專利名稱：一種良品率檢測裝置的制作方法
技術領域：
一種良品率檢測裝置技術領域[0001]本實用新型涉及等離子顯示器加工技術領域，更具體地說，涉及一種良品率檢 測裝置。
背景技術：
[0002]PDP (Plasma Display Panel,等離子顯示屏)是一種利用氣體放電來顯示圖像的顯示屏。它采用了等離子管作為發(fā)光元件，屏幕上每一個等離子管對應一個像素，屏幕以 玻璃作為基板，基板間隔一定距離，四周經(jīng)氣密性封接形成一個個放電空間。放電空間 內(nèi)充入氖、氙等混合惰性氣體作為工作媒質(zhì)。在兩塊玻璃基板的內(nèi)側面上涂有金屬氧化 物導電薄膜作激勵電極。當向電極上加入電壓，放電空間內(nèi)的混合氣體便發(fā)生等離子體 放電現(xiàn)象。氣體等離子體放電產(chǎn)生紫外線，紫外線激發(fā)熒光屏，熒光屏發(fā)射出可見光， 顯現(xiàn)出圖像。[0003]等離子顯示板進行電極熱壓著的過程中，TCP (Tape Carrier Package，薄膜封裝)上電極和等PDP面板上電極(PDP面板上電極通常需要FPC引出，F(xiàn)PC的英文全稱為 Flexible Printed Circuit,中文釋意為柔性線路板)要進行 CCD (Charge-coupled Device,電荷耦合元件)對位，對位的目的是為了將TCP上的電極和PDP面板上的電極的貼合精度 提高，由于PDP面板的電極之間的間隙非常小，導致貼合后的精度不便于檢測。[0004]目前等離子顯示板貼合后沒有具體可實施的檢查設備，導致很多貼合不良流 出，造成資源浪費，影響生產(chǎn)成本。實用新型內(nèi)容[0005]有鑒于此，本實用新型提供了一種良品率檢測裝置，以在熱壓著工藝后檢測等 離子顯示屏的良品率。[0006]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案[0007]—種良品率檢測裝置，用于檢測熱壓著工藝后等離子顯示屏的良品率，包括點 亮所述等離子顯示屏的點亮裝置。[0008]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，所述點亮裝置為PCB電路板。[0009]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，所述PCB電路板上設有分別與所述等離子 顯示屏的TCP和FPC上的電極連接的插座。[0010]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，還包括放置待測等離子顯示屏的支架，所 述點亮裝置設置在所述支架上。[0011]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，所述支架包括卡裝所述等離子顯示屏的卡 裝部，且所述卡裝部傾斜設置。[0012]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，所述支架還包括設置在所述卡裝部下端的 支撐部。[0013]優(yōu)選的，在上述良品率檢測裝置中，所述支架具體包括四個支撐柱和分別連接任意兩個相臨支撐柱的橫梁，所述支撐柱的頂端切割成卡裝部，且所述卡裝部傾斜設置。[0014]從上述的技術方案可以看出，本實用新型實施例通過設置一個能夠點亮等離子 顯示屏的點亮裝置作為檢測裝置來檢測等離子顯示屏熱壓著工藝后的良品率，避免了由 于TCP上的電極和PDP面板上的電極貼合不良造成的不良顯示屏的流出。由于檢測出電 極貼合不良的顯示屏，避免了熱壓著由后其他工藝的生產(chǎn)所造成的資源浪費，影響生產(chǎn) 成本等弊端。


[0015]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施 例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖 僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動 的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。[0016]圖1為本實用新型實施例提供的良品率檢測裝置的結構示意圖；[0017]圖2為圖1的側視圖；[0018]圖3為圖1的俯視圖；[0019]圖4為圖3中I的局部放大圖。
具體實施方式
[0020]本實用新型公開了一種良品率檢測裝置，以在熱壓著工藝后檢測等離子顯示屏 的良品率。[0021]下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進 行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是 全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞 動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。[0022]本實用新型提供的良品率檢測裝置用于檢測熱壓著工藝后等離子顯示屏的良品 率，該檢測裝置包括點亮等離子顯示屏的點亮裝置。通過點亮等離子顯示屏并切換畫面 來確定熱壓著的良品率。若發(fā)現(xiàn)良品率不合格，以及時進行維修處理，避免不合格顯示 屏流出。[0023]綜上所述，本實用新型實施例通過設置一個能夠點亮等離子顯示屏的點亮裝置 作為檢測裝置來檢測等離子顯示屏熱壓著工藝后的良品率，避免了由于TCP上的電極和 PDP面板上的電極貼合不良造成的不良顯示屏的流出。由于檢測出電極貼合不良的顯示 屏，避免了熱壓著后由其他工藝的生產(chǎn)所造成的資源浪費，影響生產(chǎn)成本等弊端。[0024]本實用新型提供的點亮裝置為PCB電路板，該電路板上封裝有能夠點亮顯示屏 的電路。PCB電路板上設有分別與所述等離子顯示屏的TCP和FPC上的電極連接的插 座。通過設置插座，方便了良品率的檢測，直接將插座插接在相應的TCP和FPC上的電 極即可點亮顯示屏。[0025]請參閱圖1-圖4，圖1為本實用新型實施例提供的良品率檢測裝置的結構示意 圖，圖2為圖1的側視圖，圖3為圖1的俯視圖，圖4為圖3中I的局部放大圖。[0026]其中，1為支架，2為鋁背板，3為等離子顯示屏，4為電極。本實用新型還包括放置待測等離子顯示屏3的支架1，點亮裝置設置在所述支架 上。等離子顯示屏3背面的鋁背板2與支架接觸，保持等離子顯示屏3的顯示屏幕朝外， 以便于及時觀察。等離子顯示屏的電極4與PCB電路板實現(xiàn)點亮。支架1包括卡裝等離子顯示屏3的卡裝部，且所述卡裝部傾斜設置。由于卡裝 部傾斜設置，所以導致放置在卡裝部上的等離子顯示屏3也成傾斜狀態(tài)，傾斜放置的顯 示屏便于人們觀察?？梢栽谠摽ㄑb部下端安裝支撐部，用于支撐卡裝部。本實用新型另一實施例提供的支架1具體包括四個支撐柱和分別連接任意兩個 相臨支撐柱的橫梁，支撐柱的頂端構成卡裝部。即支撐柱的頂部作為卡裝等離子顯示屏3 的卡裝部。在本實施例中，卡裝部是通過在四個支撐柱的頂部切掉部分材料組成的，且 需保證卡裝部成傾斜狀態(tài)。需要說明的是，卡裝部只是通過在四個支撐柱的頂部切掉部 分材料組成，而不是全部切掉。未切掉的材料能夠保證卡住等離子顯示屏3，起到限制等 離子顯示屏3移動的作用。本實施例提供的支架通過對支撐柱的改進，在其頂部加工出 卡裝部，而無需通過專門設計一個卡裝部，然后安裝在支撐柱上，極大的節(jié)省了材料。本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其 他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似部分互相參見即可。對所公開的實施例的上述說明，使本領域專業(yè)技術人員能夠實現(xiàn)或使用本實用 新型。對這些實施例的多種修改對本領域的專業(yè)技術人員來說將是顯而易見的，本文中 所定義的一般原理可以在不脫離本實用新型的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實 現(xiàn)。因此，本實用新型將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公 開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權利要求1.一種良品率檢測裝置，用于檢測熱壓著工藝后等離子顯示屏的良品率，其特征在 于，包括點亮所述等離子顯示屏的點亮裝置。
2.如權利要求1所述的良品率檢測裝置，其特征在于，所述點亮裝置為PCB電路板。
3.如權利要求2所述的良品率檢測裝置，其特征在于，所述PCB電路板上設有分別 與所述等離子顯示屏的TCP和FPC上的電極連接的插座。
4.如權利要求1-3任一項所述的良品率檢測裝置，其特征在于，還包括放置待測等離 子顯示屏的支架，所述點亮裝置設置在所述支架上。
5.如權利要求4所述的良品率檢測裝置，其特征在于，所述支架包括卡裝所述等離子 顯示屏的卡裝部，且所述卡裝部傾斜設置。
6.如權利要求5所述的良品率檢測裝置，其特征在于，所述支架還包括設置在所述卡 裝部下端的支撐部。
7.如權利要求4所述的良品率檢測裝置，其特征在于，所述支架具體包括四個支撐柱 和分別連接任意兩個相臨支撐柱的橫梁，所述支撐柱的頂端切割成卡裝部，且所述卡裝 部傾斜設置。
專利摘要本實用新型公開了一種良品率檢測裝置，用于檢測熱壓著工藝后等離子顯示屏的良品率，包括點亮所述等離子顯示屏的點亮裝置。本實用新型實施例通過設置一個能夠點亮等離子顯示屏的點亮裝置作為檢測裝置來檢測等離子顯示屏熱壓著工藝后的良品率，避免了由于TCP上的電極和PDP面板上的電極貼合不良造成的不良顯示屏的流出。由于檢測出電極貼合不良的顯示屏，避免了熱壓著由后其他工藝的生產(chǎn)所造成的資源浪費，影響生產(chǎn)成本等弊端。
文檔編號H01J9/42GK201804834SQ201020293549
公開日2011年4月20日 申請日期2010年8月11日 優(yōu)先權日2010年8月11日
發(fā)明者張家金 申請人:安徽鑫昊等離子顯示器件有限公司