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顯示面板及其制作方法、顯示設備和顯示測試方法與流程

文檔序號:11097060閱讀:316來源:國知局
顯示面板及其制作方法、顯示設備和顯示測試方法與制造工藝

本發(fā)明實施例涉及顯示技術(shù)領域,尤其涉及一種顯示面板及其制作方法、顯示設備和顯示測試方法。



背景技術(shù):

在顯示設備制造的過程中,需要對顯示面板進行顯示測試來檢測顯示面板是否正常顯示。

圖1是現(xiàn)有的一種顯示面板結(jié)構(gòu)示意圖,參見圖1,該顯示面板上設置有檢測焊盤VS1、VS2、VS3、VG1和VG2。在測試過程中,將檢測設備的探針壓接到檢測焊盤上,向檢測焊盤施加驅(qū)動信號,來檢測顯示面板是否正常顯示。每個檢測焊盤對應多條信號線,檢測焊盤與其對應的信號線電連接。例如檢測焊盤VS1、VS2、VS3分別與多條數(shù)據(jù)信號線電連接,檢測焊盤VG1和VG2分別與多條掃描信號線電連接。由于每個檢測焊盤與多條信號線連接,并在顯示測試過程中向多條信號線提供驅(qū)動信號,每個檢測焊盤的負載比較大,造成對信號線的驅(qū)動能力不足,出現(xiàn)漏檢的問題,例如無法檢測出顯示面板的亮點和mura。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供一種顯示面板及其制作方法、顯示設備和顯示測試方法,以解決現(xiàn)有顯示面板在顯示測試時,對信號線的驅(qū)動能力不足而出現(xiàn)漏檢的問題。

第一方面,本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板,該顯示面板包括顯示區(qū)和周邊電路區(qū),所述周邊電路區(qū)設置有多個信號檢測接口,所述顯示區(qū)上設置有多條信號走線;

所述信號檢測接口與所述信號走線一一對應,所述信號檢測接口與其對應的所述信號走線電連接。

第二方面,本發(fā)明實施例提供了另一種顯示面板,該顯示面板包括顯示區(qū)和周邊電路區(qū),所述顯示區(qū)設置有多條信號走線;所述信號走線的一端由顯示區(qū)延伸至所述顯示面板的邊緣,并與所述顯示面板的邊緣齊平;

所述信號走線用于在未切割顯示面板之前電連接信號檢測接口,其中,所述信號檢測接口與所述信號走線一一對應。

第三方面,本發(fā)明實施例還提供了一種顯示設備,該顯示設備包括本發(fā)明任意實施例提供的顯示面板。

第四方面,本發(fā)明實施例還提供了一種顯示測試方法,可用于對本發(fā)明任意實施例提供的顯示面板進行顯示測試,該顯示測試方法包括:

所述信號檢測接口輸入測試信號,進行顯示測試;

測試完成之后,切斷所述信號走線與所述信號檢測接口的連接或者切割所述信號檢測接口所在區(qū)域。

第五方面,本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板的制作方法,該顯示面板由切斷第一方面所述的顯示面板中所述信號走線與所述信號檢測接口的連接形成;或者由切割第一方面所述的顯示面板中的所述信號檢測接口所在區(qū)域形成。

本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案,由于每個信號檢測接口與其對應的信號走線電連接,即每一個信號檢測接口對應一條信號走線,不會像現(xiàn)有技術(shù)多條信號走線共用一個信號檢測接口,在顯示測試時,出現(xiàn)對信號走線驅(qū)動能力不足,造成漏檢的問題。通過本發(fā)明實施例提供的顯示面板上的信號檢測接口,可精確地檢測出顯示面板是否存在問題,例如檢測出顯示面板的亮點和mura,提高對顯示面板顯示測試的可靠性。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有的一種顯示面板結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2A是本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2B是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2C是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2D是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2E是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖4是本發(fā)明實施例提供的一種顯示設備的示意圖;

圖5是本發(fā)明實施例提供的一種顯示測試方法的流程示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明。可以理解的是,此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發(fā)明,而非對本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。

圖2A是本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖2A,該顯示面板包括顯示區(qū)11和周邊電路區(qū)12,周邊電路區(qū)12設置有多個信號檢測接口13,顯示區(qū)設置有多條信號走線14;信號檢測接口13與信號走線14一一對應,信號檢測接口13與其對應的信號走線14電連接。

在本實施例中,在對顯示面板進行顯示測試階段,將測試設備的探針壓接信號檢測接口13,測試設備施加的測試信號通過探針和信號檢測接口13傳輸至信號走線14,實現(xiàn)對顯示面板的顯示測試。由于每個信號檢測接口13與其對應的信號走線14電連接,即每一個信號檢測接口13對應一條信號走線14,每個信號檢測接口只向一條信號走線提供驅(qū)動信號。不會像現(xiàn)有技術(shù)多條信號走線共用一個信號檢測接口,在顯示測試時,出現(xiàn)對信號走線驅(qū)動能力不足,造成漏檢的問題。通過本發(fā)明實施例提供的顯示面板上的信號檢測接口13,可精確地檢測出顯示面板存在的問題,例如檢測出顯示面板的亮點和mura,提高對顯示面板顯示測試的可靠性。

進一步的,圖2B是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖,參見圖2B,該顯示面板包括顯示區(qū)11和周邊電路區(qū)12,周邊電路區(qū)12設置有多個信號檢測接口,顯示區(qū)上設置有多條信號走線。信號檢測接口包括多個數(shù)據(jù)信號檢測接口131和多個掃描信號檢測接口132。信號走線包括數(shù)據(jù)信號線141和掃描信號線142。每一數(shù)據(jù)信號檢測接口131與一對應的數(shù)據(jù)信號線141電連接;每一掃描信號檢測接口132與一對應的掃描信號線142電連接,多個數(shù)據(jù)信號檢測接口131沿第一方向X排布,多個掃描信號檢測接口132沿第二方向Y排布,第一方向X和第二方向Y垂直;第一方向X與掃描信號線142平行,第二方向Y與數(shù)據(jù)信號線141平行。

在本實施例中,相鄰兩個信號檢測接口之間的間距大于或者等于18um。例如,相鄰兩個數(shù)據(jù)信號檢測接口131之間的距離的d1大于或者等于18um,相鄰兩個掃描信號檢測接口132之間的距離d2大于或者等于18um?,F(xiàn)有技術(shù)中,在對顯示面板進行顯示測試時,例如對COG類型的顯示面板進行顯示測試時,通過將測試設備探針壓接到與數(shù)據(jù)信號線或者掃描信號線電連接的驅(qū)動芯片的接口焊盤上,向驅(qū)動芯片的接口焊盤施加相應測試信號對顯示面板進行測試,但是由于驅(qū)動芯片的接口焊盤間距不夠大,不能滿足測試設備探針壓接的條件,無法對顯示面板進行顯示測試,而本發(fā)明實施例提供的顯示面板的信號檢測接口可以滿足這一條件,實現(xiàn)對顯示面板的顯示測試。

圖2C是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖2C,本發(fā)明實施例提供的顯示面板,在圖2A所示顯示面板的基礎上,還包括至少一個開關(guān)模塊15以及至少一個開關(guān)信號接口16,每一信號檢測接口13通過開關(guān)模塊15與對應的信號走線14電連接。其中,開關(guān)模塊15的輸出端與每一信號走線14電連接,開關(guān)模塊15的輸入端與每一信號檢測接口13電連接,開關(guān)模塊15的控制端與至少一開關(guān)信號接口16連接。開關(guān)信號接口16與開關(guān)模塊15的控制端連接,向開關(guān)信號接口16施加控制信號,可控制開關(guān)模塊15導通和關(guān)閉。例如在對顯示面板顯示測試過程中,向開關(guān)信號接口16施加第一電平信號,控制開關(guān)模塊15導通,開關(guān)模塊15導通后,信號檢測接口13通過導通的開關(guān)模塊15與對應的信號走線14實現(xiàn)電連接??赏ㄟ^測試設備探針向信號檢測接口13施加測試信號,信號檢測接口13上的測試信號傳輸至信號走線14上,實現(xiàn)對顯示面板的測試。在顯示面板測試完成后,可以向開關(guān)信號接口13施加第二電平信號,控制開關(guān)模塊15關(guān)閉,信號檢測接口13與對應的信號走線14實現(xiàn)斷開。在顯示面板正常過程中,信號走線14可接收內(nèi)部驅(qū)動芯片的驅(qū)動信號進行驅(qū)動顯示。由于在對顯示面板完成顯示測試后,可以切斷信號檢測接口13與信號走線14的連接,例如激光切斷信號檢測接口13與信號走線14的連接。在切割信號走線14時,容易在切割處造成信號走線之間短路。使用開關(guān)模塊15后,開關(guān)模塊15將每條信號走線14分成兩段,分別為從切割處延伸到信號檢測接口13的一段信號走線和位于顯示區(qū)的一段信號走線,開關(guān)模塊15在正常顯示為關(guān)閉狀態(tài),將從切割處延伸到信號檢測接口13的一段信號走線與位于顯示區(qū)的另一段信號走線隔離,即使切割處的信號走線短路,也不會對顯示區(qū)的信號走線產(chǎn)生影響?;蛘咴趯︼@示面板完成顯示測試后,在將信號檢測接口13所在區(qū)域切割掉,信號檢測接口13也隨之切割掉,與信號檢測接口13電連接的信號走線會延伸至切割面處,也即顯示面板的邊緣,在其他物體接觸顯示面板的邊緣時,容易造成對信號走線上信號的干擾。使用開關(guān)模塊15后,開關(guān)模塊15將信號走線分成兩段,一段信號走線從開關(guān)模塊延伸至顯示面板邊緣,另一段從開關(guān)模塊延伸至顯示區(qū),開關(guān)模塊15將這兩段信號走線隔離,解決對信號走線上信號的干擾問題。

圖2D是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖2D,該顯示面板包括顯示區(qū)11和周邊電路區(qū)12,周邊電路區(qū)12設置有多個信號檢測接口,顯示區(qū)上設置有多條信號走線。信號檢測接口與信號走線一一對應,信號檢測接口與其對應的信號走線電連接,信號檢測接口包括多個數(shù)據(jù)信號檢測接口131和多個掃描信號檢測接口132。信號線包括數(shù)據(jù)信號線141和掃描信號線142。該顯示面板還包括第一開關(guān)模塊151和第二開關(guān)模塊152,以及第一開關(guān)信號接口161和第二開關(guān)信號接口162。每一數(shù)據(jù)信號檢測接口131通過第一開關(guān)模塊151與對應的數(shù)據(jù)信號線141電連接,每一掃描信號檢測接口132通過第二開關(guān)模塊152與對應的掃描信號線142電連接。其中,第一開關(guān)模塊151的輸出端與每一數(shù)據(jù)信號線141電連接,第一開關(guān)模塊151的輸入端與每一數(shù)據(jù)信號檢測接口131電連接,第一開關(guān)模塊151的控制端與第一開關(guān)信號接口161連接;第二開關(guān)模塊152的輸出端與每一掃描信號線142電連接,第二開關(guān)模塊152的輸入端與每一掃描信號檢測接口132電連接,第二開關(guān)模塊152的控制端與第二開關(guān)信號接口162連接。

進一步的,參見圖2E,開關(guān)模塊包括多個薄膜晶體管18,每一信號走線與對應的信號檢測接口之間設置一薄膜晶體管18。薄膜晶體管18的柵極為開關(guān)模塊的控制端,薄膜晶體管的源極和漏極中的一個為開關(guān)模塊的輸入端,另一個為開關(guān)模塊的輸出端。

繼續(xù)參見圖2D,本發(fā)明實施例例提供的顯示面板,還包括位于周邊電路區(qū)12的多個第一控制芯片接口171和柵極驅(qū)動電路172。數(shù)據(jù)信號線141的一端與對應的數(shù)據(jù)信號檢測接口131電連接,數(shù)據(jù)信號線141的另一端與對應的第一控制芯片接口171電連接(圖中未示出具體的連接關(guān)系),掃描信號線142的一端與對應的掃描信號檢測接口132電連接,掃描信號線142的另一端與柵極驅(qū)動電路172電連接(圖中未示出具體的連接關(guān)系)。柵極驅(qū)動電路172用于為掃描信號線142提供柵極驅(qū)動信號,綁定于第一控制芯片接口171上的控制芯片用于為數(shù)據(jù)信號線141提供顯示驅(qū)動信號。其中,柵極驅(qū)動電路172位于周邊電路區(qū)12沿第一方向X的一端,多個掃描信號檢測接口132位于周邊電路區(qū)12沿第一方向X的另一端。多個第一控制芯片接口171位于周邊電路區(qū)12沿第二方向Y的一端,多個數(shù)據(jù)信號檢測接口131位于周邊電路區(qū)12沿第二方向Y的另一端。

在本發(fā)明實施例的另一種實施方式中,可將柵極驅(qū)動電路替換為控制芯片,由控制芯片向掃描信號線提供柵極驅(qū)動信號。即本發(fā)明實施例提供的顯示面板還包括位于周邊電路區(qū)的多個第二控制芯片接口和多個第三控制芯片接口。其中,數(shù)據(jù)信號線的一端與對應的數(shù)據(jù)信號檢測接口電連接,數(shù)據(jù)信號線的另一端與對應的第二控制芯片接口電連接。掃描信號線的一端與對應的掃描信號檢測接口電連接,掃描信號線的另一端與第三控制芯片接口電連接。其中,多個第二控制芯片接口位于周邊電路區(qū)沿第二方向Y的一端,多個數(shù)據(jù)信號檢測接口位于周邊電路區(qū)沿第二方向Y的另一端;多個掃描信號檢測接口位于周邊電路區(qū)沿第一方向X的另一端,多個第三控制芯片接口位于周邊電路區(qū)沿第一方向X的一端。

需要說明的是,第一控制芯片接口、第二控制信號接口和第三控制信號接口用于綁定控制芯片,正常顯示時,綁定于第一控制芯片接口或者第二控制芯片接口的控制芯片用于向數(shù)據(jù)信號線提供顯示驅(qū)動信號,綁定于第三控制芯片接口的控制芯片用于向掃描信號線提供柵極驅(qū)動信號。

一般在完成顯示面板測試之后,會切斷信號檢測接口與信號走線的連接,例如通過激光切斷信號檢測接口與信號走線的連接,或者切掉信號檢測接口所在顯示面板區(qū)域,將信號檢測接口從顯示面板切割掉。數(shù)據(jù)信號檢測接口位于顯示面板第一控制芯片接口的對側(cè),掃描信號檢測接口位于顯示面板柵極驅(qū)動電路的對側(cè),或者數(shù)據(jù)信號檢測接口位于顯示面板第二控制芯片接口的對側(cè),掃描信號檢測接口位于顯示面板第三控制芯片接口的對側(cè)。在對顯示面板進行顯示測試之后,方便切割數(shù)據(jù)信號檢測接口和掃描信號檢測接口的位置區(qū)域。

圖3是本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖,該顯示面板可由上述任意實施例提供的顯示面板切割形成。例如,參見圖2D,S1和S2是切割線,沿切割線對顯示面板進行切割形成如圖3所示的顯示面板,該顯示面板包括顯示區(qū)11和周邊電路區(qū)12,顯示區(qū)設置有多條信號走線,例如多條數(shù)據(jù)信號線141和多條掃描信號線142;信號走線的一端由顯示區(qū)延伸至顯示面板的邊緣,并與顯示面板的邊緣齊平;信號走線用于在未切割顯示面板之前電連接信號檢測接口,其中,信號檢測接口與信號走線一一對應。

在本發(fā)明實施例的其他實施方式中,可以只是切斷圖2A-2E所示的顯示面板中信號走線與信號檢測接口的連接,例如通過激光切割切斷信號走線和信號檢測接口的連接。經(jīng)激光切割切斷信號走線和信號檢測接口的連接之后,在顯示面板上還保留有信號檢測接口。

繼續(xù)參見圖3,該顯示面板還包括至少一個開關(guān)模塊以及至少一個開關(guān)信號接口。圖中示例性地示出了開關(guān)模塊151和開關(guān)模塊152,以及開關(guān)信號接口161和開關(guān)信號接口162。每一開關(guān)模塊串聯(lián)于一信號走線中,其中,信號走線包括第一段走線和第二段走線,開關(guān)模塊位于第一段走線和第二段走線之間,第一段走線的一端與開關(guān)模塊的輸出端電連接,第二段走線的一端與開關(guān)模塊的輸入端電連接,第二段走線的另一端延伸至顯示面板的邊緣;開關(guān)模塊的控制端與至少一開關(guān)信號接口連接。

可選的,開關(guān)模塊包括薄膜晶體管,薄膜晶體管的柵極為開關(guān)模塊的控制端,薄膜晶體管的源極和漏極中的一個為開關(guān)模塊的輸入端,另一個為開關(guān)模塊的輸出端。

可選的,繼續(xù)參見圖3,該顯示面板還包括位于周邊電路區(qū)12的多個第一控制芯片接口171和柵極驅(qū)動電路172;信號走線包括數(shù)據(jù)信號線141和掃描信號線142,掃描信號線142與第一方向X平行,數(shù)據(jù)信號線141與第二方向Y平行,第一方向X與第二方向Y垂直,數(shù)據(jù)信號線141未與顯示面板邊緣齊平的一端與第一控制芯片接口171電連接,掃描信號線142未與顯示面板邊緣齊平的一端與柵極驅(qū)動電路172電連接。

可選的,繼續(xù)參見圖3,本發(fā)明實施例提供的顯示面板,還包括位于周邊電路區(qū)的多個第二控制芯片接口171和多個第三控制芯片接口172,信號走線包括數(shù)據(jù)信號線141和掃描信號線142,掃描信號線142與第一方向X平行,數(shù)據(jù)信號線141與第二方向Y平行,第一方向X與第二方向Y垂直,數(shù)據(jù)信號線141未與顯示面板邊緣齊平的一端與對應的第二控制芯片接口171電連接,掃描信號線142未與顯示面板邊緣齊平的一端與對應的第三控制芯片接口172電連接。

本發(fā)明實施例還提供了一種顯示設備,參見圖4,該顯示設備41包括本發(fā)明任意實施例提供的顯示面板42。

圖5是本發(fā)明實施例提供的一種顯示測試方法的流程示意圖。參見圖5,該顯示測試方法可用于對本發(fā)明任意實施例提供的顯示面板進行顯示測試,該方法包括:

S510、信號檢測接口輸入測試信號,進行顯示測試。

例如,將測試設備的探針壓接信號檢測接口,信號檢測接口輸入探針傳輸?shù)臏y試信號。然后,測試信號傳輸至與信號檢測接口對應連接的信號走線,實現(xiàn)對顯示面板的顯示測試。

S520、測試完成之后,切斷信號走線與信號檢測接口的連接或者切割信號檢測接口所在區(qū)域。

例如,完成對顯示面板的顯示測試之后,通過激光切割切斷信號走線與信號檢測接口的連接,或者切割信號檢測接口所在區(qū)域,信號檢測接口也相應被切割掉。

進一步的,本發(fā)明實施例還提供了另一種顯示測試方法,該方法可用于對圖2C或者圖2D所示的顯示面板進行顯示測試。該方法包括:

在顯示測試階段,開關(guān)信號接口輸入第一控制信號,開關(guān)模塊導通。

例如,將測試設備的探針壓接開關(guān)信號接口,向開關(guān)信號接口施加第一控制信號,開關(guān)模塊導通。

信號檢測接口輸入測試信號,進行顯示測試。

測試完成之后,在組成模組正常顯示階段,開關(guān)信號接口輸入第二控制信號,開關(guān)模塊關(guān)閉。

切斷信號走線與信號檢測接口的連接或者切割信號檢測接口所在區(qū)域。

在組成模組正常顯示階段,可通過顯示面板的控制芯片向開關(guān)信號接口輸入第二控制信號,控制開關(guān)模塊關(guān)閉,控制芯片向信號走線輸出驅(qū)動顯示的信號。

本發(fā)明實施例還提供的了一種顯示面板的制作方法,該顯示面板可由切斷圖2A-2E所示的顯示面板中信號走線與信號檢測接口的連接形成;或者由切割圖2A-2E所示的顯示面板中的信號檢測接口所在區(qū)域形成。

注意,上述僅為本發(fā)明的較佳實施例及所運用技術(shù)原理。本領域技術(shù)人員會理解,本發(fā)明不限于這里所述的特定實施例,對本領域技術(shù)人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本發(fā)明的保護范圍。因此,雖然通過以上實施例對本發(fā)明進行了較為詳細的說明,但是本發(fā)明不僅僅限于以上實施例,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下,還可以包括更多其他等效實施例,而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。

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