專利名稱：液晶面板的制造方法及制造系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶面板的制造方法及制造系統(tǒng)，其一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜剝離上述離型薄膜，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而將上述光學(xué)薄膜粘貼在上述液晶單元上。
背景技術(shù)：
在將薄膜粘貼在液晶單元等基板上的情況下，公知一種通過將基板及薄膜夾持在彼此相對的I對輥間來將薄膜粘貼在基板上的那種結(jié)構(gòu)(例如專利文獻(xiàn)I)。以往，作為將例如包括偏光板等的光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上時所使用的I對輥，通常該I對輥的直徑和硬度相同，在專利文獻(xiàn)I所公開的結(jié)構(gòu)中，I對輥也具有相同形狀。 另外，在將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上時，有時將長條的離型薄膜作為輸送薄膜，以將光學(xué)薄膜保持在該離型薄膜之上的狀態(tài)輸送光學(xué)薄膜。在光學(xué)薄膜上形成有粘接劑層，借助該粘接劑層將離型薄膜粘貼在光學(xué)薄膜上。能夠一邊自所輸送的光學(xué)薄膜將離型薄膜剝離，一邊借助粘接劑層將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上，從而制造液晶面板。先行技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I :日本特開2000 - 334836號公報但是，在上述那樣使用了相同的輥的以往的結(jié)構(gòu)中，作用于光學(xué)薄膜的每單位面積的按壓力與作用于液晶單元的每單位面積的按壓力相同。在該情況下，由于向粘貼過程中的液晶單元作用的按壓力的變動、光學(xué)薄膜的微小的振動等，容易在所制造的液晶面板的液晶單元與光學(xué)薄膜之間產(chǎn)生氣泡。結(jié)果，存在液晶面板因氣泡而發(fā)生顯示不良的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述實際情況而做成的，其目的在于提供一種能夠?qū)⒐鈱W(xué)薄膜更加良好地粘貼在液晶單元上的液晶面板的制造方法及制造系統(tǒng)。本發(fā)明的發(fā)明人進(jìn)行了專心研究，結(jié)果發(fā)現(xiàn)關(guān)于向液晶單元側(cè)按壓光學(xué)薄膜的輥(第I輥)與光學(xué)薄膜的接觸，作用于光學(xué)薄膜的壓力越小，越容易產(chǎn)生起因于壓力不均的氣泡。上述那種研究的結(jié)果使本發(fā)明的發(fā)明人考慮通過使用小徑的輥?zhàn)鳛榈贗輥來減小第I輥與光學(xué)薄膜的接觸面積而增大作用于光學(xué)薄膜的壓力。但是，在如以往結(jié)構(gòu)那樣使用與這種第I輥相同的輥(第2輥)而向光學(xué)薄膜側(cè)按壓液晶單元的情況下，難以防止所制造的液晶面板產(chǎn)生氣泡。也就是說，明確了 當(dāng)?shù)贗輥與光學(xué)薄膜接觸的接觸寬度和第2輥與液晶單元接觸的接觸寬度相同時，在第I輥與第2輥之間不可避免地產(chǎn)生少許扭轉(zhuǎn)(原因在于裝置的精度、材料的均等性等)，因此，產(chǎn)生未利用第2輥對由第I輥進(jìn)行的按壓進(jìn)行支承的區(qū)域，產(chǎn)生由壓力不均引起的氣泡。
另外，在液晶面板的制造方法中，為了進(jìn)行連續(xù)生產(chǎn)，不能逐一調(diào)整第I輥及第2輥的按壓力，其中，該液晶面板的制造方法一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜將離型薄膜剝離，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而連續(xù)地將上述光學(xué)薄膜粘貼在上述液晶單元上。本發(fā)明是通過進(jìn)行上述那樣的研究而發(fā)現(xiàn)的，其特征在于，使由第I輥產(chǎn)生的每單位面積的按壓力與由第2輥產(chǎn)生的每單位面積的按壓力不同。下面，說明本發(fā)明。本發(fā)明的液晶面板的制造方法一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜將上述離型薄膜剝離，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而將上述光學(xué)薄膜粘貼于上述液晶單元，其特征在于，利用上述第I輥按壓上述光學(xué)薄膜時的每單位面積的按壓力Fa和利用上述第2輥按壓上述液晶單元時的每單位面積的按壓力Fb 滿足 Fa>Fb。 采用本發(fā)明，在連續(xù)輸送輥粘貼系統(tǒng)中，通過提高剛性較小的薄膜側(cè)的按壓力、并降低剛性較大的單元側(cè)的按壓力，能夠兼顧輥與單元接觸的充分的接觸長度和充分對薄膜施加壓力。因此，能夠不依賴于大規(guī)模的薄膜的張力調(diào)整、輥間的高度的控制就起到提高連續(xù)制造液晶面板的可靠性的效果。其依據(jù)如實施例和比較例所示。例如當(dāng)將與光學(xué)薄膜及液晶單元的輸送方向正交的方向(與第I輥及第2輥平行的方向)作為寬度方向時，在第I輥與光學(xué)薄膜接觸的接觸寬度和第2輥與液晶單元接觸的接觸寬度相同的情況下，每單位面積的按壓力較小的第2輥沿上述輸送方向與液晶單元接觸的接觸長度變得較長。由于利用液晶單元與第I輥及第2輥的摩擦力來輸送該液晶單元，所以接觸長度較長的第2輥比第I輥有助于輸送液晶單元。在第I輥側(cè)，作用于光學(xué)薄膜的張力的變動、振動等的影響使輸送不穩(wěn)定，所以有時產(chǎn)生氣泡。在不會產(chǎn)生那種影響的第2輥側(cè)，通過加大對液晶單元的輸送的幫助，能夠良好地輸送液晶單元而將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上。由此，能夠更加良好地將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上。另外，本發(fā)明還可列舉出如下優(yōu)點(diǎn)，S卩，由于第2輥與液晶單元接觸的接觸長度比較長，所以第I輥與第2輥的相對扭轉(zhuǎn)的容許量增大，所要求的設(shè)置精度降低。優(yōu)選上述Fa為O. 08MPa以上，上述Fb為O. 49MPa以下。采用本發(fā)明，通過使利用第I輥按壓光學(xué)薄膜時的每單位面積的按壓力Fa為O. OSMPa以上，能夠抑制第I輥對光學(xué)薄膜施加的壓力不均，能夠進(jìn)行穩(wěn)定的粘貼，所以不易產(chǎn)生氣泡。另外，通過使利用第2輥按壓液晶單元時的每單位面積的按壓力Fb為O. 49MPa以下，能夠防止間隙不均、亮度異常、發(fā)生裂紋或液晶單元被破壞。也就是說，在如以往結(jié)構(gòu)那樣使用與第I輥相同的輥(第2輥)將液晶單元向光學(xué)薄膜側(cè)按壓的情況下，因第2輥與液晶單元接觸的接觸面積較小而將較大的壓力作用于液晶單元，從而導(dǎo)致容易發(fā)生間隙不均等的情況，但采用本發(fā)明能夠有效地抑制這樣的情況。優(yōu)選上述第I棍的直徑為15mm 80mm。在第I輥的直徑小于15mm的情況下，第I輥的剛性較低，進(jìn)行粘貼時不穩(wěn)定，并且有可能由于轉(zhuǎn)速增高而發(fā)生振動。另一方面，在第I輥的直徑大于80_的情況下，難以使在離型薄膜的剝離位置自離型薄膜剝離并被向前推的光學(xué)薄膜到達(dá)光學(xué)薄膜的粘貼位置之前的距離縮短，所以因作用于光學(xué)薄膜的張力的變動、振動等，導(dǎo)致光學(xué)薄膜在粘貼位置難以穩(wěn)定。因而，采用本發(fā)明，由于能夠?qū)⒌贗輥的直徑設(shè)為適當(dāng)?shù)闹担阅軌蚋恿己玫貙⒐鈱W(xué)薄膜粘貼在液晶單元上。優(yōu)選以在相對于上述第I輥來說與上述液晶單元相反的一側(cè)抵接于上述第I輥的方式設(shè)有支承輥。當(dāng)?shù)贗輥的直徑較小時，剛性較低，按壓力容易產(chǎn)生不均，但通過使用支承輥，能夠補(bǔ)充第I輥的剛性而抑制壓力不均。因此，即使用直徑較小的第I輥，也能更加良好地將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上。本發(fā)明的液晶面板的制造系統(tǒng)一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜將上述離型薄膜剝離，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而將上述光學(xué)薄膜粘貼于上述液晶單元，其特征在于，利用上述第I輥按壓上述光學(xué)薄膜時的每單位面積的按壓力Fa和利用上述第2輥按壓上述液晶單元時的每單位面積的按壓力 Fb 滿足 Fa>Fb。優(yōu)選上述Fa為O. 08MPa以上，上述Fb為O. 49MPa以下。優(yōu)選上述第I棍的直徑為15mm 80mm。優(yōu)選以在相對于上述第I輥來說與上述液晶單元相反的一側(cè)抵接于上述第I輥的方式設(shè)有支承輥。


圖I是表示本發(fā)明的一實施方式的液晶面板的制造方法的一例的流程圖。圖2是表示液晶面板的制造系統(tǒng)的一例的概略俯視圖。圖3是表示將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元上時的狀態(tài)的一例的剖視圖。圖4是表示第I粘貼裝置的結(jié)構(gòu)例的概略剖視圖。
具體實施例方式下面，說明本發(fā)明的一實施方式。圖I是表示本發(fā)明的一實施方式的液晶面板的制造方法的一例的流程圖。圖2是表示液晶面板的制造系統(tǒng)的一例的概略俯視圖。液晶單元利用本發(fā)明制造的液晶面板所用的液晶單元W例如是在相對的I對玻璃基板之間配置有液晶的玻璃基板單元。液晶單元W形成為例如長方形。光學(xué)薄膜作為粘貼在利用本發(fā)明制造的液晶面板的液晶單元W上的光學(xué)薄膜，能夠例示偏光薄膜、相位差薄膜、提高亮度薄膜和兩種以上的上述薄膜的組合層疊薄膜等。在光學(xué)薄膜的一面形成有用于向液晶單元W粘貼的粘接劑層，且設(shè)有用于保護(hù)該粘接劑層的離型薄膜。另外，在光學(xué)薄膜的另一面借助粘接劑層設(shè)有表面保護(hù)薄膜。在以下的說明中，有時將層疊有表面保護(hù)薄膜和離型薄膜的光學(xué)薄膜稱作片狀產(chǎn)品。圖3是表示將光學(xué)薄膜粘貼在液晶單元W上時的狀態(tài)的一例的剖視圖。在本實施方式中，使用包含用于粘貼在液晶單元W的一表面上的第I光學(xué)薄膜Fll的第I片狀產(chǎn)品F1、和包含用于粘貼在液晶單元W的另一表面上的第2光學(xué)薄膜F21的第2片狀產(chǎn)品F2。但是，本發(fā)明不限于在液晶單元W的兩面上粘貼有光學(xué)薄膜的那種結(jié)構(gòu)，也能夠應(yīng)用于只在液晶單兀W的一表面粘貼有光學(xué)薄膜的那種結(jié)構(gòu)。第I片狀產(chǎn)品Fl具有由第I光學(xué)薄膜FlI、第I離型薄膜F12和表面保護(hù)薄膜F13層疊而成的構(gòu)造。第I光學(xué)薄膜Fll包括第I偏振鏡Flla、借助粘接劑層(未圖示)粘貼在該第I偏振鏡Flla的一面上的第I薄膜Fllb、和借助粘接劑層(未圖示)粘貼在該第I偏振鏡Flla的另一面上的第2薄膜Flic。第I薄膜Fllb和第2薄膜Fllc例如是偏振片保護(hù)膜(例如三乙酰纖維素薄膜和PET薄膜等)。第2薄膜Fllc可借助第I粘接劑層F14粘貼在液晶單元W上。能夠?qū)Φ贗薄膜Fllb實施表面處理。作為表面處理，例如可列舉出硬涂層處理、防反射處理、以防止粘附、防擴(kuò)散及防眩光等為目的的處理等。第I離型薄膜F12借助第I粘接劑層F14粘貼在第2薄膜Fllc上。另外，表面保護(hù)薄膜F13借助粘接劑層F15粘貼在第I薄膜Fllb上。另外，第2片狀產(chǎn)品F2的層疊構(gòu)造是與第I片狀產(chǎn)品Fl相同的結(jié)構(gòu)，但并不限定 于此。第2片狀產(chǎn)品F2具有由第2光學(xué)薄膜F21、第2離型薄膜F22和表面保護(hù)薄膜F23層疊而成的構(gòu)造。第2光學(xué)薄膜F21包括第2偏振鏡F21a、借助粘接劑層(未圖示)粘貼在該第2偏振鏡F21a的一面上的第3薄膜F21b、和借助粘接劑層(未圖示)粘貼在該第2偏振鏡F21a的另一面上的第4薄膜F21c。第3薄膜F21b和第4薄膜F21c例如是偏振片保護(hù)膜(例如三乙酰纖維素薄膜和PET薄膜等)。第4薄膜F21c可借助第2粘接劑層F24粘貼在液晶單元W上。能夠?qū)Φ?薄膜F21b實施表面處理。作為表面處理，例如可列舉出硬涂層處理、防反射處理、以防止粘附、防擴(kuò)散及抗眩光等為目的的處理等。第2離型薄膜F22借助第2粘接劑層F24粘貼在第4薄膜F21c上。另外，表面保護(hù)薄膜F23借助粘接劑層F25粘貼在第3薄膜F21b上。制造流稈圖(I)第I材料卷準(zhǔn)備工序(圖I、SI)。準(zhǔn)備通過將帶狀的第I片狀產(chǎn)品Fl卷繞成卷狀而形成的第I材料卷R1。第I材料卷Rl的寬度取決于液晶單元W的粘貼尺寸。gp，通過將具有與液晶單元W的長邊或短邊相對應(yīng)的寬度的第I光學(xué)薄膜Fll的第I片狀產(chǎn)品Fl卷繞起來，形成第I材料卷Rl。(2)輸送工序(圖1、S2)。第I輸送裝置12自所準(zhǔn)備且已設(shè)置的第I材料卷Rl抽出第I片狀產(chǎn)品F1，向下游側(cè)輸送。(3)第I檢查工序(圖1、S3)。使用第I缺陷檢查裝置14檢查第I片狀產(chǎn)品Fl的缺陷。作為在此的缺陷檢查方法，可列舉出以下方法利用透射光、反射光對第I片狀產(chǎn)品Fl的兩面進(jìn)行圖像拍攝·圖像處理的方法、在CCD照相機(jī)與檢查對象物之間以使檢查用偏光薄膜與作為檢查對象的偏光板的吸收軸成為正交偏光(crossed Nicol)的方式配置(有時稱作O度交叉)檢查用偏光薄膜而進(jìn)行圖像拍攝·圖像處理的方法、在CCD照相機(jī)與檢查對象物之間以使檢查用偏光薄膜與作為檢查對象的偏光板的吸收軸成規(guī)定角度(例如比O度大且在10度以內(nèi)的范圍)的方式配置(有時稱作X度交叉)檢查用偏光薄膜而進(jìn)行圖像拍攝 圖像處理的方法。另外，作為圖像處理的算法，例如能夠利用二值化處理進(jìn)行濃淡判定來檢測缺陷。利用第I缺陷檢查裝置14得到的缺陷的信息與該缺陷的位置信息(例如位置坐標(biāo))相關(guān)聯(lián)地被一起發(fā)送到控制裝置中，能夠有助于由第I切斷裝置16進(jìn)行的切斷方法。(4)第I切斷工序(圖I、S4)。第I切斷裝置16不切斷第I離型薄膜F12就將粘貼有該第I離型薄膜F12的第I光學(xué)薄膜Fll和粘貼在第I光學(xué)薄膜Fll上的表面保護(hù)薄膜F13切斷成規(guī)定尺寸。作為切斷部件，例如可列舉出激光裝置和刀具等。優(yōu)選根據(jù)由第I缺陷檢查裝置14得到的缺陷的信息避開缺陷地進(jìn)行切斷。由此，第I片狀產(chǎn)品Fl的成品率大幅提高。含有缺陷的第I片狀產(chǎn)品Fl被第I排除裝置(未圖示)排除而不會被粘貼在液晶單元W上。在本實施方式中，將第I光學(xué)薄膜Fll切斷成與液晶單元W的長邊相對應(yīng)的長度，但在第I材料卷Rl的寬度與液晶單元W的長邊相對應(yīng)的情況下，也可以切斷成與液晶單元W的短邊相對應(yīng)的長度。優(yōu)選使上述第I材料卷準(zhǔn)備工序、第I檢查工序和第I切斷工序的各個工序形成為連續(xù)的制造生產(chǎn)線。在以上的一連串的制造工序中，形成用于粘貼在液晶單元W的一表面上的被切斷了的第I光學(xué)薄膜F11。下面，對形成用于粘貼在液晶單元W的另一表面上的
被切斷了的第2光學(xué)薄膜F21的工序進(jìn)行說明。(5)第2材料卷準(zhǔn)備工序(圖1、S11)。準(zhǔn)備通過將帶狀的第2片狀產(chǎn)品F2卷繞成卷狀而形成的第2材料卷R2。第2材料卷R2的寬度取決于液晶單元W的粘貼尺寸，例如形成為與第I材料卷Rl不同的寬度。具體而言，在將第I材料卷Rl形成為與液晶單元W的長邊相對應(yīng)的寬度的情況下，將第2材料卷R2形成為與液晶單元W的短邊相對應(yīng)的寬度，在將第I材料卷Rl形成為與液晶單元W的短邊相對應(yīng)的寬度的情況下，將第2材料卷R2形成為與液晶單元W的長邊相對應(yīng)的寬度。(6)輸送工序(圖1、S12)。第2輸送裝置22自所準(zhǔn)備的且已設(shè)置的第2材料卷R2抽出第2片狀產(chǎn)品F2，向下游側(cè)輸送。(7)第2檢查工序(圖I、S13)。使用第2缺陷檢查裝置24檢查第2片狀產(chǎn)品F2的缺陷。這里的缺陷檢查方法與由上述的第I缺陷檢查裝置14進(jìn)行的方法相同。但是，也可以省略第I檢查工序(S3)及第2檢查工序(S13)。在該情況下，也可以在制造第I材料卷Rl及第2材料卷R2的階段進(jìn)行第I片狀產(chǎn)品Fl及第2片狀產(chǎn)品F2的缺陷檢查，使用帶有通過該缺陷檢查得到的缺陷信息的第I材料卷Rl及第2材料卷R2來制造液晶面板W。(8)第2切斷工序(圖1、S14)。第I切斷裝置26不切斷第2離型薄膜F22就將粘貼有該第2離型薄膜F22的第2光學(xué)薄膜F21和粘貼在第2光學(xué)薄膜F21上的表面保護(hù)薄膜F23切斷成規(guī)定尺寸。作為切斷部件，例如可列舉出激光裝置和刀具等。優(yōu)選根據(jù)由第2缺陷檢查裝置24得到的缺陷的信息避開缺陷地進(jìn)行切斷。由此，第2片狀產(chǎn)品F2的成品率大幅提高。含有缺陷的第2片狀產(chǎn)品F2被第2排除裝置(未圖示)排除而不會被粘貼在液晶單元W上。在本實施方式中，將第2光學(xué)薄膜F21切斷成與液晶單元W的短邊相對應(yīng)的長度，但在第2材料卷R2的寬度與液晶單元W的短邊相對應(yīng)的情況下，也可以切斷成與液晶單元W的長邊相對應(yīng)的長度。同時進(jìn)行分別用于形成上述那樣的被切斷的第I光學(xué)薄膜Fll及第2光學(xué)薄膜F21的工序，進(jìn)行輸送液晶單元W的工序。在液晶單元W的輸送過程中對液晶單元W進(jìn)行下述那樣的處理。(9)清洗工序(圖I、S6)。利用研磨清洗、水清洗等清洗液晶單元W的表面。(10)第I光學(xué)薄膜粘貼工序(圖I、S5)。一邊自被切斷了的第I光學(xué)薄膜Fll剝離第I離型薄膜F12，一邊利用第I粘貼裝置18借助粘接劑層F14將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W的一表面上。在進(jìn)行粘貼時，將第I光學(xué)薄膜Fll及液晶單元W夾持在彼此相對的I對輥之間，進(jìn)行壓接。(11)第2光學(xué)薄膜粘貼工序(圖1、S15)。一邊自被切斷了的第2光學(xué)薄膜F21剝離第2離型薄膜F22，一邊利用第2粘貼裝置28借助粘接劑層F24將第2光學(xué)薄膜F21粘貼在液晶單元W的另一表面上。在進(jìn)行粘貼時，將第2光學(xué)薄膜F21及液晶單元W夾持在彼此相對的I對輥之間，進(jìn)行壓接。另外，在將第2光學(xué)薄膜F21粘貼在液晶單元W上之前，利用旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)20使粘貼了第I光學(xué)薄膜Fll后的液晶單元W旋轉(zhuǎn)90度，以便使第I光學(xué)薄膜Fll與第2光學(xué)薄膜F21成為正交偏光的關(guān)系。但是，不限于使液晶單元W旋轉(zhuǎn)90度的那種結(jié)構(gòu)，即使是將第I片狀產(chǎn)品Fl與第2片狀產(chǎn)品F2沿著互相正交的方向輸送的那種結(jié)構(gòu)，也能使第I光學(xué)薄膜Fll與第2光學(xué)薄膜F21成為正交偏光的關(guān)系。(12)液晶單元的檢查工序(圖I、S16)。利用檢查裝置對在兩面粘貼有光學(xué)薄膜 F11、F21的液晶單元W進(jìn)行檢查。作為檢查方法，例示利用透射光及反射光對液晶單元W的兩面進(jìn)行圖像拍攝 圖像處理的方法。另外，作為其他方法，也例示將檢查用偏光薄膜設(shè)置在CCD照相機(jī)與檢查對象物之間的方法。另外，作為圖像處理的算法，例如能夠利用二值化處理進(jìn)行濃淡判定來檢測缺陷。( 13)根據(jù)由檢查裝置得到的缺陷的信息，判定液晶單元W是否為合格品。將被判定為是合格品的液晶單元W輸送到下一安裝工序。在液晶單元W被判定為是不合格品的情況下，實施返工處理，重新貼上光學(xué)薄膜F11、F21，接著進(jìn)行檢查，在判定為是合格品的情況下，轉(zhuǎn)移到安裝工序，在判定為是不合格品的情況下，再次轉(zhuǎn)移到返工處理或進(jìn)行廢棄處理。在以上的一連串的制造工序中，通過將第I光學(xué)薄膜Fll的粘貼工序和第2光學(xué)薄膜F21的粘貼工序形成為連續(xù)的制造生產(chǎn)線，能夠適當(dāng)?shù)刂圃煲壕姘錡。在上述第I、第2切斷工序中，說明了不切斷離型薄膜F 12、F22就切斷片狀產(chǎn)品FU F2的其他構(gòu)件的方式(半切斷方式)。但是，只要是能夠?qū)㈤L條的離型薄膜F12、F22作為輸送薄膜而在將光學(xué)薄膜Fll、F21保持在該離型薄膜F12、F22上的狀態(tài)下輸送該離型薄膜F12、F22的那種結(jié)構(gòu)，就不限于上述那種結(jié)構(gòu)。例如也能夠使用片狀產(chǎn)品F1、F2中的除離型薄膜F12、F22以外的構(gòu)件被預(yù)先切斷了的半切斷完畢的材料卷。另外，不限于在切斷了光學(xué)薄膜Fll、F21后進(jìn)行粘貼的那種結(jié)構(gòu)，也可以是在粘貼過程中或粘貼后進(jìn)行切斷的那種結(jié)構(gòu)。圖4是表示第I粘貼裝置18的結(jié)構(gòu)例的概略剖視圖。在本例中，將第I光學(xué)薄膜Fll從液晶單元W的上方粘貼在液晶單元W上。在該情況下，第2粘貼裝置28為從液晶單元W的下方將第2光學(xué)薄膜F21粘貼在液晶單元W上的結(jié)構(gòu)，由于僅將第I粘貼裝置18的結(jié)構(gòu)上下翻轉(zhuǎn)即可，所以省略對第2粘貼裝置28的詳細(xì)的說明。但是，也可以是從液晶單元W的下方將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W上、并從液晶單元W的上方將第2光學(xué)薄膜F21粘貼在液晶單元W上的那種結(jié)構(gòu)。另外，在設(shè)有用于使粘貼了第I光學(xué)薄膜Fll后的液晶單元W上下翻轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)的情況下，也能夠形成為將第I光學(xué)薄膜Fll及第2光學(xué)薄膜F21均自同一方向粘貼在液晶單元W上的那種結(jié)構(gòu)。在設(shè)有用于使液晶單元W上下翻轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)的情況下，可以除了用于使液晶單元W旋轉(zhuǎn)90度的上述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)20之外另外設(shè)置上下翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，也可以設(shè)置用于使液晶單元W —邊上下翻轉(zhuǎn)一邊旋轉(zhuǎn)90度的那種結(jié)構(gòu)。一邊自向第I粘貼裝置18輸送來的第I光學(xué)薄膜Fll剝離第I離型薄膜F12，一邊將該第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W上。在剝離第I離型薄膜F12時，能夠使用頂端具有銳利的刀刃部的剝離機(jī)構(gòu)183。通過沿剝離機(jī)構(gòu)183的刀刃部翻轉(zhuǎn)移送第I離型薄膜F12，將第I離型薄膜F12自第I光學(xué)薄膜Fll剝離并纏繞在卷取輥184上。第I粘貼裝置18具有彼此相對的第I輥181及第2輥182。通過在上述I對輥181、182間一起夾持液晶單元W和剝離了第I離型薄膜F12的第I光學(xué)薄膜F11，能夠借助粘接劑層F14將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W上。第I輥181及第2輥182沿與液晶單元W的輸送方向正交的方向相對，第I輥181向液晶單元W側(cè)按壓第I光學(xué)薄膜F11，第2輥182向第I光學(xué)薄膜Fll側(cè)按壓液晶單元W。另外，第I輥181只要是向液晶單元W側(cè)按壓第I光學(xué)薄膜Fll的那樣的結(jié)構(gòu)，則例如也可以在第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll之間夾設(shè)有其他構(gòu)件。同樣，第2輥182只要是向第I光學(xué)薄膜Fll側(cè)按壓液晶單元W的那樣的結(jié)構(gòu)，則例如也可以在第2輥182與液晶單元W之間夾設(shè)有其他構(gòu)件。例如在將圖 4所示的那種結(jié)構(gòu)用于粘貼第2光學(xué)薄膜F21的情況下，當(dāng)利用第2輥182向第I光學(xué)薄膜Fll側(cè)對粘貼了第I光學(xué)薄膜Fll后的液晶單元W進(jìn)行按壓時，也可以在第2輥182與液晶單元W之間夾有設(shè)第I光學(xué)薄膜F11。第I輥181和第2輥182的外周面由能夠彈性變形的材料形成。具體而言，第I輥181和第2輥182由橡膠輥構(gòu)成，優(yōu)選由硅酮橡膠形成。第I輥181和第2輥182可以是整體由橡膠形成的結(jié)構(gòu)，也可以是只有外周面由橡膠形成的結(jié)構(gòu)。但是，第I輥181和第2輥182不限于橡膠輥，也可以利用其他彈性構(gòu)件形成第I輥181和第2輥182。另外，第I輥181和第2輥182不限于由相同材料形成的結(jié)構(gòu)，也可以由不同的材料形成。在將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W上時，彼此相對的第I輥181與第2輥182的間隔被設(shè)定為比液晶單元W和第I光學(xué)薄膜Fll的總厚度小。因而，在將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在液晶單元W上時，利用在第I輥181與第2輥182之間通過的液晶單元W及第I光學(xué)薄膜Fll的反作用力使第I輥181及第2輥182分別彈性變形。在本實施方式中，第2輥182與液晶單元W的沿輸送方向的接觸長度Cb比第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll的沿輸送方向的接觸長度Ca長。通過用照相機(jī)等拍攝輥181的接觸部分及輥182的接觸部分并測量實際的接觸長度，獲得上述接觸長度Ca、Cb。另外，在將與上述輸送方向正交的方向(與第I輥181及第2輥182平行的方向)作為寬度方向時，第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll接觸的接觸寬度和第2輥182與液晶單元W接觸的接觸寬度相同。因而，第2輥182與液晶單元W的接觸面積比第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll的接觸面積大。利用第I輥181按壓第I光學(xué)薄膜Fll時的每單位面積的按壓力Fa是將自第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll接觸的接觸面作用于第I光學(xué)薄膜Fll的力除以接觸面積后得到的值。優(yōu)選上述Fa為O. 08MPa以上，更優(yōu)選為O. 35MPa以上。利用第2輥182按壓液晶單元W時的每單位面積的按壓力Fb是將自第2輥182與液晶單元W接觸的接觸面作用于液晶單元W的力除以接觸面積后得到的值。優(yōu)選上述Fb為O. 49MPa以下，更優(yōu)選為O. 3MPa以下，進(jìn)一步優(yōu)選為O. 2MPa以下。通過使利用第I輥181按壓第I光學(xué)薄膜Fll時的每單位面積的按壓力Fa為O. 08MPa以上，能夠抑制第I輥181對第I光學(xué)薄膜Fll施加的壓力不均，能夠進(jìn)行穩(wěn)定的粘貼，所以不易產(chǎn)生氣泡。另外，通過使利用第2輥182按壓液晶單元W時的每單位面積的按壓力Fb為O. 49MPa以下，能夠防止發(fā)生間隙不均、亮度異常、裂紋或液晶單元W被破壞。此外，在本實施方式中，利用第2輥182按壓液晶單元W時的每單位面積的按壓力Fb比利用第I輥181按壓第I光學(xué)薄膜Fll時的每單位面積的按壓力Fa小。在本發(fā)明中，作為用于使按壓力Fb比按壓力Fa小的結(jié)構(gòu)，可列舉出使第I輥181的硬度比第2輥182的硬度高的結(jié)構(gòu)、使第I輥181的直徑比第2輥182的直徑小的結(jié)構(gòu)。在按壓力Fb比按壓力Fa小時，如上所述，在第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll接觸的接觸寬度和第2輥181與液晶單元W接觸的接觸寬度相同的情況下，每單位面積的按壓力較小的第2輥182沿上述輸送方向與液晶單元W接觸的接觸長度Cb變得較長。由于利用液晶單元W與第I輥181及第2輥182的摩擦力來輸送液晶單元W，所以接觸長度Cb較長的第2輥182比第I輥181有助于輸送液晶單元W。在第I輥181側(cè)，作用于第I光學(xué)薄膜 Fll的張力的變動、振動等的影響使輸送不穩(wěn)定，所以有時產(chǎn)生氣泡。在不會產(chǎn)生該種影響的第2輥182側(cè)，通過加大對液晶單元W的輸送的幫助，能夠良好地輸送液晶單元W而將第I光學(xué)薄膜Fll粘貼在該液晶單元W上。由此，能夠?qū)⒌贗光學(xué)薄膜Fll更加良好地粘貼在液晶單元W上。優(yōu)選上述Fa與Fb的壓力差(Fa — Fb)為O. IMPa以上，更優(yōu)選為O. 15MPa以上。另外，還可列舉出如下優(yōu)點(diǎn)，即，由于第2輥182與液晶單元W的接觸長度Cb比較長，所以第I輥181與第2輥182的相對扭轉(zhuǎn)的容許量增大，所要求的設(shè)置精度降低。優(yōu)選第2輥182是自電動機(jī)等驅(qū)動源傳遞驅(qū)動力的驅(qū)動輥。在該情況下，第I輥181可以是隨著第2輥182的旋轉(zhuǎn)而旋轉(zhuǎn)的從動輥。通過將第2輥182設(shè)為驅(qū)動輥，能夠由第2輥182更加穩(wěn)定地牽引液晶單元W，所以能夠?qū)⒌贗光學(xué)薄膜Fll更加良好地粘貼在液晶單元W上。優(yōu)選使第I輥181的半徑Ra和第2輥182的半徑Rb滿足Ra〈Rb。在該情況下，由于第I輥181的直徑比第2輥182的直徑小，所以能夠盡量縮短第I離型薄膜F12的剝離位置(剝離機(jī)構(gòu)183的刀刃部的頂端位置)與第I光學(xué)薄膜Fll的粘貼位置(在從第I輥181的中心點(diǎn)向正在粘貼的第I光學(xué)薄膜Fll引下的垂線上的第I光學(xué)薄膜Fll與液晶單元W之間的交界位置)的距離D。由此，能夠抑制因作用于第I光學(xué)薄膜Fll的張力的變動、振動等導(dǎo)致第I光學(xué)薄膜F 11在粘貼位置變得不穩(wěn)定，能夠使氣泡更加不易產(chǎn)生，所以能夠?qū)⒌贗光學(xué)薄膜Fll更加良好地粘貼在液晶單元W上。從剝離后的第I光學(xué)薄膜Fll的穩(wěn)定化的觀點(diǎn)出發(fā)，優(yōu)選上述距離D為5mm 60mm。但是，并不限定于第I輥181的直徑比第2輥182的直徑小的結(jié)構(gòu)，也可以是第I輥181的直徑比第2輥182直徑大的結(jié)構(gòu)，也可以是第I輥181的直徑與第2輥182的直徑相同的結(jié)構(gòu)。優(yōu)選第I棍181的直徑(2Ra)為15mm 80mm。在第I棍181的直徑小于15mm的情況下，第I輥181的剛性較低，進(jìn)行粘貼時不穩(wěn)定，并且有可能由于轉(zhuǎn)速的增大而發(fā)生振動。另一方面，在第I輥181的直徑大于80mm的情況下，難以縮短第I離型薄膜F 12的剝離位置與第I光學(xué)薄膜Fll的粘貼位置的距離D，所以因作用于第I光學(xué)薄膜Fll的張力的變動、振動等導(dǎo)致第I光學(xué)薄膜Fll在粘貼位置不易穩(wěn)定。因而，通過使第I輥181的直徑為15mm 80mm，能夠?qū)⒌贗光學(xué)薄膜Fll更加良好地粘貼在液晶單元W上。
另外，優(yōu)選第2輥182的橡膠硬度比第I輥181的橡膠硬度低。這樣，通過調(diào)整第I輥181及第2輥182的橡膠硬度，能夠適當(dāng)?shù)卦O(shè)定第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll接觸的接觸長度Ca、第2輥182與液晶單元W接觸的接觸長度Cb。例如，即使在第2輥182的直徑與第I輥181的直徑相同或第2輥182的直徑小于第I輥181的直徑的情況下，也能通過使第2輥18 2的橡膠硬度比第I輥181的橡膠硬度低而使第I輥181與第I光學(xué)薄膜Fll接觸的接觸長度Ca比第2輥182與液晶單元W接觸的接觸長度Cb短。具體而言，優(yōu)選在基于日本JIS標(biāo)準(zhǔn)(JIS K 6253)的橡膠硬度下，第I輥181的橡膠硬度為50° 100°，第2輥182的橡膠硬度為30° 80°。由此，能夠在第2輥182的橡膠硬度比第I輥181的橡膠硬度低的范圍內(nèi)將第I輥181及第2輥182的橡膠硬度設(shè)定為適當(dāng)?shù)闹?。另外，也能夠代替對第I輥181及第2輥182的橡膠硬度進(jìn)行調(diào)整，而對包括輥芯材在內(nèi)的整個輥的硬度進(jìn)行調(diào)整。在該情況下，能夠以如下方式測量輥的硬度。即，在基于日本JIS標(biāo)準(zhǔn)(JI S K 6253)的橡膠硬度的測量方法中，能夠?qū)⒂捕扔嬇c輥垂直地抵靠于輥而進(jìn)行測量。在本實施方式中，以在相對于第I輥181來說與液晶單元W相反的一側(cè)抵接于第I輥181的方式設(shè)有支承輥185。將該支承輥185保持成能夠以與第I輥181平行的旋轉(zhuǎn)軸線為中心旋轉(zhuǎn)，隨著第I輥181的旋轉(zhuǎn)，支承輥185也旋轉(zhuǎn)。優(yōu)選支承輥185的直徑比第I輥181的直徑大。另外，優(yōu)選支承輥185的硬度比較高，更優(yōu)選支承輥185是硬度為90°以上的金屬輥，但不限定于此。即使在使第I輥181的直徑比較小的情況下，也能利用支承輥185補(bǔ)充第I輥181的剛性，并且能夠抑制壓力不均，所以能夠?qū)⒌贗光學(xué)薄膜Fll更加良好地粘貼在液晶單元W上。下面，說明用圖4所示的裝置將第I輥181的直徑(2Ra)及輥的硬度、第2輥182的直徑(2Rb)及輥的硬度等設(shè)定為各種值來測量氣泡的產(chǎn)生率及間隙不均而得到的結(jié)果。此時，使用日東電工公司生產(chǎn)的偏光板(VEGQ1724DU)作為光學(xué)薄膜，使用自夏普公司生產(chǎn)的40型液晶電視機(jī)取出的40英寸的液晶單元作為液晶單元。對于按壓力，利用富士膠片公司生產(chǎn)的壓力圖像解析系統(tǒng)將使用富士膠片公司生產(chǎn)的超低壓用Prescale膠片獲得的Prescale膠片的發(fā)色狀態(tài)轉(zhuǎn)換成數(shù)值,從而算出該按壓力。對于氣泡的產(chǎn)生及間隙不均的發(fā)生情況，通過目測進(jìn)行了判定。另外，根據(jù)1000次的粘貼結(jié)果分別算出了氣泡的產(chǎn)生率及間隙不均的發(fā)生情況。測量結(jié)果如下述表I所
/Jn ο表I
權(quán)利要求
1.一種液晶面板的制造方法，其中，一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜將上述離型薄膜剝離，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而將上述光學(xué)薄膜粘貼于上述液晶單元，其特征在于， 利用上述第I輥按壓上述光學(xué)薄膜時的每單位面積的按壓力Fa和利用上述第2輥按壓上述液晶單元時的每單位面積的按壓力Fb滿足Fa>Fb。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶面板的制造方法，其特征在于， 上述Fa為O. 08MPa以上，上述Fb為O. 49MPa以下。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶面板的制造方法，其特征在于， 上述第I棍的直徑為15mm 80mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶面板的制造方法，其特征在于， 以在相對于上述第I輥來說與上述液晶單元相反的一側(cè)抵接于上述第I輥的方式設(shè)有支承輥。
5.一種液晶面板的制造系統(tǒng)，其一邊自層疊在離型薄膜上的光學(xué)薄膜將上述離型薄膜剝離，一邊在彼此相對的第I輥及第2輥之間夾持上述光學(xué)薄膜及液晶單元，利用上述第I輥對上述光學(xué)薄膜施加按壓力，并且利用上述第2輥對上述液晶單元施加按壓力，從而將上述光學(xué)薄膜粘貼于上述液晶單元，其特征在于， 利用上述第I輥按壓上述光學(xué)薄膜時的每單位面積的按壓力Fa和利用上述第2輥按壓上述液晶單元時的每單位面積的按壓力Fb滿足Fa>Fb。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶面板的制造系統(tǒng)，其特征在于， 上述Fa為O. 08MPa以上，上述Fb為O. 49MPa以下。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶面板的制造系統(tǒng)，其特征在于， 上述第I棍的直徑為15mm 80mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶面板的制造系統(tǒng)，其特征在于， 以在相對于上述第I輥來說與上述液晶單元相反的一側(cè)抵接于上述第I輥的方式設(shè)有支承輥。
全文摘要
本發(fā)明提供液晶面板的制造方法及制造系統(tǒng)。該液晶面板的制造方法及制造系統(tǒng)能夠?qū)⒐鈱W(xué)薄膜更加良好地粘貼在液晶單元上。利用第1輥(181)按壓第1光學(xué)薄膜(F11)時的每單位面積的按壓力(Fa)和利用第2輥(182)按壓液晶單元(W)時的每單位面積的按壓力(Fb)滿足Fa>Fb。由于滿足Fa>Fb，因此在不會產(chǎn)生由作用于第1光學(xué)薄膜(F11)的張力的變動、振動等帶來的影響的第2輥(182)側(cè)，加大對液晶單元(W)的輸送的幫助，所以能夠良好地輸送液晶單元(W)而將第1光學(xué)薄膜(F11)粘貼在液晶單元(W)上。
文檔編號G02F1/1335GK102884474SQ201180022689
公開日2013年1月16日 申請日期2011年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月24日
發(fā)明者秦和也, 平田聰, 近藤誠司 申請人:日東電工株式會社