專利名稱：光學(xué)顯示組件的制造方法及光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在光學(xué)顯示基板上貼合有光學(xué)薄膜片的光學(xué)顯示組件的制造方 法及其制造系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
(日本)特開2005-37416號公報(bào)(專利文獻(xiàn)1)的制造方法已廣為所知。在該制 造方法中，保留片材制品中的脫模膜而將其它光學(xué)薄膜(例如偏振板)切斷(以下，有時(shí)將 該切斷方法稱為半切割。)，利用該脫模膜維持片材制品的連續(xù)性。然后，一邊將脫模膜剝 離，一邊借助粘合劑將光學(xué)薄膜貼合于光學(xué)顯示基板(例如、液晶面板)上的方法?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 (日本)特開2005-37416號公報(bào)在上述的專利文獻(xiàn)1的情況下，在半切割之前，使用檢測機(jī)構(gòu)檢測光學(xué)薄膜的缺 陷，假設(shè)檢測到缺陷時(shí)，以避開該缺陷的方式切斷片材制品。將這種切斷方法稱為跳躍式切 割或跳躍式切割方法。采用這種跳躍式切割方法的情況下，由于以避開缺陷的方式切斷片 材制品，因此優(yōu)選僅將沒有缺陷光學(xué)薄膜貼合于光學(xué)顯示基板上。在該跳躍式切割方法中，重要的是考慮構(gòu)成制造系統(tǒng)的例如缺陷檢查裝置、片材 輸送裝置、切斷裝置中的各種裝置誤差、控制誤差、連續(xù)-停止運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的機(jī)械性誤差 等，以確實(shí)地排除缺陷部分的方式在切斷尺寸上保持余量而進(jìn)行切斷處理。這些誤差有時(shí) 因例如12小時(shí)、24小時(shí)等長時(shí)間的運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)而變大，因此，通常估算這些誤差的2 3倍的 余量進(jìn)行切斷。例如，假定上述誤差以理論上或?qū)嶒?yàn)上的缺陷位置為中心在半徑50mm的范 圍時(shí)，考慮長時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)，例如假定以該誤差的2倍、即以缺陷位置為中心在半徑IOOmm的范 圍存在缺陷而進(jìn)行切斷。但是，像這樣保持余量進(jìn)行切斷時(shí)，光學(xué)薄膜的成品率變差。而不考慮該余量而進(jìn) 行跳躍式切割時(shí)，存在含有缺陷的光學(xué)薄膜會被貼合在光學(xué)顯示組件上，原封不動(dòng)作為制 品而流出的危險(xiǎn)。由于缺陷中還存在用肉眼看不到的微小尺寸的缺陷，因此，也可以在被貼 合在光學(xué)顯示組件后，用檢查裝置進(jìn)行檢查，并進(jìn)行返工處理，以此為目的作業(yè)成為必要， 生產(chǎn)效率非常差，所以理想的是提高跳躍式切割處理的精度。另外，需要定期性地驗(yàn)證是否正確地實(shí)行了跳躍式切割。作為該驗(yàn)證，目前，在光 學(xué)薄膜上用記號筆(日文原文^, ”)進(jìn)行標(biāo)記作成假缺陷，用檢查裝置進(jìn)行缺陷檢 測，用后端的切斷裝置實(shí)行跳躍式切割，對該假缺陷是否被正確地排除進(jìn)行驗(yàn)證。但是，該 驗(yàn)證中，操作員的假缺陷制作要花費(fèi)工夫，比較復(fù)雜。此外，為了進(jìn)行該驗(yàn)證，需要開動(dòng)制造 系統(tǒng)或中斷通常運(yùn)轉(zhuǎn)來進(jìn)行驗(yàn)證，所以，從生產(chǎn)效率的觀點(diǎn)出發(fā)，并不理想。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述課題而創(chuàng)立的，其目的在于提供一種光學(xué)顯示組件的制造方法 及光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，所述光學(xué)顯示組件的制造方法及光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)在向光學(xué)顯示基板上貼合光學(xué)薄膜時(shí)，能夠恰當(dāng)?shù)嘏懦腥毕莸墓鈱W(xué)薄膜，并且能夠確認(rèn) 該排除的精度。為了解決所述課題，反復(fù)進(jìn)行銳意研究的結(jié)果，直至完成了以下的本發(fā)明。本發(fā)明提供一種光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，其為將在光學(xué)薄膜上借 助粘合劑層貼合了脫模膜的長條的片材制品，保留該脫模膜切斷為規(guī)定形狀，將通過該切 斷所得到的規(guī)定形狀的粘合劑層及光學(xué)薄膜構(gòu)成的帶粘合劑光學(xué)薄膜片從所述脫模膜上 剝離，以粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示基板上，制造光學(xué)顯示組件的方法，在輸送所述片材制品的過程中，對將設(shè)于該片材制品的位置特定信息從輸送上游 側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的預(yù)測輸送距離、和通過 分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢出該位置特定信息所得到的從該第一位 置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較，以所述實(shí)測輸送距離在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的方式，對所述片材制品 的輸送處理進(jìn)行修正。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，可以對從第一位置輸送到第二位置時(shí)的預(yù)測輸送距離、和通過使用 檢測機(jī)構(gòu)檢測該位置特定信息所得到的從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn) 行比較，假設(shè)實(shí)測輸送距離不在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)，能夠?qū)ζ闹破返妮斔吞幚?進(jìn)行修正，以使實(shí)測輸送距離達(dá)到預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)。即，由于可以通過實(shí)際檢測 片材制品的輸送距離，對輸送控制進(jìn)行修正，因此，可以高精度地切斷為對應(yīng)所貼合的光學(xué) 顯示基板的規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片。位置特定信息為記號，例如可列舉激光打標(biāo)機(jī)形成的激光痕、記號筆形成的記號 筆墨液痕、噴墨打印機(jī)構(gòu)形成的墨液痕、標(biāo)簽、傷、切割、沖孔等。另外，事先在片材制品上設(shè) 置的情況下，例如可列舉二維碼、標(biāo)簽、條形碼、線、孔、距離值等。檢測裝置根據(jù)位置特定信息而構(gòu)成，例如可列舉攝像機(jī)構(gòu)和圖像分析機(jī)構(gòu)的組 合、光電探測器、條形碼掃描器、檢測孔的機(jī)構(gòu)(例如齒輪)、檢測距離值的裝置等?！邦A(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)”的“規(guī)定范圍”，根據(jù)跳躍式切割的精度要求來設(shè) 定，例如下限值及上限值為IOOmm以下、更優(yōu)選50mm以下、進(jìn)一步優(yōu)選20mm以下。另外，上述本發(fā)明中，所述預(yù)測輸送距離基于所述第一位置的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié) 果及對于輸送所述片材制品的輸送機(jī)構(gòu)的輸送控制機(jī)構(gòu)來計(jì)算。根據(jù)該構(gòu)成，基于位置特定信息在第一位置被檢測的情況，輸送控制機(jī)構(gòu)以在第 二位置檢測位置特定信息的方式，對輸送機(jī)構(gòu)進(jìn)行控制。這時(shí)的輸送量相當(dāng)于預(yù)測輸送距 離。輸送機(jī)構(gòu)按照輸送量輸送片材制品。該預(yù)測輸送距離和實(shí)際的輸送距離理應(yīng)相同，但 如上述的課題所示，有時(shí)預(yù)測輸送距離和實(shí)際的輸送距離有較大差異，本申請中恰當(dāng)?shù)馗?善了這種情況。另外，在上述本發(fā)明中，所述實(shí)測輸送距離基于測定所述片材制品的輸送距離的 輸送距離測定機(jī)構(gòu)、和所述第一位置及第二位置各自的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果來計(jì)算。根據(jù)該構(gòu)成，可以將第一位置的位置特定信息的檢測作為始點(diǎn)，將第二位置的位 置特定信息的檢測作為終點(diǎn)，用輸送距離測定機(jī)構(gòu)測定材制品的輸送距離。另外，上述本發(fā)明中，所述第二位置的檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述切斷機(jī)構(gòu)的輸送方向 下游側(cè)或上游側(cè)。
在半切割工序中，有時(shí)使切割位置的片材制品停止，成為容易產(chǎn)生輸送距離的誤 差的原因。因此，通過將第二位置的檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置在切斷機(jī)構(gòu)的前后任何位置，可以恰當(dāng) 地進(jìn)行輸送處理的修正，所述輸送處理的修正考慮了包括半切割工序的影響的輸送距離誤差。另外，在上述本發(fā)明的一實(shí)施方式中，其構(gòu)成如下，在所述片材制品上預(yù)先設(shè)定所 述位置特定信息，該片材制品卷成輥狀。位置特定信息和上述的上述位置特定信息一樣。位 置特定信息的形成部位沒有特別限制，例如在片材制品寬度方向的端部，也可以在中央部。另外，在上述本發(fā)明的一實(shí)施方式中，其構(gòu)成如下，在比所述第一位置更靠輸送上 游側(cè)，在所述片材制品上設(shè)定所述位置特定信息。形成位置特定信息的機(jī)構(gòu)根據(jù)位置特定信息的種類而構(gòu)成，例如可列舉激光打 標(biāo)機(jī)、噴墨打印機(jī)、記號筆、貼標(biāo)簽機(jī)、沖孔機(jī)構(gòu)、切割器等。另外，可以如下構(gòu)成，即使事先 在片材制品上設(shè)置了位置特定信息，也可以在制造工序內(nèi)形成新的位置特定信息。另外，設(shè) 置位置特定信息的位置只要基本上不干涉第一位置的檢測機(jī)構(gòu)的功能即可，可以在檢測機(jī) 構(gòu)的檢測處理之前形成位置特定信息，也可以對于輥狀的卷料形成位置特定信息。另外，在上述本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式中具有如下構(gòu)成所述實(shí)測輸送距離不在所 述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的情況下，報(bào)知其意旨。根據(jù)該構(gòu)成，例如因長時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)等引起誤差變動(dòng)，位置特定信息(有時(shí)也稱為疑 似缺陷。)未被正確地排除的情況下，可以通過警報(bào)音、警報(bào)燈等報(bào)知操作員，因此可以了解 誤差變大的情況。由此，操作員可以對制造系統(tǒng)的誤差變動(dòng)進(jìn)行分析，可以將該分析數(shù)據(jù)有 效地應(yīng)用于裝置的調(diào)整及維修保養(yǎng)等。另外，操作員可以對各種裝置進(jìn)行調(diào)整，防止缺陷的 流出。另外，在上述本發(fā)明的一實(shí)施方式中，其構(gòu)成如下，所述片材制品含有所述粘合劑 層和/或所述光學(xué)薄膜內(nèi)存在的缺陷，將其切斷為排除了該缺陷的所述規(guī)定形狀的帶粘合 劑光學(xué)薄膜片。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，可以對有內(nèi)在缺陷的粘合劑層和/或光學(xué)薄膜高精度地進(jìn)行跳躍式 切割，恰當(dāng)?shù)氐玫揭雅懦毕莸囊?guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片。另外，粘合劑層和/或光 學(xué)薄膜含有缺陷的情況下，也可以將該缺陷作為所述位置特定信息進(jìn)行利用。 另外，在上述本發(fā)明的一實(shí)施方式中，其構(gòu)成如下，在所述第一位置之前，將脫模 膜從所述片材制品上剝離并進(jìn)行所述光學(xué)薄膜及所述粘合劑層的缺陷檢查，接著，在缺陷 檢查后將脫模膜貼合于粘合劑層上。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，可以將脫模膜除去，進(jìn)行光學(xué)薄膜及粘合劑層的缺陷檢測(檢查)。 因此，可以不需要考慮脫模膜內(nèi)在的相位差及附著在脫模膜上或脫模膜內(nèi)在的異物或傷等 缺陷，進(jìn)行光學(xué)薄膜及粘合劑層的缺陷檢測(檢查)。另外，本發(fā)明其他方面提供一種光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其為將在光學(xué)薄膜上 借助粘合劑層貼合有脫模膜的長條的片材制品，保留該脫模膜切斷為規(guī)定形狀，將通過該 切斷所得到的規(guī)定形狀的具有粘合劑層及光學(xué)薄膜的帶粘合劑光學(xué)薄膜片從所述脫模膜 上剝離，用粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示基板上，制造光學(xué)顯示組件的系統(tǒng)，其構(gòu)成如下，具 有輸送所述片材制品的輸送機(jī)構(gòu)；
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控制所述輸送機(jī)構(gòu)的輸送控制機(jī)構(gòu)；比較機(jī)構(gòu)，其在輸送所述片材制品的過程中，對將設(shè)于該片材制品的位置特定信 息從輸送上游側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的預(yù)測輸 送距離、和通過分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢測該位置特定信息所得到 的從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較；修正機(jī)構(gòu)，其對所述片材制品的輸送處理進(jìn)行修正，以使所述實(shí)測輸送距離在所 述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)；將所述片材制品切斷為所述規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片的切斷機(jī)構(gòu)；將所述帶粘合劑光學(xué)薄膜片從脫模膜上進(jìn)行剝離的剝離機(jī)構(gòu)；將剝離了所述脫模膜的所述帶粘合劑光學(xué)薄膜片，用粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示 基板上的貼合機(jī)構(gòu)。該制造系統(tǒng)的構(gòu)成如下，用切斷機(jī)構(gòu)將片材制品切斷為規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué) 薄膜片，接著，用剝離機(jī)構(gòu)將脫模膜從帶粘合劑光學(xué)薄膜片上剝離，用貼合機(jī)構(gòu)將帶粘合劑 光學(xué)薄膜片的粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示基板上。而且，具有輸送片材制品的輸送機(jī)構(gòu)、對 輸送機(jī)構(gòu)進(jìn)行控制的輸送控制機(jī)構(gòu)。另外，比較機(jī)構(gòu)的功能為，對將設(shè)于該片材制品的位置 特定信息從輸送上游側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的 預(yù)測輸送距離、和通過分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢出該位置特定信息 所得到的從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較。修正機(jī)構(gòu)的功能為，對 片材制品的輸送處理進(jìn)行修正，以使實(shí)測輸送距離達(dá)到預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)。另外，預(yù)測輸送距離基于第一位置的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果及對于所述輸送機(jī)構(gòu)的 輸送控制機(jī)構(gòu)來計(jì)算。另外，實(shí)測輸送距離基于測定片材制品的輸送距離的輸送距離測定 機(jī)構(gòu)、和所述第一位置及第二位置各自的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果來計(jì)算。輸送距離測定機(jī)構(gòu) 可以利用對構(gòu)成輸送機(jī)構(gòu)的一部分的移送機(jī)構(gòu)(例如、輥對)的轉(zhuǎn)速進(jìn)行檢測的編碼器等 構(gòu)成。另外，作為本制造系統(tǒng)的一實(shí)施方式，其構(gòu)成如下，第二位置的檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置于切 斷機(jī)構(gòu)的輸送方向下游側(cè)或上游側(cè)。另外，作為本制造系統(tǒng)的一實(shí)施方式，其構(gòu)成如下，在比所述第一位置更靠輸送上 游側(cè)，具有在所述片材制品上設(shè)定所述位置特定信息的位置特定信息形成機(jī)構(gòu)。另外，具有 實(shí)測輸送距離不在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的情況下，報(bào)知其意旨的報(bào)知機(jī)構(gòu)。另外，作為本制造系統(tǒng)的一實(shí)施方式，其構(gòu)成如下，所述片材制品含有所述粘合劑 層和/或所述光學(xué)薄膜內(nèi)存在的缺陷，將其切斷為排除了該缺陷的所述規(guī)定形狀的帶粘合 劑光學(xué)薄膜片。例如，優(yōu)選在將光學(xué)薄膜借助粘合劑層貼合于光學(xué)顯示基板(例如液晶面 板)前，進(jìn)行缺陷檢查并將含有缺陷的光學(xué)薄膜和/或粘合劑層進(jìn)行排除。具體地說，其優(yōu) 選構(gòu)成如下，當(dāng)檢測出缺陷時(shí)，以排除用檢測裝置檢測到的缺陷的方式，用切斷機(jī)構(gòu)對所述 片材制品進(jìn)行跳躍式切割，將用該切斷機(jī)構(gòu)對片材制品進(jìn)行半切割而得到的含有缺陷部分 的光學(xué)薄膜及粘合劑層排除。作為本制造系統(tǒng)的一實(shí)施方式，其構(gòu)成如下，還具有在所述第一位置之前，將脫 模膜從所述片材制品上進(jìn)行剝離的剝離機(jī)構(gòu)；在剝離了所述脫模膜后，進(jìn)行所述光學(xué)薄膜及所述粘合劑層的缺陷檢查的機(jī)構(gòu)；
在所述缺陷檢查后，將脫模膜貼合于所述粘合劑層上的貼合機(jī)構(gòu)。以上的制造系統(tǒng)的作用效果和上述的制造方法的作用效果一樣。作為本發(fā)明的光學(xué)顯示基板，例如可列舉用液晶元件的玻璃基板組件構(gòu)成的液晶 面板、有機(jī)EL發(fā)光體基板等。



Fl第--片材制品
F2第二二片材制品
Fll第--光學(xué)薄膜
Flla第--偏振片
Fllb第--膜
Fllc第二二膜
F12第--脫模膜
F13表面保護(hù)膜
F14第--粘合劑層
F21第二二光學(xué)薄膜
F21a第二二偏振片
F21b第三三膜
F21c第四膜
F22第二二脫模膜0084]F23表面保護(hù)膜0085]F24第二粘合劑層0086]W液晶面板(光學(xué)顯示基0087]1控制裝置0088]10研磨洗滌裝置0089]11水洗滌裝置0090]12第--輸送裝置0091]13第--檢查前剝離裝置0092]14第--缺陷檢查裝置0093]15第--脫模膜貼合裝置0094]16第--切斷裝置0095]17第--剝離裝置0096]18第--貼合裝置0097]19第--排除裝置0098]22第二二搬送裝置0099]23第二檢查前剝離裝置0100]24第二缺陷檢查裝置0101]25第二脫模膜貼合裝置0102]26第二切斷裝置0103]27第二剝離裝置0104]28第二貼合裝置0105]29第二排除裝置0106]201打標(biāo)記裝置0107]202攝像機(jī)構(gòu)0108]203疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)0109]204位置信息判斷機(jī)構(gòu)0110]205切斷位置修正機(jī)構(gòu)0111]301圖像分析機(jī)構(gòu)0112]302編碼器0113]303存儲器0114]304比較機(jī)構(gòu)0115]305修正機(jī)構(gòu)0116]306輸送控制機(jī)構(gòu)0117]307實(shí)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)0118]308預(yù)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)
具體實(shí)施例方式(實(shí)施方式1)下面，對本發(fā)明的實(shí)施方式1進(jìn)行說明。圖1表示實(shí)施方式1的光學(xué)顯示組件的
9制造方法的流程圖。圖3表示制造系統(tǒng)的裝置構(gòu)成的一例。實(shí)施方式1的制造系統(tǒng)是后述 的實(shí)施方式2的制造系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)內(nèi)，不具備第一、第二檢查前剝離裝置13、23、第一、第二脫 模膜粘貼裝置15、25的構(gòu)成例。另外，作為實(shí)施方式1的制造系統(tǒng)的另外的實(shí)施方式，也可 以例示不具備第一、第二缺陷檢查裝置14、24的結(jié)構(gòu)。(光學(xué)薄膜)本發(fā)明的光學(xué)顯示基板所設(shè)置的光學(xué)薄膜，例如可以使用液晶顯示裝置所使用的 各種光學(xué)薄膜，可舉例說明偏振片、相位差膜、視覺補(bǔ)償膜、亮度提高膜、這些膜的兩種以上 組合層疊而成的光學(xué)薄膜。有時(shí)是在這些膜的表面層疊保護(hù)用的透明膜(例如，后述的偏 振片保護(hù)膜等)而成的光學(xué)薄膜。另外，在光學(xué)薄膜的一個(gè)表面，以與光學(xué)顯示基板粘貼的 方式形成有粘合劑層，且設(shè)置用于保護(hù)該粘合劑層的脫模膜。另外，有時(shí)在光學(xué)薄膜的另一 表面，借助粘合劑層或直接設(shè)置表面保護(hù)膜。這些膜的具體的構(gòu)成會在后面表述。需要說 明的是，上述脫模膜從形成于其所粘接的上述光學(xué)薄膜的一個(gè)表面的粘合劑層進(jìn)行剝離， 上述表面保護(hù)膜與其所粘接的上述粘合劑層一同從上述光學(xué)薄膜剝離。下文中，有時(shí)將層 疊有粘合劑層的光學(xué)薄膜稱為帶粘合劑光學(xué)薄膜，有時(shí)將其中還層疊有脫模膜(或還層疊 有表面保護(hù)膜及將其與光學(xué)薄膜進(jìn)行粘接的粘合劑層)的膜稱為片材制品。(制造流程圖)(1)第一輥卷料準(zhǔn)備工序(圖1、S1)。準(zhǔn)備長條的第一片材制品作為第一輥卷料。 第一輥卷料的寬度依存于光學(xué)顯示基板的貼合尺寸。如圖9所示，第一片材制品Fl的層疊 結(jié)構(gòu)為第一光學(xué)薄膜Fll和第一脫模膜F12借助第一粘合劑層F14層疊而成。圖9中表示 還具有表面保護(hù)膜F13的第一片材制品的層疊結(jié)構(gòu)。例如，第一光學(xué)薄膜Fll由第一偏振 片F(xiàn)lla、在其一面借助粘接劑層(無圖示)的第一膜Fllb、在其另一面借助粘接劑層(無 圖示)的第二膜Fllc構(gòu)成。第一、第二膜Fllb、Fllc例如為偏振片保護(hù)膜(例如三乙酰纖維素膜、PET膜等)。 第二膜Fllc借助第一粘合劑F14貼合于光學(xué)顯示基板面?zhèn)?這時(shí)，第一脫模膜F12已被剝 離)?？梢詫Φ谝荒llb施行表面處理。作為表面處理，例如可列舉硬涂層處理及防反 射處理、以粘附的防止及防散射抗炫等為目的的處理等。第一脫模膜F12借助第二膜Fllc 和第一粘合劑層F14而設(shè)置。另外，表面保護(hù)膜F13借助第一膜Fllb和粘合劑層F15而設(shè) 置。第一、第二膜Fllb、Fllc的具體構(gòu)成會在后文中表述。下文中，有時(shí)將偏振片和偏振片 保護(hù)膜的層疊結(jié)構(gòu)稱為偏振板。以下各工序在從工場內(nèi)隔離出的隔離結(jié)構(gòu)內(nèi)進(jìn)行，維持清潔度。特別是在將光學(xué) 薄膜貼合于光學(xué)顯示組件的貼合工序中，維持清潔度很重要。(2)輸送工序(圖1、S2)。從準(zhǔn)備設(shè)置的第一輥卷料抽出第一片材制品F1，向本 發(fā)明的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)的下游側(cè)輸送。輸送第一片材制品Fl的第一輸送裝置12， 例如由軋輥對、導(dǎo)向輥、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置、滯留裝置A、傳感器裝置、控制裝置等構(gòu)成。(3)第一檢查工序(圖1、S3。相當(dāng)于缺陷檢測工序。)。第一缺陷檢查裝置14對 第一片材制品Fl (基本上是第一光學(xué)薄膜Fll及第一粘合劑層F14)的缺陷或疑似缺陷進(jìn) 行檢查。作為在此的缺陷檢查方法，例如可舉出對第一片材制品Fl的兩面的透射光和/或 反射光進(jìn)行圖像攝影、圖像處理的方法。第一片材制品Fl含有偏振片的情況下，可以列舉 將檢查用偏振膜配置為與第一片材制品的偏振軸成為正交偏光鏡(有時(shí)稱為0度正交)，用C⑶攝像機(jī)對透過檢查用偏振鏡及第一片材制品Fl的透射光進(jìn)行圖像拍攝、圖像處理的 方法；使檢查用偏振膜配置為與第一片材制品的偏振軸成規(guī)定角度(例如大于0度、10度 以內(nèi)的范圍)(有時(shí)稱為χ度正交)，用CXD攝像機(jī)對透過檢查用偏振膜及第一片材制品Fl 的透射光進(jìn)行圖像拍攝、圖像處理的方法。需要說明的是，圖像處理算法可以應(yīng)用公知的方 法，例如可以通過二值化處理的濃淡判定對缺陷進(jìn)行檢測。另外，缺陷檢查的方法不限于上 述CCD攝像機(jī)的圖像拍攝和圖像處理的方法，可以采用能夠判別透射光、反射光的強(qiáng)弱及 波長變化等的方法。第一缺陷檢查裝置14例如由CXD攝像機(jī)等面?zhèn)鞲衅鳂?gòu)成，按照相對第一片材制品 Fl的輸送方向的寬度尺寸設(shè)置多條線。作為所拍攝的區(qū)域范圍，例如為輸送方向IOOmmX 寬度方向IOOmm= IOOOOmm2等，通過圖像處理分析檢測缺陷的情況下，該區(qū)域被劃分。作 為劃分尺寸，例如舉例輸送方向5mmX寬度方向5mm = 25mm2等。而且，對該被劃分的每個(gè) 檢查區(qū)域通過圖像處理分析來檢測缺陷(種類、尺寸、個(gè)數(shù))。所檢測到的各個(gè)缺陷的位置 坐標(biāo)以該檢查區(qū)域(被劃分后的區(qū)域)的位置坐標(biāo)形式被存儲。即，不必計(jì)算各個(gè)缺陷的 絕對坐標(biāo)，缺陷位置作為檢查區(qū)域的坐標(biāo)被存儲。根據(jù)這樣的結(jié)構(gòu)，能夠大幅縮短缺陷檢測 花費(fèi)的處理時(shí)間。在此所構(gòu)成的缺陷信息例如由缺陷的種類、尺寸、個(gè)數(shù)、檢查區(qū)域坐標(biāo)、識 別號、檢查區(qū)域的圖像數(shù)據(jù)等構(gòu)成，作為所拍攝的圖像數(shù)據(jù)(被劃分前的圖像數(shù)據(jù))的附帶 條件。缺陷信息被發(fā)送到第一切斷裝置16。需要說明的是，通過減小檢查區(qū)域，可提高缺陷 位置的分解能力。需要說明的是，構(gòu)成也可以為用第一缺陷檢查裝置14拍攝的圖像數(shù)據(jù) 被發(fā)送到控制裝置1，由控制裝置1進(jìn)行圖像分析而檢測缺陷，作成缺陷信息。利用透射光的圖像拍攝、圖像處理方法，可以檢測第一片材制品Fl內(nèi)部的異物。 利用反射光的圖像拍攝、圖像處理方法可以檢測第一片材制品Fl表面的附著異物。0度交 叉的圖像拍攝、圖像處理方法，主要可以將表面異物、污垢、內(nèi)部的異物等作為亮點(diǎn)檢測出 來。χ度交叉的圖像拍攝、圖像處理方法主要可以對彎曲(日文原文、進(jìn)行檢測。由第一缺陷檢查裝置14得到的缺陷的信息被發(fā)送到控制裝置1，向后述的第一切 斷裝置16的切斷方法提供。本實(shí)施方式中，缺陷的信息用于對缺陷進(jìn)行跳躍式切割。關(guān)于 本實(shí)施方式的缺陷的信息的構(gòu)成、跳躍式切割，在后文中進(jìn)行表述。上述缺陷檢查可以在制 造上述片材制品時(shí)實(shí)施，此時(shí)得到的缺陷的信息也可以以條形碼等形式直接設(shè)置在片材制 品上，或也可以將缺陷信息讀入另外的介質(zhì)(Floppy (注冊商標(biāo))磁盤、⑶-RW等各種媒體、 硬盤等存儲裝置等)，向本發(fā)明的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)的控制裝置1發(fā)送。(4)第一切斷工序(圖1、S4)。第一切斷裝置16保留第一脫模膜F12而將其它部 件的表面保護(hù)膜F13、粘合劑層F15、第一光學(xué)薄膜Fll及第一粘合劑層F14切斷(半切割) 為規(guī)定尺寸。作為切斷機(jī)構(gòu)例如可舉出激光裝置、切割器、其它公知的切斷機(jī)構(gòu)等。控制裝置1對第一切斷裝置16的切斷時(shí)機(jī)(timing)進(jìn)行控制。輸送第一片材制 品Fl使其切斷位置到達(dá)第一切斷裝置16之后，控制裝置1使滯留裝置A工作，控制輸送裝 置12以使滯留裝置A以后的輸送停止。第一片材制品Fl停在切斷位置之后，控制裝置1向 第一切斷裝置16發(fā)送切斷指令。第一切斷裝置16基于該指令將第一片材制品Fl進(jìn)行切 斷(半切割)。然后，控制裝置1為基于缺陷信息避開缺陷進(jìn)行切斷的構(gòu)成(跳躍式切割方 式的切斷構(gòu)成)。該動(dòng)作的詳細(xì)情況將在后文中進(jìn)行表述。需要說明的是，由此，第一光學(xué) 薄膜Fll的成品率大幅提高。含有缺陷的第一光學(xué)薄膜Fll被后述的第一排除裝置19排除，不會粘貼在液晶面板W上。(5)第一貼合工序(圖1、S5)。使用第一剝離裝置17將第一脫模膜F12除去，同 時(shí)，使用第一貼合裝置18將除去了該第一脫模膜F12的第一帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面 保護(hù)膜F13、粘合劑層F15)，用其第一粘合劑層F14貼合于液晶面板W上。進(jìn)行貼合時(shí)，如 后述，用輥對(181、182)夾住第一帶粘合劑光學(xué)薄膜和液晶面板W進(jìn)行壓合。(6)洗滌工序(圖1、S6)。如圖3所示，通過研磨洗滌裝置10及水洗滌裝置11對 液晶面板W的表面進(jìn)行洗滌。洗滌過的液晶面板W由輸送機(jī)構(gòu)R輸送到第一貼合裝置18。 輸送機(jī)構(gòu)R例如由輸送用輥、輸送方向切換機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置、傳感器裝置、控制裝置等 構(gòu)成。關(guān)于研磨洗滌裝置10、水洗滌裝置11，將在后文中進(jìn)行表述。這些第一輥卷料準(zhǔn)備工序、第一檢查工序、第一切斷工序、第一光學(xué)薄膜貼合工 序、洗滌工序各個(gè)工序，優(yōu)選在連續(xù)的制造線上實(shí)行。在以上的一系列制造工序中，第一帶 粘合劑光學(xué)薄膜被貼合在液晶面板W的一個(gè)表面上。用Wl表示在一個(gè)表面設(shè)置有第一光 學(xué)薄膜Fll的液晶面板的符號。下面，對在另一表面設(shè)置第二光學(xué)薄膜F21的制造工序進(jìn) 行說明。(7)第二輥卷料準(zhǔn)備工序(圖1、Sll)。準(zhǔn)備長條的第二片材制品F2作為第二輥 卷料。如圖9所示，第二片材制品F2的層疊結(jié)構(gòu)和第一片材制品為同樣的結(jié)構(gòu)，但并不僅 限于此。第二片材制品F2是第二光學(xué)薄膜F21和第二脫模膜F22借助第二粘合劑層F24 層疊而成。圖9中還表示具有保護(hù)膜F23的第二片材制品的層疊結(jié)構(gòu)。例如具有表面保護(hù) 膜F23。第二光學(xué)薄膜F21由第二偏振片21a、在其一面借助粘接劑層(無圖示)的第三膜 F21b、在其另一面借助粘接劑層(無圖示)的第四膜F21c構(gòu)成。第三、第四膜F21b、F21c例如為偏振片保護(hù)膜(例如三乙酰纖維素膜、PET膜等)。 第四膜F21c借助第二粘合劑層F24貼合于光學(xué)顯示基板面?zhèn)?此時(shí)，第二脫模膜F22已 被剝離)。對第三膜F21b可以施行表面處理。作為表面處理，例如可舉出硬涂層處理及防 反射處理、以粘附的防止及防散射或抗炫等為目的的處理等。第二脫模膜F22借助第四膜 F21c和第二粘合劑層F24而設(shè)置。另外，表面保護(hù)膜F23借助第三膜F21b和粘合劑層F25 而設(shè)置。第三、第四膜F21b、F21c的具體的構(gòu)成將在后文中進(jìn)行表述。(8)輸送工序(圖1、S12)。從準(zhǔn)備設(shè)置的第二輥卷料抽出第二片材制品F2，向本 發(fā)明的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)的下游側(cè)輸送。輸送第二片材制品的第二輸送裝置22例 如由軋輥對、導(dǎo)向輥、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)裝置、滯留裝置A、傳感器裝置、控制裝置等構(gòu)成。(9)第二檢查工序(圖1、S13。相當(dāng)于缺陷檢測工序。)。使用第二缺陷檢查裝置 24對第二片材制品F2 (實(shí)質(zhì)上為第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑層F24)的缺陷或疑似缺 陷進(jìn)行檢查。這里的缺陷檢查方法和上述的第一缺陷檢查裝置14的方法一樣。(10)第二切斷工序(圖1、S14)的構(gòu)成如下。即，第二切斷裝置26保留第二脫模 膜F22，而將其它部件的表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25、第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑層 F24切斷(半切割)為規(guī)定尺寸切斷。切斷的時(shí)機(jī)由控制裝置1來控制，進(jìn)而，基于由第二 缺陷檢查裝置24得到的缺陷的信息，以避開缺陷的方式進(jìn)行切斷。由此，第二光學(xué)薄膜F21 的成品率大幅提高。含有缺陷的第二光學(xué)薄膜F21被后述的第二排除裝置29排除掉，不會 粘貼在液晶面板Wl上。(11)第二貼合工序(圖1、S15)。接著，在第二切斷工序后，使用第二剝離裝置27將第二脫模膜F22除去，同時(shí)，使用第二貼合裝置28將除去了該第二脫模膜F22的第二帶 粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25)，用其第二粘合劑層F24貼合于液晶 面板Wl的與貼合有第一光學(xué)薄膜Fll的面不同的面上。需要說明的是，在將第二帶粘合劑 光學(xué)薄膜(包含第二光學(xué)薄膜F21)貼合于液晶面板Wl上之前，有時(shí)通過輸送機(jī)構(gòu)R的輸 送方向切換機(jī)構(gòu)使液晶面板Wl旋轉(zhuǎn)90度，將第一光學(xué)薄膜Fll和第二光學(xué)薄膜F21設(shè)定 為正交偏光鏡的關(guān)系。進(jìn)行貼合時(shí)，如后述，用輥?zhàn)訆A住第二帶粘合劑光學(xué)薄膜和液晶面板 Wl進(jìn)行壓合。(12)檢查工序(圖1、S16)。檢查裝置30對兩面粘貼了光學(xué)薄膜的液晶面板W12 進(jìn)行檢查。作為檢查方法，可例示對液晶面板W12的兩面進(jìn)行反射光的圖像拍攝、圖像處理 的方法。另外，作為其它檢查方法，可例示從液晶面板W12的一面照射光源，從其另一面對 其透射光的透射光像進(jìn)行圖像拍攝、圖像處理的方法。該情況下，缺陷以亮點(diǎn)形式被檢測。 另外，作為其它的方法，還可例示在CCD攝像機(jī)和檢查對象物之間設(shè)置檢查用偏振膜的方 法。需要說明的是，圖像處理算法適用公知的方法，例如可以通過二值化處理的濃淡判定對 缺陷進(jìn)行檢測。(13)基于由檢查裝置30得到的缺陷的信息，進(jìn)行液晶面板W12的合格品判定。判 定為合格品的液晶面板W12被輸送到下一個(gè)安裝工序。判定為不合格品時(shí)，實(shí)施返工處理， 重新粘貼光學(xué)薄膜，接著進(jìn)行檢查，判定為合格品時(shí)，移至安裝工序，判定為不合格品時(shí)，再 次移至返工處理或作為廢棄物處理。在以上的一系列制造工序中，通過在連續(xù)的制造線上實(shí)行液晶面板與第一光學(xué)薄 膜Fll的第一貼合工序及其與第二光學(xué)薄膜F21的第二貼合工序，能夠適當(dāng)?shù)刂圃旃鈱W(xué)顯 示組件。尤其是通過在從工場內(nèi)隔離出的隔離結(jié)構(gòu)內(nèi)部進(jìn)行上述各工序，能夠在確保清潔 度的環(huán)境下將光學(xué)薄膜貼合于液晶面板(光學(xué)顯示基板)上，從而能夠制造高品質(zhì)的光學(xué) 顯示組件。(跳躍式切割方法、跳躍式切割精度的確認(rèn)處理)對第一實(shí)施例的跳躍式切割方法及跳躍式切割精度的確認(rèn)處理進(jìn)行說明。圖10 是用于實(shí)施例1的跳躍式切割確認(rèn)的系統(tǒng)構(gòu)成。圖12是跳躍式切割精度的確認(rèn)處理的流程 圖；在此，示出為了進(jìn)行跳躍式切割精度的確認(rèn)，而將檢測片材制品的缺陷的缺陷檢查裝置 作為檢測設(shè)置于片材制品上的位置特定信息(有時(shí)稱為疑似缺陷)的裝置而并用的例子。 也可以根據(jù)位置特定信息的種類，用與缺陷檢查裝置不同的另外設(shè)置的位置特定信息檢測 裝置進(jìn)行檢測?？刂蒲b置1具有圖像分析機(jī)構(gòu)301、存儲器303、比較機(jī)構(gòu)304、修正機(jī)構(gòu)305、輸送 控制機(jī)構(gòu)306、實(shí)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)307、預(yù)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)308等的功能。輸送控制機(jī)構(gòu)306的作用是對輸送裝置12進(jìn)行控制。圖像分析機(jī)構(gòu)301的作用 是對來自第一缺陷檢查裝置14及攝像機(jī)構(gòu)202的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，求出缺陷的種類及片 材制品的坐標(biāo)位置、以及疑似缺陷的坐標(biāo)位置等。存儲器303保存各種數(shù)據(jù)，例如儲存有測 定構(gòu)成片材制品Fl的輸送機(jī)構(gòu)的一部分的移送機(jī)構(gòu)12b的旋轉(zhuǎn)量的編碼器302的測定數(shù) 據(jù)。移送機(jī)構(gòu)12b由一對或多對輥對構(gòu)成，夾住片材制品Fl進(jìn)行移送。移送機(jī)構(gòu)12b也由 輸送控制機(jī)構(gòu)306進(jìn)行控制。實(shí)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)307計(jì)算從由第一缺陷檢查裝置14檢測到疑似缺陷的位
13置(第一位置)到由攝像機(jī)構(gòu)202再次檢測到疑似缺陷的位置(第二位置)的、由編碼器 302測定的輸送量。該輸送量相當(dāng)于實(shí)測輸送距離。例如在第一位置，從檢測到疑似缺陷的 時(shí)刻開始編碼器302的測定，在第二位置，在由被檢測到疑似缺陷的時(shí)刻結(jié)束該測定的情 況下，將編碼器302的測定量作為實(shí)測輸送距離求出。另外，編碼器302通常置于測定狀態(tài)， 也可以通過從在第二位置檢測到疑似缺陷的時(shí)刻的測定值中，減掉在第一位置被檢測到疑 似缺陷的時(shí)刻的測定值進(jìn)行計(jì)算。預(yù)測輸送距離計(jì)算機(jī)構(gòu)308計(jì)算從由第一缺陷檢查裝置14檢測到疑似缺陷的位 置(第一位置)開始到由攝像機(jī)構(gòu)202再次檢測到疑似缺陷的位置(第二位置)的、預(yù)測 的輸送量。該輸送量相當(dāng)于預(yù)測輸送距離。例如，該輸送量根據(jù)實(shí)驗(yàn)運(yùn)行或?qū)嶋H運(yùn)行等的 經(jīng)驗(yàn)值來設(shè)定?；谠撦斔土縼砜刂埔扑蜋C(jī)構(gòu)12b。比較機(jī)構(gòu)304的作用是對上述的預(yù)測輸送距離和上述的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較， 判斷實(shí)測輸送距離是否在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)。修正機(jī)構(gòu)305的作用是以上述實(shí)測輸送距離達(dá)到上述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍 內(nèi)的方式對上述片材制品的輸送處理進(jìn)行修正。修正機(jī)構(gòu)305例如對編碼器的測定功能進(jìn) 行修正。該修正處理可以自動(dòng)進(jìn)行，也可以通過操作員的輸入操作來進(jìn)行。使用圖12的流程圖進(jìn)行說明。首先，判斷是否對跳躍式切割的精度進(jìn)行了確認(rèn) (S40)。作為帶有疑似缺陷的時(shí)機(jī)，例如可列舉制造開始前的調(diào)整時(shí)、制造中定期性地實(shí)行 時(shí)、維修保養(yǎng)時(shí)、想對缺陷切斷的精度進(jìn)行確認(rèn)的任一時(shí)機(jī)等。該時(shí)機(jī)可以事先設(shè)定，也可 以通過手動(dòng)開關(guān)任意地設(shè)定時(shí)機(jī)。由此，與像現(xiàn)有技術(shù)那樣用記號筆手寫假缺陷的構(gòu)成相 比，可以自動(dòng)地或使用手動(dòng)開關(guān)簡單地進(jìn)行疑似缺陷的標(biāo)記。打標(biāo)記工序(位置特定信息形成工序)(S41)。如圖10所示，在缺陷檢查裝置14 的輸送上游側(cè)，使用位置特定信息形成機(jī)構(gòu)201附加疑似缺陷。需要說明的是，片材制品制 造時(shí)，也可以在片材制品上事先附加規(guī)定的疑似缺陷，向本發(fā)明的光學(xué)顯示組件的制造系 統(tǒng)提供附加了該疑似缺陷的片材制品。在這種情況下，本發(fā)明的系統(tǒng)中可以省略位置特定 信息形成機(jī)構(gòu)201。接著，用缺陷檢查裝置14檢測標(biāo)記于第一片材制品Fl的疑似缺陷(S42)。根據(jù)該 檢測，第一片材制品Fl由移送機(jī)構(gòu)12b向輸送方向下游側(cè)輸送。這時(shí)，編碼器302測定移 送機(jī)構(gòu)12b的旋轉(zhuǎn)量(輸送量)，將其測定數(shù)據(jù)記錄在存儲器303。附加了疑似缺陷的第一片材制品Fl向下游側(cè)輸送。而且，基于控制裝置1的跳躍 式切割控制指令，控制輸送裝置12及切斷裝置16，含有疑似缺陷的第一片材制品Fl被進(jìn)行 跳躍式切割處理(S44)。進(jìn)行了跳躍式切割處理的疑似缺陷由設(shè)置在切斷裝置16的輸送方 向下游側(cè)的攝像機(jī)構(gòu)202進(jìn)行檢測(S45)。根據(jù)該檢測，計(jì)算實(shí)測輸送距離(S46)。接著，判斷實(shí)測輸送距離是否在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)(S47)。如果實(shí)測輸送 距離在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)，就返回步驟S40，如果不在規(guī)定范圍內(nèi)，就進(jìn)行修正處 理(S48)。接著，對第二實(shí)施例的跳躍式切割方法及跳躍式切割精度的確認(rèn)處理進(jìn)行說明。 圖11是用于跳躍式切割確認(rèn)的系統(tǒng)構(gòu)成。圖13是跳躍式切割精度的確認(rèn)處理的流程圖。 對于其與第一實(shí)施例同樣的結(jié)構(gòu)，省略其說明或簡單地進(jìn)行說明。第二實(shí)施例中，攝像機(jī)構(gòu) 202設(shè)置在切斷裝置16的輸送方向上游側(cè)。
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使用圖13的動(dòng)作流程圖進(jìn)行說明。首先，判斷是否對跳躍式切割的精度進(jìn)行了確 認(rèn)(S40)。其次，如圖11所示，在缺陷檢查裝置14的輸送上游側(cè)，使用位置特定信息形成機(jī) 構(gòu)201附加疑似缺陷(S41)。接著，用缺陷檢查裝置14檢測附加在第一片材制品Fl上的疑似缺陷(S42)。根據(jù) 該檢測，第一片材制品Fl由移送機(jī)構(gòu)12b向輸送方向下游側(cè)輸送。這時(shí)，編碼器302測定 移送機(jī)構(gòu)12b的旋轉(zhuǎn)量(輸送量)，其測定數(shù)據(jù)記錄在存儲器303。附加了疑似缺陷的第一片材制品Fl向下游側(cè)輸送，疑似缺陷由設(shè)置在切斷裝置 16的輸送方向上游側(cè)的攝像機(jī)構(gòu)202進(jìn)行檢測(S50)。根據(jù)該檢測，計(jì)算實(shí)測輸送距離 (S51)。接著，判斷實(shí)測輸送距離是否在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)(S52)。如果實(shí)測輸送 距離在預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)，則返回步驟S40，如果不在規(guī)定范圍內(nèi)，就進(jìn)行修正處 (S53)。接著，對第三實(shí)施例的跳躍式切割方法及跳躍式切割精度的確認(rèn)處理進(jìn)行說明。 圖14是用于跳躍式切割確認(rèn)的系統(tǒng)構(gòu)成。圖15、16是跳躍式切割精度的確認(rèn)處理的流程 圖。首先，判斷是否是規(guī)定的時(shí)機(jī)(S100)。作為附加疑似缺陷的時(shí)機(jī)，和上述第一實(shí)施
例一樣。打標(biāo)記工序(位置特定信息形成工序)(SlOl)。如果是規(guī)定的時(shí)機(jī)(S100)，則在 上述缺陷檢測(第一、第二檢查工序)之前，附加疑似缺陷。疑似缺陷的形成方法沒有特別 限制，但從位置控制的觀點(diǎn)出發(fā)，優(yōu)選根據(jù)疑似缺陷的缺陷尺寸、在怎樣的部件上形成等的 尺寸，用激光裝置進(jìn)行附加。可以根據(jù)片材制品的部件變更激光輸出，在片材制品(第一、 第二片材制品)的表面位置、層疊內(nèi)部等形成疑似缺陷。另外，疑似缺陷分別用上述的位置 特定信息的形成機(jī)構(gòu)，在片材制品上形成作為上述的位置特定信息而例示的標(biāo)記。打標(biāo)記工序之后，對標(biāo)記在片材制品(第一片材制品F1、第二片材制品F2)的疑似 缺陷部分進(jìn)行缺陷檢測(檢查)(S102)。該檢測是用缺陷檢查裝置(14、24)進(jìn)行的缺陷檢 測。接著，片材制品(F1、F2)被輸送到切斷裝置(16，26)，以排除疑似缺陷部分的方式進(jìn)行 切斷處理(S103)。S卩，用缺陷檢查裝置(14，24)檢測疑似缺陷，向控制裝置1發(fā)送來自該缺 陷檢查裝置(14，24)的缺陷信息(疑似缺陷的信息)，通過控制裝置1的切斷時(shí)機(jī)控制實(shí)行 切斷處理。切斷裝置(16，26)基于該缺陷信息，將片材制品(F1、F2)切斷以排除缺陷。具 體地說，如下進(jìn)行切斷。圖14所示的制造系統(tǒng)的構(gòu)成如下，其具有從輸送方向的上游側(cè)向下游側(cè)輸送第 一片材制品Fl (包含第一光學(xué)薄膜Fll)的第一輸送裝置12、作成疑似缺陷的打標(biāo)記裝置 201、對疑似缺陷進(jìn)行檢查的第一缺陷檢查裝置14、將片材制品切斷的切斷裝置、拍攝切斷 后的第一片材制品Fl的攝像機(jī)構(gòu)202(CCD照相機(jī))、對攝像機(jī)構(gòu)202所拍攝的攝像(圖 像)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并檢測疑似缺陷的疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203 (控制裝置1的作用之一)、 對第一缺陷檢查裝置14所檢測的疑似缺陷的位置信息與用打標(biāo)記裝置201附加的位置信 息是否一致進(jìn)行判斷的位置信息判斷機(jī)構(gòu)204 (控制裝置1的作用之一)、在這些位置信息 不一致的情況下，以使這些位置信息一致的方式對切斷位置進(jìn)行修正的切斷位置修正機(jī)構(gòu) 205 (控制裝置1的作用之一，相當(dāng)于修正機(jī)構(gòu))等。
用打標(biāo)記裝置201例如隔開固定間隔或任意地附加疑似缺陷，用第一缺陷檢查裝 置14對該疑似缺陷進(jìn)行檢測。第一片材制品Fl由第一輸送裝置12輸送到第一切斷裝置16。第一切斷裝置16 使第一片材制品Fl停止而進(jìn)行切斷，因此，在第一切斷裝置16的前段設(shè)置有滯留裝置A。 利用該滯留裝置A，不停止第一片材制品Fl的輸送就可以進(jìn)行上述的檢查處理。第一切斷 裝置16被控制為按照規(guī)定長度對第一片材制品進(jìn)行切斷。而且，判斷發(fā)送來的缺陷信息中 所包含的疑似缺陷位置(檢查區(qū)域坐標(biāo))和下一個(gè)切斷位置的位置關(guān)系而進(jìn)行切斷。使用 圖17進(jìn)行說明。圖17是用于對在連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)中所進(jìn)行的跳躍式切割的一例進(jìn)行說明的圖。如圖17 所示，長條的第一片材制品Fl按照規(guī)定長度(a)被切斷。該規(guī)定長度(a)根據(jù)向液晶面板 (光學(xué)顯示基板)的貼合尺寸來設(shè)定。(A)只要缺陷或疑似缺陷在比下一個(gè)切斷位置(虛線)更靠輸送方向上游側(cè)、且 超過IOOmm而存在，則作為合格品進(jìn)行切斷處理。換句話說，在下一個(gè)切斷位置(虛線)進(jìn) 行切斷。而且，為了排除缺陷或疑似缺陷，在輸送方向上游側(cè)、距離缺陷或疑似缺陷IOOmm 的位置進(jìn)行切斷(用單點(diǎn)劃線圖示)。作為距離缺陷或疑似缺陷的切斷距離所使用的 “100mm”，是根據(jù)各種裝置誤差、長時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)誤差、余裕值等事先進(jìn)行設(shè)定的。本發(fā)明中的構(gòu) 成中，不考慮余裕值或減小余裕值，將距離缺陷或疑似缺陷的切斷距離設(shè)定為較小的值，可 以定期地對缺陷切斷精度進(jìn)行確認(rèn)，因此，光學(xué)薄膜的成品率高，另外，即使不考慮余裕值， 也不會有將包含缺陷或疑似缺陷的第一帶粘合劑光學(xué)薄膜貼合在液晶面板W的危險(xiǎn)。(B)只要在比下一個(gè)切斷位置(虛線)更靠輸送方向上游側(cè)的IOOmm以內(nèi)存在缺 陷或疑似缺陷，則作為不合格品進(jìn)行切斷處理。不在下一個(gè)切斷位置(虛線)進(jìn)行切斷，而 是在輸送方向上游側(cè)的、距離缺陷或疑似缺陷IOOmm的位置進(jìn)行切斷(用單點(diǎn)劃線圖示)。(C)只要缺陷或疑似缺陷在比下一個(gè)切斷位置(虛線)更靠輸送方向下游側(cè)、且超 過IOOmm而存在，則作為不合格品進(jìn)行切斷處理。換句話說，不在下一個(gè)切斷位置(虛線) 進(jìn)行切斷，為了排除缺陷或疑似缺陷，而在輸送方向上游側(cè)的、距離缺陷或疑似缺陷IOOmm 的位置進(jìn)行切斷(用單點(diǎn)劃線圖示)。(D)只要在比下一個(gè)切斷位置(虛線)更靠輸送方向下游側(cè)的IOOmm以內(nèi)存在缺 陷或疑似缺陷，則作為不合格品進(jìn)行切斷處理。不在下一個(gè)切斷位置(虛線)進(jìn)行切斷，而 是在輸送方向上游側(cè)的、距離缺陷或疑似缺陷IOOmm的位置進(jìn)行切斷(用雙點(diǎn)劃線圖示)。接著，對切斷后的含有疑似缺陷的片材制品進(jìn)行分析的處理進(jìn)行說明。攝像工序(S104)。對切斷后的含有疑似缺陷的第一片材制品Fl進(jìn)行拍攝。和第 一缺陷檢查裝置14同樣，攝像機(jī)構(gòu)202由CXD照相機(jī)等面?zhèn)鞲衅鳂?gòu)成，拍攝的攝像(圖像) 數(shù)據(jù)被發(fā)送到控制裝置1。疑似缺陷檢測工序(S105)?？刂蒲b置1作用之一的疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203，對(圖 像)數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像處理并進(jìn)行分析，對疑似缺陷進(jìn)行檢測。檢測方法、檢測精度與第一缺陷 檢查裝置14的缺陷檢測一樣。位置信息判斷工序(S106)?？刂蒲b置1的作用之一的位置信息判斷機(jī)構(gòu)204 (相 當(dāng)于比較機(jī)構(gòu))，判斷所檢測到的疑似缺陷的位置信息與用打標(biāo)記裝置201附加的疑似缺 陷的位置信息是否一致。例如，對用疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203檢測到的疑似缺陷的圖像數(shù)據(jù)(劃分后的檢查區(qū)域圖像數(shù)據(jù))及其檢查區(qū)域坐標(biāo)、和用第一缺陷檢查裝置14檢測到的缺 陷信息的圖像數(shù)據(jù)(劃分后的檢查區(qū)域圖像數(shù)據(jù))及其檢查區(qū)域坐標(biāo)進(jìn)行比較，判斷他們 是否一致。當(dāng)它們一致的情況下，則返回步驟S100，等待下一個(gè)精度確認(rèn)的指示。而它們不 一致的情況下，為了防止缺陷或疑似缺陷向下游流出的危險(xiǎn)，進(jìn)行切斷位置的修正處理，前 進(jìn)到下一個(gè)步驟。切斷位置修正工序(S107)。控制裝置1的作用之一的切斷位置修正機(jī)構(gòu)205 (相 當(dāng)于修正機(jī)構(gòu))以使這些位置信息一致的方式對切斷位置進(jìn)行修正。換句話說，向第一切 斷裝置16發(fā)出對切斷位置進(jìn)行修正的指令，以使由疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203檢測到的疑似缺 陷的圖像數(shù)據(jù)及其檢查區(qū)域坐標(biāo)、與由缺陷檢查裝置檢測到的缺陷信息的圖像數(shù)據(jù)及其檢 查區(qū)域坐標(biāo)一致。例如，圖像分析的結(jié)果為，由疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203檢測到的疑似缺陷的 位置在檢查區(qū)域范圍向下游側(cè)偏離兩個(gè)區(qū)域(例如向輸送方向偏離5mmX2 = 10mm)的情 況下，則以向上游側(cè)修正IOmm的方式變更切斷時(shí)機(jī)。由此，使得用疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203 檢測到的疑似缺陷的圖像數(shù)據(jù)及其檢查區(qū)域坐標(biāo)、與用缺陷檢查裝置檢測到的缺陷信息的 圖像數(shù)據(jù)及其檢查區(qū)域坐標(biāo)一致的構(gòu)成，可以確實(shí)地排除含有缺陷或疑似缺陷的帶粘合劑 光學(xué)薄膜。根據(jù)以上動(dòng)作，在連續(xù)地實(shí)行帶粘合劑光學(xué)薄膜和光學(xué)顯示基板的貼合處理的 情況下，能夠高精度地自動(dòng)實(shí)行缺陷排除。另外，上述疑似缺陷位置的偏差，有時(shí)與各裝置長時(shí)間運(yùn)行成正比地發(fā)生，所以， 控制裝置1能夠存儲每一次運(yùn)行時(shí)間的偏差量，趨勢穩(wěn)定之后，可以實(shí)行對每一次運(yùn)行時(shí) 間的偏差量自動(dòng)地進(jìn)行修正的智能控制。另外，作為其它實(shí)施方式，有如下構(gòu)成，S卩，代替切斷位置修正工序或在其基礎(chǔ)上 添加在上述這些疑似缺陷位置不一致的情況下，具備蜂鳴聲、警報(bào)音、警報(bào)燈點(diǎn)亮 熄滅、警 告顯示等報(bào)知裝置(無圖示)的報(bào)知工序(圖16、S207)。(精度確認(rèn)的實(shí)施方式)進(jìn)行缺陷檢測裝置、輸送裝置、切斷裝置、控制裝置等的精度確認(rèn)時(shí)，舉例說明下 面的動(dòng)作。首先，用打標(biāo)記裝置201例如以固定間隔或任意地附加疑似缺陷，用第一缺陷檢 查裝置14對疑似缺陷進(jìn)行檢測。缺陷優(yōu)選附加在表面且用肉眼也能夠辨認(rèn)。第一缺陷檢 查裝置14的檢查區(qū)域范圍，例如設(shè)定為膜輸送方向5mmX膜寬度方向5mm = 25mm2。疑似 缺陷的信息例如由疑似缺陷的種類、尺寸、個(gè)數(shù)、檢查區(qū)域坐標(biāo)、識別號、檢查區(qū)域的圖像數(shù) 據(jù)等構(gòu)成，且被由第一缺陷檢查裝置14所拍攝的圖像數(shù)據(jù)所附帶。疑似缺陷的信息向控制 裝置1發(fā)送。控制裝置1與上述動(dòng)作同樣，向第一切斷裝置16發(fā)出切斷時(shí)機(jī)指令。該切斷時(shí)機(jī) 以能夠正確地確認(rèn)切斷處理的精度的方式，設(shè)定疑似缺陷部分。例如設(shè)定為以缺陷位置為 中心，在向輸送方向上游側(cè)100mm、向下游側(cè)方向IOOmm的距離進(jìn)行切斷。這樣一來，理論 上，假定用上述的第一缺陷檢查裝置14檢測到的疑似缺陷在沿輸送方向長度200mm處被切 斷的第一片材制品Fl的中心位置(長度IOOmm的位置)存在。但是，由于各種裝置誤差、 控制誤差等，設(shè)想疑似缺陷位置偏離第一片材制品Fl的輸送方向長度的中心位置而存在。 根據(jù)本實(shí)施方式的構(gòu)成，可以測定該偏離量，且能夠確認(rèn)跳躍式切割的精度，進(jìn)而對切斷位 置進(jìn)行修正，以將偏離量抑制在一定范圍。根據(jù)第三實(shí)施例，用攝像機(jī)構(gòu)202拍攝沿輸送方向以200mm長度(相當(dāng)于圖18的F)切斷的第一片材制品F1，由疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203進(jìn)行圖像處理、分析并對疑似缺陷進(jìn) 行檢測。需要說明的是，用肉眼也能夠辨認(rèn)缺陷時(shí)，通過對所切斷的第一片材制品Fl進(jìn)行 辨認(rèn)，可以簡單地確認(rèn)疑似缺陷相對于其第一片材制品Fl的輸送方向是否位于中央。本實(shí) 施方式中，構(gòu)成如下，即，用攝像機(jī)構(gòu)202拍攝所切斷的第一片材制品Fl并進(jìn)行分析，可以 自動(dòng)地檢測疑似缺陷。而且，疑似缺陷檢測機(jī)構(gòu)203測定被檢測到的疑似缺陷的中央部分 和輸送方向的切斷面(端部)間的距離。如果所測定的距離(相當(dāng)于圖18的長度L1、L2) 在所切斷的第一片材制品Fl的長度200mm的40% 60%的范圍，則判斷為疑似缺陷存在 于所切斷的第一片材制品Fl的中央部分，從而判斷為所檢測到的疑似缺陷的位置信息與 用打標(biāo)記裝置201附加的疑似缺陷的位置信息一致。上述的“200mm的40% 60%的范圍” 只是一例，根據(jù)裝置系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)、輸送距離、檢查區(qū)域面積等可以進(jìn)行變更，例如，也可以設(shè) 定為 45% 55%、30% 70%。另一方面，所測定的距離不是200mm的40% 60%的范圍時(shí)，則判斷為疑似缺陷 不存在于所切斷的第一片材制品Fl的跳躍式切割的中央部分，所檢測到的疑似缺陷的位 置信息與用打標(biāo)記裝置201附加的疑似缺陷的位置信息不一致。而且，如上所述進(jìn)行切斷 位置的修正(切斷時(shí)機(jī)的修正)。在圖18中，Ll為F的45%長度時(shí)，則判斷為缺陷或疑似 缺陷在片材的輸送方向中央部(未偏離)。L2為F的70%長度時(shí)，則判斷為缺陷或疑似缺 陷不在片材的輸送方向中央部(已偏離)。控制裝置1也可以通過軟件程序和CPU、存儲器等硬件資源的協(xié)同作用來實(shí)現(xiàn)。該 情況下，程序軟件、處理順序、各種設(shè)定等被事先存儲于存儲器中。另外，控制裝置1可以由 專用電路及固件等構(gòu)成。另外，控制裝置1也可以由多個(gè)計(jì)算機(jī)(包含個(gè)人計(jì)算機(jī)、微型計(jì) 算機(jī)的概念)構(gòu)成，且該各個(gè)計(jì)算機(jī)配置于缺陷檢查裝置(14、24)、切斷裝置(16、26)、輸送 裝置(12、22)、滯留裝置A等。根據(jù)以上的實(shí)施方式，可以定期驗(yàn)證是否正確地實(shí)行了跳躍式切割。另外，考慮制 造系統(tǒng)、例如缺陷檢查裝置、光學(xué)薄膜的輸送裝置、切斷裝置中的各種裝置誤差、控制誤差、 連續(xù)-停止運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的機(jī)械性誤差等，能夠確實(shí)地將缺陷部分排除。另外，例如因長時(shí)間 運(yùn)轉(zhuǎn)等，誤差發(fā)生變動(dòng)的情況下，也可以自動(dòng)地修正切斷位置，所以，直到不含缺陷的光學(xué) 薄膜為止，不必?fù)?dān)心多余的量被排除，從而可以大幅提高光學(xué)薄膜的成品率。另外，具備報(bào)知工序的情況下，例如因長時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)等引起誤差變動(dòng)，疑似缺陷未被 正確地排除的情況下，通過蜂鳴聲、警報(bào)燈等報(bào)知操作員，因此能夠得知誤差變大的情況。 由此，操作員可以對制造系統(tǒng)的誤差變動(dòng)進(jìn)行分析，并將該分析數(shù)據(jù)有效地用于裝置的調(diào) 整及維修保養(yǎng)等。在以上的第一 第三實(shí)施例中，是在制造系統(tǒng)內(nèi)進(jìn)行打標(biāo)記處理，但沒有特別限 定，例如，也可以在第一片材制品的輥卷料制造線上形成疑似缺陷。(其它實(shí)施例的跳躍式切割)另外，下面，對上述第一切斷工序及第二切斷工序的其它實(shí)施方式進(jìn)行說明。該實(shí) 施方式在不具備上述的第一檢查工序、第二檢查工序的情況下特別有效。有時(shí)在第一及第 二輥卷料寬度方向的一端部，一規(guī)定間隔單位(例如1000mm)以代碼信息(例如QR代碼、條 形碼)的形式附加第一、第二片狀制品的缺陷信息(檢查區(qū)域坐標(biāo)、缺陷的種類、尺寸等)。 這種情況下，在進(jìn)行切斷的前階段，讀取并分析該代碼信息，以避開缺陷部分的方式，在第一、第二切斷工序切斷為規(guī)定尺寸。該情況下，代碼信息讀取裝置、分析裝置相當(dāng)于缺陷的 檢測裝置。(實(shí)施方式2)下面，對本發(fā)明的實(shí)施方式2進(jìn)行說明。圖2是表示實(shí)施方式2的光學(xué)顯示組件 的制造方法的流程圖。圖4表示實(shí)施方式2中的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)的構(gòu)成。對于和 實(shí)施方式1同樣的處理，省略或簡單地進(jìn)行說明。第一輥卷料準(zhǔn)備工序(圖2、Si)和輸送工序(圖2、S2)與實(shí)施方式1 一樣。脫模膜除去工序(圖2、S23)。第一檢查前剝離裝置13從所輸送的第一片材制品 Fl上將脫模膜F12(圖5中為Hll)進(jìn)行剝離。剝離機(jī)構(gòu)的詳細(xì)情況將在后文中進(jìn)行表述。第一缺陷檢查工序(圖2、S24)。其構(gòu)成如下第一缺陷檢查裝置14在脫模膜除去 工序后，檢查第一片材制品Fl (實(shí)質(zhì)上為第一光學(xué)薄膜Fll及第一粘合劑層F14)的缺陷。 不必考慮脫模膜F12內(nèi)存在的相位差，進(jìn)行第一光學(xué)薄膜Fll及第一粘合劑層F14的缺陷 檢查。缺陷檢查的方法如上所述。含有缺陷的第一帶粘合劑光學(xué)薄膜(第一光學(xué)薄膜Fll 及第一粘合劑層F14)，通過后述的第一排除裝置19被排除，不會粘貼在液晶面板W上。脫模膜貼合工序(圖2、S25)。第一脫模膜貼合裝置15在第一缺陷檢查工序后， 將脫模膜F12a(參照圖5)借助第一粘合劑層F14貼合于第一光學(xué)薄膜Fll上。第一脫模 膜貼合裝置15的詳細(xì)情況將在后文中進(jìn)行表述。第一切斷工序(圖2、S26)。接著，在脫模膜貼合工序后，第一切斷裝置16保留脫 模膜F12a，而將其他部件的表面保護(hù)膜F13、粘合劑層F15、第一光學(xué)薄膜Fll及第一粘合劑 層F14切斷為規(guī)定尺寸。第一貼合工序(圖2、S27)。接著，在第一切斷工序后，第一剝離裝置17將脫模膜 F12a剝離。第一貼合裝置18將剝離脫模膜H12后的第一帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面保 護(hù)膜F13、粘合劑層F15)利用其第一粘合劑層F14貼合于液晶面板W上。進(jìn)行貼合時(shí)，如后 述，用輥夾住第一帶粘合劑光學(xué)薄膜和液晶面板W進(jìn)行壓合。第二輥卷料準(zhǔn)備工序(圖2、Sll)和輸送工序(圖2、S12)與實(shí)施方式1 一樣。脫模膜除去工序(圖2、S33)。在第二檢查前剝離裝置23從所輸送的第二片材制 品F2上將脫模膜F22(圖7中為H21)剝離。剝離機(jī)構(gòu)的詳細(xì)情況將在后文中進(jìn)行表述。第二缺陷檢查工序(圖2、S34)。其構(gòu)成如下第二缺陷檢查裝置24在脫模膜除去 工序后，檢查第二片材制品F2(實(shí)質(zhì)上為第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑層F24)的缺陷。 不必考慮脫模膜F22內(nèi)存在的相位差及、附著在脫模膜F22或其中存在的異物及傷等缺陷， 進(jìn)行第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑層F24的缺陷檢查。缺陷檢查的方法如上所述。含有 缺陷的第二帶粘合劑光學(xué)薄膜(第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑層F24)通過后述的第二 排除裝置29被排除，不會粘貼在液晶面板Wl上。脫模膜貼合工序(圖2、S35)。第二脫模膜貼合裝置25在第二缺陷檢查工序后， 將脫模膜F22a(參照圖7)借助第二粘合劑層F24貼合于第二光學(xué)薄膜F21上。第二脫模 膜貼合裝置25的詳細(xì)情況將在后文中進(jìn)行表述。第二切斷工序(圖2、S36)。接著，在脫模膜貼合工序后，第二切斷裝置26保留脫 模膜F22a，而將其他部件的表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25、第二光學(xué)薄膜F21及第二粘合劑 層F24切斷為規(guī)定尺寸。
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第二貼合工序(圖2、S37)。接著，在第二切斷工序后，第二剝離裝置27將脫模膜 F22a剝離。第二貼合裝置28將剝離脫模膜F22a之后的第二帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面 保護(hù)膜F23、粘合劑層F25)利用其第二粘合劑層F24貼合于液晶面板Wl的與貼合有第一光 學(xué)薄膜Fll的面不同的面上。通過以上操作，在液晶面板W的一面貼合有第一帶粘合劑光 學(xué)薄膜，在其另一面貼合有第二帶粘合劑光學(xué)薄膜，從而能夠制造兩面設(shè)置有光學(xué)薄膜的 液晶面板Wl2。(實(shí)現(xiàn)實(shí)施方式1、2的制造方法的優(yōu)選制造系統(tǒng))下面，對實(shí)現(xiàn)實(shí)施方式2的制造方法的最佳的制造系統(tǒng)的一例進(jìn)行說明。圖5是 示出第一輸送裝置12、第一檢查前剝離裝置13、第一缺陷檢查裝置14、第一脫模膜粘貼裝 置15、第一切斷裝置16的圖。圖6是示出第一剝離裝置17、第一粘貼裝置18、第一排除裝置19的圖。圖7是示 出第二輸送裝置22、第二檢查前剝離裝置23、第二缺陷檢查裝置24、第二脫模膜粘貼裝置 25、第二切斷裝置26的圖。圖8是示出第二剝離裝置27、第二粘貼裝置28、第二排除裝置 29的圖。以上的各種裝置通過隔離結(jié)構(gòu)50與外部隔離開。被隔離結(jié)構(gòu)50圍住的內(nèi)部與外 部相比保持清潔。隔離結(jié)構(gòu)50由透明材料的壁和骨架結(jié)構(gòu)構(gòu)成。隔離結(jié)構(gòu)50的頂棚上設(shè) 置有送風(fēng)裝置40。送風(fēng)裝置40具備HEPA過濾器，向隔壁結(jié)構(gòu)50內(nèi)部吹送清潔度高的空氣。 在隔壁結(jié)構(gòu)50的壁面下部設(shè)有用于向外部排出內(nèi)部空氣的空氣排出開口部50a。另外，為 了防止來自外部的侵入物，也可以將過濾器設(shè)置在開口面。利用該隔壁結(jié)構(gòu)50、送風(fēng)裝置 40可以將制造系統(tǒng)整體維持為清潔環(huán)境，能夠恰當(dāng)?shù)姆乐箒碜酝獠慨愇锘烊搿Ａ硗?，由于?將制造系統(tǒng)從外部用隔壁結(jié)構(gòu)50進(jìn)行隔離，所以不需要將工場整體形成所謂的清潔室。研磨洗滌裝置10通過用研磨機(jī)構(gòu)(無圖示)對液晶面板W的兩表面進(jìn)行研磨，就 能夠?qū)⒈砻娓街愇锍?、洗凈。作為附著異物，例如可舉例玻璃的微小片、纖維片等。水 洗滌裝置11使用刷子將液晶面板W的兩表面進(jìn)行水洗滌，其后，進(jìn)行表面干燥。接著，對圖5 圖8依次進(jìn)行說明。長條的第一片材制品Fl的第一輥卷料以自由 旋轉(zhuǎn)或以一定的轉(zhuǎn)速進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的方式，設(shè)置于與電動(dòng)機(jī)等聯(lián)動(dòng)的輥架臺裝置上。由控制裝 置1設(shè)定旋轉(zhuǎn)速度、控制驅(qū)動(dòng)第一輸送裝置12是向下游側(cè)輸送第一片材制品Fl的輸送機(jī)構(gòu)。第一輸送裝置12 由控制裝置1控制。第一檢查前剝離裝置13從被輸送來的第一片材制品Fl上將脫模膜F12剝離，向 輥132上卷取。向輥132的卷取速度由控制裝置1控制。作為剝離機(jī)構(gòu)131，具有前端尖銳 的支棱部，將脫模膜F12卷搭在該支棱部進(jìn)行反轉(zhuǎn)移送，由此將脫模膜F12剝離，并且，將剝 離脫模膜F12后的第一片材制品Fl沿輸送方向進(jìn)行輸送。第一缺陷檢查裝置14在脫模膜F12被剝離后進(jìn)行缺陷檢查。第一缺陷檢查裝置 14對用CCD照相機(jī)拍攝的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并檢測缺陷或疑似缺陷，進(jìn)而計(jì)算其位置坐 標(biāo)。該缺陷的位置坐標(biāo)被提供到后述的第一切斷裝置16進(jìn)行的跳躍式切割。第一缺陷檢 查裝置14的缺陷檢測的構(gòu)成如上所述。第一脫模膜貼合裝置15在第一缺陷檢查后，重新將脫模膜F12a借助第一粘合劑 層F14貼合于第一光學(xué)薄膜Fl 1。如圖5所示，從脫模膜F12a的輥卷料151抽出脫模膜F12a，用一個(gè)或多個(gè)輥對152夾持脫模膜F12a和第一光學(xué)薄膜Fl 1，在該輥對152上作用規(guī) 定的壓力進(jìn)行貼合。輥對152的轉(zhuǎn)速、壓力控制、輸送控制，均由控制裝置1進(jìn)行控制。第一切斷裝置16在貼合脫模膜F12a后，保留該脫模膜F12a，而將其他部件的表面 保護(hù)膜15、第一光學(xué)薄膜F11、第一粘合劑層F14、粘合劑層F15按照規(guī)定尺寸進(jìn)行半切割。 切斷時(shí)機(jī)可以例示如上所述自控制裝置1發(fā)出指令。另外，構(gòu)成可以是通過第一切斷裝置 16的控制機(jī)構(gòu)計(jì)算切斷時(shí)機(jī)。這時(shí)，缺陷信息被發(fā)送到第一切斷裝置16。第一切斷裝置16 以避開缺陷部分(包含疑似缺陷)的方式按照規(guī)定尺寸(a)對第一片材制品Fl進(jìn)行半切 割。即，含有缺陷部分的切斷品為不合格品，在后工序通過第一排除裝置19將其排除。或 者，第一切斷裝置16也可以無視缺陷的存在，按照規(guī)定尺寸連續(xù)地進(jìn)行切斷。這時(shí)，在后述 的貼合處理中，將該部分除去，不進(jìn)行貼合。這時(shí)的控制也是控制裝置1的作用。另外，第一切斷裝置16配置有從背面吸附保持第一片材制品Fl的保持臺，且在第 一片材制品Fl的上方具備激光裝置。使激光以掃描方式沿第一片材制品Fl的寬度方向 平行移動(dòng)，保留最下部的脫模膜F12a，而將第一粘合劑層F14、第一光學(xué)薄膜F11、表面保護(hù) 膜F13、粘合劑層F15沿其輸送方向以規(guī)定間隔進(jìn)行半切割。另外，該激光裝置優(yōu)選以下構(gòu) 成，即以從第一片制品Fl的寬度方向夾著的方式向切斷部位吹送暖風(fēng)的空氣噴嘴、與對從 通過該暖風(fēng)輸送的切斷部位產(chǎn)生的氣體(煙)進(jìn)行集煙的集煙導(dǎo)管對置的狀態(tài)一體構(gòu)成。 在將第一片制品1吸附在保持臺的情況下，按照其下游側(cè)和上游側(cè)的第一片制品1的連續(xù) 輸送不停止的方式，輸送機(jī)構(gòu)的滯留裝置A沿向上下垂直方向移動(dòng)。該動(dòng)作也由控制裝置 1進(jìn)行控制。第一貼合裝置18在上述切斷處理后，將由第一剝離裝置17剝離了脫模膜F12a后 的第一帶粘合劑光學(xué)薄膜(至少包含第一光學(xué)薄膜F11、第一粘合劑層F14)利用其第一粘 合劑層F14貼合于液晶面板W上。如圖6所示，進(jìn)行貼合時(shí)，通過按壓輥181、導(dǎo)向輥182，將第一帶粘合劑光學(xué)薄膜 一邊壓接在基板W面上一邊貼合。按壓輥181、導(dǎo)向輥182的按壓壓力、驅(qū)動(dòng)動(dòng)作由控制裝 置1進(jìn)行控制。作為第一剝離裝置17的剝離機(jī)構(gòu)171，按照如下方式構(gòu)成具有前端尖銳的支棱 部，通過將脫模膜F12a卷搭于該支棱部進(jìn)行反轉(zhuǎn)移送，將脫模膜F12a剝離，同時(shí)，將剝離 了脫模膜F12a后的第一光學(xué)薄膜Fll輸送到液晶面板W面。此時(shí)，在脫模膜F12a上施加 100N/m以上1000N/m以下的張力的狀態(tài)和/或?qū)冸x脫模膜F12a之后直到將第一光學(xué)薄 膜Fll壓接在液晶面板W面的時(shí)間控制在3秒鐘以內(nèi)進(jìn)行，由此可以提高第一光學(xué)薄膜Fll 的貼合精度。張力比100N/m小時(shí)，第一光學(xué)薄膜的輸出位置不穩(wěn)定，比1000N/m大時(shí)，脫模 膜F12a有可能拉伸而斷裂，到壓接的時(shí)間比3秒鐘長時(shí)，從脫模膜F12a剝離的第一光學(xué)薄 膜端部可能彎曲而產(chǎn)生折斷及氣泡。被剝離的脫模膜F12a被輥172所卷取。輥172的卷 取控制由控制裝置1進(jìn)行控制。作為貼合機(jī)構(gòu)，由按壓輥181和與之對向配置的導(dǎo)向輥182構(gòu)成。導(dǎo)向輥182由 通過電動(dòng)機(jī)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的彈性輥構(gòu)成，且可升降地配備。另外，在其正上方，可升降地配備有 由通過電動(dòng)機(jī)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的彈性輥構(gòu)成的按壓輥181。將液晶面板W送入貼合位置時(shí)，按壓輥 181上升到比其上面高的位置以打開輥間隔。需要說明的是，導(dǎo)向輥182及按壓輥181可以 都是橡膠輥，也可以都是金屬輥。液晶面板W的構(gòu)成如上所述，由各種洗滌裝置進(jìn)行洗滌，
21由輸送機(jī)構(gòu)R進(jìn)行輸送。輸送機(jī)構(gòu)R的輸送控制也由控制裝置1進(jìn)行控制。對排除含有缺陷的第一片材制品Fl的第一排除裝置19進(jìn)行說明。含有缺陷的第 一片材制品Fl被輸送到貼合位置時(shí)，導(dǎo)向輥182向垂直下方移動(dòng)。接著，架設(shè)有粘合帶191 的輥192向?qū)蜉?82的規(guī)定位置移動(dòng)。使按壓輥181向垂直下方移動(dòng)，將含有缺陷的第 一帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面保護(hù)膜F13、粘合劑層F15)的表面向粘合帶191按壓，將第 一帶粘合劑光學(xué)薄膜貼在粘合帶191上，與粘合帶191 一起將含有缺陷的第一帶粘合劑光 學(xué)薄膜卷取在輥193上。上述制造的液晶面板Wl向下游側(cè)輸送，貼合第二光學(xué)薄膜F21。以下，對于同樣的 裝置構(gòu)成，簡單地進(jìn)行其說明。將第二光學(xué)薄膜F21與第一光學(xué)薄膜Fll為90°的關(guān)系(正交偏光鏡)貼合時(shí)，通 過輸送機(jī)構(gòu)R的輸送方向切換機(jī)構(gòu)使液晶面板Wl旋轉(zhuǎn)90°之后，貼合第二光學(xué)薄膜F21。 以下說明的第二片材制品F2的貼合方法中，在使第二片材制品F2反轉(zhuǎn)的狀態(tài)下(脫模膜 成為上面)，處理各工序，從液晶面板Wl的下側(cè)貼合第二光學(xué)薄膜F21。如圖7所示，第二輸送裝置22是將第二片材制品F2向下游側(cè)輸送的輸送機(jī)構(gòu)。第 二輸送裝置22由控制裝置1進(jìn)行控制。第二檢查前剝離裝置23將脫模膜F22從所輸送的第二片材制品F2剝離，向輥232 卷取。向輥232的卷取速度由控制裝置1進(jìn)行控制。作為剝離機(jī)構(gòu)231，按照如下方式構(gòu)成 具有前端尖銳的支棱部，通過將脫模膜F22卷搭在該支棱部進(jìn)行反轉(zhuǎn)移送，將脫模膜F22剝 離，同時(shí)，將剝離了脫模膜F22后的第二片材制品F2沿輸送方向輸送。第二缺陷檢查裝置24在脫模膜F22剝離后，進(jìn)行缺陷檢查。第二缺陷檢查裝置24 對用CCD照相機(jī)拍攝的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析而檢測缺陷，繼而計(jì)算出其位置坐標(biāo)。該缺陷的 位置坐標(biāo)向后述的第二切斷裝置26進(jìn)行的跳躍式切割提供。第二脫模膜貼合裝置25在第二缺陷檢查后，將脫模膜F22a借助第二粘合劑層F24 貼合于第二光學(xué)薄膜F21。如圖7所示，從脫模膜F22a的輥卷料251抽出脫模膜F22a，用一 個(gè)或多個(gè)輥對252夾持脫模膜F22a和第二光學(xué)薄膜F21，將規(guī)定的壓力作用在該輥對252 進(jìn)行貼合。輥對252轉(zhuǎn)速、壓力控制、輸送控制由控制裝置1進(jìn)行控制。第二切斷裝置26在貼合脫模膜F22a后，保留該脫模膜F22a，將其它部件的表面保 護(hù)膜F23、粘合劑層F25、第二光學(xué)薄膜F21、第二粘合劑層F24按照規(guī)定尺寸進(jìn)行半切割。 第二切斷裝置26例如為激光裝置?；诘诙毕輽z查處理所檢測到的缺陷的位置坐標(biāo)，第 二切斷裝置26以避開缺陷部分的方式切斷為規(guī)定尺寸。即，含有缺陷部分的切斷品作為不 合格品在后工序通過第二排除裝置29被排除。或者，第二切斷裝置26也可以無視缺陷的 存在而按照規(guī)定尺寸連續(xù)地進(jìn)行切斷。該情況下，可以在后述的貼合處理中將該部分除去 而不進(jìn)行貼合。該情況的控制也基于控制裝置1的功能。另外，第二切斷裝置26配置有從背面吸附保持第二片材制品F2的保持臺，將激光 裝置配置在第二片材制品F2的下方。使激光以掃描的方式沿第二片材制品F2的寬度方向 平行移動(dòng)，保留最下部的脫模膜F22a，將表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25、第二光學(xué)薄膜F21、 第二粘合劑層F24沿其輸送方向以規(guī)定間隔切斷。在將第二片材制品F2吸附在保持臺上 的情況下，按照其下游側(cè)和上游側(cè)的第二片材制品F2的連續(xù)輸送不停止的方式，輸送機(jī)構(gòu) 的滯留裝置A向上下垂直方向移動(dòng)。該動(dòng)作也由控制裝置1進(jìn)行控制。
第二貼合裝置28在切斷處理后，將由第二剝離裝置27剝離了脫模膜F22a的第二 帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25)，利用其第二粘合劑層F24貼合于 液晶面板W1。如圖8所示，在貼合的情況下，通過按壓輥281、導(dǎo)向輥282將第二帶粘合劑 光學(xué)薄膜向液晶面板Wl面一邊壓接一邊貼合。按壓輥281和導(dǎo)向輥282的按壓壓力、驅(qū)動(dòng) 動(dòng)作由控制裝置1進(jìn)行控制。第二剝離裝置27和第二貼合裝置28的構(gòu)成，與上述的第一剝離裝置17和第一貼 合裝置18為同樣的功能構(gòu)成。對排除含有缺陷的第二片材制品F2的第二排除裝置29進(jìn)行說明。含有缺陷的第 二片材制品F2被輸送到貼合位置時(shí)，導(dǎo)向輥282向垂直上方移動(dòng)。接著，架設(shè)有粘合帶291 的輥292向?qū)蜉?82的規(guī)定位置移動(dòng)。使按壓輥281向垂直上方移動(dòng)，將含有缺陷的第 二帶粘合劑光學(xué)薄膜(包含表面保護(hù)膜F23、粘合劑層F25)向粘合帶291按壓，將第二帶粘 合劑光學(xué)薄膜貼在粘合帶291上，與粘合帶291 —起將含有缺陷的第二帶粘合劑光學(xué)薄膜 向輥293卷取。設(shè)置有第一、第二光學(xué)薄膜F11、F21的液晶面板W12被輸送到檢查裝置30。檢查 裝置30對輸送來的液晶面板W12的兩面實(shí)行檢查。檢查內(nèi)容為光學(xué)薄膜的表面異物、污垢、 層疊膜內(nèi)部的異物、氣泡、破損、污垢等，包括公知的反射檢查機(jī)構(gòu)、透射檢查機(jī)構(gòu)等。各個(gè)裝置的動(dòng)作時(shí)機(jī)，例如通過在規(guī)定位置配置傳感器進(jìn)行檢測的方法來計(jì)算， 或者，用旋轉(zhuǎn)編碼器等對輸送裝置(12，22)及輸送機(jī)構(gòu)R的旋轉(zhuǎn)部件進(jìn)行檢測來計(jì)算。以上的制造系統(tǒng)的構(gòu)成為，將第一帶粘合劑光學(xué)薄膜從液晶面板W的上面貼上， 將第二帶粘合劑光學(xué)薄膜從液晶面板W的下面貼上。并不限定于該粘貼構(gòu)成，也可以是將 第一帶粘合劑光學(xué)薄膜從液晶面板W的下面貼上，接著，將第二帶粘合劑光學(xué)薄膜從液晶 面板W的上面貼上的構(gòu)成。(缺陷檢查方法其它實(shí)施方式)實(shí)現(xiàn)缺陷檢查的自動(dòng)檢查裝置是自動(dòng)檢查片材狀制品的缺陷(也稱為缺點(diǎn))的裝 置，進(jìn)行光照，通過線路傳感器及二維TV照相機(jī)等的攝像部，取得其反射光像及透射光像， 基于所取得的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷檢測。另外，在光源和攝像部之間的光路中安裝了檢查用 偏振膜的狀態(tài)下，取得圖像數(shù)據(jù)。通常，該檢查用偏振膜的偏振軸(例如、偏振吸收軸)以 與作為檢查對象的片材制品的偏振片的偏振軸(例如、偏振吸收軸)正交的狀態(tài)(正交偏 光鏡)的方式進(jìn)行配置。通過配置為正交偏光鏡，假設(shè)不存在缺陷，則從攝像部輸入全黑的 圖像，如果存在缺陷，則該部分不會變黑(作為亮點(diǎn)被辨認(rèn))。因此，可以通過設(shè)定適當(dāng)?shù)拈?值來檢測缺陷。在這樣的亮點(diǎn)檢測中，表面附著物、內(nèi)部的異物等缺陷作為亮點(diǎn)被檢測到。 另外，除該亮點(diǎn)檢測之外，還有通過對檢查對象物進(jìn)行CCD拍攝，對透射光圖像進(jìn)行圖像分 析，從而進(jìn)行異物檢測的方法。另外，還有通過對檢查對象物進(jìn)行CCD拍攝，對反射光圖像 進(jìn)行圖像分析，從而檢測表面附著異物的方法。就上述切斷工序而言，對保留脫模膜而將片材制品的其它部件進(jìn)行切斷的半切割 方式做了說明，但本發(fā)明的切斷工序并不限定于該切斷方式。另外，關(guān)于切斷后將片材制品 貼合于光學(xué)顯示基板的貼合工序，對利用輥對的貼合方式做了說明，但本發(fā)明的貼合工序 并不限定于該方式。(粘合劑)
上述的粘合劑層沒有特別限定，但可以用以丙烯酸系等現(xiàn)有材料為標(biāo)準(zhǔn)的適宜的 粘合劑形成。從防止吸濕造成的發(fā)泡現(xiàn)象及剝落現(xiàn)象、防止熱膨脹差等引起的光學(xué)特性的 降低及液晶元件的彎曲、以及高品質(zhì)且耐久性優(yōu)異的圖像顯示裝置的形成性等方面考慮， 優(yōu)選吸濕率低且耐熱性優(yōu)異的粘合層。另外，可以設(shè)定為含有微粒子并顯示光擴(kuò)散性的粘 合層等。粘合層只要根據(jù)需要設(shè)置在必要的面上即可，例如，對于由偏振片和偏振片保護(hù)層 構(gòu)成的偏振板，不言自明，只要根據(jù)需要在偏振片保護(hù)層的一面或兩面設(shè)置粘合層即可。(脫模膜)作為上述的脫模膜，例如可以使用根據(jù)需要利用硅酮系、長鏈烷基系、氟系、硫化 鉬等適宜的剝離劑對各種塑料薄膜、橡膠片材、紙、布、無紡布、網(wǎng)狀物、發(fā)泡片材及金屬箔、 它們的層合體等適宜的薄片體進(jìn)行了涂層處理的而成的膜等這些以現(xiàn)有的膜為標(biāo)準(zhǔn)的適 宜的膜。(表面保護(hù)膜)作為表面保護(hù)膜，例如可以使用根據(jù)需要利用硅酮系、長鏈烷基系、氟系、硫化鉬 等適宜的剝離劑對各種塑料薄膜、橡膠片材、紙、布、無紡布、網(wǎng)狀物、發(fā)泡片材及金屬箔、它 們的層合體等適宜的薄片體進(jìn)行了涂層處理的而成的膜等這些以現(xiàn)有的膜為標(biāo)準(zhǔn)的適宜 的膜。本發(fā)明的光學(xué)顯示組件可以優(yōu)選用于液晶表示裝置、有機(jī)EL顯示裝置、PDP等圖 像顯示裝置的形成。
權(quán)利要求
一種光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，其為將在光學(xué)薄膜上借助粘合劑層貼合了脫模膜的長條的片材制品，保留該脫模膜而切斷為規(guī)定形狀，并將通過該切斷所得到的規(guī)定形狀的由粘合劑層及光學(xué)薄膜構(gòu)成的帶粘合劑光學(xué)薄膜片從所述脫模膜上剝離，以粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示基板上，制造光學(xué)顯示組件的方法，在輸送所述片材制品的過程中，對將設(shè)于該片材制品的位置特定信息從輸送上游側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的預(yù)測輸送距離、與通過分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢出該位置特定信息所得到的從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較，以所述實(shí)測輸送距離在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的方式，對所述片材制品的輸送處理進(jìn)行修正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，所述預(yù)測輸送距離 基于所述第一位置的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果及對于輸送所述片材制品的輸送機(jī)構(gòu)的輸送控 制機(jī)構(gòu)來計(jì)算。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，所述實(shí)測輸送距 離基于測定所述片材制品的輸送距離的輸送距離測定機(jī)構(gòu)、和所述第一位置及第二位置各 自的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果來計(jì)算。
4.根據(jù)權(quán)利要求1 3中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，所述第 二位置的檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述切斷機(jī)構(gòu)的輸送方向下游側(cè)或上游側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 4中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，在所述 片材制品上預(yù)先設(shè)定所述位置特定信息，該片材制品卷成輥狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求1 5中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，在比所 述第一位置更靠輸送上游側(cè)，在所述片材制品上設(shè)定所述位置特定信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求1 6中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，所述實(shí) 測輸送距離不在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的情況下，報(bào)知其意旨。
8.根據(jù)權(quán)利要求1 7中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，所述片 材制品含有在所述粘合劑層和/或所述光學(xué)薄膜內(nèi)存在的缺陷，將其切斷為排除了該缺陷 的所述規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片。
9.根據(jù)權(quán)利要求1 8中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其特征在于，在所述 第一位置之前，將脫模膜從所述片材制品上剝離并進(jìn)行所述光學(xué)薄膜及所述粘合劑層的缺 陷檢查，接著，在缺陷檢查后將脫模膜貼合于粘合劑層上。
10.一種光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其為將在光學(xué)薄膜上借助粘合劑層貼合了脫模膜 的長條的片材制品，保留該脫模膜切斷為規(guī)定形狀，將通過該切斷所得到的規(guī)定形狀的由 粘合劑層及光學(xué)薄膜構(gòu)成的帶粘合劑光學(xué)薄膜片從所述脫模膜上剝離，利用粘合劑層側(cè)貼 合于光學(xué)顯示基板上，制造光學(xué)顯示組件的系統(tǒng)，其具有輸送所述片材制品的輸送機(jī)構(gòu)；控制所述輸送機(jī)構(gòu)的輸送控制機(jī)構(gòu)；比較機(jī)構(gòu)，其在輸送所述片材制品的過程中，對將設(shè)于該片材制品的位置特定信息從 輸送上游側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的預(yù)測輸送距 離、與通過分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢出該位置特定信息所得到的、從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較；修正機(jī)構(gòu)，其以所述實(shí)測輸送距離在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的方式，對所述 片材制品的輸送處理進(jìn)行修正；將所述片材制品切斷為所述規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片的切斷機(jī)構(gòu)；將所述帶粘合劑光學(xué)薄膜片從脫模膜上進(jìn)行剝離的剝離機(jī)構(gòu)；將剝離了所述脫模膜的所述帶粘合劑光學(xué)薄膜片，利用粘合劑層側(cè)貼合于光學(xué)顯示基 板上的貼合機(jī)構(gòu)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)測輸送距 離基于所述第一位置的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果及對于所述輸送機(jī)構(gòu)的輸送控制機(jī)構(gòu)來計(jì)算。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，所述實(shí)測輸 送距離基于測定所述片材制品的輸送距離的輸送距離測定機(jī)構(gòu)、和所述第一位置及第二位 置各自的檢測機(jī)構(gòu)的檢測結(jié)果來計(jì)算。
13.根據(jù)權(quán)利要求10 12中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，所 述第二位置的檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述切斷機(jī)構(gòu)的輸送方向下游側(cè)或上游側(cè)。
14.根據(jù)權(quán)利要求10 13中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，在 比所述第一位置更靠輸送上游側(cè)，具有在所述片材制品上設(shè)置所述位置特定信息的位置特 定信息形成機(jī)構(gòu)。
15.根據(jù)權(quán)利要求10 14中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，具 有所述實(shí)測輸送距離不在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的情況下，報(bào)知其意旨的報(bào)知機(jī) 構(gòu)。
16.根據(jù)權(quán)利要求10 15中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，所 述片材制品含有在所述粘合劑層和/或所述光學(xué)薄膜內(nèi)存在的缺陷，將其切斷為排除了該 缺陷的所述規(guī)定形狀的帶粘合劑光學(xué)薄膜片。
17.根據(jù)權(quán)利要求10 16中任一項(xiàng)所述的光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，其特征在于，還 具有在所述第一位置之前，將脫模膜從所述片材制品上進(jìn)行剝離的剝離機(jī)構(gòu)；在剝離了所述脫模膜后，進(jìn)行所述光學(xué)薄膜及所述粘合劑層的缺陷檢查的機(jī)構(gòu)；在所述缺陷檢查后，將脫模膜貼合于所述粘合劑層上的貼合機(jī)構(gòu)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光學(xué)顯示組件的制造方法及光學(xué)顯示組件的制造系統(tǒng)，在將光學(xué)薄膜貼合于光學(xué)顯示基板的情況下，能夠恰當(dāng)?shù)嘏懦腥毕莸墓鈱W(xué)薄膜，并且能夠確認(rèn)該排除的精度。在輸送片材制品的過程中，對將設(shè)于該片材制品的位置特定信息從輸送上游側(cè)的第一位置輸送到比該第一位置更靠輸送下游側(cè)的第二位置時(shí)的預(yù)測輸送距離、和通過分別在該第一位置及該第二位置使用檢測機(jī)構(gòu)檢出該位置特定信息所得到的從該第一位置到該第二位置間的實(shí)測輸送距離進(jìn)行比較，以所述實(shí)測輸送距離在所述預(yù)測輸送距離的規(guī)定范圍內(nèi)的方式，對所述片材制品的輸送處理進(jìn)行修正。
文檔編號G02F1/13GK101925944SQ200980102820
公開日2010年12月22日 申請日期2009年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月29日
發(fā)明者中園拓矢, 北田和生, 小鹽智, 由良友和 申請人:日東電工株式會社