專(zhuān)利名稱(chēng)：用于成像設(shè)備的介質(zhì)檢測(cè)方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測(cè)要用于諸如打印機(jī)或掃描儀之類(lèi)的成像設(shè)備中的介質(zhì)的類(lèi)型的概念。更具體地說(shuō)，本發(fā)明涉及根據(jù)對(duì)介質(zhì)背面的重復(fù)標(biāo)記的檢測(cè)來(lái)識(shí)別介質(zhì)類(lèi)型的概念。本發(fā)明適用于諸如照相紙、熱敏紙或者噴墨打印紙之類(lèi)的介質(zhì)。
有許多檢測(cè)介質(zhì)類(lèi)型的方法。其中一些方法需要額外的制造工序，比如在介質(zhì)上施加特殊標(biāo)記、條碼或者槽口。這增加了制造介質(zhì)的成本并且還在介質(zhì)上造成了難看的記號(hào)。
在介質(zhì)制造過(guò)程中，由于卷筒紙印刷制造方法，常常在介質(zhì)背面按照重復(fù)圖案印上標(biāo)志或其它標(biāo)記。如果標(biāo)記間隔對(duì)于每種產(chǎn)品類(lèi)型都是唯一的，則標(biāo)記間隔可以區(qū)分產(chǎn)品類(lèi)型。
通過(guò)本發(fā)明的系統(tǒng)和方法，采用在介質(zhì)制造過(guò)程中設(shè)置在介質(zhì)背面的標(biāo)記來(lái)識(shí)別介質(zhì)類(lèi)型。也就是說(shuō)，由于標(biāo)記間隔對(duì)于每種介質(zhì)類(lèi)型可以是唯一的，所以標(biāo)記間隔可以區(qū)分產(chǎn)品類(lèi)型。如上所述，標(biāo)記可以是在介質(zhì)制造過(guò)程中設(shè)置在介質(zhì)背面的產(chǎn)品標(biāo)志、產(chǎn)品名稱(chēng)或者其它類(lèi)型的重復(fù)記號(hào)或圖案。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法提供了一種低成本的識(shí)別介質(zhì)類(lèi)型的方法，因?yàn)樗腔诂F(xiàn)有的或添加的重復(fù)圖案、如印在照相紙背面的標(biāo)志。另外，通過(guò)本發(fā)明的系統(tǒng)和方法，在介質(zhì)制造過(guò)程中不需要任何附加的工序，并且不必在介質(zhì)上設(shè)置外來(lái)物質(zhì)、如條碼或槽口。
因此，本發(fā)明提供了一種檢測(cè)供成像設(shè)備使用的介質(zhì)的類(lèi)型的方法。本發(fā)明包括以下步驟讀取介質(zhì)背面以檢測(cè)介質(zhì)背面上是否存在標(biāo)記；測(cè)量所檢測(cè)的標(biāo)記沿著介質(zhì)縱向重復(fù)的頻率；確定介質(zhì)背面上的所檢測(cè)的重復(fù)標(biāo)記之間的空間距離；以及將所述空間距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)上的標(biāo)記的預(yù)定空間距離進(jìn)行比較，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。
本發(fā)明還涉及一種檢測(cè)供成像設(shè)備使用的介質(zhì)的類(lèi)型的方法，其中包括以下步驟將紅外光照明光束引至上面有重復(fù)標(biāo)記的介質(zhì)背面；檢測(cè)從介質(zhì)背面反射的紅外光照明以提供第一信號(hào)；檢測(cè)所反射的紅外光照明在重復(fù)標(biāo)記接收紅外光照明光束時(shí)的變化以提供第二信號(hào)；根據(jù)第一和第二信號(hào)計(jì)算標(biāo)記的重復(fù)距離，并且將所計(jì)算的重復(fù)距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的標(biāo)記重復(fù)距離進(jìn)行比較，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。
本發(fā)明還涉及一種成像設(shè)備，該設(shè)備包括讓介質(zhì)從中通過(guò)的介質(zhì)通道；用于將光束引至介質(zhì)通道中的介質(zhì)背面的光源；設(shè)置成接收來(lái)自光源的從介質(zhì)通道中的介質(zhì)反射的光的傳感器，該傳感器適合于當(dāng)光從介質(zhì)背面反射時(shí)提供第一信號(hào)，以及當(dāng)介質(zhì)背面的重復(fù)標(biāo)記接收光束時(shí)響應(yīng)反射光的量的變化而提供第二信號(hào)；以及控制器，適合于根據(jù)第一和第二信號(hào)計(jì)算標(biāo)記重復(fù)距離，并且將所計(jì)算的重復(fù)距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的標(biāo)記重復(fù)距離進(jìn)行比較，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。


圖1示意地說(shuō)明成像設(shè)備或至少成像設(shè)備的一部分，其中詳細(xì)描述了用于檢測(cè)介質(zhì)類(lèi)型的本發(fā)明的介質(zhì)通道和系統(tǒng)；以及圖2是圖1的控制系統(tǒng)的詳細(xì)視圖。
圖1所示的成像設(shè)備100包括用于介質(zhì)1的進(jìn)給輥1a以及卷取輥1b。介質(zhì)1最好沿著由200表示的介質(zhì)通道穿過(guò)成像設(shè)備100的多個(gè)站，例如曝光站、印刷站、剪切站等。在圖1的示例中，根據(jù)本發(fā)明的介質(zhì)類(lèi)型檢測(cè)系統(tǒng)是相對(duì)于介質(zhì)通道200來(lái)說(shuō)明的。
更具體地說(shuō)，如圖1所示，在本發(fā)明的系統(tǒng)和方法中，成卷的介質(zhì)1、如照相紙的背面上已經(jīng)印刷了可檢測(cè)的重復(fù)標(biāo)志圖案或標(biāo)記2。介質(zhì)1可以在光學(xué)傳感器3下面通過(guò)，或者作為選擇，光學(xué)傳感器3可以在固定的介質(zhì)1上通過(guò)。紅外(IR)光源4將IR光束4a引導(dǎo)到介質(zhì)1的正面或背面，而光學(xué)傳感器3檢測(cè)從介質(zhì)4的表面反射的IR照明4b。吸收IR的標(biāo)志、如標(biāo)記2的存在，或者介質(zhì)中的反射率差異會(huì)改變所反射的IR照明的量，從而改變傳感器3產(chǎn)生的信號(hào)。在圖1的實(shí)施例中，介質(zhì)1是一卷照相紙或者連續(xù)饋送的介質(zhì)，但是，可以采用具有可見(jiàn)或不可見(jiàn)的可檢測(cè)重復(fù)標(biāo)記的任何介質(zhì)、如切好的紙片。
在本發(fā)明的上下文中，使用IR照明，使得不會(huì)損害對(duì)可見(jiàn)光敏感的照相紙。但是，也可采用其它形式的檢測(cè)，比如使用可見(jiàn)或不可見(jiàn)照明、磁性墨水以及如厚度變化之類(lèi)的其它物理特性，只要它可檢測(cè)并且按照已知的距離或速率重復(fù)。
如圖1所示，使來(lái)自傳感器3的信號(hào)通過(guò)調(diào)節(jié)電子電路5、如放大器或?yàn)V波器，從而改善傳感器信號(hào)，并且使其便于通過(guò)模-數(shù)轉(zhuǎn)換器7或者借助于微控制器或計(jì)算機(jī)6實(shí)現(xiàn)的數(shù)字化儀轉(zhuǎn)換成數(shù)字形式。然后，將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)放入緩沖器，以便由數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)或者其它具有適當(dāng)處理能力的計(jì)算機(jī)、如微控制器或計(jì)算機(jī)6來(lái)處理。系統(tǒng)操作由從主機(jī)或系統(tǒng)計(jì)算機(jī)8到微控制器6的啟動(dòng)信號(hào)8a開(kāi)始。此后，結(jié)果信號(hào)8b從微控制器6傳送到系統(tǒng)或主機(jī)8。
在本發(fā)明的操作的一個(gè)示例中，具有重復(fù)標(biāo)記2的介質(zhì)1從傳感器3下面通過(guò)。當(dāng)來(lái)自紅外光源4的紅外照明光束4a從介質(zhì)1背面中不包含重復(fù)標(biāo)記2的部分反射出來(lái)時(shí)，第一值或強(qiáng)度的反射照明4a提供給傳感器3。傳感器3則向調(diào)節(jié)電子電路5提供表示這個(gè)第一值或強(qiáng)度的第一信號(hào)。當(dāng)來(lái)自紅外光源4的光束4a被引至重復(fù)標(biāo)記2上時(shí)，反射照明4b的強(qiáng)度由于IR照明被標(biāo)記2吸收而改變。這產(chǎn)生了第二值或強(qiáng)度的反射照明4b，將其提供給傳感器3。傳感器3則向調(diào)節(jié)電子電路5提供表示這個(gè)第二值或強(qiáng)度的第二信號(hào)。隨著具有重復(fù)標(biāo)記的移動(dòng)介質(zhì)卷經(jīng)過(guò)傳感器3，第一和第二信號(hào)之間的重復(fù)交換提供了強(qiáng)度分布圖，它反映了介質(zhì)背面的重復(fù)標(biāo)記之間的間隔。
在本發(fā)明中，可以在主機(jī)8中提供包括多種代表參考介質(zhì)的參考標(biāo)記間隔的查找表。更具體地說(shuō)，查找表可包括已知或參考介質(zhì)的重復(fù)標(biāo)記間隔。由此可以將所計(jì)算的由介質(zhì)或卷1的通過(guò)而產(chǎn)生的重復(fù)標(biāo)記間隔與參考間隔相比，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。
關(guān)于控制器6的詳細(xì)說(shuō)明，參照本申請(qǐng)的圖2，該圖說(shuō)明本發(fā)明中的數(shù)據(jù)流。在圖2中，虛線框示意地表示控制器6。
在本實(shí)施例中，控制器6可以是Texas Instrument MSP430F149控制器，它具有芯片上12位數(shù)字化儀7、用作數(shù)據(jù)緩沖器的2K字節(jié)的RAM 9、用作程序存儲(chǔ)器的60K字節(jié)的閃速存儲(chǔ)器、以及快速硬件乘法器。如圖所示的控制器6的優(yōu)點(diǎn)在于，它提供了低成本和快速的硬件乘法器。許多其它控制器、DSP或計(jì)算機(jī)可以用于本發(fā)明的環(huán)境中。
關(guān)于本發(fā)明的系統(tǒng)和方法的操作，控制器6實(shí)質(zhì)上在循環(huán)中等待來(lái)自主機(jī)8的啟動(dòng)信號(hào)8a。啟動(dòng)信號(hào)8a是對(duì)控制器6的數(shù)字輸入，它導(dǎo)致中斷。中斷處理程序啟動(dòng)板上12位模-數(shù)轉(zhuǎn)換器7。轉(zhuǎn)換速率取決于介質(zhì)速度、標(biāo)記大小以及所需的重復(fù)距離值的分辨率。在本發(fā)明的上下文內(nèi)，利用自相關(guān)來(lái)識(shí)別重復(fù)信號(hào)。自相關(guān)是眾所周知的技術(shù)，用于識(shí)別掩蓋在噪聲和其它隨機(jī)信號(hào)內(nèi)的重復(fù)信號(hào)。在本發(fā)明中，最好是具有至少兩個(gè)重復(fù)距離性能的數(shù)據(jù)，以便自相關(guān)起作用。更多的重復(fù)會(huì)降低自相關(guān)結(jié)果中的噪聲量并產(chǎn)生更好的結(jié)果。
數(shù)據(jù)量、數(shù)字化的介質(zhì)分辨率以及數(shù)據(jù)抽樣率都取決于卷速度或者對(duì)于固定介質(zhì)和可變傳感器則取決于傳感器速度、標(biāo)記間隔以及所需的標(biāo)記間隔分辨率。例如，如果標(biāo)記重復(fù)為3英寸并且所需標(biāo)記間隔測(cè)量值的分辨率為0.1英寸，則在至少6英寸的距離上必須獲得每英寸至少20個(gè)樣值(0.05英寸/樣值)。
在這個(gè)實(shí)施例中，預(yù)期有4.25英寸的標(biāo)志重復(fù)距離，并且選擇每0.5mm一個(gè)樣值。控制器6具有足夠的RAM存儲(chǔ)器9來(lái)存儲(chǔ)1024個(gè)12位的帶符號(hào)數(shù)據(jù)點(diǎn)。必須留有一些RAM可用作暫時(shí)存儲(chǔ)器和堆?？臻g，所以，例如獲取900個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)是可接受的。這允許450mm或者大約17.7英寸的介質(zhì)可以被抽樣。17.7英寸允許預(yù)期的4.25英寸重復(fù)介質(zhì)的略微超過(guò)4個(gè)重復(fù)，還允許測(cè)量具有最大略微超過(guò)8英寸的重復(fù)的介質(zhì)。抽樣率取決于介質(zhì)速度(或者對(duì)于固定介質(zhì)和可移動(dòng)傳感器則取決于傳感器速度)。在該示例中，抽樣率固定在每秒37英寸。以每樣值0.5mm以及每秒37英寸的速度獲取900個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)將耗費(fèi)0.48秒。在其它實(shí)施例中，來(lái)自主機(jī)的信號(hào)可用來(lái)確定介質(zhì)速度。速度在獲取數(shù)據(jù)期間應(yīng)當(dāng)是恒定的。
來(lái)自傳感器的模擬信號(hào)可能在數(shù)字化之前需要一些調(diào)節(jié)。信號(hào)調(diào)節(jié)可包括放大、濾波或電壓調(diào)整，以便滿足數(shù)字化儀7的要求，減小噪聲，或者把傳感器信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓，或者提供應(yīng)用。在本實(shí)施例中，傳感器3最好是現(xiàn)成的反射傳感器。傳感器可包括用于照明的880nm IR LED和對(duì)該波長(zhǎng)敏感的光電晶體管。IR照明成一定角度，使得在該波長(zhǎng)的任何吸收或者表面反射率的任何變化將表現(xiàn)為傳感器3的光電晶體管響應(yīng)的變化。改變介質(zhì)上的表面反射率的示例包括、但不限于設(shè)有帶或不帶IR染料的凸起背面標(biāo)志、具有形成圖案的IR染料、或者在照相紙的情況下修改樹(shù)脂涂層的表面。當(dāng)然，這些僅僅是舉例，其它改變表面反射率的方法也適用于本發(fā)明的環(huán)境中。利用簡(jiǎn)單的電阻將光電晶體管信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓。選擇IR照明是因?yàn)橄惹疤岬降膶?duì)光敏感的照相紙。
在控制器6已獲得900個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)之后，可以再對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波，并且在圖2中應(yīng)當(dāng)去除其DC偏移(步驟50)，使得信號(hào)平均值為零。零平均值是自相關(guān)算法的要求。在本實(shí)施例中，由控制器6利用簡(jiǎn)單的滑動(dòng)平均來(lái)對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波。因此，在濾波之后，下一步是去除數(shù)據(jù)的直流分量(步驟50)。計(jì)算數(shù)據(jù)的平均值，然后從各點(diǎn)減去該值。數(shù)據(jù)值被作為帶符號(hào)整數(shù)存儲(chǔ)。
然后分兩步計(jì)算自相關(guān)(步驟52)。自相關(guān)算法表示如下Ad=1CΣi=0N-d-1Vi×Vi+d]]>其中N是緩沖器中的數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)目；V是具有零平均值的輸入數(shù)據(jù)；A是歸一化的自相關(guān)結(jié)果；d是延遲；以及C用來(lái)將自相關(guān)輸出歸一化到1000，其中C=11000Σi=0N-1Vi×Vi]]>
在此計(jì)算中的第一步是確定零延遲輸出或者C的值。這個(gè)值總是最大的，并且用來(lái)使輸出數(shù)據(jù)歸一化以在零位置具有1000的峰值。結(jié)果A(d)是關(guān)于在d點(diǎn)的延遲下數(shù)據(jù)與其自身相關(guān)程度的度量。計(jì)算關(guān)于每個(gè)延遲值的輸出。這種操作是乘法密集型的，所以希望乘法在控制器6上的硬件中執(zhí)行。利用這個(gè)公式距離＝0.5mm*d，其中0.5mm是介質(zhì)上的空間樣值間隔，可以把延遲值轉(zhuǎn)換成介質(zhì)上的物理距離。自相關(guān)值僅需要對(duì)一半數(shù)目的數(shù)據(jù)點(diǎn)的最大延遲進(jìn)行計(jì)算。這是因?yàn)樽詈檬切枰獦?biāo)記的至少兩個(gè)重復(fù)周期。
然后找出自相關(guān)輸出中的第二高峰值(步驟54)。最高峰值處于零位置，所以必須確保在尋找第二高峰值時(shí)不接近最高峰值。做到這一點(diǎn)的最簡(jiǎn)單方式是假定最小重復(fù)距離并且在那里開(kāi)始搜索。對(duì)于這個(gè)實(shí)施例，峰值搜索在30mm的重復(fù)處或者60個(gè)點(diǎn)的延遲處開(kāi)始。假定沒(méi)有任何重復(fù)標(biāo)記具有小于30mm的重復(fù)距離。這個(gè)值稍微有些任意。不存儲(chǔ)自相關(guān)數(shù)據(jù)的輸出。為了節(jié)省存儲(chǔ)空間，僅保存第二高峰值的高度和位置。第二峰值(見(jiàn)參考標(biāo)號(hào)54a)的高度是關(guān)于標(biāo)記彼此相關(guān)的程度的指示。低峰值指示很可能由低或有噪輸入信號(hào)引起的低相關(guān)。還可以不將自相關(guān)輸出歸一化，以便保留信號(hào)強(qiáng)度的指示，而不是對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行單獨(dú)的峰間值測(cè)量。
然后使用峰值位置和峰值的值來(lái)搜索介質(zhì)表10(步驟58)。表10是所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的已知重復(fù)距離、最小峰值高度以及產(chǎn)品類(lèi)型的列表。也可使用峰間值輸入信號(hào)與查找表中的預(yù)期值進(jìn)行比較，從而幫助識(shí)別介質(zhì)。
然后將標(biāo)記重復(fù)距離與已知重復(fù)標(biāo)記距離的介質(zhì)表10進(jìn)行比較，從而確定當(dāng)前所用的介質(zhì)是什么。作為搜索介質(zhì)表10的結(jié)果，確定所測(cè)量的信息(即重復(fù)距離)或介質(zhì)是否與介質(zhì)表10中所存儲(chǔ)的信息匹配。也就是說(shuō)，作為搜索介質(zhì)表10的結(jié)果，確定是否已找到或識(shí)別出介質(zhì)類(lèi)型(步驟75)。如果是，則通過(guò)信號(hào)8a把所識(shí)別的介質(zhì)類(lèi)型提供給主機(jī)8(步驟80)。如果在介質(zhì)表10中搜索的結(jié)果是未識(shí)別出介質(zhì)，則可以通過(guò)信號(hào)8b把表示該介質(zhì)是未知的這一事實(shí)的信號(hào)提供給主機(jī)8(步驟85)。查找表10可以嵌入微控制器6或者主機(jī)或系統(tǒng)計(jì)算機(jī)(8)。預(yù)期的重復(fù)距離實(shí)際上是一個(gè)值的范圍，以便將介質(zhì)放置和測(cè)量誤差的可變性考慮在內(nèi)。
對(duì)于這個(gè)實(shí)施例，輸出信號(hào)僅僅是指示表中介質(zhì)之一是否存在的單個(gè)數(shù)字線。許多其它用信號(hào)通知的方法是可能的，例如通過(guò)串行線、多個(gè)數(shù)字線、并行線等?？梢园l(fā)送介質(zhì)名稱(chēng)，或者所檢測(cè)的介質(zhì)的屬性，諸如測(cè)量的重復(fù)距離、測(cè)量的最大信號(hào)、信號(hào)的可變性等。
在本發(fā)明的一個(gè)最佳實(shí)施例中，應(yīng)當(dāng)指出，所測(cè)量的物理屬性應(yīng)當(dāng)可由傳感器來(lái)檢測(cè)。其次，標(biāo)記之間的距離應(yīng)當(dāng)恒定。第三，當(dāng)各個(gè)標(biāo)記從傳感器下面通過(guò)時(shí)，傳感器應(yīng)當(dāng)檢測(cè)標(biāo)記的相同部分，否則標(biāo)記信號(hào)不會(huì)很好地彼此相關(guān)。
在圖2中，表示出強(qiáng)度分布圖60，作為傳感器3讀取或掃描上面有標(biāo)記的介質(zhì)背面的結(jié)果。強(qiáng)度分布圖60描述強(qiáng)度對(duì)介質(zhì)上位置的分布圖。曲線的高點(diǎn)62基本上表示介質(zhì)的白點(diǎn)或背景，而低點(diǎn)64表示存在標(biāo)記，或更具體地說(shuō)，傳感器3正在讀取標(biāo)記。點(diǎn)64越低，介質(zhì)背面的標(biāo)記越暗。實(shí)質(zhì)上，當(dāng)傳感器3沒(méi)有讀取標(biāo)記時(shí)(即傳感器3正在掃描介質(zhì)背面沒(méi)有標(biāo)記之處)，傳感器3提供第一信號(hào)。當(dāng)傳感器3檢測(cè)到標(biāo)記的存在時(shí)，傳感器3提供第二信號(hào)。
此后，如前所述，使強(qiáng)度分布圖60通過(guò)可以是放大器或?yàn)V波器的調(diào)節(jié)電子電路5，從而改善傳感器的信號(hào)并且提供強(qiáng)度分布圖60a。在通過(guò)輸入緩沖器9和DC偏移去除50之后，在自相關(guān)52之前，強(qiáng)度分布圖采取分布圖60c的形式。
因此，本發(fā)明提供了一種用于在諸如打印機(jī)或掃描儀之類(lèi)成像設(shè)備中檢測(cè)介質(zhì)類(lèi)型、以便優(yōu)化介質(zhì)的使用的系統(tǒng)和方法。傳感器3最好是放置在介質(zhì)設(shè)備的曝光或印刷站之前。在本發(fā)明中，掃描或讀取介質(zhì)背面，以便沿介質(zhì)背面的縱向檢測(cè)是否存在標(biāo)記。作為掃描或讀取介質(zhì)背面的結(jié)果，可以測(cè)量沿介質(zhì)縱向的所檢測(cè)標(biāo)記的重復(fù)頻率?？梢允褂盟鶛z測(cè)標(biāo)記的這個(gè)重復(fù)頻率來(lái)創(chuàng)建分布圖、如強(qiáng)度分布圖或者標(biāo)記分布圖，表示介質(zhì)背面的標(biāo)記的重復(fù)。然后，可以將這個(gè)分布圖與查找表中所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的分布圖或值相比較，從而確定正檢測(cè)的介質(zhì)類(lèi)型。根據(jù)對(duì)介質(zhì)類(lèi)型的認(rèn)識(shí)，則可以適當(dāng)?shù)乜刂瞥上裨O(shè)備以與所檢測(cè)介質(zhì)的要求一致。
本發(fā)明的系統(tǒng)測(cè)量介質(zhì)上重復(fù)標(biāo)記的間隔，并且采用這個(gè)值來(lái)檢測(cè)和確定介質(zhì)類(lèi)型。傳感器3對(duì)包含重復(fù)標(biāo)記的介質(zhì)進(jìn)行空間順序測(cè)量?？梢詫⒃摐y(cè)量結(jié)果數(shù)字化并存儲(chǔ)在緩沖器中。一旦緩沖器裝滿，則使用數(shù)據(jù)的自相關(guān)來(lái)檢測(cè)重復(fù)頻率。根據(jù)數(shù)字化儀的抽樣間隔和移動(dòng)介質(zhì)或移動(dòng)傳感器的速度，將此頻率轉(zhuǎn)換成空間重復(fù)距離。然后，將該重復(fù)距離與已知值進(jìn)行比較，從而確定存在的介質(zhì)類(lèi)型。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)供成像設(shè)備使用的介質(zhì)的類(lèi)型的方法，所述方法包括以下步驟讀取介質(zhì)(1)的背面以檢測(cè)所述介質(zhì)的背面上是否存在標(biāo)記(2)；測(cè)量所檢測(cè)的標(biāo)記沿著所述介質(zhì)的縱向重復(fù)的頻率；確定所述介質(zhì)的背面上的所檢測(cè)的重復(fù)標(biāo)記之間的空間距離；以及將所述空間距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)上的標(biāo)記的預(yù)定空間距離進(jìn)行比較，從而確定所述介質(zhì)類(lèi)型。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述標(biāo)記包括所述介質(zhì)上的背面標(biāo)志。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述介質(zhì)是成卷的形式或者是切片的形式。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述介質(zhì)是照相紙。
5.一種檢測(cè)供成像設(shè)備使用的介質(zhì)的類(lèi)型的方法，所述方法包括以下步驟將紅外光照明光束(4a)引至上面有重復(fù)標(biāo)記(2)的介質(zhì)(1)的背面；檢測(cè)從所述介質(zhì)的背面反射的紅外光照明(4b)以提供第一信號(hào)；檢測(cè)所反射的紅外光照明在所述重復(fù)標(biāo)記接收所述紅外光照明光束時(shí)的變化以提供第二信號(hào)；根據(jù)所述第一和第二信號(hào)計(jì)算所述標(biāo)記的重復(fù)距離；以及將所述計(jì)算的重復(fù)距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的標(biāo)記重復(fù)距離進(jìn)行比較，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述標(biāo)記包括所述介質(zhì)上的背面標(biāo)志。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述介質(zhì)是成卷的形式或者是切片的形式。
8.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述介質(zhì)是照相紙。
9.一種成像設(shè)備(100)，包括讓介質(zhì)(1)從中通過(guò)的介質(zhì)通道(200)；用于將光束引至所述介質(zhì)通道中的介質(zhì)背面的光源(4)；設(shè)置成接收來(lái)自所述光源的從所述介質(zhì)通道中的介質(zhì)反射的光的傳感器(3)，所述傳感器適合于當(dāng)光從介質(zhì)背面反射時(shí)提供第一信號(hào)，以及當(dāng)介質(zhì)背面上的重復(fù)標(biāo)記接收所述光束時(shí)響應(yīng)反射光的量的變化而提供第二信號(hào)；以及控制器(6)，適合于根據(jù)所述第一和第二信號(hào)計(jì)算標(biāo)記重復(fù)距離，并且將所述計(jì)算的重復(fù)距離與所存儲(chǔ)的參考介質(zhì)的標(biāo)記重復(fù)距離進(jìn)行比較，從而確定介質(zhì)類(lèi)型。
10.如權(quán)利要求9所述的成像設(shè)備，其特征在于，所述光源是IR光源。
全文摘要
一種為成像設(shè)備(100)檢測(cè)介質(zhì)(1)類(lèi)型的系統(tǒng)和方法。在本發(fā)明的系統(tǒng)和方法中，掃描或讀取介質(zhì)背面以檢測(cè)介質(zhì)背面是否存在標(biāo)記(2)。測(cè)量介質(zhì)上重復(fù)標(biāo)記之間的間隔，以便檢測(cè)介質(zhì)類(lèi)型。也就是說(shuō)，本發(fā)明的系統(tǒng)包括傳感器(3)，該傳感器對(duì)包含重復(fù)標(biāo)記的移動(dòng)介質(zhì)進(jìn)行順序空間測(cè)量以確定標(biāo)記的重復(fù)頻率和重復(fù)距離。然后將重復(fù)距離與已知值進(jìn)行比較，從而確定當(dāng)前的介質(zhì)類(lèi)型。
文檔編號(hào)B41J11/00GK1458585SQ031234
公開(kāi)日2003年11月26日 申請(qǐng)日期2003年5月13日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月13日
發(fā)明者P·J·圭圭茲安 申請(qǐng)人:伊斯曼柯達(dá)公司