Amoled顯示面板線缺陷的修復(fù)結(jié)構(gòu)及修復(fù)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)結(jié)構(gòu)及修復(fù)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Display，0LED)顯示面板具有自發(fā)光、驅(qū)動(dòng)電壓低、發(fā)光效率高、響應(yīng)時(shí)間短、清晰度與對(duì)比度高、近180°視角、使用溫度范圍寬，可實(shí)現(xiàn)柔性顯示與大面積全色顯示等諸多優(yōu)點(diǎn)，被業(yè)界公認(rèn)為是最有發(fā)展?jié)摿Φ娘@示面板。
[0003]OLED顯示面板按照驅(qū)動(dòng)方式可以分為無源矩陣型0LED(Passive Matrix OLED，PM0LED)和有源矩陣型0LED(Active Matrix 0LED，AM0LED)兩大類，即直接尋址和薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)矩陣尋址兩類。其中，AMOLED具有呈陣列式排布的像素，屬于主動(dòng)顯示類型，發(fā)光效能高。
[0004]AMOLED顯示面板在制造完成之后出廠之前，必須先經(jīng)過面板檢測(cè)(Cell Test,CT)的過程，以測(cè)試AMOLED顯示面板中用以控制各個(gè)像素的薄膜晶體管的運(yùn)行是否正常、已及向各個(gè)薄膜晶體管傳遞信號(hào)的掃描線、與數(shù)據(jù)線是否正常，因此，通常在AMOLED顯示面板的顯示區(qū)域之外設(shè)置面板檢測(cè)線路。
[0005]圖1為一種現(xiàn)有的AMOLED顯示面板檢測(cè)線路的示意圖，該現(xiàn)有的AMOLED顯示面板檢測(cè)線路包括多條信號(hào)線100’、與信號(hào)線100’一一對(duì)應(yīng)相連的多條信號(hào)扇出線200’、與信號(hào)線100’——對(duì)應(yīng)相連的多個(gè)測(cè)試TFT310’、與所有測(cè)試TFT 310 ’相連的一測(cè)試控制線320’、以及數(shù)條測(cè)試線330’。所述測(cè)試TFT 310’包括柵極、源極312’、有源層313’、及漏極314’，其中，所有的柵極由測(cè)試控制線320’充當(dāng)，所述源極312’、及漏極314’與信號(hào)線100’位于同一層，一漏極314’對(duì)應(yīng)與一信號(hào)線100’相連，所有的負(fù)責(zé)測(cè)試同一顏色像素的測(cè)試TFT 310 ’的源極312 ’與一測(cè)試線330 ’相連。該AMOLED顯示面板檢測(cè)線路開始工作時(shí)，測(cè)試控制線320’接收面板測(cè)試端子提供的測(cè)試控制信號(hào)開啟所有的測(cè)試TFT 310’，同時(shí)測(cè)試線330 ’接收面板測(cè)試端子提供的測(cè)試信號(hào)通過測(cè)試TFT 310 ’傳輸至對(duì)應(yīng)的信號(hào)線100’上，從而測(cè)試出顯示面板是否正常運(yùn)行。檢測(cè)結(jié)束后，面板測(cè)試端子停止提供測(cè)試控制信號(hào)及測(cè)試信號(hào)，測(cè)試控制線320’無信號(hào)接收使得測(cè)試TFT 310’關(guān)閉，顯示面板正常顯示。該現(xiàn)有的AMOLED顯示面板檢測(cè)線路占用了一定的布局空間，但僅作測(cè)試之用。
[0006]目前，AMOLED顯示面板的缺陷修復(fù)，特別是線缺陷修復(fù)相對(duì)困難，通常只能將亮線修復(fù)為暗線，這樣會(huì)影響AMOLED顯示面板的品質(zhì)，故需要設(shè)計(jì)修復(fù)線路以最大程度的提升良率?，F(xiàn)有的針對(duì)AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)線路往往需要在顯示面板內(nèi)額外增加修復(fù)總線、及修復(fù)線等，不僅占用了更多的布局空間，且缺陷信號(hào)線的信號(hào)需要返回控制IC進(jìn)行控制，對(duì)控制IC有額外的要求，不適用于小尺寸、高解析度的AMOLED顯示面板。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)結(jié)構(gòu)，能夠利用現(xiàn)有的AMOLED顯示面板檢測(cè)線路布局，既引入修復(fù)線路，又節(jié)省布局空間，且對(duì)控制IC沒有額外要求，尤其適用于小尺寸、高解析度的AMOLED顯示面板。
[0008]本發(fā)明的另一目的在于提供一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)方法，能夠節(jié)省面板內(nèi)的布局空間，尤其適用于對(duì)小尺寸、高解析度的AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)。
[0009]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明首先提供一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)結(jié)構(gòu)，包括:AMOLED顯示面板檢測(cè)線路、及直接嫁接在所述AMOLED顯示面板檢測(cè)線路上的修復(fù)線路；
[0010]所述AMOLED顯示面板檢測(cè)線路包括多條信號(hào)線、與信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)相連的多條信號(hào)扇出線、與信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)相連的多個(gè)測(cè)試TFT、與所有測(cè)試TFT相連的一測(cè)試控制線、及數(shù)條測(cè)試線;所述測(cè)試TFT包括柵極、源極、有源層、及漏極;所有測(cè)試TFT的柵極由所述測(cè)試控制線充當(dāng)，一測(cè)試TFT的漏極對(duì)應(yīng)與一信號(hào)線相連，一測(cè)試線對(duì)應(yīng)與部分測(cè)試TFT的源極相連；
[0011]所述修復(fù)線路包括多塊導(dǎo)電薄膜、及數(shù)條修復(fù)導(dǎo)線;所述導(dǎo)電薄膜的數(shù)量與測(cè)試TFT的數(shù)量對(duì)等，一導(dǎo)電薄膜對(duì)應(yīng)層疊覆蓋于一測(cè)試TFT上方并與該測(cè)試TFT絕緣;所述修復(fù)導(dǎo)線的數(shù)量與測(cè)試線的數(shù)量對(duì)等，一修復(fù)導(dǎo)線與所有的信號(hào)扇出線、及一對(duì)應(yīng)的測(cè)試線絕緣交叉。
[0012]所述信號(hào)線為顯示面板的數(shù)據(jù)線或掃描線。
[0013]所述測(cè)試TFT的源極、及漏極與信號(hào)線位于同一層。
[0014]所有的負(fù)責(zé)測(cè)試同一顏色像素的測(cè)試TFT的源極對(duì)應(yīng)與一測(cè)試線相連。
[0015]所述導(dǎo)電薄膜的材料為透明的ΙΤ0，所述修復(fù)導(dǎo)線的材料為導(dǎo)電金屬。
[0016]本發(fā)明還提供一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)方法，包括以下步驟:
[0017]步驟1、提供一 AMOLED顯示面板；
[0018]所述AMOLED顯示面板包括:AMOLED顯示面板檢測(cè)線路、及直接嫁接在所述AMOLED顯示面板檢測(cè)線路上的修復(fù)線路；
[0019]所述AMOLED顯示面板檢測(cè)線路包括多條信號(hào)線、與信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)相連的多條信號(hào)扇出線、與信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)相連的多個(gè)測(cè)試TFT、與所有測(cè)試TFT相連的一測(cè)試控制線、及數(shù)條測(cè)試線;所述測(cè)試TFT包括柵極、源極、有源層、及漏極;所有測(cè)試TFT的柵極由所述測(cè)試控制線充當(dāng)，一測(cè)試TFT的漏極對(duì)應(yīng)與一信號(hào)線相連，一測(cè)試線對(duì)應(yīng)與部分測(cè)試TFT的源極相連；
[0020]所述修復(fù)線路包括多塊導(dǎo)電薄膜、及數(shù)條修復(fù)導(dǎo)線;所述導(dǎo)電薄膜的數(shù)量與測(cè)試TFT的數(shù)量對(duì)等，一導(dǎo)電薄膜對(duì)應(yīng)層疊覆蓋于一測(cè)試TFT上方并與該測(cè)試TFT絕緣;所述修復(fù)導(dǎo)線的數(shù)量與測(cè)試線的數(shù)量對(duì)等，一修復(fù)導(dǎo)線與所有的信號(hào)扇出線、及一對(duì)應(yīng)的測(cè)試線絕緣交叉；
[0021]步驟2、當(dāng)某一信號(hào)線產(chǎn)生線缺陷，將該信號(hào)線位于缺陷點(diǎn)兩側(cè)的部分進(jìn)行激光切斷，該信號(hào)線原本與對(duì)應(yīng)的信號(hào)扇出線相連的部分繼續(xù)正常工作；
[0022]步驟3、將與該出現(xiàn)線缺陷的信號(hào)線對(duì)應(yīng)相連的測(cè)試TFT的源極、漏極分別和位于該測(cè)試TFT上方的導(dǎo)電薄膜進(jìn)行激光熔接，將與該測(cè)試TFT的源極相連的測(cè)試線和對(duì)應(yīng)與該測(cè)試線絕緣交叉的修復(fù)導(dǎo)線進(jìn)行激光熔接，將該修復(fù)導(dǎo)線和對(duì)應(yīng)相連出現(xiàn)線缺陷的信號(hào)線的信號(hào)扇出線的絕緣交叉點(diǎn)進(jìn)行激光熔接，使該信號(hào)線原本與對(duì)應(yīng)的測(cè)試TFT相連的部分繼續(xù)正常工作。
[0023]所述信號(hào)線為顯示面板的數(shù)據(jù)線或掃描線。
[0024]所述測(cè)試TFT的源極、及漏極與信號(hào)線位于同一層。
[0025]所有的負(fù)責(zé)測(cè)試同一顏色像素的測(cè)試TFT的源極對(duì)應(yīng)與一測(cè)試線相連。
[0026]所述導(dǎo)電薄膜的材料為透明的ΙΤ0，所述修復(fù)導(dǎo)線的材料為導(dǎo)電金屬。
[0027]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的AMOLED顯示面板線缺陷的修復(fù)結(jié)構(gòu)及修復(fù)方法，通過將修復(fù)線路中的導(dǎo)電薄膜對(duì)應(yīng)層疊覆蓋于AMOLED顯示面板檢測(cè)線路中的測(cè)試TFT上方并與測(cè)試TFT絕緣，將修復(fù)線路中的修復(fù)導(dǎo)線與AMOLED顯示面板檢測(cè)線路中所有的信號(hào)扇出線、及對(duì)應(yīng)的測(cè)試線絕緣交叉，實(shí)現(xiàn)了將修復(fù)線路直接嫁接在AMOLED顯示面板檢測(cè)線路上，能夠利用現(xiàn)有的AMOLED顯示面板檢測(cè)線路布局，既引入了修復(fù)線路具有修復(fù)功能，又節(jié)省布局空間，且對(duì)控制IC沒有額外要求，尤其適用于小尺寸、高解析度的AMOLED顯示面板的線缺陷修復(fù)。
【附圖說明】
[0028]為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，然而附圖