一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型屬于光纖生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著光纖通信網(wǎng)絡(luò)迅速發(fā)展，國內(nèi)三大運(yùn)營(yíng)商的4G競(jìng)爭(zhēng)已經(jīng)進(jìn)入白熱化狀態(tài)，對(duì) 供應(yīng)商產(chǎn)品的技術(shù)參數(shù)要求也越來越高，其中對(duì)光纖衰減系數(shù)也提出了更高的要求。為了 適應(yīng)不斷發(fā)展光纖通信網(wǎng)絡(luò)，光纖廠在衰減方面也在不斷地技術(shù)創(chuàng)新，研制出了低損耗光 纖，甚至超低損耗光纖;原本不受人們重視的微彎，也慢慢地進(jìn)入研究議題。所謂微彎損耗 是由于光纖軸線微小的畸變?cè)斐傻膿p耗，這些軸線上微小的畸變是由于光纖受到不均勻的 應(yīng)力作用。本色光纖產(chǎn)生微彎由涂料配方、拉絲固化不良、拉絲PMD搓動(dòng)、主牽引皮帶等工藝 特性決定的，而成纜后的光纖產(chǎn)生微彎則由組裝光纜過程、鋪設(shè)光纜安裝過程及環(huán)境溫度 造成；而外部因素的隨機(jī)性和不可避免性，進(jìn)一步影響了光纜衰減測(cè)試的穩(wěn)定性，因此，單 純提供光纖各波長(zhǎng)的衰減值已經(jīng)不能滿足客戶的需求。因此需要在光纖未成纜時(shí)，模擬外 部因素對(duì)光纖產(chǎn)生不均勻的應(yīng)力，測(cè)量光纖從自然狀態(tài)到模擬狀態(tài)所引起的附加衰減即微 彎。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003] 有鑒于此，本實(shí)用新型旨在提出一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，在光纖未成纜時(shí)， 能夠通過本光纖盤復(fù)繞光纖來模擬外部因素對(duì)光纖產(chǎn)生不均勻的應(yīng)力，測(cè)量光纖從自然狀 態(tài)到模擬狀態(tài)所引起的附加衰減即微彎。
[0004] 為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：
[0005] -種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，包括光纖盤本體以及光纖盤本體上設(shè)置的一層砂 紙;所述砂紙平整的包裹在所述光纖盤本體上復(fù)繞光纖處的表面。
[0006] 進(jìn)一步，所述砂紙粘貼在所述光纖盤本體上。
[0007] 進(jìn)一步，所述光纖盤本體的半徑2 140mm。
[0008] 進(jìn)一步，所述砂紙細(xì)度規(guī)格為P320。
[0009] 進(jìn)一步，所述光纖盤本體上還設(shè)有卡線槽以及與卡線槽匹配的彈性壓塊;所述彈 性壓塊塞入卡線槽內(nèi)。
[0010] 進(jìn)一步，所述光纖盤本體采用石英一體成型。
[0011] 相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)勢(shì)：
[0012] 可在光纖微彎測(cè)試時(shí)將光纖復(fù)繞在本光纖盤砂紙的粗糙面上，并使光纖處于一定 的張力下，來模擬外部因素對(duì)光纖造成的微彎，砂紙可以進(jìn)行更換，光纖盤能夠重復(fù)利用， 節(jié)約材料，使用方便可靠，效果好，同時(shí)成本低廉。
【附圖說明】
[0013] 構(gòu)成本實(shí)用新型的一部分的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，本實(shí)用新 型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在 附圖中：
[0014]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0015] 圖2為圖1中A處結(jié)構(gòu)的放大圖；
[0016] 圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中光纖微彎衰減示意圖。
[0017] 附圖標(biāo)記說明：
[0018] 1-光纖盤本體，2-砂紙，3-卡線槽，4-彈性壓塊。
【具體實(shí)施方式】
[0019] 需要說明的是，在不沖突的情況下，本實(shí)用新型中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可 以相互組合。
[0020] 下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本實(shí)用新型。
[0021] -種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，如圖1所示，包括光纖盤本體1以及光纖盤本體1上 設(shè)置的一層砂紙2;所述砂紙2平整的包裹在所述光纖盤本體1上復(fù)繞光纖處的表面，需要注 意的是，為保證光纖微彎測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，砂紙2只在光纖盤本體1圓周外表面設(shè)置一層，砂紙 2接縫處應(yīng)平整、對(duì)齊。復(fù)繞的光纖以一定張力作用在砂紙2上，由于力是相互的，光纖也受 到了砂紙2上不均勻的應(yīng)力作用，模擬了光纖成纜或施工時(shí)外部因素造成的微彎。
[0022] 在多次使用之后，砂紙2上砂粒逐漸被摩擦掉，因此，所述光纖盤本體1上的砂紙2 采用膠水粘貼的方式固定，當(dāng)砂紙2變舊，可以進(jìn)行更換，使得光纖盤本體1能重復(fù)利用，節(jié) 約材料。
[0023] 其中，所述光纖盤本體1的半徑2 140mm，光纖復(fù)繞在光纖盤本體1時(shí)，不會(huì)損壞光 纖，避免了光纖產(chǎn)生宏彎衰減，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0024] 為保證更貼近真實(shí)的模擬外部因素對(duì)光纖造成的微彎，所述砂紙2優(yōu)選規(guī)格為 P320的砂紙，粗糙程度與實(shí)際的工況接近。
[0025] 如圖2所示，所述光纖盤本體1上還設(shè)有卡線槽3以及與卡線槽3匹配的彈性壓塊4; 所述彈性壓塊4塞入卡線槽3內(nèi)，可以用彈性壓塊4將復(fù)繞在本專用光纖盤本上的待測(cè)光纖 端頭壓在卡線槽內(nèi)，避免松散脫落。需要指出的是，彈性壓塊4可以是海綿塊、橡膠塊或是軟 布?jí)K，能夠?qū)⒐饫w端頭壓在卡線槽3內(nèi)固定即可。
[0026] 因此，當(dāng)進(jìn)行微彎測(cè)試時(shí)，可以由一組人員將待測(cè)光纖復(fù)繞在本專用光纖盤上，將 固定有待測(cè)光纖的光纖盤運(yùn)送到另一組人員進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的區(qū)域，工作效率更高，轉(zhuǎn)運(yùn)過程，待 測(cè)光纖不會(huì)從光纖盤脫落。
[0027] 其中，所述光纖盤本體1采用石英一體成型，不易受力變形，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn) 確性。
[0028] 下面說明一下利用本光纖盤進(jìn)行光纖微彎實(shí)驗(yàn)的具體應(yīng)用：
[0029] 1、制作石英測(cè)試光纖盤:軸向的長(zhǎng)度為280mm，直徑為280mm;
[0030] 2、準(zhǔn)備細(xì)度規(guī)格P320的砂紙；
[0031] 3、將砂紙均勻且平整的粘貼在石英測(cè)試光纖盤上；
[0032] 4、隨機(jī)挑選4盤G652D單模光纖，進(jìn)行外端500m衰減測(cè)試；
[0033] 測(cè)試結(jié)果如下表1:
[0034] 表1樣品纖外端500m衰減測(cè)試結(jié)果
[0036] 5、將上述4盤光纖逐個(gè)以1±5%N張力、50m/min速度復(fù)繞到直徑280mm的測(cè)試光纖 盤上；
[0037] 6、待復(fù)繞完畢后，關(guān)閉篩選機(jī)電源，將復(fù)繞好的測(cè)試光纖盤水平靜置時(shí)間為2h以 上，使光纖充分釋放繞線過程中產(chǎn)生的殘余應(yīng)力，然后進(jìn)行衰減測(cè)試，測(cè)試結(jié)果如下表2: [0038]表2樣品纖復(fù)繞后衰減測(cè)試結(jié)果
[0040] 7、即而得出4盤樣品纖的微彎，結(jié)果如下表3:
[0041] 表3樣品纖微彎
[0043] 即可制出如圖3所示的光纖微彎衰減示意圖。
[0044] 由以上可知，在光纖微彎測(cè)試時(shí)，將光纖復(fù)繞在本光纖盤砂紙的粗糙面上，并使光 纖處于一定的張力，來模擬外部因素對(duì)光纖造成的微彎，砂紙可以進(jìn)行更換，光纖盤能夠重 復(fù)利用，節(jié)約材料，使用方便可靠，效果好，同時(shí)成本低廉。
[0045] 以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本 實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型 的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:包括光纖盤本體以及光纖盤本體上設(shè) 置的一層砂紙;所述砂紙平整的包裹在所述光纖盤本體上復(fù)繞光纖處的表面。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:所述砂紙粘貼在 所述光纖盤本體上。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:所述光纖盤本體 的半徑2 140mm。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:所述砂紙細(xì)度規(guī) 格為P320。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:所述光纖盤本體 上還設(shè)有卡線槽以及與卡線槽匹配的彈性壓塊;所述彈性壓塊塞入卡線槽內(nèi)。6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，其特征在于:所述光纖盤本體 采用石英一體成型。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種光纖微彎測(cè)試專用光纖盤，包括光纖盤本體以及光纖盤本體上設(shè)置的一層砂紙；所述砂紙平整的包裹在所述光纖盤本體上復(fù)繞光纖處的表面。所述光纖盤本體上設(shè)有卡線槽以及與卡線槽匹配的彈性壓塊；所述彈性壓塊塞入卡線槽內(nèi)。本實(shí)用新型應(yīng)用在光纖未成纜時(shí)，能夠?qū)⒋郎y(cè)光纖復(fù)繞到本光纖盤，來模擬外部因素對(duì)光纖產(chǎn)生不均勻的應(yīng)力，測(cè)量光纖從自然狀態(tài)到模擬狀態(tài)所引起的附加衰減即微彎。保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，砂紙可以進(jìn)行更換，光纖盤能夠重復(fù)利用，節(jié)約材料，使用方便效果好，同時(shí)成本低廉。
【IPC分類】G02B6/44
【公開號(hào)】CN205121035
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520925847
【發(fā)明人】沈小平, 田佳, 蔣錫華, 唐成, 朱坤, 魏文濤, 鄧奮
【申請(qǐng)人】通鼎互聯(lián)信息股份有限公司
【公開日】2016年3月30日
【申請(qǐng)日】2015年11月18日