專利名稱:一種通用的液晶模塊測試板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實用新型涉及電性能測試技術(shù),特別是指一種通用的液晶模塊測試板。
背景技術(shù):
目前,液晶顯示模塊基本都是客戶定制的,接口方式包括有柔性印刷電路板(FPCFlexible Print Circuit)、柔性扁平電纜(FFC :Flexible Flat Cable)、薄膜封裝(TCP :Tape Carrier Package)、斑馬紙(H. S :Heat Seal)等,與整機的主板進行連接。使用這些接口方式的液晶顯示模塊,每種方式引出的電極間距、數(shù)量和定義都不相同?,F(xiàn)有技術(shù)在對液晶模塊進行測試時,為了實現(xiàn)這些種類的接口和單片機的通訊連接,需要針對每種產(chǎn)品都設(shè)計專用的測試印刷電路板(PCB, Printed Circuit Board)板。這種專用測試PCB板有兩個缺點一是針對每種接口需要重新設(shè)計和加工測試用PCB板,要耗費較長的設(shè)計和采購周期;二是制作成的測試用PCB板品種很多不便管理。
實用新型內(nèi)容有鑒于此,本實用新型的目的在于提出一種既能夠提高測試效率,又便于管理的通用液晶模塊測試板?;谏鲜瞿康谋緦嵱眯滦吞峁┑耐ㄓ玫囊壕K測試板,該液晶模塊測試板包括用于與液晶顯示模塊接口連接的通用接口、過渡區(qū)域、用于與測試設(shè)備連接的測試設(shè)備接口 ;所述過渡區(qū)域的PCB布線成上下兩層,一層橫向走線、另一層縱向走線,上層走線和下層走線之間不連接,在所述液晶模塊測試板上設(shè)有多個過孔,每條下層走線通過所述過孔導(dǎo)通至該液晶模塊測試板的上表面;所述通用接口的每個引腳與所述過渡區(qū)域的其中一層走線連接,所述測試設(shè)備接口的每個引腳與所述過渡區(qū)域的另一層走線連接。從上面所述可以看出,本實用新型提供的通用的液晶模塊測試板,通過通用接口的設(shè)計可以適用于多種液晶模塊的接口類型;通過在過渡區(qū)設(shè)計的雙層布線和過孔,使液晶模塊測試板設(shè)計和加工變得極為簡單和方便,有效降低了測試用PCB板制作的復(fù)雜度,縮短了設(shè)計和采購周期,提高了測試效率。同時,由于一塊測試板就可以滿足多種不同的液晶模塊測試要求,避免了現(xiàn)有技術(shù)多種測試用PCB板種類很多管理不便的麻煩。
圖I為本實用新型實施例的整個通用測試板示意圖;圖2為本實用新型實施例的與液晶顯示模塊接口連接的各種電極間距接口示意圖圖3為本實用新型實施例過渡區(qū)域的平面坐標系拓撲結(jié)構(gòu)示意圖;圖4為本實用新型實施例的過渡區(qū)域局部示意圖;[0013]圖5為本實用新型中過渡區(qū)域的兩種電連接實施例的示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合具體實施例,并參照附圖,對本實用新型進一步詳細說明。作為本實用新型的一個實施例,其通用的液晶模塊測試板的結(jié)構(gòu)參見圖I所示,主要包括用于與液晶顯示模塊接口連接的通用接口 I、過渡區(qū)域3、用于與測試設(shè)備連接的測試設(shè)備接口 5 ;其中所述過渡區(qū)域3的PCB布線成上下兩層,一層橫向走線、另一層縱向走線,上層走線和下層走線之間不連接,在所述液晶模塊測試板上設(shè)有多個過孔,每條下層走線通過所述過孔導(dǎo)通至該液晶模塊測試板的上表面;所述通用接口 I的每個引腳與所述過渡區(qū)域3的其中一層走線連接,所述測試設(shè)備接口 5的每個引腳與所述過渡區(qū)域3的另一層走線連接。這樣在所述過渡區(qū)域3中,利用所述過孔,可以借助各種電連接方式,將任意的上層與下層走線導(dǎo)通。在圖I所示的實施例中,通用的液晶模塊測試板為PCB板,所述通用接口 I、過渡區(qū)域3以及測試設(shè)備接口 5共同設(shè)置在一塊PCB板上。所述通用接口 I和過渡區(qū)域3的走線在上層,通過PCB布線2連接,測試設(shè)備接口 5為與測試用的單片機連接的區(qū)域,測試設(shè)備接口 5和過渡區(qū)域3的走線在下層,通過PCB布線連接。因為過渡區(qū)域3的上層和下層走線是不連接的,因此通過電連接可以實現(xiàn)所述通用接口 I和測試設(shè)備接口 5之間電極的任意組合,實現(xiàn)通用的目的。當然,以上只是一個實施例,例如也可以只將所述過渡區(qū)域3設(shè)置在一塊PCB板上,而將通用接口 I和測試設(shè)備接口 5中的至少一個設(shè)置在該PCB板之外,并通過導(dǎo)線與該PCB板連接。作為一個實施例,所述通用接口 I可以由多組不同的接口組成,每組接口與一種電極間距的液晶顯示模塊接口匹配。具體可參見圖2所示與液晶顯示模塊接口連接區(qū)域,即通用接口 I設(shè)計為各種電極間距組合,可以測試多種電極間距的模塊,從而適于目前常見的液晶顯示模塊接口,如接口電極間距為O. 4mm、0. 5mm、0. 8mm等液晶模塊接口。在圖2中,對應(yīng)不同電極間距接口的各組接口的電極相互之間連通,(結(jié)合圖I所示)從而使每組電極之間通過PCB布線2與過渡區(qū)域3連接。作為一個實施例,所述過渡區(qū)域3的原理示意圖參見圖3所示。在圖3中X軸代表與測試設(shè)備連接的接口,Y軸代表與液晶顯示模塊連接的接口。利用PCB的上下層走線,將與各引腳連接的走線在PCB板上布設(shè)為網(wǎng)格狀,上層橫向走線與Y軸代表的液晶檢測模塊接口引腳連接;下層縱向走線與X軸代表的測試設(shè)備接口引腳連接。為了實現(xiàn)上下層走線在需要的時候?qū)?,可以在該液晶模塊測試板的上表面,所述上層走線在與每個下層走線的交叉點位置都設(shè)置有焊盤,在交叉點的旁邊設(shè)置有下層走線的焊盤并通過過孔與對應(yīng)的下層走線導(dǎo)通。這樣在需要的時候?qū)⑸蠈幼呔€的焊盤與下層走線的焊盤通過錫焊焊接在一起就可以了。[0025]圖4為本實用新型一個實施例中過渡區(qū)域3的局部示意圖。其中的橫向走線位于PCB板上層,縱向走線位于PCB板下層,上層和下層交叉但沒有電連接。上層走線在交叉點處留出焊盤,如圖中37. . . 39,下層走線在交叉點附件留出有過孔的焊盤,如圖中t4. . . t9,上下兩層走線的焊盤在同一層上。這樣通過焊錫焊接可以使經(jīng)過該過孔位置的上層與下層走線導(dǎo)通。當然,以上布線方式僅為舉例,還可在上層縱向走線,在下層橫向走線;上層的走線與所述測試設(shè)備接口連接,下層的走線與液晶顯示模塊的通用接口連接。另外,所述過孔位置除了上述實施例的焊接方式以外,還可以采用其他的電連接方式。參見圖5所示,為過渡區(qū)域3的電連接的兩種實施方式舉例。上面的例子為利用焊錫焊接預(yù)留的焊盤來實現(xiàn)電連接。下面的例子為在液晶模塊測試板的上表面,所述上層走線在與每個下層走線的交叉點位置都設(shè)置有觸點,在交叉點的旁邊設(shè)置有導(dǎo)通到對應(yīng)的下層走線的過孔。這樣,所述過孔及觸點之間通過插入O歐的電阻,可以使該交叉點位置的上層與下層走線導(dǎo)通。另外,該實施方式可以不必在液晶模塊測試板的上表面為下層走線設(shè)置焊盤或者觸點,而是在過孔內(nèi)側(cè)鍍錫并與下層導(dǎo)線電導(dǎo)通。這樣將O歐姆電阻的引腳插入過孔,并將另一引腳與上層導(dǎo)線的觸點相接,即可實現(xiàn)上層導(dǎo)線與下層導(dǎo)線的導(dǎo)通。如此,過渡區(qū)域的電連接可以實現(xiàn)液晶模塊的任意接口引腳和測試設(shè)備的任意接口引腳連接,從而實現(xiàn)真正的自由連線,可以實現(xiàn)各種常用電極間距的模塊測試,不受液晶模塊定制性的局限。并且,通過焊接預(yù)留的焊盤或者短接電阻的方式實現(xiàn)在過渡區(qū)域的電連接,提高了檢測板的可操作性,并且也更便于檢測板返修。由此,本實用新型中,通過對通用接口以及過渡區(qū)域的設(shè)置,既提高效率,又省時省力、同時便于管理。采用本發(fā)明方法后,這個PCB板可以實現(xiàn)90%以上液晶模塊產(chǎn)品的測試,不用再單獨設(shè)計專用測試板,測試設(shè)計時間縮短一半,采購周期縮短半個月,成本降低70%以上;另外,所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已,并不用于限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種通用的液晶模塊測試板,其特征在于,該液晶模塊測試板包括用于與液晶顯示模塊接口連接的通用接口(I)、過渡區(qū)域(3)、用于與測試設(shè)備連接的測試設(shè)備接口(5); 所述過渡區(qū)域(3)的PCB布線分成上下兩層,一層橫向走線、另一層縱向走線,上層走線和下層走線之間不連接,在所述液晶模塊測試板上設(shè)有多個過孔,每條下層走線通過所述過孔導(dǎo)通至該液晶模塊測試板的上表面; 所述通用接口(I)的每個引腳與所述過渡區(qū)域(3)的其中一層走線連接,所述測試設(shè)備接口(5)的每個引腳與所述過渡區(qū)域(3)的另一層走線連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述上層走線與下層走線成網(wǎng)格狀,在該液晶模塊測試板的上表面,所述上層走線在與每個下層走線的交叉點位置都設(shè)置有焊盤,在交叉點的旁邊設(shè)置有下層走線的焊盤并通過過孔與對應(yīng)的下層走線導(dǎo)通。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述上層走線與下層走線成網(wǎng)格狀,在該液晶模塊測試板的上表面,所述上層走線在與每個下層走線的交叉點位置都設(shè)置有觸點,在交叉點的旁邊設(shè)置有導(dǎo)通到對應(yīng)的下層走線的過孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述上層橫向走線,下層縱向走線。
5.根據(jù)權(quán)利要求I至4任意一項所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述通用接口(I)由多組不同的接口組成,每組接口與一種液晶顯示模塊接口匹配。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述通用接口(I)的每組接口分別對應(yīng)一種電極間距。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶模塊測試板,其特征在于,所述通用接口(I)、過渡區(qū)域(3)以及測試設(shè)備接口(5)共同設(shè)置在一塊PCB板上; 或者至少所述過渡區(qū)域(3)設(shè)置在一塊PCB板上。
專利摘要本實用新型公開了一種通用的液晶模塊測試板,包括用于與液晶顯示模塊接口連接的通用接口(1)、過渡區(qū)域(3)、用于與測試設(shè)備連接的測試設(shè)備接口(5);所述過渡區(qū)域(3)的PCB布線成上下兩層,一層橫向走線、另一層縱向走線,上層走線和下層走線之間不連接,在所述液晶模塊測試板上設(shè)有多個過孔,每條下層走線通過所述過孔導(dǎo)通至該液晶模塊測試板的上表面;所述通用接口(1)的每個引腳通過PCB布線與所述過渡區(qū)域(3)的其中一層走線連接,所述測試設(shè)備接口(5)的每個引腳通過PCB布線與所述過渡區(qū)域(3)的另一層走線連接。該方案可以適用于多種液晶模塊的接口類型,有效降低了測試用PCB板制作的復(fù)雜度,提高了測試效率;同時避免了現(xiàn)有技術(shù)多種測試用PCB板種類很多管理不便的麻煩。
文檔編號G09G3/00GK202383974SQ20112031916
公開日2012年8月15日 申請日期2011年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月29日
發(fā)明者宿惠菊, 曹亞昭, 程俊改 申請人:冀雅(廊坊)電子有限公司