面板缺陷判定治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及顯示面板檢測的技術(shù)領(lǐng)域，特別是關(guān)于一種面板缺陷判定治具。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子產(chǎn)品朝著輕、薄、小型化快速發(fā)展，各種攜帶式電子產(chǎn)品幾乎都以液晶顯示器(Liquid Crystal Display，IXD)作為顯示終端，特別是在攝錄放影機(jī)、筆記本電腦、臺式電腦、智能電視、移動終端或個(gè)人數(shù)字處理器等產(chǎn)品上，液晶顯示器已是重要的組成組件。
[0003]液晶面板是液晶顯示器的重要組成元件之一，在產(chǎn)線的點(diǎn)燈檢測工序中，需點(diǎn)亮液晶面板以檢查液晶面板的缺陷。檢測時(shí)，廠內(nèi)經(jīng)常會出現(xiàn)多片看似存在相同問題的面板，例如，面黑mura(斑點(diǎn))的位置大致相同，或有一些轉(zhuǎn)5°的摩擦痕和水平條狀的摩擦痕人眼很難分辨。為分析出現(xiàn)這些問題的原因，通常需對有問題的面板進(jìn)行拆片解析，而在拆片前，需先確認(rèn)這些缺陷的具體位置與數(shù)值，并在存在缺陷的位置進(jìn)行相應(yīng)的標(biāo)記。然而，標(biāo)記通常記錄在面板的頂層，隨著拆片過程的進(jìn)行，容易出現(xiàn)標(biāo)記丟失而需反復(fù)進(jìn)行標(biāo)記的問題，使得解析過程較繁瑣，此外，采用此方式對缺陷的判定準(zhǔn)確性差，也使得解析的成功率較低。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的在于提供一種面板缺陷判定治具，可提高面板解析的準(zhǔn)確性與成功率。
[0005]本實(shí)用新型的面板缺陷判定治具，包括第一標(biāo)尺、第二標(biāo)尺與角度刻度盤，該第一標(biāo)尺、該第二標(biāo)尺與該角度刻度盤之間通過一轉(zhuǎn)軸可轉(zhuǎn)動連接，該第一標(biāo)尺設(shè)有指向該角度刻度盤的刻度的第一角度指示部，該第二標(biāo)尺設(shè)有指向該角度刻度盤的刻度的第二角度指示部，該轉(zhuǎn)軸的中心設(shè)有用于檢視缺陷的透視窗，該透視窗的中心設(shè)有對位部。
[0006]進(jìn)一步地，該第一標(biāo)尺與該第二標(biāo)尺上分別設(shè)有用于指示距離的刻度線。
[0007]進(jìn)一步地，該第一標(biāo)尺與該第二標(biāo)尺上分別設(shè)有電子讀數(shù)器，該電子讀數(shù)器可沿對應(yīng)標(biāo)尺的長度方向滑動。
[0008]進(jìn)一步地，該第一標(biāo)尺與該第二標(biāo)尺的量程相等。
[0009]進(jìn)一步地，該角度刻度盤位于該第一標(biāo)尺與該第二標(biāo)尺的上方。
[0010]進(jìn)一步地，該轉(zhuǎn)軸為一空心圓筒，該透視窗形成于該空心圓筒的遠(yuǎn)離該角度刻度盤的一側(cè)。
[0011 ] 進(jìn)一步地，該對位部為與該轉(zhuǎn)軸同心的不透光部。
[0012]進(jìn)一步地，該對位部的半徑為0.15mm。
[0013]進(jìn)一步地，該角度刻度盤的刻度線在該角度刻度盤的上表面沿外圈設(shè)置。
[0014]進(jìn)一步地，該第一角度指示部與該第二角度指示部為指示線，該指示線沿對應(yīng)標(biāo)尺的中心線延伸且延長線經(jīng)過該角度刻度盤的圓心。
[0015]本實(shí)用新型中，面板缺陷判定治具設(shè)有用于檢視缺陷的透視窗，透視窗中設(shè)有用于對位缺陷的對位部，利用第一標(biāo)尺、第二標(biāo)尺與角度刻度盤可測量缺陷與面板對應(yīng)邊的距離，以及該缺陷與面板對應(yīng)邊的夾角，通過記錄該相關(guān)數(shù)值并在解析過程中進(jìn)行驗(yàn)證，可避免解析過程中因標(biāo)記丟失而反復(fù)進(jìn)行標(biāo)記的問題，從而提高解析的準(zhǔn)確性與成功率。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具在另一視角的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具的使用示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定實(shí)用新型目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。
[0020]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具在另一視角的結(jié)構(gòu)示意圖，圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中面板缺陷判定治具的使用示意圖。如圖1與圖2所示，本實(shí)用新型的面板缺陷判定治具10包括第一標(biāo)尺11、第二標(biāo)尺12與角度刻度盤13，第一標(biāo)尺11、第二標(biāo)尺12與角度刻度盤13之間通過轉(zhuǎn)軸14可轉(zhuǎn)動連接，轉(zhuǎn)軸14的中心設(shè)有用于檢視缺陷的透視窗141，透視窗141的中心設(shè)有對位部142。在本實(shí)施例中，角度刻度盤13設(shè)置在第一標(biāo)尺11與第二標(biāo)尺12的上方，也即，角度刻度盤13位于靠近操作人員檢視缺陷時(shí)觀察的一側(cè)，第一標(biāo)尺11或第二標(biāo)尺12位于靠近面板20的一側(cè)，如圖3所示。
[0021]其中，操作人員可通過透視窗141觀察當(dāng)前判定的缺陷，對位部142用于對位點(diǎn)狀缺陷的位置或條狀缺陷的端點(diǎn)位置，通過第一標(biāo)尺11、第二標(biāo)尺12可測得對應(yīng)缺陷與面板20兩直角邊的距離，從而確定缺陷的位置。另一方面，通過角度刻度盤13可確定第一標(biāo)尺11與第二標(biāo)尺12之間的夾角，當(dāng)?shù)谝粯?biāo)尺11與第二標(biāo)尺12的其中之一與條狀缺陷對齊，且第一標(biāo)尺11與第二標(biāo)尺12的其中另一與面板20的一條邊垂直時(shí)(請參圖3)，可確定該條狀缺陷相對面板20的該條邊的傾斜角度，同時(shí)還可確定該條狀缺陷的長度。如此，采用本實(shí)用新型的面板缺陷判定治具10可判定面板20上的點(diǎn)狀缺陷與條狀缺陷的大小、位置、傾斜角等相關(guān)數(shù)值，從而對面板上的各類缺陷進(jìn)行區(qū)分標(biāo)記，通過記錄該相關(guān)數(shù)值并在解析過程中進(jìn)行驗(yàn)證，可避免解析過程中因標(biāo)記丟失而反復(fù)進(jìn)行標(biāo)記的問題，從而提高解析的準(zhǔn)確性與成功率。
[0022]具體地，結(jié)合圖1、圖2及圖3，轉(zhuǎn)軸14為一空心圓筒，操作人員可通過轉(zhuǎn)軸14觀察到面板20，透視窗141形成于該空心圓筒的遠(yuǎn)離角度刻度盤13的一側(cè)(即面向面板20的一側(cè))，對位部142位于透視窗141的中心。如此，移動面板缺陷判定治具10時(shí)，可通過透視窗141觀察缺陷，并將對位部142與缺陷進(jìn)行對位。在本實(shí)施例中，對位部142為與轉(zhuǎn)軸14同心的不透光部，當(dāng)對位部142與缺陷完成對位時(shí)，對位部142可遮擋住缺陷對應(yīng)的部分，便于判斷，從而提高對位的準(zhǔn)確性。進(jìn)一步地，在本實(shí)施例中，對位部142的半徑為
0.15mm，通過將該設(shè)定大小的對位部142遮擋于點(diǎn)狀缺陷的上方，還可定性判斷點(diǎn)狀缺陷的大小，從而判斷該缺陷是否符合規(guī)格。具體地，當(dāng)對位部142可完全遮住對應(yīng)的點(diǎn)狀缺陷時(shí)，可判定該缺陷符合規(guī)格，無需對該缺陷進(jìn)行標(biāo)記解析，當(dāng)對位部142不能完全遮擋該缺陷時(shí)，則需對該缺陷進(jìn)行解析。
[0023]如圖1所示，角度刻度盤13上設(shè)有用于指示角度的刻度線131，第一標(biāo)尺11設(shè)有指向刻度線131的第一角度指示部111，第二標(biāo)尺12設(shè)有指向刻度線131的第二角度指示部121。在本實(shí)施例中，刻度線13