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Cu-Ni-Si合金及其制造方法

文檔序號:3428029閱讀:818來源:國知局
專利名稱:Cu-Ni-Si合金及其制造方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及強度及導(dǎo)電性優(yōu)良的電子材料等的電子部件制造中所使用的Cu-Ni-Si合金。
背景技術(shù)
對引線框架、電子設(shè)備的各種端子、連接器等所使用的銅合金,要求兼?zhèn)涓邚姸群透邔?dǎo)電性。此外,近年來,在引線框架、電子設(shè)備的各種端子、連接器等上,引線數(shù)等增加、小節(jié)距化的進展較快,要求電子部件具有高密度組裝性、高可靠性。這些對電子部件中所使用的材料也提出了愈來愈嚴的薄板化、加工性優(yōu)良、高的導(dǎo)電率等特性要求。
在引線框架、電子設(shè)備的各種端子、連接器等上所使用的材料需要具有高強度及高導(dǎo)電性,而從電子設(shè)備類及部件的輕量化、高強度、高導(dǎo)電性的觀點出發(fā),時效硬化型銅合金的使用量在增加,用以取代以已有的磷青銅、黃銅等為代表的固溶強化型合金。時效硬化型銅合金,通過對經(jīng)過固溶處理的過飽和固溶體進行時效處理,使微細粒子均勻地析出,從而提高拉伸強度、屈服強度、彈性極限值等機械特性,同時,銅中的固溶元素量減少而提高導(dǎo)電率。
時效硬化型銅合金中,Cu-Ni-Si合金是兼具高強度和高導(dǎo)電性的代表性銅合金。該銅合金,因微細的Ni-Si類金屬間化合物粒子析出而使強度和導(dǎo)電性提高,作為引線框架、電子設(shè)備的各種端子、連接器等的材料而得到應(yīng)用(例如,參考專利文獻1)。
專利文獻1 特愿2000-018319Cu-Ni-Si合金利用Ni-Si類金屬間化合物粒子析出來提高強度和導(dǎo)電性。但是,合金的強度和導(dǎo)電率一般為相反關(guān)系,強度高則導(dǎo)電性低,導(dǎo)電性高則強度降低。Cu-Ni-Si合金的情況是,如果所添加的Ni及Si為低濃度,則不形成Ni-Si類金屬間化合物粒子的析出物的固溶元素減少,盡管可獲得充分的導(dǎo)電性,但是由于濃度低,故析出量減少,強度不充分。另一方面,如果使其為高濃度,則析出量增多,盡管獲得充分的強度,但是,不形成Ni-Si類金屬間化合物粒子的析出物的固溶元素增多,因而有導(dǎo)電性不夠高的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為解決上述問題而作出的,目的在于提供一種兼具高強度和高導(dǎo)電性的電子材料用Cu-Ni-Si合金。
為解決上述問題,本發(fā)明人經(jīng)過多番研究Cu-Ni-Si合金,最終成功地開發(fā)了兼具高強度和高導(dǎo)電性的Cu-Ni-Si合金。
即,本發(fā)明的技術(shù)方案如下(1)兼具高強度及高導(dǎo)電性的Cu-Ni-Si合金的特征在于,它是含有1.0~4.5%的Ni、0.25~1.5%的Si、其余是由Cu及不可避免的雜質(zhì)構(gòu)成的銅基合金,在Ni和Si的質(zhì)量濃度為[Ni]、[Si]時的、Ni與Si的[Ni]/[Si]為4~6,并且是使(式1)所定義的x為0.1~0.45的[Ni]、[Si],([Ni]-4x)2([Si]-x)=1/8……(式1)。
(2)上述(1)所述的Cu-Ni-Si合金的特征在于,含有0.05~0.3%的Mg。
(3)上述(1)或(2)所述的Cu-Ni-Si合金的特征在于,含有總量為0.005~2.0%的Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be中的一種以上。
如上所述,本發(fā)明的合金具有優(yōu)良的強度和導(dǎo)電性,適合作為引線框架、端子、連接器等電子材料用銅合金。
具體實施形式接著,對在本發(fā)明中按照上述那樣限定銅合金的組成范圍的理由進行具體說明。
Ni及Si濃度通過進行時效處理,Ni及Si形成以微細的Ni2Si為主的金屬間化合物的析出粒子,使合金的強度顯著地增加,另一方面,也較大地提高導(dǎo)電性。不過,Ni濃度小于1.0%時,或Si濃度小于0.25%時,即使添加另一種成分,也得不到所希望的強度。此外,Ni濃度超過4.5%時,或Si濃度超過1.5%時,盡管獲得充分的強度,但是,導(dǎo)電性降低,而且,在母相中生成對提高強度沒有幫助的粗大Ni-Si類粒子(結(jié)晶物或析出物),而招致彎曲加工性、蝕刻性和鍍層性下降。因此,將Ni濃度定為1.0~4.5%,將Si濃度定為0.25~1.5%。
/[Si]質(zhì)量濃度比如果合金中的固溶Ni的量及固溶Si的量減少,則導(dǎo)電率增加。如果對Cu-Ni-Si合金進行時效處理,則Ni2Si析出,使固溶Ni的量及固溶Si的量減少,從而提高導(dǎo)電率。時效后的固溶Ni的量及固溶Si的量按照后述的溶度積的關(guān)系(式1)進行增減。例如,如果合金中的Ni濃度及Si濃度的比([Ni]/[Si])增加,則固溶Ni的量增加,固溶Si的量減少。另一方面,如果對導(dǎo)電率降低的影響程度進行比較,則固溶Si量比固溶Ni量大很多。因此,賦予最大導(dǎo)電率的[Ni]/[Si]與析出物Ni2Si中的Ni/Si比(=4.18)不一致。
本發(fā)明人通過實驗來研究[Ni]/[Si]與輸電率的關(guān)系,從而明確了為了獲得高導(dǎo)電率,需要將[Ni]/[Si]調(diào)整在4~6的范圍中,最好調(diào)整在4.2~4.7的范圍中。該組成相對于Ni2Si的組成是Ni稍過剩的組成。
由于如果[Ni]/[Si]小于4,則固溶Si的量增加,故導(dǎo)電率顯著下降,而且在熱處理時容易在材料表面生成氧化硅膜,從而導(dǎo)致軟釬焊性及鍍層性變差。另一方面,如果[Ni]/[Si]超過6,則由于固溶Ni的量增加,所以,得不到所希望的導(dǎo)電率。
關(guān)于(式1)Cu-Ni-Si合金通過Ni2Si粒子的析出來提高強度。如前所述,從導(dǎo)電率的觀點出發(fā),相對于Ni2Si的組成,Ni的量稍過剩些好。以前人們認為,象這樣Ni過剩時,Ni2Si粒子的析出量由Si的濃度來決定。即,人們一直認為在Ni過剩的組成的情況下,時效后的強度由Si濃度來決定。
本發(fā)明人以能夠獲得高導(dǎo)電率的Ni過剩的組成為基礎(chǔ),對Ni及Si濃度與強度的關(guān)系進行了反復(fù)的研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn),即使Si濃度相同,如果[Ni]/[Si]不同,則大時產(chǎn)生數(shù)十MPa的強度差,并且,Si濃度和強度并不一定存在相關(guān)關(guān)系。換言之,發(fā)現(xiàn)了決定Ni2Si的析出量的參數(shù)不是Si濃度。
而且,基于對溶度積的考慮,對實驗數(shù)據(jù)進行了解析,結(jié)果,關(guān)于Ni及Si濃度與Ni2Si的析出量的關(guān)系,得到了以下實驗式。
([Ni]-4x)2([Si]-x)=1/8……(式1)這里,x是表示析出量的參數(shù)。更具體地說,x相當于析出的Si濃度,4x相當于析出的Ni濃度。因此,([Ni]-4x)相當于固溶的Ni濃度,([Si]-x)相當于固溶的Si濃度。
時效后的強度顯示了與該x較強的相關(guān)關(guān)系。即,通過將x調(diào)整為適當?shù)闹祦慝@得所希望的強度,因此,利用(式1)使[Ni]及[Si]為適當?shù)闹导纯?。如上所述,通過導(dǎo)入顯示析出狀態(tài)的參數(shù)x、并根據(jù)溶度積的關(guān)系調(diào)整Ni和Si濃度、來控制時效后的強度的技術(shù)是本發(fā)明首次發(fā)現(xiàn)的。
溶度積的值((式)1的右邊)是溫度的函數(shù)。低溫下,該值小,即,如果在低溫下進行時效處理,理論上,析出物的量增多,從而獲得高強度、高導(dǎo)電率的材料,但是,這終究是在平衡狀態(tài)下的理論。為了在低溫下對金屬材料進行時效處理直到達到平衡狀態(tài),需要接近無限的時效時間。本發(fā)明人調(diào)查了各種組成及析出狀態(tài),從而明確了溶度積相對于工業(yè)時效處理的適當值為1/8,此時的x值如果是0.1~0.45,則能夠在工業(yè)上穩(wěn)定地獲得高強度、高導(dǎo)電率的材料。
Mg濃度Mg盡管具有大幅度改善應(yīng)力緩和特性的效果及改善熱加工性的效果,但是如果小于0.05%,則得不到該效果,如果超過0.30%,由于鑄造性(鑄件表面質(zhì)量下降)、熱加工性及鍍層耐熱剝離性下降,所以將Mg的濃度定為0.05~0.3%。
Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或BeZn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be具有提高Cu-Ni-Si合金的強度及耐熱性的作用。此外,其中Zn還具有提高軟釬料接合的耐熱性的效果,F(xiàn)e還具有使組織微細化的效果。此外,Ti、Zr、Al及Mn具有改善熱軋性的效果。其原因是,這些元素由于與硫的親和性強,故與硫形成化合物,從而減少了產(chǎn)生熱軋裂紋的原因即硫向鑄錠的晶粒邊界的偏析。Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be的濃度總量如果小于0.005%,則得不到上述效果,如果總含量超過2.0%,則導(dǎo)電性顯著下降。因此,將它們的總含量定為0.005~2.0%。
實施例接著,對本發(fā)明的實施例進行說明。在大氣熔化爐中對表1所示的各種成分組成的銅合金進行熔煉,并鑄造成厚度30mm的鑄錠。
表1

接著,熱軋到厚度為9mm,為去除表面鱗片而進行面切削后,通過冷軋制成厚度1mm的板。之后,在750℃~850℃的溫度下進行固溶處理,然后,冷軋到厚度0.4mm。而且,對于各合金的組成,在拉伸強度成為最大值的溫度下進行3個小時的時效處理。該溫度范圍為400℃~600℃。而且,用冷軋制成厚度0.25mm的板。在拉伸試驗機上利用拉伸強度來評價最終熱處理后的試樣的強度。通過四端子法利用導(dǎo)電率(%IACS)來評價導(dǎo)電性。此外,[Ni]/[Si]及x的值在技術(shù)方案1的范圍內(nèi)用(○)評價,在其范圍外用(×)評價。將結(jié)果示于表1。
由表1可知,發(fā)明例No.1~No.13的[Ni]/[Si]及x的值均在技術(shù)方案1的范圍內(nèi)。因此,發(fā)明例的拉伸強度為720MPa以上、導(dǎo)電率為45%IACS以上,具有高強度、高導(dǎo)電性。
而且,為了改善應(yīng)力緩和特性而添加了Mg的發(fā)明例No.2、No.4、No.6、No.7、No.8也與不添加Mg的例子一樣,獲得了高的強度和導(dǎo)電率。
此外,添加了總量為0.005~2.0%的Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be中的一種以上的發(fā)明例No.7~No.13與沒有添加的發(fā)明例No.1~No.6相比,盡管導(dǎo)電性稍差,但強度方面優(yōu)良。
另一方面,觀察比較例,由于No.14和No.16的x值大于0.45,所以,強度不那么增加,導(dǎo)電率降低。這是由于,生成了對強度沒有幫助的粗大的Ni-Si類粒子(結(jié)晶物及析出物)的緣故。No.15盡管顯示出了高的導(dǎo)電率,但是由于意味著析出量的x值低,故強度降低。No.17的[Ni]/[Si]低,Si過剩,從而使導(dǎo)電率降低。No.18的[Ni]/[Si]高,固溶Ni多,從而使導(dǎo)電率降低。No.19由于x值高且[Ni]/[Si]低,所以導(dǎo)電率顯著降低。
No.20由于Mg的添加量太多,所以,熱軋中的加工性差,產(chǎn)生裂紋,而不能進行后步工序。
在No.21~No.23中,由于添加Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be中的1種以上的元素時的總量超過了2.0%,所以,導(dǎo)電率顯著降低。
權(quán)利要求
1.一種兼具高強度及高導(dǎo)電性的Cu-Ni-Si合金,其特征在于,在含有1.0~4.5質(zhì)量%(以下為%)的Ni、0.25~1.5%的Si、其余是由Cu及不可避免的雜質(zhì)構(gòu)成的銅基合金中,在Ni和Si的質(zhì)量濃度為[Ni]、[Si]時,Ni與Si的質(zhì)量濃度比(以下為[Ni]/[Si])為4~6,并且是使(式1)所定義的x為0.1~0.45的[Ni]、[Si],([Ni]-4x)2([Si]-x)=1/8……(式1)。
2.如權(quán)利要求1所述的Cu-Ni-Si合金,其特征在于,含有0.05~0.3%的Mg。
3.如權(quán)利要求1或2所述的Cu-Ni-Si合金,其特征在于,含有總量為0.005~2.0%的Zn、Sn、Fe、Ti、Zr、Cr、Al、P、Mn、Ag或Be中的一種以上。
全文摘要
提供一種兼具高強度及高導(dǎo)電性的電子材料用Cu-Ni-Si合金,其特征在于,在含有1.0~4.5質(zhì)量%(以下為%)的Ni、0.25~1.5%的Si、其余是由Cu及不可避免的雜質(zhì)構(gòu)成的銅基合金中,在Ni和Si的質(zhì)量濃度為[Ni]、[Si]時,Ni與Si的質(zhì)量濃度比(以下為[Ni]/[Si])為4~6、并且是使(式1)所定義的x為0.1~0.45的[Ni]、[Si],([Ni]-4x)
文檔編號C22C9/06GK1540013SQ200410036828
公開日2004年10月27日 申請日期2004年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月18日
發(fā)明者石川泰靖, 新見壽宏, 波多野隆紹, 宏, 隆紹 申請人:日礦金屬加工株式會社
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