基板、顯示屏以及檢測(cè)基板上透明玻璃的方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種基板、顯示屏以及檢測(cè)基板上透明玻璃的方法，該基板包括透明玻璃，在透明玻璃上設(shè)置有遮擋標(biāo)記，其所述遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)。通過(guò)設(shè)置遮擋標(biāo)記，由于遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)，能夠?qū)⒒迳衔慈コ耐该鞑ＡёR(shí)別出來(lái)，如果檢測(cè)到有未去除的透明玻璃，則不會(huì)進(jìn)行之后的研磨工序，之后及時(shí)將其去除之后才能進(jìn)行后續(xù)的研磨工序，避免研磨過(guò)程中基板邊緣出現(xiàn)毛邊的現(xiàn)象，解決產(chǎn)品不良的問(wèn)題。本發(fā)明還提供了一種基于上述基板的顯示屏以及檢測(cè)基板上透明玻璃的方法。
【專(zhuān)利說(shuō)明】基板、顯示屏以及檢測(cè)基板上透明玻璃的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及基板、顯示屏以及檢測(cè)基板上透明玻璃的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶屏的制作工序中，對(duì)盒基板進(jìn)行切割工序，切割工序完成之后還有一道磨邊工序，對(duì)基板的四邊和四個(gè)角部進(jìn)行研磨。磨邊工序過(guò)程中需要用相機(jī)(Camera)讀取十字對(duì)位標(biāo)識(shí)(Mark),—般是將Mark標(biāo)識(shí)設(shè)置在TFT (Thin Film Transistor,薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管)基板上。切割工序之前，該十字對(duì)位標(biāo)識(shí)的上方是有一層透明玻璃(即dummy)，切割之后、研磨之前的制程要求是透明玻璃(dummy)從液晶屏上脫落。由于dummy是透明的，所以研磨時(shí)相機(jī)能夠透過(guò)dummy掃描TFT基板上的十字對(duì)位標(biāo)記，繼續(xù)進(jìn)行后續(xù)的研磨工序。這一層透明玻璃(du_y)如果未脫落，雖然也能夠進(jìn)行研磨工序，但是在高速研磨工序的情況下，將有可能在基板的邊角部產(chǎn)生凸起，即毛邊，產(chǎn)生產(chǎn)品不良。
[0003]因此，由于未能將基板上的dummy檢測(cè)出來(lái)并及時(shí)將其進(jìn)行攔截和脫落操作，導(dǎo)致后續(xù)研磨工序中在基板的邊角部產(chǎn)生凸起，出現(xiàn)毛邊，造成產(chǎn)品不良。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
[0005]針對(duì)上述缺陷，本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是如何能夠有效地對(duì)基板上殘留的透明玻璃dummy檢測(cè)并及時(shí)去掉，解決基板毛邊問(wèn)題。
[0006](二)技術(shù)方案
[0007]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種基板，所述基板包括透明玻璃，在所述透明玻璃上設(shè)置有遮擋標(biāo)記，所述遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)。
[0008]進(jìn)一步地,所述遮擋標(biāo)記不透光。
[0009]進(jìn)一步地，所述對(duì)位標(biāo)記設(shè)置在陣列基板的正面和/或背面。
[0010]進(jìn)一步地，所述透明玻璃為彩色濾光玻璃，設(shè)置在所述陣列基板的上方。
[0011]進(jìn)一步地，所述遮擋標(biāo)記設(shè)置在所述透明玻璃的下方。
[0012]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種顯示屏，所述顯示屏中包括上面所述的基板。
[0013]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種檢測(cè)基板上透明玻璃的方法，所述方法包括:
[0014]在基板的透明玻璃上設(shè)置遮擋標(biāo)記，且所述遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)，用于遮擋所述透明玻璃下方的對(duì)位標(biāo)記；
[0015]對(duì)所述基板進(jìn)行檢測(cè)，如果在所述基板上檢測(cè)到所述遮擋標(biāo)記，則說(shuō)明所述基板上與所述遮擋標(biāo)記對(duì)應(yīng)的位置仍有未去除的透明玻璃，否則所述基板上沒(méi)有未去除的透明玻璃。[0016]進(jìn)一步地，所述對(duì)所述基板進(jìn)行檢測(cè)具體包括:通過(guò)相機(jī)在所述基板上進(jìn)行檢測(cè)，如果不能通過(guò)所述相機(jī)檢測(cè)到所述對(duì)位標(biāo)記時(shí)則說(shuō)明存在所述遮擋標(biāo)記，否則不存在所述遮擋標(biāo)記。
[0017]進(jìn)一步地，當(dāng)在所述基板上檢測(cè)到所述遮擋標(biāo)記時(shí)，會(huì)發(fā)出報(bào)警，提醒去除所述透明玻璃。
[0018](三)有益效果
[0019]本發(fā)明提供了一種基板，基板上包括透明玻璃，在所述透明玻璃上設(shè)置有遮擋標(biāo)記，遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)。通過(guò)將透明玻璃上增設(shè)新的標(biāo)記，即遮擋標(biāo)記，在對(duì)位標(biāo)記上方的透明玻璃下設(shè)置該遮擋標(biāo)記，能夠?qū)⑼该鞑Ａ路降膶?duì)位標(biāo)記擋住，相機(jī)無(wú)法識(shí)別到十字對(duì)位標(biāo)記，發(fā)出報(bào)警，提醒有未去除的透明玻璃，有效攔截透明玻璃沿著生產(chǎn)流線流到下個(gè)工序，即研磨工序，避免造成產(chǎn)品毛邊，進(jìn)而提高產(chǎn)品的良品率。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1為沒(méi)有設(shè)置遮擋標(biāo)記的示意圖；
[0021]圖2為本發(fā)明實(shí)施例一中設(shè)置遮擋標(biāo)記的示意圖；
[0022]圖3為本發(fā)明實(shí)施例一中遮擋標(biāo)記設(shè)置位置的截面圖；
[0023]圖4為本發(fā)明實(shí)施例一中切割時(shí)基板刀輪與基板的位置示意圖；
[0024]圖5為本發(fā)明實(shí)施例一中研磨工序中相機(jī)與基板的位置關(guān)系圖；
[0025]圖6為本發(fā)明實(shí)施例二中一種檢測(cè)基板上透明玻璃的方法步驟流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明，但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。
[0027]實(shí)施例一
[0028]本發(fā)明實(shí)施例一中提供了一種基板，該基板包括透明玻璃10，透明玻璃10上設(shè)置有遮擋標(biāo)記20，遮擋標(biāo)記20與對(duì)位標(biāo)記30的位置相對(duì)應(yīng)。
[0029]本實(shí)施例的改進(jìn)之處在于在透明玻璃上增加設(shè)置遮擋標(biāo)記，適用于對(duì)盒并進(jìn)行切割之后，在進(jìn)行研磨工序之前，通過(guò)有助于能夠有效地將未去除的透明玻璃識(shí)別出來(lái)，并及時(shí)去除，解決透明玻璃dU_y在液晶屏上的殘留問(wèn)題，禁止未被去除的透明玻璃流入到后續(xù)研磨工序中，避免基板的邊角部產(chǎn)生凸起，即發(fā)生毛邊現(xiàn)象，解決由于透明玻璃drnnrny殘留導(dǎo)致的各種隱患即品質(zhì)問(wèn)題，提高產(chǎn)品的良品率。
[0030]需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中的對(duì)位標(biāo)記和遮擋標(biāo)記都設(shè)置在基板的非顯示區(qū)域，不影響正常顯示。圖中的十字對(duì)位標(biāo)記設(shè)置在顯示區(qū)域之外，為了方便后續(xù)工序過(guò)程中定位。
[0031]優(yōu)選地，本實(shí)施例中的遮擋標(biāo)記20為不透光，一般采用黑色材料作為遮擋標(biāo)記20，以便實(shí)現(xiàn)對(duì)位于透明玻璃10下方的對(duì)位標(biāo)記30的遮擋。
[0032]圖1中示出了陣列基板上設(shè)置對(duì)位標(biāo)記的分布示意圖，其中在橢圓形圖形內(nèi)的兩個(gè)對(duì)位標(biāo)記上設(shè)置遮擋標(biāo)記的效果圖如圖2所示。其中W表示顯示區(qū)域，對(duì)位標(biāo)記30設(shè)置在顯示區(qū)域之外。圖2中的十字對(duì)位標(biāo)記的長(zhǎng)度和寬度最大為0.5_，十字對(duì)位標(biāo)記的禁止布線區(qū)域(即排它區(qū)域)為1.5mm*l.5mm。因此圖2中的遮擋標(biāo)記的長(zhǎng)度和寬度優(yōu)選為都是
1.0mm0可見(jiàn)，由于遮擋標(biāo)記的存在，能夠?qū)㈥嚵谢迳系膶?duì)位標(biāo)記遮蓋住，可以有效地識(shí)別出未被去除的透明玻璃，對(duì)殘留有透明玻璃dummy進(jìn)行有效攔截，避免其流入到下一個(gè)工序中進(jìn)行研磨,給基板的邊角部造成損害,產(chǎn)生毛邊。
[0033]對(duì)位標(biāo)記30和遮擋標(biāo)記20的設(shè)置形式有很多種，本實(shí)施例中提供了一種最佳、最簡(jiǎn)單的優(yōu)選方案是在陣列基板40上設(shè)置對(duì)位標(biāo)記30，在彩膜基板50上設(shè)置遮擋標(biāo)記20。優(yōu)選地，本實(shí)施例中的對(duì)位標(biāo)記30設(shè)置在陣列基板40上，且本實(shí)施例中的對(duì)位標(biāo)記30設(shè)置在陣列基板10的正面，即設(shè)置在陣列基板40與彩膜基板50之間。
[0034]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明中的對(duì)位標(biāo)記的設(shè)置不局限于陣列基板的正面，在本發(fā)明的其他實(shí)施例中還可以根據(jù)需要設(shè)置在陣列基板的正面和/或背面。
[0035]優(yōu)選地，本實(shí)施例中的透明玻璃10為彩色濾光玻璃，設(shè)置在陣列基板40的上方，遮擋標(biāo)記20設(shè)置在透明玻璃10的下方。遮擋標(biāo)記設(shè)置位置的截面圖如圖3所示，對(duì)位標(biāo)記30設(shè)置在陣列基板(TFT基板)的上方，遮擋標(biāo)記20與對(duì)位標(biāo)記30位置相對(duì)應(yīng)。切割時(shí)的示意圖如圖4所示,在透明玻璃(dummy)上方設(shè)置有兩個(gè)上刀輪，即第一上刀輪01和第二上刀輪02，兩個(gè)上刀輪的切割位置對(duì)應(yīng)于透明玻璃的邊緣，在陣列基板的下方設(shè)置有下刀輪03。研磨時(shí)的示意圖如圖5所示，照相機(jī)照射在透明玻璃10的上方時(shí)，由于設(shè)置了遮擋標(biāo)記20，則相機(jī)04在透明玻璃10的上方無(wú)法感知到位于遮擋標(biāo)記20之下的對(duì)位標(biāo)記，因此而識(shí)別出有透明玻璃10未去除，及時(shí)發(fā)出報(bào)警，提醒將殘留的透明玻璃10去除。
[0036]優(yōu)選的，本實(shí)施例中的相機(jī)04為CXD相機(jī)。
[0037]通過(guò)使用上述結(jié)構(gòu)，即在透明玻璃上增設(shè)遮擋標(biāo)記，當(dāng)基板上存在殘留的透明玻璃drnnrny時(shí)，由于遮擋標(biāo)記的存在，使得無(wú)法對(duì)透明玻璃對(duì)應(yīng)位置的對(duì)位標(biāo)記無(wú)法被成功讀取出來(lái)，因此而判斷出透明玻璃的存在，發(fā)出報(bào)警，及時(shí)將殘留的透明玻璃去除，再進(jìn)行后續(xù)的研磨工藝，就不會(huì)再對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)產(chǎn)生影響，由于對(duì)透明玻璃進(jìn)行及時(shí)攔截，避免在高速研磨的時(shí)候基板的邊角部發(fā)凸起，產(chǎn)生毛邊，能夠提高產(chǎn)品的良品率。
[0038]本實(shí)施例還提供了一種基于上述基板的顯示屏，其中顯示屏的陣列基板上設(shè)置有對(duì)位標(biāo)記，彩膜基板設(shè)置在陣列基板的上方，透明玻璃對(duì)應(yīng)于陣列基板上對(duì)位標(biāo)記的位置設(shè)置有遮擋標(biāo)記。
[0039]該顯示屏能夠在進(jìn)行研磨工序之前，將殘留的透明玻璃及時(shí)檢測(cè)出來(lái)，提醒將其取出，避免由于透明玻璃流入研磨工序造成基板邊角部出現(xiàn)凸起。
[0040]實(shí)施例二
[0041]本發(fā)明實(shí)施例二還提供了一種檢測(cè)基板上透明玻璃的方法，步驟流程如圖6所示，具體包括以下步驟:
[0042]步驟S1、在基板的透明玻璃上設(shè)置遮擋標(biāo)記，且遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)，用于遮擋透明玻璃下方的對(duì)位標(biāo)記。
[0043]步驟S2、對(duì)基板進(jìn)行檢測(cè)，如果在基板上檢測(cè)到遮擋標(biāo)記，則說(shuō)明基板上與遮擋標(biāo)記對(duì)應(yīng)的位置仍有未去除的透明玻璃，否則基板上沒(méi)有未去除的透明玻璃。
[0044]進(jìn)一步地，所述遮擋標(biāo)記不透光。因此如果在透明玻璃上對(duì)應(yīng)對(duì)位標(biāo)記的位置設(shè)置這種不透光的遮擋標(biāo)記，當(dāng)照相機(jī)在透明玻璃的上方時(shí)，無(wú)法獲取到位于透明玻璃下方的對(duì)位標(biāo)記，有效對(duì)殘留在基板上的透明玻璃進(jìn)行檢測(cè)和攔截。[0045]具體的，對(duì)基板進(jìn)行檢測(cè)具體包括:通過(guò)相機(jī)在基板上進(jìn)行檢測(cè)，如果不能通過(guò)相機(jī)檢測(cè)到對(duì)位標(biāo)記時(shí)則說(shuō)明存在遮擋標(biāo)記，否則不存在遮擋標(biāo)記。
[0046]進(jìn)一步地，當(dāng)在基板上檢測(cè)到遮擋標(biāo)記時(shí)，會(huì)發(fā)出報(bào)警，提醒去除透明玻璃。
[0047]通過(guò)使用上述檢測(cè)殘留在基板上的透明玻璃的方法，在透明玻璃上增設(shè)遮擋標(biāo)記，當(dāng)基板上存在殘留的透明玻璃(drnnrny)時(shí)，由于遮擋標(biāo)記的存在，使得無(wú)法對(duì)透明玻璃對(duì)應(yīng)位置的對(duì)位標(biāo)記無(wú)法被成功讀取出來(lái)，因此而判斷出透明玻璃的存在，發(fā)出報(bào)警，及時(shí)將殘留的透明玻璃去除，再進(jìn)行后續(xù)的研磨工藝，就不會(huì)再對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)產(chǎn)生影響，由于對(duì)透明玻璃進(jìn)行及時(shí)攔截，避免在高速研磨的時(shí)候基板的邊角部發(fā)凸起，產(chǎn)生毛邊，能夠提高產(chǎn)品的良品率。
[0048]以上實(shí)施方式僅用于說(shuō)明本發(fā)明，而并非對(duì)本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專(zhuān)利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種基板，所述基板包括透明玻璃，其特征在于，包括:在所述透明玻璃上設(shè)置有遮擋標(biāo)記，所述遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的基板，其特征在于，所述遮擋標(biāo)記不透光。
3.如權(quán)利要求1所述的基板，其特征在于，所述對(duì)位標(biāo)記設(shè)置在陣列基板的正面和/或背面。
4.如權(quán)利要求3所述的基板，其特征在于，所述透明玻璃為彩色濾光玻璃，設(shè)置在所述陣列基板的上方。
5.如權(quán)利要求3所述的基板，其特征在于，所述遮擋標(biāo)記設(shè)置在所述透明玻璃的下方。
6.一種顯示屏，其特征在于，所述顯示屏中包括權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)中所述的基板。
7.—種檢測(cè)基板上透明玻璃的方法，其特征在于，所述方法包括: 在基板的透明玻璃上設(shè)置遮擋標(biāo)記，且所述遮擋標(biāo)記與對(duì)位標(biāo)記的位置相對(duì)應(yīng)，用于遮擋所述透明玻璃下方的對(duì)位標(biāo)記； 對(duì)所述基板進(jìn)行檢測(cè)，如果在所述基板上檢測(cè)到所述遮擋標(biāo)記，則說(shuō)明所述基板上與所述遮擋標(biāo)記對(duì)應(yīng)的位置仍有未去除的透明玻璃，否則所述基板上沒(méi)有未去除的透明玻3? ο
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述基板進(jìn)行檢測(cè)具體包括:通過(guò)相機(jī)在所述基板上進(jìn)行檢測(cè)，如果不能通過(guò)所述相機(jī)檢測(cè)到所述對(duì)位標(biāo)記時(shí)則說(shuō)明存在所述遮擋標(biāo)記，否則不存在所述`遮擋標(biāo)記。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，當(dāng)在所述基板上檢測(cè)到所述遮擋標(biāo)記時(shí)，會(huì)發(fā)出報(bào)警，提醒去除所述透明玻璃。
【文檔編號(hào)】G02F1/1333GK103631042SQ201310646428
【公開(kāi)日】2014年3月12日 申請(qǐng)日期:2013年12月3日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月3日
【發(fā)明者】伍飛高, 胡慶玉, 李承源, 劉軍 申請(qǐng)人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司