專利名稱：液晶顯示面板的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及液晶顯示技術領域，特別涉及一種液晶顯示面板。
背景技術：
液晶顯示面板(LiquidCrystal Display Panel, LCD Panel)具有低壓、微功耗、 顯示信息量大、易于彩色化等優(yōu)點，現(xiàn)已廣泛應用于電子計算機、電子記事本、移動電話、攝 像機、高清電視機等電子設備的顯示裝置。液晶顯示面板最基本的結構如圖1所示，其包括 TFT基板11以及與所述TFT基板11相對配置而貼合的CF基板12。TFT基板11和CF基 板12之間夾置液晶層，通過兩基板施加在液晶層上的電場控制液晶層的分子取向，進而達 到調制通過液晶層的光強的目的。CF基板12的尺寸通常小于TFT基板11，TFT基板11在 未被CF基板12覆蓋的區(qū)域形成TFT臺階區(qū)域111。TFT臺階區(qū)域111上可以貼敷控制芯 片(IC) 13，用于控制該面板的功能。而且，TFT臺階區(qū)域111上形成有一組面板測試引腳 (panel test pad) 14，用于對面板進行電性能測試?？刂菩酒?3具有多個芯片測試引腳 (未圖示)，為了在貼敷控制芯片13后方便進行芯片電性能測試，需要將該多個芯片測試引 腳引出到控制芯片13的貼敷區(qū)域之外，從而形成一組芯片測試引出引腳15。圖2進一步顯示了上述液晶顯示面板中TFT臺階區(qū)域的基本結構示意圖。圖2中， 該組面板測試引腳14包括紅色像素電極測試引腳R、綠色像素電極測試引腳G、藍色像素電 極測試引腳B以及一公共電極測試引腳Com?？刂菩酒?3的貼敷區(qū)域內形成有6個薄膜晶 體管(TFT)，公共電極測試引腳Com控制該6個晶體管的導通與關斷。每一薄膜晶體管的 一端電性連接到一像素電極測試引腳(紅色像素電極測試引腳R或綠色像素電極測試引腳 G或藍色像素電極測試引腳B)，而另一端電性連接到一形成于TFT基板內的對應像素電極。 控制芯片13的3個芯片測試引腳131引出到控制芯片13的貼敷區(qū)域之外，形成一組芯片 測試引出引腳15。然而，該組芯片測試引出引腳15額外占用了 TFT臺階區(qū)域的有限空間， 在窄臺階和異性產品(諸如圓形LCD)的設計時受到極大的限制。

實用新型內容本實用新型的目的在于提供一種液晶顯示面板，以減少控制芯片的芯片測試引腳 的引出所占用的TFT臺階區(qū)域的有限空間。本實用新型提供一種液晶顯示面板，其包括TFT基板以及與所述TFT基板相對配 置而貼合的CF基板，所述TFT基板內形成有多個像素電極，所述TFT基板在未被所述CF基 板覆蓋的區(qū)域形成TFT臺階區(qū)域，所述TFT臺階區(qū)域上形成有一組面板測試引腳，所述一組 面板測試引腳包括多個像素電極測試引腳，所述多個像素電極測試引腳用于測試所述多個 像素電極，且所述TFT臺階區(qū)域上貼敷有控制芯片，所述控制芯片具有多個芯片測試引腳， 其特征在于，所述多個芯片測試引腳分別與所述多個像素電極測試引腳電性連接。優(yōu)選的，所述多個芯片測試引腳在所述控制芯片的貼敷區(qū)域外分別與所述多個像 素電極測試引腳電性連接。[0007]優(yōu)選的，所述多個芯片測試引腳在所述控制芯片的貼敷區(qū)域內分別與所述多個像 素電極測試引腳電性連接。優(yōu)選的，所述控制芯片的貼敷區(qū)域內形成有多個開關元件，所述一組面板測試引 腳還包括一公共電極測試引腳，所述公共電極測試引腳控制所述多個開關元件的導通與關 斷，所述每一開關元件的一端電性連接到一所述像素電極測試引腳，而另一端電性連接到 一對應的所述像素電極，所述多個芯片測試引腳分別與所述多個開關元件的所述一端電性 連接。優(yōu)選的，所述控制芯片的貼敷區(qū)域內形成有第一組開關元件以及第二組開關元 件，所述一組面板測試引腳還包括一公共電極測試引腳，所述公共電極測試引腳控制所述 第一組開關元件以及所述第二組開關元件的導通與關斷，所述第一組開關元件中每一開關 元件的一端電性連接到一所述像素電極測試引腳，所述第一組開關元件中每一開關元件的 另一端電性連接到所述第二組開關元件中每一開關元件的一端，所述第二組開關元件中每 一開關元件的另一端電性連接到一對應的所述像素電極，所述多個芯片測試引腳分別與所 述第一組開關元件中每一開關元件的所述一端電性連接。優(yōu)選的，所述開關元件為薄膜晶體管。與現(xiàn)有技術相比，本實用新型提供的一種液晶顯示面板，通過將控制芯片的芯片 測試引腳與液晶顯示面板的面板測試引腳電性連接，從而利用面板必須的測試引腳來替代 將該芯片測試引腳引出到控制芯片的貼敷區(qū)域之外的芯片測試引出引腳，進而提高TFT臺 階區(qū)域的有限空間的利用率。

圖1為液晶顯示面板的基本結構示意圖；圖2為現(xiàn)有技術的液晶顯示面板中TFT臺階區(qū)域的基本結構示意圖；圖3為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第一實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖；圖4為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第二實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖；圖5為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第三實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、特征更明顯易懂，
以下結合附圖對本實用新型的具體實 施方式作進一步的說明。本實用新型的核心思想在于，通過將控制芯片的芯片測試引腳與液晶顯示面板的 面板測試引腳電性連接，從而利用面板必須的測試引腳來替代將該芯片測試引腳引出到控 制芯片的貼敷區(qū)域之外的芯片測試引出引腳。本實用新型的液晶顯示面板包括TFT基板以及與所述TFT基板相對配置而貼合 的CF基板。所述TFT基板內形成有多個像素電極，所述TFT基板在未被所述CF基板覆蓋 的區(qū)域形成TFT臺階區(qū)域。所述TFT臺階區(qū)域上形成有一組面板測試引腳，所述一組面板測試引腳包括多個像素電極測試引腳(例如，紅色像素電極測試引腳R、綠色像素電極測試 引腳G、藍色像素電極測試引腳B)。所述多個像素電極測試引腳用于測試所述多個像素電 極。而且，所述TFT臺階區(qū)域上貼敷有控制芯片，所述控制芯片具有多個芯片測試引腳，其 中，所述多個芯片測試引腳能夠以多種方式分別與所述多個像素電極測試引腳電性連接。 由此，利用面板必須的測試引腳來替代將該多個芯片測試引腳引出到控制芯片的貼敷區(qū)域 之外的芯片測試引出引腳，提高了 TFT臺階區(qū)域的有限空間的利用率。在需要進行控制芯 片的電性能測試時，只需要將設備的探針探到對應的像素電極測試引腳。圖3為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第一實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖。在本實施例中，控制芯片13具有3個芯片測試引腳131，一組面板測試引腳14包 括紅色像素電極測試引腳R、綠色像素電極測試引腳G以及藍色像素電極測試引腳B。在圖 3中，3個芯片測試引腳131在控制芯片13的貼敷區(qū)域外分別與紅色像素電極測試引腳R、 綠色像素電極測試引腳G以及藍色像素電極測試引腳B電性連接。當然，在本實用新型的其它實施例中，控制芯片13的3個芯片測試引腳131還可 以在控制芯片13的貼敷區(qū)域內分別與紅色像素電極測試引腳R、綠色像素電極測試引腳G 以及藍色像素電極測試引腳B電性連接。下面就結合具體實施例進一步進行說明。圖4為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第二實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖?？刂菩酒?3的貼敷區(qū)域內形成有6個開關元件161。一組面板測試引腳14包括 紅色像素電極測試引腳R、綠色像素電極測試引腳G、藍色像素電極測試引腳B以及一公共 電極測試引腳Com。公共電極測試引腳Com控制該6個開關元件161的導通與關斷。而且， 每一開關元件的一端電性連接到一像素電極測試引腳(紅色像素電極測試引腳R或綠色像 素電極測試引腳G或藍色像素電極測試引腳B)，而另一端電性連接到一對應像素電極。其 中，控制芯片13的3個芯片測試引腳131分別與該6個開關元件161的連接到像素電極測 試引腳的一端電性連接。優(yōu)選的，本實施例中所有開關元件均為薄膜晶體管。圖5為根據(jù)本實用新型的液晶顯示面板的第三實施例中TFT臺階區(qū)域的基本結構 示意圖。控制芯片13的貼敷區(qū)域內形成有第一組開關元件162(圖5中包括3個開關元件) 以及第二組開關元件163 (圖5中包括6個開關元件)。一組面板測試引腳14包括紅色像 素電極測試引腳R、綠色像素電極測試引腳G、藍色像素電極測試引腳B以及一公共電極測 試引腳Com。公共電極測試引腳Com控制第一組開關元件162以及第二組開關元件163的 導通與關斷。第一組開關元件162中每一開關元件的一端電性連接到一像素電極測試引腳 (紅色像素電極測試引腳R或綠色像素電極測試引腳G或藍色像素電極測試引腳B)，第一 組開關元件162中每一開關元件的另一端電性連接到第二組開關元件163中每一開關元件 的一端，而第二組開關元件163中每一開關元件的另一端電性連接到一對應像素電極。其 中，控制芯片13的3個芯片測試引腳131分別與第一組開關元件162中每一開關元件的連 接到像素電極測試引腳的一端電性連接。優(yōu)選的，本實施例中所有開關元件均為薄膜晶體 管。綜上所述，本實用新型提供的一種液晶顯示面板，通過將控制芯片的芯片測試引 腳與液晶顯示面板的面板測試引腳電性連接，從而利用面板必須的測試引腳來替代將該芯 片測試引腳引出到控制芯片的貼敷區(qū)域之外的芯片測試引出引腳，進而提高TFT臺階區(qū)域 的有限空間的利用率。[0025] 顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用 新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及 其等同技術的范圍之內，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內。
權利要求一種液晶顯示面板，其包括TFT基板以及與所述TFT基板相對配置而貼合的CF基板，所述TFT基板內形成有多個像素電極，所述TFT基板在未被所述CF基板覆蓋的區(qū)域形成TFT臺階區(qū)域，所述TFT臺階區(qū)域上形成有一組面板測試引腳，所述一組面板測試引腳包括多個像素電極測試引腳，所述多個像素電極測試引腳用于測試所述多個像素電極，且所述TFT臺階區(qū)域上貼敷有控制芯片，所述控制芯片具有多個芯片測試引腳，其特征在于，所述多個芯片測試引腳分別與所述多個像素電極測試引腳電性連接。
2.如權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述多個芯片測試引腳在所述控 制芯片的貼敷區(qū)域外分別與所述多個像素電極測試引腳電性連接。
3.如權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述多個芯片測試引腳在所述控 制芯片的貼敷區(qū)域內分別與所述多個像素電極測試引腳電性連接。
4.如權利要求3所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述控制芯片的貼敷區(qū)域內形成 有多個開關元件，所述一組面板測試引腳還包括一公共電極測試引腳，所述公共電極測試 引腳控制所述多個開關元件的導通與關斷，所述每一開關元件的一端電性連接到一所述像 素電極測試引腳，而另一端電性連接到一對應的所述像素電極，所述多個芯片測試引腳分 別與所述多個開關元件的所述一端電性連接。
5.如權利要求3所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述控制芯片的貼敷區(qū)域內形成 有第一組開關元件以及第二組開關元件，所述一組面板測試引腳還包括一公共電極測試引 腳，所述公共電極測試引腳控制所述第一組開關元件以及所述第二組開關元件的導通與關 斷，所述第一組開關元件中每一開關元件的一端電性連接到一所述像素電極測試引腳，所 述第一組開關元件中每一開關元件的另一端電性連接到所述第二組開關元件中每一開關 元件的一端，所述第二組開關元件中每一開關元件的另一端電性連接到一對應的所述像素 電極，所述多個芯片測試引腳分別與所述第一組開關元件中每一開關元件的所述一端電性 連接。
6.如權利要求4或5中任一項所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述開關元件為薄膜晶體管。
專利摘要本實用新型公開了一種液晶顯示面板，通過將控制芯片的芯片測試引腳與液晶顯示面板的面板測試引腳電性連接，從而利用面板必須的測試引腳來替代將該芯片測試引腳引出到控制芯片的貼敷區(qū)域之外的芯片測試引出引腳，進而提高TFT臺階區(qū)域的有限空間的利用率。
文檔編號G02F1/13GK201622408SQ201020032950
公開日2010年11月3日 申請日期2010年1月12日 優(yōu)先權日2010年1月12日
發(fā)明者田小明 申請人:上海天馬微電子有限公司