專利名稱：大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于分析儀器領(lǐng)域的大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀。
背景技術(shù)：
液質(zhì)聯(lián)用系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和生物檢測(cè)分析領(lǐng)域，其結(jié)構(gòu)主要包括液相色譜儀和質(zhì)譜儀。其中液相色譜儀用于初步處理待檢測(cè)的液體樣品，以形成較為純凈的液體樣品。質(zhì)譜儀主要包括大氣壓接口離子源和質(zhì)量分析器等。大氣壓接口離子源包括一根帶電噴針、毛細(xì)管和給毛細(xì)管加熱的加熱裝置，帶電噴針設(shè)置在大氣中，用于接收經(jīng)液相色譜儀處理過(guò)的較純凈的液體樣品，并將液體樣品電離氣化形成氣態(tài)的帶電離子；毛細(xì)管一端伸入到質(zhì)譜儀內(nèi)，另一端設(shè)置在大氣中，所述質(zhì)譜儀內(nèi)與大氣之間的氣壓差使經(jīng)電離氣化后的樣品離子形成樣品離子流，并通過(guò)所述毛細(xì)管吸入到質(zhì)譜儀內(nèi)。傳統(tǒng)的大氣壓接口離子源中，毛細(xì)管與質(zhì)譜儀中的質(zhì)量分析器安裝在同一中心線上，所以離子流以直線形式飛進(jìn)質(zhì)量分析器。如圖1所示，毛細(xì)管2上的電壓與噴針1有一高壓電位差，可以利用一個(gè)高壓供電電源使毛細(xì)管2與噴針1之間保持這種高壓電位差，當(dāng)然也可以通過(guò)其他方式在二者之間保持高壓電位差。噴針1的噴口處由電場(chǎng)作用形成泰勒錐，使液體樣品轉(zhuǎn)換成大量的帶有電荷的液滴，帶電液滴發(fā)生庫(kù)侖爆炸效應(yīng)，蒸發(fā)掉部分溶劑，變成更小的帶電霧滴；這些小霧滴在氣流的導(dǎo)引、裹攜作用下形成樣品離子流進(jìn)入毛細(xì)管2，在毛細(xì)管2的高溫作用下小霧滴內(nèi)的溶劑進(jìn)一步被蒸發(fā)，因此小霧滴在通過(guò)毛細(xì)管2的過(guò)程中會(huì)越來(lái)越小，最后進(jìn)入質(zhì)量分析器中。通常情況下，在液體樣品霧滴通過(guò)毛細(xì)管轉(zhuǎn)變?yōu)殡x子流的同時(shí)，也會(huì)存在一些未電離成功的液體樣品，如雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等中性顆粒，還會(huì)存在一些去溶劑不完全的大質(zhì)荷比的帶電霧滴。而傳統(tǒng)的大氣壓接口離子源中，所有這些離子、帶電霧滴及雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等由于原始運(yùn)動(dòng)方向直接對(duì)準(zhǔn)質(zhì)量分析器的入口，所以會(huì)一并進(jìn)入到質(zhì)量分析器中，從而污染了質(zhì)量分析器中的電極等部件，造成局部靜電累積， 破壞質(zhì)量分析器內(nèi)部的理想電場(chǎng)分布，從而嚴(yán)重影響了質(zhì)譜儀的分析精度和靈敏度；同時(shí)霧滴直接進(jìn)入質(zhì)量分析器還會(huì)產(chǎn)生噪聲信號(hào)，降低質(zhì)譜儀的信噪比。為了減少進(jìn)入質(zhì)量分析器的雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等中性顆粒，傳統(tǒng)的大氣壓接口離子源中還設(shè)有吹氣裝置，其吹出的高溫氮?dú)夥较蚺c毛細(xì)管內(nèi)樣品離子流的方向相反，目的在于使這些中性顆粒中的溶劑進(jìn)一步蒸發(fā)，變成質(zhì)量小的粒子，以減小對(duì)質(zhì)量分析器的污染。然而這會(huì)浪費(fèi)大量的氮?dú)?、電能等資源。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種不影響分析精度和靈敏度的大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)中由于大氣壓接口離子源的缺陷而導(dǎo)致分析精度和靈敏度低的技術(shù)問(wèn)題。[0006]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源，大氣壓接口離子源，包括一端伸入到質(zhì)譜儀內(nèi)、 另一端設(shè)置在大氣中的毛細(xì)管，所述質(zhì)譜儀內(nèi)與大氣之間的氣壓差使經(jīng)電離氣化后的樣品離子形成樣品離子流，并通過(guò)所述毛細(xì)管吸入到所述質(zhì)譜儀內(nèi)，其特征在于所述大氣壓接口離子源還包括推斥電極，所述毛細(xì)管的中心線與質(zhì)譜儀的質(zhì)量分析器的中心線之間的夾角α為80° 150°，所述推斥電極安裝在所述夾角α的外側(cè)，所述推斥電極上加有 110 380伏特的直流電壓，該直流電壓產(chǎn)生的電場(chǎng)使通過(guò)所述毛細(xì)管的樣品離子流中動(dòng)能小的樣品離子的飛行方向改變180° -α角后進(jìn)入所述質(zhì)量分析器。優(yōu)選地，所述夾角α為90°。所述推斥電極面對(duì)所述夾角α —面的形狀為半圓柱面形狀、球面形狀、橢球面形狀、錐面形狀、錐臺(tái)面形狀或平面形狀。所述推斥電極上開(kāi)有孔或狹縫，以供動(dòng)能大的樣品離子或中性粒子通過(guò)。 所述大氣壓接口離子源還包括安裝在所述推斥電極與所述質(zhì)量分析器之間的離子導(dǎo)引裝置。所述離子導(dǎo)引裝置是極桿式導(dǎo)引裝置，包括相互平行且在圓周方向均勻分布的四根、六根或八根電極桿，每根電極桿上加有電壓為100 400伏特、頻率為600千赫茲 2 兆赫茲的射頻電流。所述離子導(dǎo)引裝置是離子漏斗，該離子漏斗包括若干塊相互絕緣且平行布置的電極板，每塊所述電極板的中央具有供所述樣品離子通過(guò)的通孔，若干塊電極板上的通孔沿著樣品離子的飛行方向依次變??；所述離子漏斗所處區(qū)域的真空度為65pa 650pa，靠近所述推斥電極的電極板上加有60 100伏特的直流電壓，靠近所述質(zhì)量分析器的電極板上加有25 65伏特的直流電壓，若干塊電極板上的電壓沿著樣品離子的飛行方向依次遞減，每一塊所述電極板上加有交流電壓，并且所述若干塊電極板中的相鄰兩塊所述電極板之間的交流電壓的相位差相同。所述離子漏斗所處區(qū)域的真空度為IlOpa 150pa。所述若干塊電極板上的直流電壓沿著樣品離子的飛行方向以等差數(shù)列的方式依次遞減。本實(shí)用新型的質(zhì)譜儀，包括質(zhì)量分析器和大氣壓接口離子源，其中，所述大氣壓接口離子源是本實(shí)用新型所述的大氣壓接口離子源。由上述技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀的優(yōu)點(diǎn)和積極效果在于由于大氣壓接口離子源中設(shè)有推斥電極，推斥電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)能夠分離動(dòng)能小的樣品離子與動(dòng)能大的雜質(zhì)、分子團(tuán)、霧滴顆粒等，樣品離子在推斥電極電場(chǎng)的作用下改變飛行方向，且改變后能夠進(jìn)入質(zhì)量分析器；而雜質(zhì)霧滴或顆粒由于動(dòng)能大、慣性大，在推斥電極電場(chǎng)的作用下飛行方向所改變的角度比樣品離子所改變的角度小，因而由于強(qiáng)大的慣性無(wú)法進(jìn)入質(zhì)量分析器。所以本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源以及質(zhì)譜儀中，只有穩(wěn)定的樣品離子才能能夠進(jìn)入質(zhì)量分析器，而其他的霧滴、分子團(tuán)、顆粒等均無(wú)法進(jìn)入質(zhì)量分析器，從而有效地避免了這些霧滴、分子團(tuán)、顆粒等污染質(zhì)量分析器中的電極等部件，因此有利于提高質(zhì)譜儀的分析精度、靈敏度和信噪比。與此同時(shí)，本實(shí)用新型中，由于推斥電極在質(zhì)量分析器之前就將樣品離子流中的雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等中性顆粒篩選掉， 因而可以不必設(shè)置吹氣裝置，故本發(fā)能能夠節(jié)省大量的氮?dú)?、電能等資源。[0017]通過(guò)以下參照附圖對(duì)優(yōu)選實(shí)施例的說(shuō)明，本實(shí)用新型的上述以及其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將更加明顯。

圖1表示傳統(tǒng)的大氣壓接口離子源的結(jié)構(gòu)示意圖，其同時(shí)表示出液體樣品被電離氣化后飛行過(guò)程中的變化過(guò)程；圖2表示本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3表示本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源的機(jī)械結(jié)構(gòu)示意圖；圖4表示樣品離子在本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源中飛行的模擬圖；圖5表示本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合附圖詳細(xì)描述本實(shí)用新型的具體實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)注意，這里描述的實(shí)施例只用于舉例說(shuō)明，并不用于限制本實(shí)用新型。如圖2和圖3所示，本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源第一實(shí)施例，主要包括帶電噴針1、毛細(xì)管2、給毛細(xì)管加熱的加熱裝置(圖中未示出)以及推斥電極3。帶電噴針1可以與傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的大氣壓接口離子源中的帶電噴針的相同。毛細(xì)管2可以與傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的大氣壓接口離子源中的毛細(xì)管2相同，其可以帶電，也可以不帶電。毛細(xì)管2的一端設(shè)置在大氣中由陶瓷套管8支撐，另一端伸入到質(zhì)譜儀10內(nèi)由質(zhì)譜儀10內(nèi)的毛細(xì)管架6支撐。質(zhì)譜儀內(nèi)與大氣之間的氣壓差使經(jīng)電離氣化后的樣品離子形成樣品離子流，并通過(guò)毛細(xì)管2吸入到質(zhì)譜儀內(nèi)。毛細(xì)管2的中心線與質(zhì)譜儀10的質(zhì)量分析器4的中心線之間的夾角α為90°，該夾角α的角度不限于90°，可以根據(jù)質(zhì)譜儀的整體結(jié)構(gòu)布局以及推斥電極3的電場(chǎng)強(qiáng)度等因素確定，通常該夾角α的角度在80° 150°范圍內(nèi)均是可行的。樣品離子流通過(guò)毛細(xì)管2進(jìn)入質(zhì)譜儀內(nèi)，在毛細(xì)管2的高溫作用下，樣品離子流中的溶劑被進(jìn)一步蒸發(fā)。由毛細(xì)管2飛出的樣品離子流成分包括離子或者離子團(tuán)簇以及未電離成功的液體樣品分子，如雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等，還有一些去溶劑不完全的大質(zhì)荷比的帶電霧滴。推斥電極3安裝在夾角α的外側(cè)，推斥電極3的直流電壓所產(chǎn)生的電場(chǎng)能夠使通過(guò)毛細(xì)管2的樣品離子、雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等分散開(kāi)，推斥電極3的電場(chǎng)強(qiáng)度恰好能夠使樣品離子流中動(dòng)能小的樣品離子的飛行方向改變90°后進(jìn)入質(zhì)量分析器4。當(dāng)然如果毛細(xì)管2的中心線與質(zhì)譜儀的質(zhì)量分析器4的中心線之間的夾角α為120°，則推斥電極3也使樣品離子流中樣品離子的飛行方向改變大約60°而進(jìn)入質(zhì)量分析器4，即推斥電極3對(duì)樣品離子流的飛行方向所改變的角度值為180° -α，以確保樣品離子流中質(zhì)荷比小的樣品離子能夠飛進(jìn)質(zhì)量分析器4中。我們知道，質(zhì)譜儀內(nèi)是一定真空度的，質(zhì)譜儀內(nèi)、外的壓力差使空氣形成氣流，被帶電噴針電離氣化后的樣品霧滴粒子在該氣流的裹攜作用下，由毛細(xì)管進(jìn)入到質(zhì)譜儀內(nèi)。各種樣品霧滴粒子在毛細(xì)管入口處的速度大小有所差別，而脫離毛細(xì)管時(shí)，各種樣品霧滴粒子的速度均與毛細(xì)管內(nèi)氣流速度接近，也就是說(shuō)，在
脫離毛細(xì)管時(shí)，各種樣品霧滴粒子的速度基本是相同的。根據(jù)動(dòng)能公式:EK =^mv2 (其中m是質(zhì)量，ν是速度大小)，這些樣品霧滴粒子所帶動(dòng)能與其質(zhì)量成正比，未完全氣化的霧滴、 雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等中性顆粒的質(zhì)量往往遠(yuǎn)大于樣品離子的質(zhì)量，因此其動(dòng)能也遠(yuǎn)大于樣品離子的動(dòng)能，因此，這些未完全氣化的霧滴、雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等，由于質(zhì)量較大，所以動(dòng)能大，慣性大，不容易被電場(chǎng)偏轉(zhuǎn)，所以其雖然可能偏離原始的飛行方向，但其偏離的角度要遠(yuǎn)小于樣品離子，因此，這些質(zhì)荷比大的離子、雜質(zhì)顆粒、溶劑顆粒、溶劑分子團(tuán)等，無(wú)法飛進(jìn)質(zhì)量分析器4，而是從推斥電極3邊緣或穿過(guò)推斥電極上的孔或狹縫飛出去。推斥電極3面對(duì)夾角α —面的形狀為半圓柱面形狀，其也可以是球面形狀、橢球面形狀、錐面形狀、錐臺(tái)面形狀或平面形狀等其他形狀，推斥電極3上可開(kāi)孔或開(kāi)狹縫讓中性和高能顆粒通過(guò)。這些中性或高能量顆粒霧滴不會(huì)達(dá)到任何電極從而不會(huì)對(duì)其造成污染。根據(jù)液體樣品的種類不同，推斥電極3的直流電壓通?？梢栽?10 380伏特范圍內(nèi)。本實(shí)用新型第一實(shí)施例優(yōu)選的技術(shù)方案中，大氣壓接口離子源還包括離子導(dǎo)引裝置，該離子導(dǎo)引裝置是安裝在質(zhì)量分析器4與推斥電極3之間的離子漏斗50，該離子漏斗50包括若干塊平行布置的電極板51，每塊電極板51的中央具有供樣品離子通過(guò)的通孔 511，若干塊電極板51上的通孔511沿著樣品離子的飛行方向依次變小，相鄰兩塊電極板51 之間設(shè)有絕緣片52，每塊電極板51上設(shè)有用于連接到電路板的電連接部512。離子漏斗50 所處區(qū)域的真空度為60pa 650pa，并且靠近推斥電極3的電極板51上的直流電壓為60 100伏特，靠近質(zhì)量分析器4的電極板51上的直流電壓為25 65伏特，若干塊電極板51 上的直流電壓沿著樣品離子的飛行方向以等差數(shù)列的方式依次遞減。每一塊電極板51上加有交流電壓，優(yōu)選地，若干塊電極板51中的相鄰兩塊電極板51之間的交流電壓的相位差相同，例如每相鄰的兩塊電極板之間的交流電壓相位差均為半個(gè)周期。離子漏斗50在上述真空度、直流電壓、交流電壓條件下，樣品離子可以更好地聚焦，從而使各個(gè)離子即便初始能量不同、偏轉(zhuǎn)角度不會(huì)完全一致，也能有效地聚焦、集中。離子流與背景空氣的碰撞可以進(jìn)一步降低樣品離子的溫度，以利于樣品離子以合適的速度飛出離子漏斗，特別是在離子漏斗50所處區(qū)域的真空度為IlOpa 150pa，尤其是在130pa左右時(shí)，且若干塊電極板51 上的直流電壓以等差數(shù)列的方式沿著樣品離子飛行方向依次遞減時(shí)，樣品離子可以更加順暢地飛出離子漏斗50，飛進(jìn)質(zhì)量分析器4。當(dāng)然若干塊電極板51上的直流電壓沿著樣品離子飛行方向不以等差數(shù)列方式遞減為限，其他的遞減方式也是可行的；靠近推斥電極3的電極板51上的直流電壓不限于60 100伏特，靠近質(zhì)量分析器4的電極板51上的電壓也不限于25 65伏特。如圖4所示，樣品為利血平，分子量為609，推斥電極選用平面型推斥電極30，施加于推斥電極30上的電壓為180伏特，離子漏斗50所處區(qū)域的真空度為130pa，沿著樣品離子飛行方向的第一塊電極板51 (靠近推斥電極3的電極板)上的電壓為100伏，第二塊電極板51上的電壓為93伏，第三塊電極板51上的電壓為86伏，第四塊電極板51上的電壓為79伏，第五塊電極板51上的電壓為72伏，第六塊電極板51上的電壓為65伏，第七塊電極板51上的電壓為58伏，第八塊電極板51上的電壓為51伏。由圖4可以看出，從毛細(xì)管 2飛出的樣品離子順暢地穿過(guò)離子漏斗50，最終飛進(jìn)質(zhì)量分析器。如圖5所示，本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源第二實(shí)施例與第一實(shí)施例不同之處僅在于離子導(dǎo)引裝置是安裝在質(zhì)量分析器4與推斥電極3之間的極桿式導(dǎo)引裝置60。極桿式導(dǎo)引裝置60包括相互平行且在圓周方向均勻分布的四根、六根或八根或其他數(shù)量的電極桿61，電極桿61的截面形狀可以是圓形、矩形或者其他形狀。每根電極桿61上加有電壓為100 400伏特、頻率為600千赫茲 2兆赫茲的射頻電流。該第二實(shí)施例的極桿式導(dǎo)引裝置同樣能夠?qū)悠冯x子束起到良好的降溫、聚焦的效果。本實(shí)用新型的質(zhì)譜儀10，包括質(zhì)量分析器4和大氣壓接口離子源。其中的大氣壓接口離子源即為前述本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源，這里不再贅述。雖然已參照幾個(gè)典型實(shí)施例描述了本實(shí)用新型，但應(yīng)當(dāng)理解，所用的術(shù)語(yǔ)是說(shuō)明和示例性、而非限制性的術(shù)語(yǔ)。由于本實(shí)用新型能夠以多種形式具體實(shí)施而不脫離實(shí)用新型的精神或?qū)嵸|(zhì)，所以應(yīng)當(dāng)理解，上述實(shí)施例不限于任何前述的細(xì)節(jié)，而應(yīng)在隨附權(quán)利要求所限定的精神和范圍內(nèi)廣泛地解釋，因此落入權(quán)利要求或其等效范圍內(nèi)的全部變化和改型都應(yīng)為隨附權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求1.一種大氣壓接口離子源，包括一端伸入到質(zhì)譜儀內(nèi)、另一端設(shè)置在大氣中的毛細(xì)管 O)，所述質(zhì)譜儀內(nèi)與大氣之間的氣壓差使經(jīng)電離氣化后的樣品離子形成樣品離子流，并通過(guò)所述毛細(xì)管( 吸入到所述質(zhì)譜儀內(nèi)，其特征在于所述大氣壓接口離子源還包括推斥電極(3)，所述毛細(xì)管O)的中心線與質(zhì)譜儀的質(zhì)量分析器的中心線之間的夾角α 為80° 150°，所述推斥電極C3)安裝在所述夾角α的外側(cè)，所述推斥電極(；3)上加有 110 380伏特的直流電壓，該直流電壓產(chǎn)生的電場(chǎng)使通過(guò)所述毛細(xì)管(2)的樣品離子流中動(dòng)能小的樣品離子的飛行方向改變180° -α角后進(jìn)入所述質(zhì)量分析器。
2.如權(quán)利要求1所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述夾角α為90°。
3.如權(quán)利要求1所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述推斥電極(3)面對(duì)所述夾角α —面的形狀為半圓柱面形狀、球面形狀、橢球面形狀、錐面形狀、錐臺(tái)面形狀或平面形狀。
4.如權(quán)利要求1所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述推斥電極(3)上開(kāi)有孔或狹縫，以供動(dòng)能大的樣品離子或中性粒子通過(guò)。
5.如權(quán)利要求1-4之任一項(xiàng)所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述大氣壓接口離子源還包括安裝在所述推斥電極(3)與所述質(zhì)量分析器(4)之間的離子導(dǎo)引裝置。
6.如權(quán)利要求5所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述離子導(dǎo)引裝置是極桿式導(dǎo)引裝置(60)，包括相互平行且在圓周方向均勻分布的四根、六根或八根電極桿(61)，每根電極桿(61)上加有電壓為100 400伏特、頻率為600千赫茲 2兆赫茲的射頻電流。
7.如權(quán)利要求5所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述離子導(dǎo)引裝置是離子漏斗(50)，該離子漏斗(50)包括若干塊相互絕緣且平行布置的電極板(51)，每塊所述電極板 (51)的中央具有供所述樣品離子通過(guò)的通孔(511)，若干塊電極板(51)上的通孔(511)沿著樣品離子的飛行方向依次變?。凰鲭x子漏斗(50)所處區(qū)域的真空度為65pa 650pa， 靠近所述推斥電極(3)的電極板(51)上加有60 100伏特的直流電壓，靠近所述質(zhì)量分析器的電極板(51)上加有25 65伏特的直流電壓，若干塊電極板(51)上的電壓沿著樣品離子的飛行方向依次遞減，每一塊所述電極板(51)上加有交流電壓，并且所述若干塊電極板(51)中的相鄰兩塊所述電極板(51)之間的交流電壓的相位差相同。
8.如權(quán)利要求7所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述離子漏斗(50)所處區(qū)域的真空度為IlOpa 150pa。
9.如權(quán)利要求7所述的大氣壓接口離子源，其特征在于所述若干塊電極板(51)上的直流電壓沿著樣品離子的飛行方向以等差數(shù)列的方式依次遞減。
10.一種質(zhì)譜儀，包括質(zhì)量分析器(4)和大氣壓接口離子源，其特征在于所述大氣壓接口離子源是權(quán)利要求1-9之任一項(xiàng)所述的大氣壓接口離子源。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀。大氣壓接口離子源包括毛細(xì)管和推斥電極，質(zhì)譜儀內(nèi)與大氣之間的氣壓差使樣品離子形成樣品離子流，并通過(guò)毛細(xì)管吸入到質(zhì)譜儀內(nèi)，毛細(xì)管與質(zhì)譜儀的質(zhì)量分析器之間的夾角α為80°～150°，推斥電極安裝在夾角α的外側(cè)，推斥電極上加有110～380伏特的直流電壓，使通過(guò)毛細(xì)管的樣品離子流中動(dòng)能小的樣品離子的飛行方向改變180°-α角后進(jìn)入質(zhì)量分析器。本實(shí)用新型的質(zhì)譜儀包括本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源。本實(shí)用新型中，只有穩(wěn)定的動(dòng)能較小的樣品離子才能能夠進(jìn)入質(zhì)量分析器，而動(dòng)能很大的霧滴殘余等則被有效分離。因此本實(shí)用新型的大氣壓接口離子源及質(zhì)譜儀的分析精度高，靈敏度好，信噪比高。
文檔編號(hào)H01J49/10GK202178233SQ20112027462
公開(kāi)日2012年3月28日 申請(qǐng)日期2011年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月29日
發(fā)明者商穎健, 張華 , 張小華, 杜永光, 王后樂(lè) 申請(qǐng)人:北京普析通用儀器有限責(zé)任公司