jī)包括如上所 述的校準(zhǔn)工具。


通過(guò)閱讀下面僅通過(guò)實(shí)施例給出并且參考附圖的詳細(xì)描述，將會(huì)更好地 理解本發(fā)明，在附圖中
圖1是根據(jù)本發(fā)明的包括一組砂輪并支撐校準(zhǔn)工具的硏磨機(jī)的示意性正 面視圖2是圖1所示的研磨機(jī)的部分和圖1中沒(méi)有示出的輔助工具的正面視
圖3是圖1和圖2所示的校準(zhǔn)工具的放大的示意圖4是安裝在圖3所示的校準(zhǔn)工具中的壓電板的縱向截面示意圖； 圖5是圖3所示的校準(zhǔn)工具的示意圖，其中在校準(zhǔn)工具與砂輪接觸過(guò)程 中接觸力的方向平行于鏡片承載半軸的軸線；
圖6是在接觸力的方向垂直于鏡片承載半軸的軸線時(shí)類(lèi)似于圖5所示的 視圖的示意圖。
具體實(shí)施例方式
用于容納本發(fā)明的校準(zhǔn)工具的研磨機(jī)2示意性地表示在圖1和圖2中。 該研磨機(jī)2包括固定結(jié)構(gòu)4、研磨組件6和用于支撐眼鏡片的支架8，
所述研磨組件和支架安裝在固定結(jié)構(gòu)4上；以及用于使支架8相對(duì)于研磨組
件6移動(dòng)的裝置10。
研磨組件6具有砂輪組12，所述砂輪組12的安裝方式使其可以圍繞固
定結(jié)構(gòu)4中的第一水平軸線A-A，旋轉(zhuǎn)，并且砂輪組12在電機(jī)14的驅(qū)動(dòng)下快
速旋轉(zhuǎn)。
該砂輪組12由多個(gè)并肩安裝并固定到砂輪軸26上的砂輪組成。例如， 該砂輪組12由用于粗磨礦物鏡片(mineral lenses)的砂輪16、用于粗磨合 成鏡片(synthetic lenses)的砂輪18、具有環(huán)形槽22的帶有斜削功能的用于 精磨的砂輪20、以及具有環(huán)形槽28的帶有斜削功能的用于拋光的砂輪24 構(gòu)成。
支架8圍繞用于搖擺的、位于圖1的平面后面并平行于第一軸線A-A' 的第二軸線X-X'鉸接，所述第一軸線A-A'包含在圖1的平面中。
所述支架8上設(shè)置有鏡片承載半軸30和32，并具有用于驅(qū)動(dòng)所述鏡片 承載半軸30緩慢旋轉(zhuǎn)的電機(jī)34。所述鏡片承載半軸30和32設(shè)置在平行于 第一軸線A-A，的第三水平軸線B-B，上。它們具有相互面對(duì)的自由端36和38， 所述自由端36和38適于在研磨操作時(shí)夾住要研磨的眼鏡片或者在測(cè)量砂輪 的位置或工具承載組件的位置的操作時(shí)支撐校準(zhǔn)工具40，下面將對(duì)其進(jìn)行詳
細(xì)描述。
用于將支架8相對(duì)于研磨組件6移動(dòng)的裝置10包括用于將研磨組件6 沿著平行于軸線A-A，的支撐棒11軸向移動(dòng)的裝置(未示出)，以及用于將支 架8相對(duì)于軸線A-A'基本徑向地移動(dòng)的裝置，該裝置由用于圍繞軸線X-X' 在支架遠(yuǎn)離軸線A-A，的位置和鄰近軸線A-A，的活動(dòng)位置之間搖擺的裝置構(gòu)成。
所述搖擺裝置包括由電機(jī)42驅(qū)動(dòng)的垂直螺桿支撐件41，與嚙合在螺 桿41上的螺母44固定連接、并且被阻止轉(zhuǎn)動(dòng)的柱塞43，以及彈簧45。設(shè) 計(jì)柱塞43的頂端，使柱塞43的頂端靠近軸線B-B'與支架8的鄰接件接觸， 用于使支架朝向軸線A-A'擺動(dòng)。彈簧45朝向柱塞43推動(dòng)支架。
研磨機(jī)2還包括工具承載組件54和樞軸裝置，僅在圖2中示出，所述 工具承載組件54沿著軸線A-A，固定在所述砂輪組12上；所述樞軸裝置用于 使組件54圍繞垂直于軸線A-A'且與所述軸線相交的軸線D樞轉(zhuǎn)。
工具承載組件54包括底座56、從底座56突出的連接臂58和工具承載 軸60，所述工具承載軸60可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝在所述臂58的自由端，以圍繞基本 垂直于所述臂58的軸線旋轉(zhuǎn)。
所述工具承載軸60承載有開(kāi)槽砂輪62和斜削砂輪64，并在其末端承載 有鉆頭66。
在本發(fā)明的第一實(shí)施方式中，校準(zhǔn)工具40示意性地表示在圖3中。 所述校準(zhǔn)工具40包括支撐件68，所述支撐件68具有安裝在其上的接觸
式檢測(cè)器70和砂輪檢測(cè)件72。
所述支撐件68基本為矩形或圓柱形，并具有頂面74、底面76和側(cè)面
78和80。
所述側(cè)面78和80上設(shè)置有凹槽82和84，所述凹槽82和84適于與支 架的半軸的末端36和38配合。
每個(gè)側(cè)面78，80向下延伸，以分別形成第一支撐臂86和第二支撐臂88。 所述第二支撐臂88在其末端設(shè)置有朝臂86延伸的軸向壁90。
所述接觸式檢測(cè)器70包括水平的壓電板92，所述壓電板92通過(guò)一個(gè)末 端剛性地固定到第一臂86的內(nèi)面94上，并通過(guò)電線96、 98與由支撐件68 承載的電路99連接。
如圖4所示，壓電板92由多個(gè)重疊層構(gòu)成，所述重疊層順次包括由樹(shù) 脂制成且形成壓電元件92的外表面101并起保護(hù)作用的第一層100、由壓電 陶瓷制成的第二層102、由鈦制成的第三層104、由壓電陶瓷制成的第四層 106和由樹(shù)脂制成并形成壓電元件的另外一個(gè)外表面110的最后一層108。
將電線96、 98與陶瓷層102、 106中相應(yīng)的一個(gè)相連接，以將通過(guò)對(duì)外 表面IOI、 110中的一個(gè)進(jìn)行支撐而產(chǎn)生的任何電流傳輸給電路99，從而將 微小變形傳給壓電板92。
陶瓷層102和106的晶體呈現(xiàn)相反的偏壓，從而電流流向隨著推力作用 的面而變化。
電路99適于檢測(cè)這種電流的存在并且產(chǎn)生接觸檢測(cè)信號(hào)，該信號(hào)被傳 輸?shù)窖心C(jī)。
檢測(cè)件72適于與砂輪的表面接觸并且適于在這種接觸產(chǎn)生時(shí)移動(dòng)，以 將壓力傳遞給壓電元件92。為了這個(gè)目的，檢測(cè)件72通過(guò)水平彈性薄板114 固定在第二臂88的內(nèi)面112上，所述水平彈性薄板114由例如彈簧鋼或銅 鈹合金等制成。
檢測(cè)件72由剛性桿116構(gòu)成，所述剛性桿116具有固定在彈性板114 上并從其延伸的水平直線固定部118、角形部120和直線接觸部122，所述 直線接觸部122相對(duì)于支撐件68沿垂直于軸線B-B，的方向伸出，并且所述 直線接觸部122的末端設(shè)置有檢測(cè)尖端124。
形成有兩個(gè)柱頭螺栓128和130，該柱頭螺栓128和130從剛性桿的接
觸部122伸出，從而使其定位在壓電板92的自由端的任意一側(cè)上。
柱頭螺栓128和130中的每一個(gè)具有面向壓電板92的相應(yīng)的支撐面
132、 134，并且它們中的每一個(gè)適于在檢測(cè)件72的位移過(guò)程中將支撐力作
用在壓電板92的外表面上。
兩個(gè)可調(diào)節(jié)的鄰接件136和138用于限制檢測(cè)件72的位移行程，所述
鄰接件136和138安裝在位于接觸部122的任意一側(cè)的支撐件68上，從而
將位移限制在增加或減少50微米，從而避免壓電板92在柱頭螺栓128和130
的作用力下破裂。
例如由螺旋千分尺構(gòu)成的這些鄰接件中的一個(gè)固定在壁90的內(nèi)面上， 與該鄰接件相對(duì)的另一個(gè)鄰接件固定在支撐件的底面76上。
可以從圖5中看到，在檢測(cè)尖端124與砂輪的表面137A橫向接觸的過(guò) 程中，接觸力的作用方向垂直于軸線B-B'，檢測(cè)件72通過(guò)彈性板114的彎
曲而樞轉(zhuǎn)。
在該移動(dòng)過(guò)程中，柱頭螺栓128的支撐面132將力作用在壓電板92的 頂部外表面110上。該力產(chǎn)生能被電路99檢測(cè)到的電流，電路99將接觸檢 測(cè)信號(hào)傳遞給研磨機(jī)。
如圖6所示，在檢測(cè)件的檢測(cè)尖端124與砂輪的外周面137B接觸時(shí)，
接觸力指向垂直于軸線B-B'的方向，并且檢測(cè)件72也通過(guò)板114的彎曲而
樞轉(zhuǎn)。在該樞轉(zhuǎn)過(guò)程中，柱頭螺栓130的支撐面134將壓力作用在壓電板的
底面上。該壓力產(chǎn)生能被電路99檢測(cè)到的電流，接著電路99產(chǎn)生接觸檢測(cè) /士 口
因而，在不考慮檢測(cè)尖端與砂輪表面之間的接觸力的方向時(shí)，檢測(cè)件72 適于將壓力作用在壓電板92的自由端，并且其彎曲由鄰接件136和138來(lái) 限制。
同樣地，無(wú)論接觸力的方向如何，檢測(cè)件的固定部118都沿基本垂直于
軸線B-B'的方向移動(dòng)。
校準(zhǔn)工具40用于精確地檢測(cè)砂輪的水平部分和斜面底部的直徑、砂輪
的下降面、精磨砂輪中的凹槽的位置以及拋光砂輪中的凹槽的位置，從而調(diào) 節(jié)要研磨的鏡片的直徑的精確尺寸。
校準(zhǔn)工具40還用于在不破壞工具承載組件的情況下確定斜削砂輪的兩 個(gè)斜面的軸向位置、開(kāi)槽砂輪的軸向位置、鉆頭末端的軸向位置以及工具承 載軸的水平范圍。
校準(zhǔn)工具40適于檢測(cè)大小為幾個(gè)十分之一牛頓的力，并且能夠精確到 到百分之一毫米。
作為變化，校準(zhǔn)工具可以由適于安裝在鏡片承載半軸上的支撐件、安裝 在支撐件上的封裝壓電傳感器和固定到傳感器上的檢測(cè)件構(gòu)成。
所述封裝壓電傳感器包括敞開(kāi)的圓柱形殼體，該殼體用于容納固定到殼 體的端壁上的壓電晶體。
彈性薄膜安裝在殼體的邊緣上，以形成封閉殼體的蓋。定位彈性薄膜， 使彈性薄膜面向壓電晶體，并且與壓電晶體之間具有較小的距離。
檢測(cè)件由直線桿構(gòu)成，所述直線桿的一端設(shè)置有檢測(cè)尖端，另一端設(shè)置 有固定在彈性薄膜的面上的支撐面，所述彈性薄膜的面與彈性薄膜的面向壓 電元件的面相反。
當(dāng)檢測(cè)尖端與砂輪或工具承載組件的工具或砂輪的表面接觸時(shí)，檢測(cè)件 通過(guò)彈性薄膜的變形而相對(duì)于殼體位移。通過(guò)彈性薄膜的作用，檢測(cè)件的支 撐面將壓力作用在壓電晶體上。該壓力產(chǎn)生壓電晶體的微小變形，該微小變 形則產(chǎn)生能被電路檢測(cè)到的電流。
作為變化，可以設(shè)置多個(gè)接觸式檢測(cè)器，每個(gè)接觸式檢測(cè)器包括相應(yīng)的 檢測(cè)件和壓電板組件，每個(gè)檢測(cè)器僅在一個(gè)檢測(cè)方向起作用。
權(quán)利要求
1、一種用于研磨眼鏡片的研磨機(jī)(2)的校準(zhǔn)工具(40)，該研磨機(jī)具有由支架(8)承載的兩個(gè)鏡片承載半軸(30，32)和用于位移所述半軸(30，32)的裝置(10)，其特征在于，所述校準(zhǔn)工具(40)包括支撐件(68)，所述支撐件(68)適于安裝在鏡片承載半軸(30，32)上；至少一個(gè)壓電元件(92)，所述壓電元件(92)固定在支撐件(68)上；以及至少一個(gè)檢測(cè)件(72)，所述檢測(cè)件(72)由支撐件(68)承載，所述檢測(cè)件(72)具有檢測(cè)區(qū)(124)和至少一個(gè)支撐面(132，134)，所述至少一個(gè)支撐面(132，134)適于當(dāng)檢測(cè)區(qū)(124)與研磨機(jī)(2)的表面之間產(chǎn)生接觸時(shí)在壓電元件(92)上施加壓力，使壓電元件(92)產(chǎn)生代表所述接觸的檢測(cè)信號(hào)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于，所述檢測(cè)件(72) 的安裝方式使得所述檢測(cè)件(72)相對(duì)于支撐件(68)移動(dòng)，并且當(dāng)檢測(cè)區(qū)(124)與研磨機(jī)(2)的表面接觸時(shí)，所述檢測(cè)件(72)適于相對(duì)于支撐件 (68)位移。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于，所述校準(zhǔn)工具 (40)還包括將支撐件(68)連接到檢測(cè)件(72)的彈性件(114)，當(dāng)檢測(cè)件(72)與研磨機(jī)的表面接觸時(shí)，所述彈性件(114)發(fā)生變形。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于， 所述支撐件(68)包括至少一個(gè)鄰接件(136， 138)，所述鄰接件(136， 138) 用于限制檢測(cè)件(72)的檢測(cè)區(qū)(126)的位移行程。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于，所述檢測(cè)件(72)包括至少兩個(gè)支撐面(132， 134)，每個(gè)支撐面(132， 134) 適于將壓力施加在壓電元件(92)的兩個(gè)相應(yīng)的不同的面(101， 110)上， 所述壓電元件(92)適于產(chǎn)生兩個(gè)檢測(cè)信號(hào)，每個(gè)檢測(cè)信號(hào)代表施加有壓力 的面(101， 110)。
6、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于，所述檢測(cè)件(72) 包括將固定到彈性件(114)的固定部(118)連接到接觸部(122)的角形 部(120)，所述固定部(118)適于在接觸部(122)沿垂直于或平行于鏡片 承載半軸(30， 32)的軸線(B-B，)的方向位移的過(guò)程中，僅沿基本垂直于 鏡片承載半軸(30， 32)的軸線(B-B')的方向位移。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的校準(zhǔn)工具，其特征在于，所 述檢測(cè)件的檢測(cè)區(qū)適于僅沿基本垂直于鏡片承載半軸(30，32)的軸線(B-B')的方向位移。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)工具，其特征在于，該校準(zhǔn)工具包括第 二壓電元件和第二檢測(cè)件，所述第二壓電元件固定于所述支撐件上，所述第 二檢測(cè)件適于僅沿基本平行于鏡片承載半軸(30， 32)的所述軸線(B-B，) 的方向位移，并且適于在與研磨機(jī)的第二表面接觸時(shí)將壓力施加在第二壓電 元件上。
9、 根據(jù)上述權(quán)利要求中任意一項(xiàng)所述的校準(zhǔn)工具(40)，其特征在于， 所述壓電元件(92)或每個(gè)壓電元件(92)包括壓電板，所述壓電板通過(guò)一 端剛性地固定到支撐件(68)上并且從所述支撐件(68)伸出，檢測(cè)件(72) 的所述支撐面(132， 134)適于與壓電板的自由端協(xié)作。
10、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的校準(zhǔn)工具，其特征在于，所述彈性件包括靠 近壓電元件安裝在所述支撐件上的彈性薄膜，所述彈性薄膜的安裝方式使得該彈性薄膜具有面向壓電元件的面和相反的面，所述檢測(cè)件的支撐面固定在 彈性薄膜的相反的面上，從而所述支撐面適于在檢測(cè)件位移過(guò)程中通過(guò)彈性 薄膜的變形將壓力施加在壓電元件上。
11、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的校準(zhǔn)工具，其特征在于，所述彈性件為薄板。
12、 一種用于研磨眼鏡片的研磨機(jī)(2)，該研磨機(jī)(2)包括兩個(gè)由支 架(8)承載的鏡片承載半軸(30， 32)和用于位移所述半軸的裝置(10)， 其特征在于，該研磨機(jī)包括權(quán)利要求1至11中任意一項(xiàng)所述的校準(zhǔn)工具(40)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于研磨機(jī)的校準(zhǔn)工具(40)，該研磨機(jī)用于研磨眼鏡片，并且包括支撐在支架上的兩個(gè)鏡片支撐軸和用于移動(dòng)所述軸的裝置。所述校準(zhǔn)工具(40)包括可安裝在鏡片支撐軸上的支架(68)、連接到支架(68)的至少一個(gè)壓電元件(92)和至少一個(gè)支撐在支架(68)上的傳感器部件(72)，所述傳感器部件(72)包括檢測(cè)區(qū)(124)和至少一個(gè)支撐面(132，134)，所述支撐面(132，134)用于在檢測(cè)區(qū)(124)接觸研磨機(jī)(2)的表面時(shí)在壓電元件(92)上施加壓力，從而所述元件產(chǎn)生接觸檢測(cè)信號(hào)。本發(fā)明用于校準(zhǔn)研磨機(jī)。
文檔編號(hào)B24B47/22GK101175604SQ200680016456
公開(kāi)日2008年5月7日 申請(qǐng)日期2006年5月4日 優(yōu)先權(quán)日2005年5月13日
發(fā)明者J-E·梅里斯, J-M·默尼耶 申請(qǐng)人:布其蒙國(guó)際公司