專利名稱：Plc光分路器組件角度匹配及距離控制調(diào)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光分路器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于PLC光分路器調(diào)試時校準各個部分組件的角度及距離的裝置。
背景技術(shù)：
目前，PLC光分路器手動調(diào)試過程中校準組件角度和距離大多采用CXD在顯示器上成像的方法，由操作員觀察PLC光分路器各個部分組件在顯示器上的情況，然后通過六維精密調(diào)節(jié)架進行調(diào)試。這樣的操作只能粗略的對PLC光分路組件的角度進行匹配，比較抽象，操作員的個人素質(zhì)和工作經(jīng)驗嚴重地影響著各個組件的角度匹配狀況，沒有形象的統(tǒng)一標準，不同操作員之間差異較大；而且由于只是粗略的觀察，不能有效的控制PLC光分 路器各個組件之間膠水耦合時的距離，嚴重影響產(chǎn)品的性能和可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種PLC光分路器組件角度匹配及距離控制調(diào)試裝置，改進PLC光分路器調(diào)試時各個組件之間的角度匹配和距離控制的狀況，提高產(chǎn)品的性能和可靠性。本發(fā)明的技術(shù)方案如下一種PLC光分路器組件角度匹配及距離控制調(diào)試裝置，包括進光端光纖尾纖、芯片、出光端光纖陣列、第一LED光源、第二LED光源、第一顯微鏡、第二顯微鏡；第一六維精密調(diào)節(jié)架、第二六維精密調(diào)節(jié)架、第三六維精密調(diào)節(jié)架、基座、支架以及支撐臂；第一六維精密調(diào)節(jié)架、第二六維精密調(diào)節(jié)架、第三六維精密調(diào)節(jié)架安裝在基座上，進光端光纖尾纖、出光端光纖陣列、芯片分別固定在第一六維精密調(diào)節(jié)架、第二六維精密調(diào)節(jié)架、第三六維精密調(diào)節(jié)架的上方；所述進光端光纖尾纖和出光端光纖陣列的端面分別與芯片兩側(cè)的端面對齊，在所述端面處形成耦合區(qū)；第一 LED光源、第二 LED光源安裝在第三六維精密調(diào)節(jié)架上；所述第一 LED光源、第二 LED光源分別處于進光端光纖尾纖與芯片的耦合區(qū)以及出光端光纖陣列與芯片的耦合區(qū)的下方；第一顯微鏡、第二顯微鏡安裝在支撐臂上，支撐臂通過支架與基座連接；所述第一顯微鏡、第二顯微鏡分別處于進光端光纖尾纖與芯片的I禹合區(qū)以及出光端光纖陣列與芯片的耦合區(qū)的上方。本發(fā)明的有益技術(shù)效果是本發(fā)明能夠準確直觀的對PLC光分路器各個組件的角度匹配校準和距離控制進行操作，使產(chǎn)品的性能和可靠性得到提高。


圖I是本發(fā)明的主視圖。
圖2是本發(fā)明的右視圖。附圖標記說明1.進光端光纖尾纖；2.芯片；3.出光端光纖陣列；4、4' . LED光源；5、5'.顯微鏡；6、6'、6".六維精密調(diào)節(jié)架；7、8.耦合區(qū)；9.基座；10.支架；11.支撐臂。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
做進一步說明。如圖I、圖2所示，六維精密調(diào)節(jié)架6、六維精密調(diào)節(jié)架6'、六維精密調(diào)節(jié)架6"安裝在基座9上，進光端光纖尾纖I、出光端光纖陣列3、芯片2分別固定在六維精密調(diào)節(jié)架6、六維精密調(diào)節(jié)架6'、六維精密調(diào)節(jié)架6"的上方。進光端光纖尾纖I和出光端光纖陣列3的端面分別與芯片2兩側(cè)的端面對齊，在進光端光纖尾纖I端面與芯片2端面的結(jié)合處形 成耦合區(qū)7，在出光端光纖陣列3端面與芯片2端面的結(jié)合處形成耦合區(qū)8。見圖I、圖2，LED光源4、LED光源4'安裝在六維精密調(diào)節(jié)架6"上。LED光源4位于進光端光纖尾纖I與芯片2的耦合區(qū)7的下方，LED光源4'位于出光端光纖陣列3與芯片2的耦合區(qū)8的下方。見圖I、圖2，顯微鏡5、顯微鏡5'安裝在支撐臂11上，支撐臂11通過支架10與基座9連接。顯微鏡5位于進光端光纖尾纖I與芯片2的稱合區(qū)7的上方,顯微鏡5'位于出光端光纖陣列3與芯片2的耦合區(qū)8的上方。本發(fā)明的工作原理及調(diào)試方法如下本發(fā)明通過顯微鏡5、顯微鏡5'觀察來校準PLC光分路器組件的角度和距離的調(diào)試，主要是靠光在不同組件接觸時的光學(xué)現(xiàn)象來直觀的判斷組件的角度匹配程度。在進光端光纖尾纖I與芯片2或者芯片2與出光端光纖陣列3的端面靠近接觸時，因為在接觸面耦合區(qū)7、8正下方有LED光源4和LED光源4'的照射，從顯微鏡5中可以觀察接觸的地方會出現(xiàn)明顯的亮線。這時在LED光源4和LED光源4'的照射下，調(diào)整六維精密調(diào)節(jié)架6、六維精密調(diào)節(jié)架6,或者六維精密調(diào)節(jié)架6"，使接觸面上的亮線隨著六維精密調(diào)節(jié)架的調(diào)整而移動。在接觸面角度調(diào)整至完全吻合，清潔程度極高的理想環(huán)境下，最終亮線會布滿整個接觸面。這時調(diào)整六維精密調(diào)節(jié)架6、六維精密調(diào)節(jié)架6'或者六維精密調(diào)節(jié)架6"，使接觸面分開然后再次緩緩靠近，若最終亮線仍布滿整個接觸面，則可驗證接觸面已經(jīng)達到角度匹配狀態(tài)。在確定組件已經(jīng)達到角度匹配的情況下，緩慢調(diào)整六維精密調(diào)節(jié)架使接觸面分開，以接觸面亮線消失的瞬間作為各個組件接觸的零值，以此零值為基準調(diào)整接觸面達到組件之間的合適距離，然后停止操作，至此校準PLC光分路器的各個組件角度匹配和距離的操作結(jié)束。以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，本發(fā)明不限于以上實施例。可以理解，本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的基本構(gòu)思的前提下直接導(dǎo)出或聯(lián)想到的其他改進和變化，均應(yīng)認為包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.ー種PLC光分路器組件角度匹配及距離控制調(diào)試裝置，其特征在于包括進光端光纖尾纖(I)、芯片(2)、出光端光纖陣列(3)、第一 LED光源(4)、第LED光源(4')、第一顯微鏡(5)、第二顯微鏡(5');第一六維精密調(diào)節(jié)架(6)、第二六維精密調(diào)節(jié)架(6')、第三六維精密調(diào)節(jié)架(6〃)、基座(9)、支架(10)以及支撐臂(11)； 第一六維精密調(diào)節(jié)架(6)、第二六維精密調(diào)節(jié)架(6')、第三六維精密調(diào)節(jié)架(6")安裝在基座(9)上，進光端光纖尾纖(I)、出光端光纖陣列(3)、芯片(2)分別固定在第一六維精密調(diào)節(jié)架(6)、第二六維精密調(diào)節(jié)架(6')、第三六維精密調(diào)節(jié)架(6")的上方；所述進光端光纖尾纖(I)和出光端光纖陣列(3)的端面分別與芯片(2)兩側(cè)的端面對齊，在所述端面處形成耦合區(qū)(7、8); 第一 LED光源(4)、第LED光源(4')安裝在第三六維精密調(diào)節(jié)架(6 ")上；所述第一LED光源(4)、第LED光源(4')分別處于進光端光纖尾纖(I)與芯片(2)的耦合區(qū)(7)以 及出光端光纖陣列(3)與芯片(2)的耦合區(qū)(8)的下方； 第一顯微鏡(5)、第二顯微鏡(5')安裝在支撐臂(11)上，支撐臂(11)通過支架(10)與基座(9)連接；所述第一顯微鏡(5)、第二顯微鏡(5')分別處于進光端光纖尾纖(I)與芯片(2)的耦合區(qū)(7)以及出光端光纖陣列(3)與芯片(2)的耦合區(qū)(8)的上方。
全文摘要
本發(fā)明提供一種PLC光分路器組件角度匹配及距離控制調(diào)試裝置，包括進光端光纖尾纖、芯片、出光端光纖陣列、LED光源、顯微鏡以及六維精密調(diào)節(jié)架。進光端光纖尾纖、芯片和出光端光纖陣列固定在六維精密調(diào)節(jié)架上，在LED光源的照射下調(diào)整六維精密調(diào)節(jié)架使進光端光纖尾纖與芯片或者芯片與出光端光纖陣列靠近，從顯微鏡中觀察到在接觸面處有亮線，調(diào)整亮線使之布滿整個接觸面，完成角度匹配；緩慢退開進光端光纖尾纖或出光端光纖陣列，以亮線消失的瞬間為各個組件接觸的零值，調(diào)整組件至合適距離。
文檔編號G02B6/42GK102798945SQ201210275518
公開日2012年11月28日 申請日期2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月3日
發(fā)明者陳帥飛, 袁健 申請人:無錫愛沃富光電科技有限公司