一種調(diào)整oled顯示器像素的方法及裝置的制造方法
【專利說明】一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法及裝置
[0001]本申請是2013年11月08日提出的發(fā)明名稱為“一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法及裝置”的中國發(fā)明專利申請201310553505.6的分案申請。
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0003]目前，由有機(jī)材料制備的0LED(0rganic Light-Emitting D1de，有機(jī)發(fā)光二極管)顯示器因自發(fā)光顯示的響應(yīng)速度快、視角寬，另可以被卷曲、折疊、或者作為可穿戴計(jì)算機(jī)的一部分，因此在顯示效果好的便攜產(chǎn)品和軍事等特殊領(lǐng)域有非常廣泛的應(yīng)用。
[0004]OLED的發(fā)光原理與普通無機(jī)發(fā)光二極管(LED)器件發(fā)光原理類似，即在兩個(gè)電極之間沉積非常薄的有機(jī)材料，對該有機(jī)發(fā)光材料通以直流電使其發(fā)光。OLED顯示器可以從技術(shù)路線、發(fā)光方向上分為兩類:PMOLED(Passive matrix Organic Light-EmittingD1de，無源矩陣有機(jī)發(fā)光二極體面板)0LED顯示器和AM0LED(Active Matrix OrganicLight-Emitting D1de，有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極體面板)0LED顯示器兩種，兩者的差別在于像素電路的驅(qū)動(dòng)方式，但是，無論哪種類型的OLED顯示器，在顯示時(shí)都至少形成紅色、藍(lán)色和綠色三個(gè)子像素。
[0005]OLED顯示器(特別是大尺寸OLED TV顯示器)，因量產(chǎn)設(shè)備、材料、量產(chǎn)工藝等不成熟的原因，良率較低，經(jīng)過全屏點(diǎn)亮、存儲(chǔ)、高溫、高濕以及高溫高濕等一系列老化工藝之后，許多顯不缺陷都將暴露出來，例如上下串、殼點(diǎn)和暗點(diǎn)等缺陷。上下串、殼點(diǎn)和暗點(diǎn)等缺陷可能是因?yàn)橛袡C(jī)功能層混入異物如particle(中文解釋:微粒)引起的。通常情況下，0LED行業(yè)一般采用不同的激光修復(fù)方法消除或修復(fù)部分缺陷，從而提高OLED顯示器的制程良率。即在異物部分或其周圍照射激光，切斷有異物引起的漏電流，消除該像素的顯示缺陷。但是，修復(fù)之后，在OLED顯示器上會(huì)留下許多不工作的黑點(diǎn)或暗點(diǎn)，暗點(diǎn)越多，全屏點(diǎn)亮?xí)r的缺陷越明顯，黑點(diǎn)或暗點(diǎn)多少將直接影響最終OLED顯示器的顯示品質(zhì)。
[0006]例如，OLED顯示器中若三個(gè)子像素有一個(gè)為亮點(diǎn)或暗點(diǎn)時(shí)，不僅會(huì)引起全屏點(diǎn)亮(即OLED顯示器上所有的像素進(jìn)入工作)時(shí)的一個(gè)明顯的顯示缺陷，而且在合成白光時(shí)，該子像素區(qū)域?qū)⒂忻黠@的顏色偏差，從而使得OLED顯示器的實(shí)際顯示效果變差。若OLED顯示器內(nèi)的亮點(diǎn)或暗點(diǎn)太多的話，將直接影響OLED顯示器的顯示品質(zhì)。
[0007]現(xiàn)有技術(shù)中并沒有關(guān)于“如何減弱/或降低激光修復(fù)后的暗點(diǎn)顯示缺陷”的技術(shù)方案。
[0008]因此，現(xiàn)有技術(shù)的技術(shù)問題是:現(xiàn)有技術(shù)中不能夠減弱/或降低激光修復(fù)后的暗點(diǎn)顯示缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明提供一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法及裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不能夠減弱/或降低激光修復(fù)后的暗點(diǎn)顯示缺陷的技術(shù)問題。
[0010]—方面，本發(fā)明通過本申請的一個(gè)實(shí)施例，提供如下技術(shù)方案:
一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法，包括:檢測所述OLED顯示器每個(gè)像素點(diǎn)的電流值;根據(jù)所述檢測到的電流值，確定所述OLED顯示器中的暗點(diǎn)像素的顯示位置;從像素圖案集中確定所述暗點(diǎn)像素的相關(guān)像素圖案，其中，所述像素圖案集中每一個(gè)像素圖案的顯示位置與所述暗點(diǎn)像素的顯示位置之間的距離滿足預(yù)定距離;將構(gòu)成所述相關(guān)像素圖案的所述OLED顯示器中的至少一個(gè)相關(guān)像素的顯示灰度調(diào)高，以補(bǔ)償所述暗點(diǎn)像素的灰度。
[0011]另一方面，本發(fā)明通過本申請的另一個(gè)實(shí)施例提供:
一種調(diào)整OLED顯示器像素的裝置，包括:檢測單元，用于檢測所述OLED顯示器每個(gè)像素點(diǎn)的電流值;第一確定單元，用于根據(jù)所述檢測到的電流值，確定所述OLED顯示器中的暗點(diǎn)像素的顯示位置;第二確定單元，用于從像素圖案集中確定所述暗點(diǎn)像素的相關(guān)像素圖案，其中，所述像素圖案集中每一個(gè)像素圖案的顯示位置，與所述暗點(diǎn)像素的顯示位置之間的距離滿足預(yù)定距離；調(diào)整單元，用于將構(gòu)成所述相關(guān)像素圖案的所述OLED顯示器中的至少一個(gè)相關(guān)像素的顯示灰度調(diào)高，以補(bǔ)償所述暗點(diǎn)像素的灰度。
[0012]上述技術(shù)方案中的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn):
在本技術(shù)方案中，當(dāng)有暗點(diǎn)像素存在時(shí)，就從像素圖案集中確定出和暗點(diǎn)像素相關(guān)的相關(guān)像素圖案，然后將構(gòu)成相關(guān)像素圖案的OLED顯示器中的至少一個(gè)相關(guān)像素的顯示灰度調(diào)高。這樣做的好處是，能夠使用相關(guān)像素圖案做灰度補(bǔ)償，以減弱/或降低暗點(diǎn)像素本身帶來的不良影響。
【附圖說明】
[0013]圖1為本申請實(shí)施例中調(diào)整像素的方法過程圖；
圖2為本申請實(shí)施例中OLED顯示器亮點(diǎn)和暗點(diǎn)缺陷的電流變化示意圖；
圖3A-圖3F為本申請實(shí)施例中相關(guān)像素圖案的示意圖；
圖4為本申請實(shí)施例中暗點(diǎn)像素和相關(guān)像素圖案的關(guān)系不意圖；
圖5為本申請實(shí)施例中調(diào)整像素的裝置示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不能夠減弱/或降低激光修復(fù)后的暗點(diǎn)顯示缺陷的技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提出了一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法及裝置，下面通過附圖以及具體實(shí)施例對本發(fā)明技術(shù)方案做詳細(xì)的說明，應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明實(shí)施例和實(shí)施例中的具體特征是對本發(fā)明技術(shù)方案的詳細(xì)的說明，而不是對本發(fā)明技術(shù)方案的限定，在不沖突的情況下，本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的技術(shù)特征可以相互組合。
[0015]實(shí)施例一:
在本申請實(shí)施例中，提出了一種調(diào)整OLED顯示器像素的方法。
[0016]下面請參看圖1，具體的實(shí)施過程如下:
SlOl，檢測OLED顯示器每個(gè)像素點(diǎn)的電流值。
[0017]S102，根據(jù)檢測到的電流值，確定OLED顯示器中的暗點(diǎn)像素的顯示位置。
[0018]S103，從像素圖案集中確定暗點(diǎn)像素的相關(guān)像素圖案。
[0019]其中，像素圖案集中每一個(gè)像素圖案的顯示位置，與暗點(diǎn)像素的顯示位置之間的距離滿足預(yù)定距離。
[0020]S104，將構(gòu)成相關(guān)像素圖案的OLED顯示器中的至少一個(gè)相關(guān)像素的顯示灰度調(diào)高，以補(bǔ)償暗點(diǎn)像素的灰度。
[0021 ]下面介紹具體的實(shí)施過程。
[0022]本發(fā)明實(shí)施例中的方法適用于OLED顯示器。雖然OLED顯示器做了激光修復(fù)，在OLED顯示器上還是會(huì)留下許多不工作的黑點(diǎn)或暗點(diǎn)，因此，在OLED顯示器進(jìn)行激光修復(fù)后，檢測OLED顯示器每個(gè)像素點(diǎn)的電流值。
[0023]因?yàn)樵贠LED顯示器全屏工作時(shí)，顯示亮度較為均勻，通過OLED顯示器上每個(gè)像素的電流都比較接近。由此，便可以通過“檢測OLED顯示器中每個(gè)像素點(diǎn)的電流值是否發(fā)生較大的變化”來檢測像素該像素是否具有缺陷。
[0024]而OLED顯示器的缺陷主要有兩方面，即亮點(diǎn)缺陷和暗點(diǎn)缺陷。亮點(diǎn)缺陷是由OLED顯不器中存在殼點(diǎn)像素引起的，另外若有連續(xù)多個(gè)殼點(diǎn)像素，則會(huì)構(gòu)成殼線;暗點(diǎn)缺陷是由OLED顯示器中存在暗點(diǎn)像素引起的，若有連續(xù)多個(gè)暗點(diǎn)像素，則會(huì)構(gòu)成暗線。
[0025]另一方面，由于OLED顯示器中每個(gè)像素由紅色子像素、藍(lán)色子像素、綠色子像素三者構(gòu)成;或者由紅色子像素、藍(lán)色子像素、綠色子像素、白色子像素四者構(gòu)成。因此，亮點(diǎn)缺陷或暗點(diǎn)缺陷在本質(zhì)上表現(xiàn)為:構(gòu)成亮點(diǎn)像素的子像素缺陷或暗點(diǎn)像素的子像素缺陷。以暗點(diǎn)缺陷為例，若構(gòu)成OLED顯示