專利名稱：一種檢測(cè)顯示面板的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測(cè)顯示面板的方法。
背景技術(shù)：
相較于傳統(tǒng)非平面顯示器，例如陰極射線管顯示器，由于平面顯示器具有 重量較輕及厚度較薄等特性，因此使得平面顯示器已逐漸成為市場(chǎng)上的主流產(chǎn) 品。依據(jù)顯示技術(shù)的不同，目前較常見(jiàn)的平面顯示器包括電漿顯示器、液晶顯 示器及有機(jī)發(fā)光顯示器等。為了維持產(chǎn)品的質(zhì)量，上述各種顯示器在制程之中 皆須經(jīng)過(guò)檢測(cè)，以排除具有缺陷的產(chǎn)品。
現(xiàn)有技術(shù)的顯示面板的檢測(cè)方式是將短路桿(shorting bar)設(shè)置于相對(duì)于 IC端子(也稱為端子側(cè)入力端)的另一側(cè)，也就是將短路桿(shorting bar)設(shè) 置于反端子側(cè)入力端，因此通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)的顯示面板的檢測(cè)方式僅能測(cè)知反端 子側(cè)入力端的良莠，而端子側(cè)入力端在經(jīng)過(guò)^r測(cè)后，仍無(wú)法確知其組裝于制程 中是否有出現(xiàn)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種能夠確保檢測(cè)出端子側(cè)入 力端是否正常的檢測(cè)顯示面板的方法。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測(cè)顯示面板的方法，所述 方法包括以下步驟
提供一顯示面板，所述顯示面板包括至少一短路桿及多個(gè)檢測(cè)接墊位于一 第一周邊區(qū)域，以及多個(gè)IC接墊位于一不同于所述第一周邊區(qū)域的第二周邊區(qū) 域，所述檢測(cè)接墊與所述短路桿電性連接；進(jìn)行一第 一階段測(cè)試，包括輸入一共同電壓信號(hào)及多個(gè)第 一階段測(cè)試信號(hào) 至所述檢測(cè)接墊，以檢測(cè)所述顯示面板；
進(jìn)行一切換動(dòng)作，切斷所述第一階段測(cè)試信號(hào)，并持續(xù)輸入所述共同電壓 信號(hào)至所述檢測(cè)接墊；以及
進(jìn)行一第二階段測(cè)試，包括輸入至少一第二階,更測(cè)試信號(hào)至所述IC接墊。
本發(fā)明實(shí)施例還提供一種檢測(cè)顯示面板的方法，所述方法包括以下步驟
提供一檢測(cè)機(jī)臺(tái)，所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)具有一保護(hù)裝置、 一第一階段測(cè)試信號(hào)源 組，以及一第二階^敬測(cè)試信號(hào)源組；
提供一顯示面板，所述顯示面板包括至少一短路^f及多個(gè)4全測(cè)接墊位于一 第一周邊區(qū)域，以及多個(gè)IC接墊位于一不同于所述第一周邊區(qū)域的第二周邊區(qū) 域，所述檢測(cè)接墊與所述短路桿電性連接；
進(jìn)行一第一階l殳測(cè)試，包括通過(guò)所述第一階,殳測(cè)試信號(hào)源組輸入一共同電 壓信號(hào)及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)至所述檢測(cè)接墊，以檢測(cè)所述顯示面板；
進(jìn)行一切換動(dòng)作，通過(guò)所述保護(hù)裝置切斷所述第一階段測(cè)試信號(hào)，并持續(xù) 輸入所述共同電壓信號(hào)至所述檢測(cè)接墊；以及
進(jìn)行一第二階段測(cè)試，包括通過(guò)所述第二階段測(cè)試信號(hào)源組輸入至少一第
二階段測(cè)試信號(hào)至所述IC接墊。
在本發(fā)明實(shí)施例中，可以卩險(xiǎn)測(cè)兩個(gè)不同端子的質(zhì)量，并通過(guò)保護(hù)裝置的設(shè) 置，能夠錯(cuò)開(kāi)第一階段測(cè)試信號(hào)與第二階段測(cè)試信號(hào)的信號(hào)傳遞，因此得以避 免發(fā)生第一階段測(cè)試與第二階段測(cè)試在切換時(shí)，兩階^:的信號(hào)因?yàn)榉指舨划?dāng)導(dǎo) 致信號(hào)源燒壞的問(wèn)題。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的示意圖。
圖2a及圖2b為圖1的顯示面板與檢測(cè)機(jī)臺(tái)作用的俯視圖。
圖3a及圖3b為圖2a及圖2b的顯示面板與檢測(cè)機(jī)臺(tái)作用的作動(dòng)剖面示意
5圖。
圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)顯示面板的流程示意圖。
具體實(shí)施例方式
為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白， 以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描 迷的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
請(qǐng)參考圖1,圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施例中所提供的顯示面板的示意圖。顯
示面板100具有 一顯示區(qū)域200 、 一第 一周邊區(qū)i或300以及一第二周邊區(qū)域400, 其中顯示區(qū)域200包括多條掃描線220、多條數(shù)據(jù)線240，以及多個(gè)由相鄰的掃 描線220與相鄰的數(shù)據(jù)線240所構(gòu)成的像素260、每一像素260另具有至少一 薄膜晶體管(未標(biāo)示)以驅(qū)動(dòng)該像素260,此為本領(lǐng)域技術(shù)人員所詳熟的 通常知識(shí)，在此不多加贅述。顯示面板100的第一周邊區(qū)域300則包括至 少一短路桿320以及與短路桿320電性連接的多個(gè)檢測(cè)接墊340,第二周邊區(qū) 域400則包括多個(gè)IC接墊420。各掃描線220的一端連接至IC接墊420，而掃 描線220的另一端連接至檢測(cè)接墊340，同樣地，各數(shù)據(jù)線240的一端連接至 IC接墊420,而數(shù)據(jù)線240的另一端連接至4全測(cè)>接墊340。在本發(fā)明較佳實(shí)施 例中，第一周邊區(qū)域300為反端子側(cè)入力端，即實(shí)際組裝后的顯示面板IOO所 接收的信號(hào)非由此端輸入；而第二周邊區(qū)域400則為端子側(cè)入力端，也就是說(shuō)， 實(shí)際組裝后的顯示面板IOO所接收的信號(hào)是經(jīng)由此端輸入，但保護(hù)的范圍不以 此為限，第一周邊區(qū)域300與第二周邊區(qū)域400相對(duì)位置也可互相交換，但需 要注意的是檢測(cè)接墊340與IC接塾420在相反的兩側(cè)，且顯示面板100實(shí)際運(yùn) 作時(shí)所接收的信號(hào)是經(jīng)由IC接墊420輸入。
本發(fā)明較佳實(shí)施例中，除了將數(shù)據(jù)線分為奇數(shù)條數(shù)據(jù)線及偶數(shù)條數(shù)據(jù)線之 外，紅色R、綠色G及藍(lán)色B數(shù)據(jù)線的信號(hào)也要分開(kāi)，作一6D2G(即六條數(shù) 據(jù)線與兩條閘極線)的信號(hào)測(cè)試，但不以此為限，也可以為2D2G(即兩條數(shù)據(jù)線與兩條閘極線)或是3D2G (即三條數(shù)據(jù)線與兩條閘極線)等不同組合的 信號(hào)來(lái)源作檢測(cè)。本發(fā)明較佳實(shí)施例中短路桿320可以分為第一短路桿321至 第八短路桿328，檢測(cè)接墊340則可以分為DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE、 GO、 GE及COM，其中第一短路桿321電性連接于奇數(shù)條紅色數(shù)據(jù)線與 檢測(cè)接墊DRO之間，第二短路桿322電性連接于奇數(shù)條綠色數(shù)據(jù)線與檢測(cè)接 墊DGO之間，第三短路桿323電性連接于奇數(shù)條藍(lán)色數(shù)據(jù)線與檢測(cè)接墊DBO 之間，第四短路桿324電性連接于偶數(shù)條紅色數(shù)據(jù)線與檢測(cè)接墊DRE之間，第 五短路桿325電性連接于偶數(shù)條綠色數(shù)據(jù)線與檢測(cè)接墊DGE之間，第六短路桿 326電性連接于偶數(shù)條藍(lán)色數(shù)據(jù)線與檢測(cè)接墊DBE之間，第七短路桿327電性 連接于奇數(shù)條掃描線與檢測(cè)接墊GO之間，第八短路桿328電性連接于偶數(shù)條 掃描線與檢測(cè)接墊GE之間，檢測(cè)墊COM則電性連接至顯示面板100。短路桿 320通過(guò)一開(kāi)關(guān)電路電連接于掃描線220及數(shù)據(jù)線240。該開(kāi)關(guān)電路包括一第一 組開(kāi)關(guān)360及一第二組開(kāi)關(guān)362,第一組開(kāi)關(guān)360的控制端電性連接于檢測(cè)接 墊DSW,第二組開(kāi)關(guān)362的控制端電性連接于測(cè)試墊GSW。該開(kāi)關(guān)電路只有 在進(jìn)行面板檢測(cè)時(shí)開(kāi)啟。
包括一第一階段測(cè)試T!及一第二階段測(cè)試T 。在第一階段測(cè)試T!時(shí)，信號(hào)經(jīng) 由檢測(cè)接墊340輸入至掃描線220及數(shù)據(jù)線240以進(jìn)行;險(xiǎn)測(cè)，然而第二階段測(cè) 試T 的信號(hào)則由IC接墊420輸入至掃描線220及數(shù)據(jù)線240來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，也 就是說(shuō)兩階段所提供的檢測(cè)信號(hào)是由相反的端子側(cè)方向輸入至顯示面板100， 可能致使檢測(cè)信號(hào)由其中一組信號(hào)發(fā)出后通過(guò)電路傳送至另 一組信號(hào)源，導(dǎo)致 另一組信號(hào)源燒壞。因此本發(fā)明較佳實(shí)施例檢測(cè)顯示面板的方法通過(guò)保護(hù)裝置 的設(shè)置來(lái)區(qū)分此兩階段檢測(cè)的信號(hào)來(lái)源。以下將先介紹設(shè)置保護(hù)裝置的設(shè)備(檢 測(cè)機(jī)臺(tái))，隨后說(shuō)明其在4企測(cè)顯示面板時(shí)的作用方式。
請(qǐng)參考圖2a及圖2b以及圖3a及圖3b，圖2a及圖2b為圖1的顯示面板 與檢測(cè)機(jī)臺(tái)作用的俯視圖，圖3a及圖3b為圖2a及圖2b的顯示面板與檢測(cè)機(jī)臺(tái)作用的作動(dòng)剖面示意圖，其中圖2a、 3a為本發(fā)明較佳實(shí)施例進(jìn)行第一階段測(cè) 試時(shí)機(jī)臺(tái)的俯視圖與作動(dòng)剖面示意圖，圖2b、 3b為本發(fā)明較佳實(shí)施例進(jìn)行第二 階段測(cè)試時(shí)機(jī)臺(tái)的作動(dòng)俯視圖與作動(dòng)剖面示意圖。如圖2a及圖3a所示，顯示 面板100置于一檢測(cè)機(jī)臺(tái)500上，檢測(cè)機(jī)臺(tái)500包括一檢測(cè)機(jī)臺(tái)底座502、 一 活動(dòng)治具566、 一連結(jié)4企測(cè)才幾臺(tái)底座502及活動(dòng)治具566的固鎖座568、 一基座 (Block)564置于活動(dòng)治具566之上并突出于活動(dòng)治具566、 一保護(hù)裝置520、 一 信號(hào)源540、 一第一電3各560以及一第二電路562。保護(hù)裝置520可以為一簡(jiǎn)單 程序設(shè)計(jì)例如一保護(hù)程序系統(tǒng)，保護(hù)裝置520可以另包括一警示裝置522,警 示裝置522可以為一警示燈526，警示燈526可以利用不同的燈號(hào)，例如上述 的紅燈與綠燈來(lái)區(qū)隔兩組信號(hào)源組發(fā)出信號(hào)的時(shí)機(jī)，但也不以此為限。上述信 號(hào)源540在本實(shí)施例中則進(jìn)一步包括第一階段測(cè)試信號(hào)源組SsEw及第二階段測(cè) 試信號(hào)源組SsET-u,但也不以此為限。檢測(cè)機(jī)臺(tái)500細(xì)部構(gòu)造請(qǐng)參考圖3a,基 座564下方突出于活動(dòng)治具566的部份另有一緩沖墊580,緩沖墊580的下方 另有一導(dǎo)電膠582，緩沖墊580與導(dǎo)電膠582之間埋有導(dǎo)線(未標(biāo)示)。第一電路 560可以將信號(hào)源540中第二階段測(cè)試信號(hào)源組SsET-u所發(fā)出的信號(hào)，通過(guò)保護(hù) 裝置520控管經(jīng)由活動(dòng)治具566傳送至各掃描線220電連接的IC接墊"0，以 進(jìn)行顯示面板100的檢測(cè)；而第二電路562則將信號(hào)源540第二階段測(cè)試信號(hào) 源組SsET.n所發(fā)出的信號(hào)，通過(guò)保護(hù)裝置520控管經(jīng)由活動(dòng)治具566傳送至各 數(shù)據(jù)線240電連接的IC接墊420,以進(jìn)行顯示面板100的檢測(cè)。
本發(fā)明較佳實(shí)施例檢測(cè)顯示面板的方法包括兩階段的測(cè)試， 一開(kāi)始進(jìn)行一 第一階段測(cè)試1\，接著通過(guò)一切換動(dòng)作Ts,隨后再進(jìn)行一第二階段測(cè)試Tu來(lái) 檢測(cè)顯示面板100。第一階段測(cè)試T!，例如為一短3各桿4企測(cè)，但不限于此，而 第二階段測(cè)試則例如為一簡(jiǎn)易點(diǎn)燈，但也不限于此。在進(jìn)行第一階段測(cè)試T!時(shí)， 活動(dòng)治具566的作動(dòng)如圖3a所示，此時(shí)保護(hù)裝置520顯示一第一階段測(cè)試燈號(hào)， 例如圖2a中526此時(shí)為一綠燈?；顒?dòng)治具566此時(shí)并未通過(guò)導(dǎo)電月交582與顯示 面板300做電性連接，信號(hào)源540可以發(fā)出一第一信號(hào)源組SsEw，第一階段測(cè)試信號(hào)源組SsEW輸入一共同電壓信號(hào)V,及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)S!至檢測(cè)
接墊COM及DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE、 GO、 GE、 DSW、 GSW,
以檢測(cè)顯示面板100。第一階段測(cè)試信號(hào)s!包括至少六個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)、兩個(gè)掃描
信號(hào)，以及兩個(gè)短路桿開(kāi)關(guān)信號(hào)，分別傳送數(shù)據(jù)信號(hào)至檢測(cè)接墊DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE，傳送掃描信號(hào)至GO、 GE，傳送短^各桿開(kāi)關(guān)信號(hào)至 DSW、 GSW。
待第一階段測(cè)試1完成后，進(jìn)行一切換動(dòng)作Ts:可移動(dòng)的活動(dòng)治具566， 會(huì)沿著一路徑進(jìn)行移動(dòng)，即圖3a中曲線起點(diǎn)A點(diǎn)移動(dòng)經(jīng)過(guò)B點(diǎn)最后抵達(dá)曲線 終點(diǎn)C點(diǎn)，成為如圖3b的作用情形，此時(shí)保護(hù)裝置520所顯示的燈號(hào)會(huì)改變 成為一第二階,殳測(cè)試燈號(hào)，例如圖2a中526此時(shí)為一紅燈，活動(dòng)治具566在此 會(huì)通過(guò)導(dǎo)電膠582與顯示面板300的IC接墊420電性連接，并通過(guò)保護(hù)裝置 520切斷輸入至檢測(cè)接墊DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBR、 GO、 GE、 DSW和GSW等的第一階段測(cè)試信號(hào)S!。值得注意的是，此時(shí)信號(hào)源540會(huì)持 續(xù)輸入共同電壓信號(hào)Ve。m至檢測(cè)接墊COM以利后續(xù)第二階段測(cè)試Tn的進(jìn)行。
最后，進(jìn)^"第二階—險(xiǎn)測(cè)試Tu時(shí)，活動(dòng)治具566的作動(dòng)即如圖3b所示，活 動(dòng)治具566此時(shí)通過(guò)導(dǎo)電膠582與顯示面板300的IC接墊420電性連接，且保 護(hù)裝置520已經(jīng)切斷第一階段測(cè)試信號(hào)S!,并持續(xù)輸入共同電壓信號(hào)V畫(huà)至檢 測(cè)接墊COM。第二階^L測(cè)試Tu的信號(hào)此時(shí)可以通過(guò)信號(hào)源組540切換成第二 信號(hào)源組SsET^。第二信號(hào)源組SsET-n可以發(fā)出至少一第二階段測(cè)試信號(hào)Sn。第 二階段測(cè)試信號(hào)Sn通過(guò)保護(hù)裝置520、第一電路560與第二電路562沿著活動(dòng) 治具566導(dǎo)入基座564下方緩沖墊580與導(dǎo)電膠582之間的導(dǎo)線，最后通過(guò)IC 接墊420分別達(dá)到顯示面板100的掃描線220及數(shù)據(jù)線240以進(jìn)行IC接墊420 的測(cè)試，確認(rèn)IC接墊420是否正常。第二階段測(cè)試信號(hào)Su包括至少一數(shù)據(jù)信 號(hào)及至少一掃描信號(hào)。
本發(fā)明較佳實(shí)施例中的保護(hù)裝置520主要是利用活動(dòng)治具566位于A點(diǎn)至 B點(diǎn)之間時(shí)，警示裝置522例如一警示燈526或是其它裝置所發(fā)出的第一階段測(cè)試燈號(hào)，例如亮綠燈，以及當(dāng)活動(dòng)治具566移動(dòng)至B點(diǎn)至C點(diǎn)之間時(shí)，警示 裝置522例如一警示燈526燈亮紅燈，來(lái)區(qū)隔兩組信號(hào)源組發(fā)出信號(hào)的時(shí)機(jī)。 通過(guò)活動(dòng)治具566的移動(dòng)，可以連接不同接點(diǎn)，以區(qū)隔信號(hào)源540發(fā)出信號(hào)的
時(shí)機(jī)，即控制信號(hào)源540所包括的一第一信號(hào)源組SsET-!及一第二信號(hào)源組SsET.n
適時(shí)的切換，避免兩種信號(hào)源同時(shí)發(fā)出信號(hào)，造成其中一組信號(hào)傳遞至另一組 信號(hào)源，致使另一組信號(hào)源燒壞。
請(qǐng)參考圖4并一并參考圖2a及圖2b和圖3a及圖3b，圖4為本發(fā)明較佳 實(shí)施例檢測(cè)顯示面板的流程示意圖。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，檢測(cè)機(jī)臺(tái)500可用來(lái)進(jìn)行一種檢測(cè)顯示面板的方 法，其步驟如下
步驟700:提供一檢測(cè)機(jī)臺(tái)500,其中檢測(cè)機(jī)臺(tái)500具有一保護(hù)裝置W0、 一第 一階段測(cè)試信號(hào)源組Ssew，以及一第二階^R測(cè)試信號(hào)源組SSET- ;
步驟702:提供一顯示面板100,其中顯示面板100包括至少一短路桿與多 個(gè)檢測(cè)接墊340 (包括DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE、 GO、 GE、 COM)位于一第一周邊區(qū)域300,以及多個(gè)IC接墊"0位于一 不同于第一周邊區(qū)域300的第二周邊區(qū)域400,其中4企測(cè)接墊340 (DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE、 GO、 GE、 COM)與短 路桿320電性連接；
步驟704:進(jìn)行一第一階^:測(cè)試T!，包括通過(guò)第一階段測(cè)試信號(hào)源組SsE^輸入 一共同電壓信號(hào)V,及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)Sr至檢測(cè)接墊COM 及DRO、 DGO、 DBO、 DRE、 DGE、 DBE、 GO、 GE,以檢測(cè)顯示 面+反100;
步驟706:進(jìn)行一切換動(dòng)作Ts,通過(guò)保護(hù)裝置520切斷第一階段測(cè)試信號(hào)Sj, 并持續(xù)輸入共同電壓信號(hào)V畫(huà)至檢測(cè)接墊COM;以及
步驟708:進(jìn)行一第二階段測(cè)試T ,包括通過(guò)第二階段測(cè)試信號(hào)源組SsET—n輸 入至少一第二階段測(cè)試信號(hào)Sn至IC接墊420。
10本發(fā)明所4是供的纟^測(cè)顯示面板的方法，可以纟全測(cè)兩個(gè)不同端子是否正常， 避免由于僅^T測(cè)其中 一個(gè)端子，而無(wú)法確知顯示面板的缺陷是否都已經(jīng)檢測(cè)出 來(lái)。同時(shí)由于本發(fā)明通過(guò)保護(hù)裝置或保護(hù)程序系統(tǒng)的設(shè)置，能夠錯(cuò)開(kāi)第一階段 測(cè)試信號(hào)與第二階段測(cè)試信號(hào)的信號(hào)傳遞，因此得以避免發(fā)生第 一階段測(cè)試與 第二階段測(cè)試在切換時(shí)，兩階段的信號(hào)因?yàn)榉指舨划?dāng)導(dǎo)致信號(hào)源燒壞的問(wèn)題。
以上所迷僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā) 明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明 的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)顯示面板的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟提供一顯示面板，所述顯示面板包括至少一短路桿及多個(gè)檢測(cè)接墊位于一第一周邊區(qū)域，以及多個(gè)IC接墊位于一不同于所述第一周邊區(qū)域的第二周邊區(qū)域，所述檢測(cè)接墊與所述短路桿電性連接；進(jìn)行一第一階段測(cè)試，包括輸入一共同電壓信號(hào)及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)至所述檢測(cè)接墊，以檢測(cè)所述顯示面板；進(jìn)行一切換動(dòng)作，切斷所述第一階段測(cè)試信號(hào)，并持續(xù)輸入所述共同電壓信號(hào)至所述檢測(cè)接墊；以及進(jìn)行一第二階段測(cè)試，包括輸入至少一第二階段測(cè)試信號(hào)至所述IC接墊。
2. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，在第一階段測(cè)試完成后，所述 方法還包括提供一警示通知，以及根據(jù)所述警示通知切斷所述第一階段測(cè)試 信號(hào)，并持續(xù)輸入所述共同電壓信號(hào)至所述檢測(cè)接墊。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述顯示面板包括多條掃描線， 且所述掃描線的一端連接至部分所述IC接墊，并所述掃描線的另 一端連接至部 分所述檢測(cè)接墊；所述顯示面板包括多條數(shù)據(jù)線，且所述數(shù)據(jù)線的一端連接至 部分所述IC 4妄墊，并所述掃描線的另 一端連4^至部分所述纟企測(cè)4妄墊。
4. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述第一階段測(cè)試信號(hào)包括至 少一數(shù)據(jù)信號(hào)、至少一掃描信號(hào)，以及至少一短路桿開(kāi)關(guān)信號(hào)；所述第二階段 測(cè)試信號(hào)包括至少 一數(shù)據(jù)信號(hào)及至少 一掃描信號(hào)。
5. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述第二P介段測(cè)試包括進(jìn)行一 簡(jiǎn)易點(diǎn)燈來(lái)^r測(cè)所述顯示面板。
6. —種^r測(cè)顯示面板的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟 提供一檢測(cè)機(jī)臺(tái)，所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)具有一保護(hù)裝置、 一第一階段測(cè)試信號(hào)源組，以及一第二階段測(cè)試信號(hào)源組；提供一顯示面板，所述顯示面板包括至少一短路桿及多個(gè)檢測(cè)接墊位于一 第一周邊區(qū)域，以及多個(gè)IC接墊位于一不同于所述第一周邊區(qū)域的第二周邊區(qū)域，所述檢測(cè)接墊與所述短路桿電性連接；進(jìn)行一第一階革殳測(cè)試，包括通過(guò)所述第一階^:測(cè)試信號(hào)源組輸入一共同電 壓信號(hào)及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)至所述檢測(cè)接墊，以;險(xiǎn)測(cè)所述顯示面板；進(jìn)行一切換動(dòng)作，通過(guò)所述保護(hù)裝置切斷所述第一階段測(cè)試信號(hào)，并持續(xù) 輸入所述共同電壓信號(hào)至所述檢測(cè)接墊；以及進(jìn)行一第二階段測(cè)試，包括通過(guò)所述第二階段測(cè)試信號(hào)源組輸入至少一第二階段測(cè)試信號(hào)至所述IC接墊。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述檢測(cè)機(jī)臺(tái)還包括一警示裝 置，在第一階段測(cè)試完成后，所述警示裝置可提供一警示通知，并根據(jù)所述警 示通知切斷所述第一階"^殳測(cè)試信號(hào)，并持續(xù)輸入所述共同電壓信號(hào)至所述^r測(cè) 接墊。
8. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述顯示面板包括多條掃描線， 且所述掃描線的一端連接至部分所述IC接墊，并所述掃描線的另一端連接至部 分所述檢測(cè)接墊；所述顯示面板包括多條數(shù)據(jù)線，且所述數(shù)據(jù)線的一端連接至 部分所述IC接墊，并所述掃描線的另 一端連接至部分所述檢測(cè)接墊。
9. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一階段測(cè)試信號(hào)包括至 少一數(shù)據(jù)信號(hào)、至少一掃描信號(hào)，以及至少一短路桿開(kāi)關(guān)信號(hào)；所述第二階段 測(cè)試信號(hào)包括至少 一數(shù)據(jù)信號(hào)及至少 一掃描信號(hào)。
10. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二階段測(cè)試包括進(jìn)行 一簡(jiǎn)易點(diǎn)燈來(lái)^r測(cè)所述顯示面板。
全文摘要
本發(fā)明適用于檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種檢測(cè)顯示面板的方法。所述方法包括以下步驟提供一顯示面板，所述顯示面板包括至少一短路桿及多個(gè)檢測(cè)接墊位于一第一周邊區(qū)域，以及多個(gè)IC接墊位于一不同于所述第一周邊區(qū)域的第二周邊區(qū)域，所述檢測(cè)接墊與所述短路桿電性連接；進(jìn)行一第一階段測(cè)試，包括輸入一共同電壓信號(hào)及多個(gè)第一階段測(cè)試信號(hào)至所述檢測(cè)接墊，以檢測(cè)所述顯示面板；進(jìn)行一切換動(dòng)作，切斷所述第一階段測(cè)試信號(hào)，并持續(xù)輸入所述共同電壓信號(hào)至所述檢測(cè)接墊；以及進(jìn)行一第二階段測(cè)試，包括輸入至少一第二階段測(cè)試信號(hào)至所述IC接墊。本發(fā)明能夠確保檢測(cè)出端子側(cè)入力端是否正常。
文檔編號(hào)G09G3/00GK101540134SQ200910106618
公開(kāi)日2009年9月23日 申請(qǐng)日期2009年4月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月8日
發(fā)明者洪宏忠 申請(qǐng)人:深圳華映顯示科技有限公司;中華映管股份有限公司