本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種可以減少陣列測試電路中開關(guān)信號焊盤數(shù)量的陣列測試電路以及液晶顯示基板。

背景技術(shù)：

液晶顯示器(Liquid Crystal Display，簡稱LCD)具有外型輕、薄、耗電量少以及無輻射污染等特性，因此被廣泛地應(yīng)用在移動電話、個人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機、筆記本電腦等各種便攜式電子設(shè)備上，甚至已有逐漸取代傳統(tǒng)桌上型計算機的CRT監(jiān)視器的趨勢。薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，簡稱TFT-LCD)是多種液晶顯示器的一種，它使用薄膜晶體管技術(shù)改善影像品質(zhì)。陣列測試(Array Test)電路，是一種在TFT-LCD陣列制程中用來測試陣列側(cè)電性情況的電路，對于產(chǎn)品良率的提升具有很重要的作用。陣列測試電路通常位于液晶顯示面板(Panel)的上部，由陣列測試焊盤(Array Test pad)和相應(yīng)的多路復(fù)用選擇器(DEMUX)電路組成。開關(guān)信號焊盤(SW pad)是陣列測試焊盤中的一部分，目前常用的陣列測試電路中的開關(guān)信號焊盤設(shè)計方案中，都是需要三個開關(guān)信號焊盤。

參考圖1，現(xiàn)有陣列測試電路示意圖。在陣列測試電路中的需要三個開關(guān)信號焊盤SW1、SW2、SW3，陣列測試焊盤還包括陣列測試使能信號焊盤ATP。在進行陣列測試時，通過這三個開關(guān)信號焊盤SW1、SW2、SW3分別給紅色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_R、綠色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_G、藍色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_B提供相應(yīng)的信號，陣列測試使能信號焊盤ATP給陣列測試使能信號線ATEN提供相應(yīng)的信號。其中，MUX_R是指將多路紅色像素開關(guān)信號集成一束紅色像素多路復(fù)用開關(guān)信號，MUX_G是指將多路綠色像素開關(guān)信號集成一束綠色像素多路復(fù)用開關(guān)信號，MUX_B是指將多路藍色像素開關(guān)信號集成一束藍色像素多路復(fù)用開關(guān)信號。由于每個開關(guān)信號焊盤所占的布局(Layout)空間相對較大，而且陣列測試時輸入信號的數(shù)量較多，在窄邊框面板設(shè)計中，布局空間相對有限。因此，減少陣列測試電路中開關(guān)信號焊盤數(shù)量以節(jié)省液晶顯示面板中上邊框的空間，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計，是目前亟待解決的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于，提供一種陣列測試電路以及液晶顯示基板，通過減少陣列測試電路中開關(guān)信號焊盤數(shù)量以節(jié)省液晶顯示面板中上邊框的空間，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種陣列測試電路，包括：一陣列測試使能信號焊盤，電性連接陣列測試使能信號線；一開關(guān)信號焊盤；多個開關(guān)管，每個所述開關(guān)管包括第一端口、第二端口和第三端口；每個所述開關(guān)管的第一端口均電性連接至所述陣列測試使能信號線，每個所述開關(guān)管的第二端口均電性連接至所述開關(guān)信號焊盤，每個所述開關(guān)管的第三端口分別電性連接顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種液晶顯示基板，包括至少一個液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設(shè)有本發(fā)明所述的陣列測試電路。

本發(fā)明的優(yōu)點在于，通過以陣列測試使能信號焊盤輸入的使能信號為柵極電壓，將開關(guān)信號焊盤輸入的開關(guān)信號一分三，在不改變原有布局走線的基礎(chǔ)上，只利用一個開關(guān)信號焊盤就可以實現(xiàn)同時給MUX_R、MUX_G、MUX_B信號線提供開關(guān)信號。相比于現(xiàn)有的設(shè)計，本發(fā)明提供的電路設(shè)計方案可以減少兩個開關(guān)信號焊盤，節(jié)省了面板中上邊框的空間，提高了面板周圍電路設(shè)計的靈活性，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計；同時由于陣列測試時，僅需向陣列測試使能信號焊盤ATP以及開關(guān)信號焊盤SW輸入信號，有效減少陣列測試時輸入信號的數(shù)量。

附圖說明

圖1，現(xiàn)有陣列測試電路示意圖；

圖2，本發(fā)明所述的陣列測試電路一實施例所示的電路圖。

具體實施方式

本發(fā)明提出了一種可以減少陣列測試電路中開關(guān)信號焊盤數(shù)量的陣列測試電路，在保證陣列測試正常工作的前提下，可以減少兩個開關(guān)信號焊盤，節(jié)省了面板中上邊框的空間，提高了面板周圍電路設(shè)計的靈活性，同時也減少了陣列測試時輸入信號的數(shù)量。本發(fā)明所述的陣列測試電路包括：一陣列測試使能信號焊盤，電性連接陣列測試使能信號線；一開關(guān)信號焊盤；多個開關(guān)管，每個開關(guān)管包括第一端口、第二端口和第三端口；每個開關(guān)管的第一端口均電性連接至陣列測試使能信號線，每個開關(guān)管的第二端口均電性連接至開關(guān)信號焊盤，每個開關(guān)管的第三端口分別電性連接顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線。

其中，在陣列測試電路工作時，陣列測試使能信號焊盤為陣列測試使能信號線提供陣列測試控制信號，開關(guān)信號焊盤通過多個開關(guān)管分別為顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線提供陣列測試開關(guān)信號。特別的，陣列測試控制信號為恒壓高電平信號，陣列測試開關(guān)信號為恒壓低電平信號。

由于在陣列測試時MUX_R、MUX_G、MUX_B信號線都是給恒壓低電平(VGL)，而ATEN信號線一直是給恒壓高電平(VGH)。因此，通過以陣列測試使能信號焊盤輸入的使能信號為柵極電壓，將開關(guān)信號焊盤輸入的開關(guān)信號一分三，這樣就可以在不改變原有布局走線的基礎(chǔ)上，只利用一個開關(guān)信號焊盤就可以實現(xiàn)同時給MUX_R、MUX_G、MUX_B信號線提供開關(guān)信號(例如，VGL)。相比于現(xiàn)有的設(shè)計，這種設(shè)計可以減少兩個開關(guān)信號焊盤，節(jié)省了面板中上邊框的空間，提高了面板周圍電路設(shè)計的靈活性，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計。同時由于陣列測試時，僅需向一個陣列測試使能信號焊盤以及一個開關(guān)信號焊盤輸入信號，有效減少陣列測試時輸入信號的數(shù)量。

特別的，所述的陣列測試電路的多個開關(guān)管為多個薄膜晶體管，每個開關(guān)管的第一端口為每個薄膜晶體管的柵極。多個薄膜晶體管可以為N型薄膜晶體管或P型薄膜晶體管。

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明提供的陣列測試電路以及液晶顯示基板作詳細說明。

參考圖2，本發(fā)明所述的陣列測試電路一實施例所示的電路圖。在本實施例中，本發(fā)明所述的陣列測試電路包括：一陣列測試使能信號焊盤ATP，電性連接陣列測試使能信號線ATEN；一開關(guān)信號焊盤SW；所述的多個開關(guān)管為多個薄膜晶體管，多個薄膜晶體管包括第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2以及第三薄膜晶體管T3；第一至第三薄膜晶體管T1-T3的柵極均電性連接至陣列測試使能信號線ATEN，第一至第三薄膜晶體管T1-T3的源極均電性連接至開關(guān)信號焊盤SW，第一薄膜晶體管T1的漏極電性連接顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線中的紅色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_R，第二薄膜晶體管T2的漏極電性連接顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線中的綠色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_G，第三薄膜晶體管T3的漏極電性連接顯示不同顏色像素的多路復(fù)用開關(guān)信號線中的藍色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_B。特別的，第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2以及第三薄膜晶體管T3均為N型薄膜晶體管。

其中，在陣列測試電路工作時，陣列測試使能信號焊盤ATP為陣列測試使能信號線ATEN提供恒壓高電平VGH；開關(guān)信號焊盤SW通過第一薄膜晶體管T1為紅色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_R提供恒壓低電平VGL，通過第二薄膜晶體管T2為綠色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_G提供恒壓低電平VGL，通過第三薄膜晶體管T3為藍色像素多路復(fù)用開關(guān)信號線MUX_B提供恒壓低電平VGL。

通過以陣列測試使能信號焊盤ATP輸入的使能信號為柵極電壓，將開關(guān)信號焊盤SW輸入的開關(guān)信號一分三，這樣就可以在不改變原有布局走線的基礎(chǔ)上，只利用一個開關(guān)信號焊盤就可以實現(xiàn)同時給MUX_R、MUX_G、MUX_B信號線提供開關(guān)信號。相比于現(xiàn)有的設(shè)計，這種設(shè)計可以減少兩個開關(guān)信號焊盤，節(jié)省了面板中上邊框的空間，提高了面板周圍電路設(shè)計的靈活性，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計。同時由于陣列測試時，僅需向陣列測試使能信號焊盤ATP以及開關(guān)信號焊盤SW輸入信號，有效減少陣列測試時輸入信號的數(shù)量。

本發(fā)明還提供了一種液晶顯示基板，所述的液晶顯示基板包括至少一個液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設(shè)有本發(fā)明所述的陣列測試電路。采用本發(fā)明所述的陣列測試電路的液晶顯示面板，在保證陣列測試正常工作的前提下，相比于現(xiàn)有的設(shè)計，可以減少兩個開關(guān)信號焊盤，節(jié)省了面板中上邊框的空間，提高了面板周圍電路設(shè)計的靈活性，實現(xiàn)窄邊框設(shè)計，同時也減少了陣列測試時輸入信號的數(shù)量。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。