專利名稱：X射線透視圖像中的云紋去除方法及使用該方法的x射線攝像裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通過X射線濾線柵(fT 'J ” F )和排列圖案與FPD的檢測元件排 列圖案發(fā)生干涉而寫入到X射線透視圖像的云紋的去除方法及使用該方法的X射線攝像裝 置，尤其涉及在含有缺損像素的X射線透視圖像中所寫入的云紋之去除技術(shù)。
背景技術(shù)：
在對被檢體的X射線透視圖像進行攝像的X射線攝像裝置中有以下裝置，該裝置 具備照射圓錐形(二一>狀#射線束的X射線源、及對該X射線束進行檢測的平板探測器 (略記為FPD)。FPD具有將X射線檢測元件二維地排列的X射線檢測面。但是，由X射線源所照射出的X射線會被被檢體散射，且FPD所入射的散射X射線 會導致X射線透視圖像之對比度(二 >卜，7卜)的惡化。為了使這樣的散射X射線不入 射到FPD，在X射線攝像裝置中將排列有長條狀(短冊狀)金屬箔的片狀X射線濾線柵按照 覆蓋FPD的X射線檢測面的方式設置。通常，F(xiàn)PD的檢測元件之排列間距(7 f )和X射線濾線柵的金屬箔之排列間距 不相同。因此，在X射線透視圖像中寫入了兩個間距彼此干涉而產(chǎn)生的云紋。所以在現(xiàn)有的 X射線攝像裝置中，為了去除云紋，對圖像的頻率進行分析，將云紋的頻率成分去除，而進行 圖像的再構(gòu)成。但是，有時在FPD的檢測面上會有由于半導體元件的缺陷等原因而不能檢測X射 線的檢測元件產(chǎn)生。這種缺陷有時侯由柵極驅(qū)動(Y—卜K，<寸)或讀出晶體管的故障 引起，因此在串聯(lián)的檢測元件全部中就變得不能檢測，且在X射線透視圖像中表現(xiàn)出白色 或黑色的缺損像素并列的直線。若對于具有這種直線的X射線透視圖像進行上述的云紋 去除運算則由于缺損像素而云紋條紋( 7· >搞)的規(guī)則性被打亂，因此在運算后的圖像 中會呈現(xiàn)由缺損像素排列的直線、和該直線在云紋的排列方向上滲入擴展的重影(5—7 卜)，從而X射線透視圖像的可見性降低。作為以解決這種問題為目標的圖像處理方法，具有暫時對缺損像素進行補充的方 法。該方法，例如在專利文獻1中被公開。即，就現(xiàn)有的圖像處理方法而言，如圖10(a)中 所示，通過參照與缺損區(qū)域L所鄰接的像素之像素值，對缺損區(qū)域L進行補充。另外，在缺 損區(qū)域L在云紋的暗部區(qū)域D的延伸方向上排列的情況下，由于應當在缺損區(qū)域L中呈現(xiàn) 的云紋和在與其鄰接的像素中呈現(xiàn)的云紋產(chǎn)生錯位，因此不能使用圖10(a)所示的方法， 取而代之，如圖10(b)中所示，采用如下結(jié)構(gòu)對與成為補充對象的缺損像素a鄰接的區(qū)域 中的、在云紋的排列方向(χ方向)上所串聯(lián)的左右的像素E1、E2進行統(tǒng)計處理而推算出最 合適的像素值，并將該像素值代入缺損區(qū)域。專利文獻1 JP特開2002-330341號公報不過，根據(jù)現(xiàn)有的方法，在缺損區(qū)域L在云紋的延伸方向(y方向)上延伸的情況 下[參照圖10(b)]，進行了忽視云紋條紋規(guī)則性的缺損區(qū)域L之補充。其結(jié)果，由于缺損像素的補充而云紋條紋的規(guī)則性被打亂。根據(jù)現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)，對缺損區(qū)域L中的在y方向上所 串聯(lián)的左右像素El、E2進行統(tǒng)計處理而推算出最合適的像素值。在該統(tǒng)計處理中，對缺損 區(qū)域L的左右像素El、E2中的像素值進行檢定，來進行用于推定最適合缺損區(qū)域L之補充 的像素值的最佳推定。就該最佳推定而言，是簡單地根據(jù)像素值偏差W)、、來進行 的，所以當然就會忽視像素的順序，且云紋條紋的規(guī)則性不會在處理圖像中加入。在圖11中表示該問題點。為簡單起見，采用以下設定在X射線透視圖像中不取 入被檢體的像而僅寫入云紋；在圖像處理前的X射線透視圖像中，如圖11(a)中所示，在原 來云紋的暗部區(qū)域D呈現(xiàn)的位置有直線狀的缺損區(qū)域L延伸存在(延在)。此時，在補充缺 損區(qū)域L的像素值中最適當?shù)氖前挡繀^(qū)域D的像素值。不過，由現(xiàn)有結(jié)構(gòu)的最佳推定所得 的像素值并不一定是暗部區(qū)域D的像素值。因此，在圖像處理結(jié)束后的圖像中，如圖11(b) 中所示，暗部區(qū)域D和缺損像素補充后的區(qū)域Ll之像素值就不同，所以云紋條紋的規(guī)則性 被打亂。若對該缺損像素補充后的圖像例如進行頻率分析而去除云紋，則云紋條紋的規(guī)則 性被打亂，因此如圖11 (c)中所示，呈現(xiàn)缺損像素的痕跡L2、和該痕跡L2在云紋的排列方向 上滲入擴展的重影L3。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于這種情況而提出的，其目的在于提供一種即使是具有缺損像素的X 射線透視圖像、也不會打亂云紋條紋之規(guī)則性而對缺損像素進行預備補充且確實沒有缺損 像素的痕跡和其重影產(chǎn)生的X射線透視圖像中的云紋去除方法，以及采用該去除方法的X 射線攝像裝置。本發(fā)明，為了實現(xiàn)這樣目的，采取如下結(jié)構(gòu)。S卩，在權(quán)利要求1中所述的發(fā)明為一種X射線透視圖像中的云紋去除方法，其特征 在于，包括云紋頻率導出步驟，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋的頻率進行求出；缺 損像素預備補充步驟，其通過參照從缺損像素按云紋的一周期量之整數(shù)倍隔離后的像素， 對缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；云紋去除步驟，其對第一中間圖像進行頻率 分析，并將在第一圖像中所寫入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；圖像平滑化步驟，其 對第一中間圖像進行圖像平滑化處理，并形成第三中間圖像；和缺損像素再補充步驟，其使 第二中間圖像和第三中間圖像重合，且對缺損像素再次進行補充。[作用/效果]根據(jù)本發(fā)明，可以按照不會打亂云紋條紋之規(guī)則性的方式進行缺損 像素的補充。在本發(fā)明中的缺損像素預備補充步驟中，參照從缺損像素按云紋的一周期量 之整數(shù)倍隔離后的像素，對缺損像素進行補充。因此，該所參照的像素具有應當在缺損像素 中呈現(xiàn)的云紋條紋。例如，在云紋的暗部區(qū)域呈現(xiàn)位置有缺損像素延伸存在的情況下，所參 照的像素成為云紋的暗部區(qū)域。另外，例如在云紋的明部區(qū)域呈現(xiàn)位置有缺損像素延伸存 在的情況下，所參照的像素確實成為云紋的明部區(qū)域。如此，根據(jù)本發(fā)明，通過缺損像素的 補充沒有云紋的規(guī)則性被打亂，所以當將在第一中間圖像中所寫入的云紋去除時，不會呈 現(xiàn)缺損像素的痕跡、和該痕跡在云紋的排列方向上滲入擴展的重影。另外，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，即使與缺損像素鄰接的像素是缺損像素，也能夠確實對缺損 像素進行補充。即，適合缺損像素之補充的像素是通過對缺損像素預備補充后的圖像進行 平滑化處理而得到的結(jié)構(gòu)，因此即使與缺損像素鄰接的像素為缺損像素，對于所有的缺損像素適合補充的像素也確實存在。即，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，不僅使用與缺損像素鄰接的像素，還 使用其周邊像素而求出適合缺損像素之補充的像素，因此即使在X射線透視圖像中所表現(xiàn) 出的缺損像素相連(連& )所形成的缺損像素群為更復雜的形狀，也能夠提供確實地 對缺損像素進行了補充并且去除了云紋的處理圖像。另外，所有適合缺損像素的像素屬于第三中間圖像。因此，即使缺損像素相隔離而 位于多個部位，僅通過使云紋去除了的第二中間圖像和第三中間圖像重合，就能夠容易地 完成缺損像素之補充。而且，第三中間圖像由未使用頻率濾波器(7 O夕)的、對原始圖 像僅進行了缺損像素預備補充后的第一中間圖像形成。即，第三中間圖像由未失去與云紋 頻率相同頻率成分的圖像形成。因此，第三中間圖像成為比原始圖像更逼真(忠実)的圖 像，且若采用該圖像對缺損像素進行再補充就能夠提供一種將原始圖像更準確地表現(xiàn)出的 處理圖像。另外，優(yōu)選上述圖像平滑化步驟的圖像平滑化處理是采用了規(guī)定矩陣的矩陣(行 列)運算，并且矩陣的行數(shù)為云紋的一周期量的像素數(shù)以上。[作用/效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，在第三中間圖像中能夠消除云紋。S卩，本發(fā)明的 圖像平滑化處理是矩陣運算，在運算中所采用的矩陣的行數(shù)為云紋的一周期量的像素數(shù)以 上。即，如果采用這樣的矩陣，則云紋的明部區(qū)域和暗部區(qū)域彼此抵消同時可以進行圖像的 平滑化。因此，從第三中間圖像中將云紋消除。另外，該圖像的平滑化處理對于所鄰接的所 有像素成為缺損像素的缺損像素也是有效的。另外，優(yōu)選具備云紋頻率導出步驟，其將在上述的X射線透視圖像中寫入的云紋 頻率求出；缺損像素預備補充步驟，其通過參照從缺損像素按云紋的一周期量之整數(shù)倍隔 離后的像素，對缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；云紋去除步驟，其對第一中間 圖像進行頻率分析，將在第一中間圖像中寫入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；缺損像 素再補充步驟，在第二中間圖像中，參照在缺損像素預備補充步驟中補充后的缺損像素所 鄰接的像素，對補充后的缺損像素進一步進行補充。[作用/效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠按照不會打亂云紋條紋之規(guī)則性的方式進行缺 損像素的補充。在上述結(jié)構(gòu)中的缺損像素預備補充步驟中，參照從缺損像素按云紋的一周 期量之整數(shù)倍隔離后的像素，對缺損像素進行補充。因此，該所參照的像素具有應當呈現(xiàn)在 缺損像素中的云紋條紋。例如，在云紋的暗部區(qū)域所呈現(xiàn)的位置有缺損像素延伸存在的情 況下，所參照的像素成為云紋的暗部區(qū)域。另外，例如在云紋的明部區(qū)域呈現(xiàn)的位置有缺損 像素延伸存在的情況下，所參照的像素確實成為云紋的明部區(qū)域。即，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，通過 缺損像素的補充沒有云紋之規(guī)則性被打亂，且在將第一中間圖像中寫入的云紋去除時，不 會呈現(xiàn)缺損像素之痕跡、和該痕跡在云紋的排列方向上滲入擴展的重影。另外，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，構(gòu)成如下結(jié)構(gòu)，S卩，在第二中間圖像中，參照與補充后的缺損 像素鄰接的像素，對補充后的缺損像素再次進行補充。第二中間圖像是從再現(xiàn)有應當在缺 損像素中呈現(xiàn)的云紋條紋的第一中間圖像中去除云紋后的圖像。因此，在第二中間圖像中 云紋的影響不呈現(xiàn)。但是，若第二中間圖像中的補充后的缺損像素是參照從該缺損像素隔 離后的像素而對像素值進行置換的像素，則在補充后的缺損像素中寫入的被檢體之像就與 應當在缺損像素中寫入的被檢體之像不同。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，構(gòu)成如下結(jié)構(gòu)即使是上述那 樣，通過參照與補充后的缺損像素鄰接的像素，也盡可能地再現(xiàn)應當在補充后的缺損像素中寫入的被檢體之像。因此，由上述結(jié)構(gòu)形成的X射線透視圖像適合于診斷。另外，更優(yōu)選在采用上述X射線透視圖像中的云紋去除方法的X射線攝像裝置中 具備χ射線源，其照射X射線束；X射線檢測單元，其對X射線束進行檢測；X射線濾線柵， 其被設置在X射線檢測單元和X射線源之間所夾設的位置，并且將散射X射線去除；缺損 像素預備補充單元，其進行缺損像素預備補充步驟；云紋去除單元，其進行云紋去除步驟； 圖像平滑化單元，其進行圖像平滑化步驟；缺損像素再補充單元，其進行缺損像素再補充步 馬聚O另外，更優(yōu)選在上述X射線攝像裝置中具備X射線源，其照射X射線束；X射線檢 測單元，其對X射線束進行檢測；X射線濾線柵，其被設置在X射線檢測單元和X射線源之 間所夾設的位置，并且將散射X射線去除；缺損像素預備補充單元，其進行缺損像素預備補 充步驟；云紋去除單元，其進行云紋去除步驟；缺損像素再補充單元，其進行缺損像素再補 充步驟。另外，在本說明書中還記載了如下的放射線攝像裝置所涉及的發(fā)明。一種X射線攝像裝置，其特征在于具備(A) X射線源，其照射X射線束；(B) X射線 檢測單元，其對X射線束進行檢測；(C) X射線濾線柵，其被設置在X射線檢測單元和X射線 源之間所夾設的位置，并且將散射X射線去除；(D)云紋頻率導出單元，其將在X射線透視 圖像中寫入的云紋之頻率求出；(E)缺損像素預備補充單元，其通過參照從缺損像素按云 紋的一周期量之整數(shù)倍隔離后的像素，對缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；(F) 云紋去除單元，其對第一中間圖像進行頻率分析，將在第一中間圖像中寫入的云紋去除，且 形成第二中間圖像；(G)圖像平滑化單元，其對第一中間圖像進行圖像平滑化處理，且形成 第三中間圖像；(H)第一缺損像素再補充單元，其使第二中間圖像與第三中間圖像重合，并 且對缺損像素再次進行補充。另外，更優(yōu)選上述圖像平滑化單元所進行的圖像平滑化處理是采用了規(guī)定矩陣的 矩陣運算，并且矩陣的行數(shù)為云紋的一周期量的像素數(shù)以上。除此之外，在本說明書中還記載了如下的放射線攝像裝置所涉及的發(fā)明?！NX射線攝像裝置，其特征在于具備(A) X射線源，其照射X射線束；(B) X射線 檢測單元，其對X射線束進行檢測；(C) X射線濾線柵，其被設置在X射線檢測單元和X射線 源之間所夾設的位置，并且將散射X射線去除；(D)云紋頻率導出單元，其將在X射線透視 圖像中寫入的云紋之頻率求出；(E)缺損像素預備補充單元，其通過參照從缺損像素按云 紋的一周期量之整數(shù)倍隔離后的像素，對缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；(F) 云紋去除單元，其對第一中間圖像進行頻率分析，將在第一中間圖像中寫入的云紋去除，并 形成第二中間圖像；(I)第二缺損像素再補充單元，其通過將第一中間圖像所屬的被預備 補充后的預備補充像素之像素值置換為在第二中間圖像中的位于與預備補充像素同一位 置的像素所鄰接的鄰接像素之像素值，從而對第一中間圖像的預備補充像素進行再次補 充。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠提供一種即使在X射線檢測單元中含有缺損像素也可使缺損 像素深入擴展的重影之產(chǎn)生得以抑制并且確實對缺損像素進行補充而形成適合診斷的X 射線透視圖像的X射線攝像裝置。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，因為具有去除散射X射線的X射線濾線 柵，所以在由X射線檢測單元所檢測出的X射線中將散射X射線去除。因此，最終得到的X射線透視圖像的對比度較高。并且，上述結(jié)構(gòu)具有云紋去除單元，因此從X射線透視圖像中 將云紋去除。而且，上述結(jié)構(gòu)具備缺損像素預備補充單元。因此，云紋條紋的規(guī)則性在缺損 像素中再現(xiàn)。而且，上述結(jié)構(gòu)具備缺損像素再補充單元。因此，缺損像素的像素值向更適當 的值變更。如此，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠提供一種即使在X射線檢測單元中含有缺損像素也可 使缺損像素深入擴展的重影之產(chǎn)生得以抑制、并且確實對缺損像素進行補充而形成適合診 斷的X射線透視圖像的X射線攝像裝置。(發(fā)明效果)根據(jù)本發(fā)明，按照不打亂云紋條紋之規(guī)則性的方式進行缺損像素之補充。在本發(fā) 明的缺損像素預備補充步驟中，參照從缺損像素分開云紋的一周期量之整數(shù)倍間隔的像素 而對缺損像素進行補充。因此，該所參照的像素具有應當在缺損像素中呈現(xiàn)的云紋條紋。 即，根據(jù)本發(fā)明，構(gòu)成以下結(jié)構(gòu)對缺損像素和云紋兩者重疊(重積)的圖像，暫時確實消除 云紋。即，在后段的圖像處理中，只要實行進行缺損像素之補充的操作即可。即，本發(fā)明構(gòu) 成為對缺損像素和云紋兩者重疊的圖像依次進行云紋之去除和缺損像素之置換(在本發(fā) 明中稱為再補充)的結(jié)構(gòu)。因此，不會存在由于對缺損像素進行置換而云紋條紋的規(guī)則性 被打亂，且在最終形成的X射線透視圖像中呈現(xiàn)缺損像素之痕跡、和該痕跡深入擴展的重 影的情況。


圖1是對實施例1所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明的功能方 框圖。圖2是對實施例1所涉及的FPD的結(jié)構(gòu)進行說明的圖。圖3是對實施例1的動作進行說明的流程圖。圖4是表示實施例1所涉及的X射線透視圖像的示意圖。圖5是對實施例1所涉及的圖像平滑化步驟進行說明的示意圖。圖6是對實施例1所涉及的缺損像素再補充步驟進行說明的示意圖。圖7是對實施例2所涉及的圖像處理進行說明的圖。圖8是對實施例3所涉及的X射線攝像裝置的結(jié)構(gòu)進行說明的功能方框圖。圖9是對本發(fā)明所涉及的變形例的結(jié)構(gòu)進行說明的示意圖。圖10是對現(xiàn)有的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明的示意圖。圖11是對現(xiàn)有的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明的示意圖。圖中1-云紋頻率導出部(云紋頻率導出單元)，2_缺損像素預備補充部(缺損 像素預備補充單元)，3-云紋去除部(云紋去除單元)，4-圖像平滑化部(圖像平滑化單 元)，5-第一缺損像素再補充部(第一缺損像素再補充單元)，24-第二缺損像素再補充部 (第二缺損像素再補充單元)，P1_預備補充圖像(第一中間圖像)，P2_云紋去除圖像(第 二中間圖像)，P3_平滑化圖像(第三中間圖像)。
具體實施例方式以下，參照附圖對本發(fā)明所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法的實施例和 使用該去除方法的X射線攝像裝置的實施例進行說明。
實施例1圖1是對實施例1所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明的功能方 框圖。如圖1中所示，在實施例1所涉及的方法中為了去除云紋，具備云紋頻率導出部1， 其根據(jù)原始圖像PO求出云紋的頻率；缺損像素預備補充部2，其根據(jù)從缺損像素隔開云紋 的一周期量的像素，對缺損像素進行補充，從而形成預備補充圖像Pl ；云紋去除部3，其將 預備補充圖像Pl中所寫入的云紋進行去除并形成云紋去除圖像P2 ；圖像平滑化部4，其對 預備補充圖像Pl進行圖像平滑化處理，并且形成平滑化圖像P3 ；第一缺損像素再補充部5， 其使云紋去除圖像P2和平滑化圖像P3彼此重合，且對缺損像素再次進行補充。另外，實施 例1所涉及的預備補充圖像P1、云紋去除圖像P2及平滑化圖像P3分別相當于本發(fā)明中的 第一中間圖像、第二中間圖像及第三中間圖像。另外，云紋頻率導出部與本發(fā)明的云紋頻率 導出單元相當，缺損像素預備補充部與本發(fā)明的缺損像素預備補充單元相當。云紋去除部 與本發(fā)明的云紋去除單元相當，圖像平滑化部與本發(fā)明的圖像平滑化單元相當。第一缺損 像素再補充部與本發(fā)明的第一缺損像素再補充單元相當。接著，對實施例1所涉及的缺損像素進行說明。圖2是對實施例1所涉及的FPD 的結(jié)構(gòu)進行說明的圖。如圖2中所示，對X射線進行檢測的FPDlO具有被配置成矩陣狀的 X射線檢測元件10a、在檢測元件矩陣的側(cè)端配置的柵極驅(qū)動陣列11和放大器陣列12。缺 損像素會在這些元件中的任一元件完全(全々)不能動作的情況下產(chǎn)生。例如如果構(gòu)成柵 極驅(qū)動陣列11的柵極驅(qū)動元件Ila之中的一個元件發(fā)生故障，并且發(fā)生了故障的柵極驅(qū)動 元件Ila所驅(qū)動的X射線檢測元件IOa全部不能動作，則在X射線透視圖像中呈現(xiàn)與攝像 對象無關(guān)的黑色直線。原因在于采用了以下的結(jié)構(gòu)，即，F(xiàn)PDlO中的柵極驅(qū)動元件Ila對所 串聯(lián)的X射線檢測元件IOa —并進行驅(qū)動。另外，對實施例1所涉及的云紋進行說明。一般，就對X射線透視圖像進行攝像的 X射線攝像裝置而言，具有采用以下結(jié)構(gòu)之裝置，即，從X射線源將圓錐形X射線束朝向被 檢體照射，透過被檢體的透過X射線由FPDlO進行檢測。在這樣的X射線攝像裝置中X射 線透過被檢體時，X射線在被檢體中散射而其入射到FPDlO的現(xiàn)象產(chǎn)生，這成為使被檢體的 X射線透視圖像之對比度惡化的主要原因。為了防止這種散射X射線入射FPD10，按照覆蓋 FPDlO的X射線檢測面的方式附加設置了用于吸收散射X射線的X射線濾線柵。但是，在FPDlO中多數(shù)半導體型X射線檢測元件IOa被排列成矩陣狀。這樣的 FPD10，通過所排列的各X射線檢測元件10a，對透過被檢體M的X射線離散地進行采樣，從 而構(gòu)成X射線透視圖像。另一方面，X射線濾線柵具有排列成百葉窗形狀(^，4 > K狀) 的多個翼(羽根)。在圓錐形X射線束透過該X射線濾線柵時，X射線濾線柵具有的翼分 別就產(chǎn)生筋狀的陰影。該陰影在X射線濾線柵的整體上觀看時，構(gòu)成條紋狀的X射線陰影 圖案，且該陰影寫入到被配置于X射線濾線柵下方的FPDlO中。該X射線陰影圖案由構(gòu)成 FPDlO的X射線檢測元件IOa離散地進行采樣，但是在各X射線檢測元件IOa中取入的X射 線陰影之條數(shù)按FPDlO整體計并不是固定的。原因在于X射線檢測元件IOa的排列間距與 X射線陰影之排列間距不一致。這樣，在X射線透視圖像中出現(xiàn)多數(shù)陰影映入后的細長狀 的暗部區(qū)域和更少數(shù)陰影映入后的細長狀的明部區(qū)域交替并排的干涉條紋。如此，F(xiàn)PDlO具 有的檢測元件排列圖案與基于X射線濾線柵的X射線陰影圖案彼此干涉而產(chǎn)生云紋，并在 X射線透視圖像中寫入。本發(fā)明所涉及的云紋指的是該云紋。而且，根據(jù)實施例1的結(jié)構(gòu)，一種從缺損像素和云紋同時寫入的X射線透視圖像中將其兩者均去除后的圖像，可通過圖 像處理得以提供。接著，對實施例1所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法的動作進行說明。如 圖3(a)中所示，實施例1所涉及的云紋去除的動作具備云紋頻率導出部1所進行的云紋 頻率導出步驟Si、缺損像素預備補充部2所進行的缺損像素預備補充步驟S2、云紋去除部3 所進行的云紋去除步驟S3、圖像平滑化部4所進行的圖像平滑化步驟S4、第一缺損像素再 補充部5所進行的缺損像素再補充步驟S5。對這些各步驟的動作依次進行說明?！丛萍y頻率導出步驟Sl>圖4是表示實施例1所涉及的X射線透視圖像的示意圖。由FPD所取得的X射線 透視圖像(原始圖像P0)包括云紋、缺損像素。如圖4(a)中所示，云紋是將沿著y方向延 伸的暗部區(qū)域D在χ方向上等間隔地排列的條紋。另外，為了說明方便，設定云紋的暗部區(qū) 域D的寬度為1像素，且在χ方向上暗部區(qū)域D按每四個像素來表現(xiàn)，但是該暗部區(qū)域D的 寬度和間隔并不限于此。另一方面，缺損區(qū)域La作為缺損像素在y方向上排列的黑色線并 且在原始圖像PO中表現(xiàn)出。另外，為了說明方便，設定缺損區(qū)域La的寬度為一個像素，但 是本發(fā)明并不限于此。另外，缺損區(qū)域La在原始圖像PO中正好位于云紋的暗部區(qū)域D所 呈現(xiàn)的位置，但是本發(fā)明并不限于此。在實際的原始圖像PO中出現(xiàn)有缺損區(qū)域La，與云紋 的相位無關(guān)。在云紋頻率導出部1中，對該原始圖像PO進行頻率分析而導出云紋的頻率。通過 進行頻率分析，原始圖像PO被轉(zhuǎn)換為頻率函數(shù)，但是云紋的頻率成分在該頻率函數(shù)中成為 尖銳的峰(匕。一”來表現(xiàn)。讀取該峰的極大點，來作為云紋的頻率ω。另外，由于暗部區(qū)域D關(guān)于χ方向等間隔地并排，因此在圖4(a)中所示的原始圖 像為13X13像素時，暗部區(qū)域D在五個部位處出現(xiàn)。但是，在圖4(a)的例中，由于在應當 呈現(xiàn)暗部區(qū)域D的區(qū)域中缺損區(qū)域La延伸存在，因此云紋之暗部區(qū)域D少一條。另外，缺 損區(qū)域La在應當呈現(xiàn)暗部區(qū)域D的區(qū)域中延伸存在僅只是一個示例，在本發(fā)明中，缺損區(qū) 域La也可以在應當呈現(xiàn)云紋明部區(qū)域的區(qū)域中延伸存在。<缺損像素預備補充步驟S2>接著，對缺損像素進行預備性補充。由于缺損區(qū)域La的像素值成為極端的值，因 此在保留缺損區(qū)域La的狀態(tài)下進行云紋去除時，缺損區(qū)域La的重影在圖像中表現(xiàn)。因此， 在云紋的去除之前，預先將缺損區(qū)域La置換為其近旁的像素。具體而言，如圖4(b)中所示， 參照在云紋的延伸方向(y方向)上位于與缺損像素a相同的位置且在排列方向(χ方向) 上從缺損像素a按云紋的一周期量所相當?shù)乃膫€像素量隔離后的像素b，將缺損像素a置換 為像素b。這樣，在實施例1所涉及的缺損像素預備補充步驟S2中，通過將缺損像素置換為 χ方向的像素，從而進行缺損像素的預備補充。另外，通過該置換，缺損區(qū)域La被預備補充 區(qū)域Lb代替，并且由該步驟S2所得的圖像作為預備補充圖像P1。另外，在圖4(b)中，在缺 損像素a以后的補充處理為未處理，這是為了對缺損像素a的處理進行強調(diào)。實際上，對原 始圖像PO的全區(qū)域進行缺損像素之置換。另外，四個像素量與本發(fā)明所涉及的云紋的一周 期量之整數(shù)倍相當。另外，在本發(fā)明中，將屬于該預備補充區(qū)域Lb的像素定義為預備補充 像素。<云紋去除步驟S3〉
然后，在云紋去除部3中，對上述的預備補充圖像Pl進行頻率分析，將在預備補充 圖像Pl中寫入的云紋去除。具體而言，對于由對預備補充圖像Pl的頻率分析所取得的頻 率函數(shù)進行云紋頻率ω去除的濾波(7 O夕U > 7 )處理之后，將其再轉(zhuǎn)換為X射線透 視圖像。于是，如圖4(c)所示得到云紋去除后的云紋去除圖像Ρ2。就預備補充區(qū)域Lb而 言，通過該處理，所寫入的云紋被去除，從而成為不包含云紋的區(qū)域Lc。關(guān)于該區(qū)域Lc，雖 然云紋已經(jīng)被去除，但是所參照的像素是與云紋的周期相對應地隔離后的像素。即，在區(qū)域 Lc中通過缺損區(qū)域La的補充而使用了不太合適的像素值。另外，該區(qū)域Lc所屬的像素，與 在本發(fā)明的缺損像素預備補充步驟中補充后的缺損像素相當。在以下的說明中，為了方便， 稱為補充后的缺損像素。<圖像平滑化步驟S4>因此，為了使區(qū)域Lc的像素值進一步適當化，與缺損區(qū)域La的補充相適合的像素 值由圖像平滑化處理取得。在圖像平滑化部4中，通過對由缺損像素預備補充步驟S2所得 到的預備補充圖像Pl進行圖像平滑化處理，從而構(gòu)筑平滑化圖像P3。圖5是對實施例1所 涉及的圖像平滑化步驟進行說明的示意圖。預備補充圖像Pl的平滑化由采用了行數(shù)與列 數(shù)相同的5X5的卷積(- -J工―3 y )矩陣的卷積濾波器(- 'J工—3 > 7 O夕)來進行。這里，說明由預備補充區(qū)域Lb所屬的像素c進行的運算。首先，按照 包圍像素c的方式準備矩形區(qū)域S。該矩形區(qū)域S構(gòu)成以像素c為中心的5X5像素的正方 形。即，矩形區(qū)域S構(gòu)成與卷積矩陣同樣大小。即，使用該矩陣區(qū)域S所屬的25個像素，進 行對像素c的采用了卷積矩陣的圖像平滑化處理。另外，當設定云紋的一周期為四個像素時，該矩形區(qū)域S就比云紋的一周期量更 大。如此，在將卷積矩陣中的沿云紋之條紋模樣的排列方向的方向設定為行方向時，其行數(shù) 成為云紋的像素數(shù)以上。另外，卷積濾波器及卷積矩陣分別與本發(fā)明的圖像平滑化處理及 矩陣相當。在圖像平滑化步驟S4中，根據(jù)該卷積矩陣，對矩形區(qū)域S所屬的25個像素進行加 權(quán)，并計算與像素c所對應的處理后的像素值。這至少在遍及預備補充區(qū)域Lb的全區(qū)域進 行，從而取得平滑化圖像P3。此時，預備補充圖像Pl中的預備補充區(qū)域Lb在平滑化圖像 P3中成為被平滑處理區(qū)域Ld所取代的區(qū)域。另外，在圖5中在像素c以后的平滑化處理為 未處理，這是為了強調(diào)像素c的處理。實際上對預備補充圖像Pl的全區(qū)域進行圖像的平滑 化。另外，在圖像平滑化步驟S4所形成的平滑化圖像P3中不能確認云紋。原因在于 卷積矩陣的大小為云紋的一周期以上。具體而言，實施例1的矩形區(qū)域S為5X5像素的正 方形。其中，云紋的明部區(qū)域B和暗部區(qū)域D混存，因此只要由卷積濾波器對預備補充圖像 Pl進行平滑化，那些明暗區(qū)域就會彼此抵消。這并不限于像素c，對所有像素同樣產(chǎn)生抵 消，因此從平滑化圖像P3中將云紋消除。另外，該卷積濾波器，對所鄰接的所有像素成為缺 損像素的缺損像素也有效。即，根據(jù)實施例1的結(jié)構(gòu)，不一定根據(jù)所鄰接的像素對缺損像素 進行再補充，因此即使在X射線透視圖像中所表現(xiàn)出的缺損像素相連所形成的缺損像素群 是更復雜的形狀，也確實對缺損像素進行補充，并且形成將云紋去除后的處理圖像。<缺損像素再補充步驟S5>最后，將云紋去除圖像P2的區(qū)域Lc置換為平滑化圖像P3的平滑處理區(qū)域Ld的缺損像素再補充由第一缺損像素再補充部5進行。圖6是對實施例1所涉及的缺損像素再 補充步驟進行說明的示意圖。如圖6中所示，將構(gòu)成云紋去除圖像P2的區(qū)域Lc的各像素 的像素值置換為與其所對應的平滑化圖像P3中的平滑處理區(qū)域Ld的各像素的像素值。平滑化圖像P3的平滑處理區(qū)域Ld，與云紋去除圖像P2的區(qū)域Lc相比，更適合缺 損區(qū)域La的補充。區(qū)域Lc是從缺損區(qū)域La隔離后的像素之像素值所適應的區(qū)域。與此 相比，該平滑處理區(qū)域Ld是參照缺損區(qū)域La周圍的像素所取得的。而且，從平滑處理區(qū)域 Ld中消除云紋。因此，只要將云紋去除圖像P2的區(qū)域Lc置換為平滑化圖像P3的平滑處理 區(qū)域Ld，就可形成不僅去除了云紋的、并且更合適的像素值所適應而補充了缺損區(qū)域La的 X射線透視圖像。如以上所述，根據(jù)實施例1的結(jié)構(gòu)，按照不會打亂云紋條紋之規(guī)則性的方式進行 缺損區(qū)域La的補充。在實施例1中的缺損像素預備補充步驟S2中，參照從缺損區(qū)域La按 云紋的一周期量隔離后的像素b，對缺損像素a進行補充。因此，該所參照的像素b具有應 當在缺損像素a中呈現(xiàn)的云紋條紋。例如，在云紋的暗部區(qū)域D呈現(xiàn)位置有缺損區(qū)域La延 伸存在的情況下，所參照的像素成為云紋的暗部區(qū)域D。另外，例如在云紋的明部區(qū)域B呈 現(xiàn)位置有缺損區(qū)域La延伸存在的情況下，所參照的像素確實成為云紋的明部區(qū)域B。這樣， 根據(jù)實施例1，通過缺損區(qū)域La的補充而云紋條紋之規(guī)則性沒有被打亂，并且在云紋去除 步驟S3中將在預備補充圖像Pl中寫入的云紋去除時，不會呈現(xiàn)所補充的區(qū)域即預備補充 區(qū)域Lb、和該區(qū)域在云紋的排列方向(χ方向)上滲入擴展的重影。另外，即使與缺損像素鄰接的像素是缺損像素，也確實能夠?qū)θ睋p像素進行補充。 即，適合缺損像素之補充的像素是通過對缺損像素預備補充了的圖像進行平滑化處理而得 到的結(jié)構(gòu)，因此即使與缺損像素鄰接的像素為缺損像素，對于所有的缺損像素適合補充的 像素也確實存在。即，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，不僅使用與缺損像素鄰接的像素，還使用其周邊的像 素而求出適合缺損像素之補充的像素，因此即使在X射線透視圖像中所表現(xiàn)出的缺損像素 相連所形成的缺損像素群是復雜的形狀，也能夠提供確實地對缺損像素進行了補充并且去 除了云紋的處理圖像。另外，適合缺損像素之補充的所有像素屬于平滑化圖像P3中。因 此，即使缺損像素相隔離而位于多個部位，僅通過使云紋去除了的云紋去除圖像P2和平滑 化圖像P3重合，就能夠容易地完成缺損像素的補充。而且，平滑化圖像P3由未使用頻率濾 波器的、對原始圖像PO僅進行了缺損像素預備補充后的預備補充圖像Pl形成。即，平滑化 圖像P3由未失去在云紋去除之前的頻率成分之圖像形成。因此，平滑化圖像P3比原始圖 像更逼真，如果采用該圖像對缺損像素進行再補充，就能夠提供一種將原始圖像PO更準確 地表現(xiàn)出的處理圖像。另外，雖然在預備補充區(qū)域Lb中有云紋寫入，但是在圖像平滑化步驟S4中形成的 平滑化圖像P3中不能確認云紋。原因在于卷積矩陣的大小為云紋的一周期以上。在由卷 積矩陣所決定的區(qū)域S中云紋的明部區(qū)域B和暗部區(qū)域D混存，因此當通過卷積濾波器對 預備補充圖像Pl進行平滑化時，那些明暗部分會彼此抵消。此外，關(guān)于平滑化圖像P3中的 所有像素，都產(chǎn)生如此的抵消現(xiàn)象，因此從平滑化圖像P3中將云紋消除。實施例2接著，對實施例2所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明。圖7(a) 是對實施例2所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法進行說明的功能方框圖。如圖7(a)中所示，在實施例2所涉及的方法中為了去除云紋，具備云紋頻率導出部21，其根據(jù) 原始圖像P0，求出云紋的頻率；缺損像素預備補充部22，其根據(jù)從缺損像素按云紋的一周 期量隔離后的像素，對缺損像素進行補充，從而形成預備補充圖像Pl ；云紋去除部23，其將 在預備補充圖像Pl中寫入的云紋去除，且形成云紋去除圖像P2 ；第二缺損像素再補充部 24，其參照在云紋去除圖像P2中的像素，對補充后的缺損像素再次進行補充。另外，實施例 2所涉及的預備補充圖像Pl及云紋去除圖像P2分別與本發(fā)明的第一中間圖像及第二中間 圖像的相當。第二缺損像素再補充部與本發(fā)明的第二缺損像素再補充單元相當。接著，對實施例2所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法的動作進行說明。 如圖3 (b)中所示，實施例2所涉及的云紋去除動作具備云紋頻率導出部21所進行的云紋 頻率導出步驟Sl ；缺損像素預備補充部22所進行的缺損像素預備補充步驟S2 ；云紋去除 部23所進行的云紋去除步驟S3 ；第二缺損像素再補充部24所進行的缺損像素再補充步驟 T4。其中，步驟Sl S3與實施例1同樣。因此，省略這些步驟的說明。<缺損像素再補充步驟T4>對實施例2的特征性步驟即缺損像素再補充步驟Τ4進行說明。圖7 (b)是對實施 例2所涉及的缺損像素再補充步驟進行說明的示意圖。如圖7(b)中所示，在缺損像素再補 充步驟T4中，參照在云紋去除圖像P2中的不屬于區(qū)域Lc的像素h，進行置換預備補充后的 缺損像素g之像素值的操作。具體而言，將包圍成為再補充對象的預備補充后的缺損像素 g的像素中的、不屬于區(qū)域Lc中的像素設定為像素h，讀出該像素h的像素值，并將預備補 充后的缺損像素g的像素值變更為該像素值。這樣，對預備補充后的缺損像素g進行了再 補充的X射線透視圖像被形成。即，第二缺損像素再補充部24，通過將預備補充圖像Pl所 屬的預備補充后的缺損像素g(預備補充像素)的像素值置換為與該缺損像素值g同一位 置的云紋去除圖像P2上的像素鄰接的像素h的像素值，從而對預備補充圖像Pl的預備補 充后的缺損像素g再次進行補充。如上所述，根據(jù)實施例2的結(jié)構(gòu)，按照不會打亂云紋條紋之規(guī)則性的方式對缺損 像素a進行補充。在實施例2中的缺損像素預備補充步驟S2中，參照從缺損像素a按云紋 的一周期量的像素數(shù)之一倍隔離后的像素b，對缺損像素進行補充。因此該所參照的像素b 具有應當在缺損像素a中呈現(xiàn)的云紋條紋。即，根據(jù)實施例2的結(jié)構(gòu)，通過缺損像素a的補 充而云紋之規(guī)則性沒有被打亂，并且將在預備補充圖像Pl中寫入的云紋去除時，不會呈現(xiàn) 缺損像素之痕跡、和該痕跡在云紋的排列方向上深入擴展的重影。另外，若在云紋去除圖像P2中的預備補充后的缺損像素g是參照從該缺損像素隔 離后的像素b而對像素值進行了置換的像素，則在預備補充后的缺損像素g中寫入的被檢 體之像會與應當在缺損像素a中寫入的被檢體之像不同。即使是如此，根據(jù)實施例2結(jié)構(gòu)， 參照與預備補充后的缺損像素g鄰接的像素h，盡可能地再現(xiàn)應當在預備補充后的缺損像 素g中寫入的被檢體之像。因此，由實施例2的結(jié)構(gòu)形成的X射線透視圖像較適合診斷。實施例3接著，參照附圖對采用實施例1及實施例2中所說明的云紋去除方法的X射線攝 像裝置進行說明。圖8是對實施例3所涉及的X射線攝像裝置的結(jié)構(gòu)進行說明的功能方框圖。如圖 8中所示，實施例3所涉及的X射線攝像裝置30具備載置被檢體M的臺板31 ；在臺板31下部所設置的FPD32 ；將在臺板上部所設置的圓錐形X射線束朝向FPD32照射的X射線管 33 ；被設置在FPD32和X射線管33之間所夾設的位置、并且按照覆蓋FPD32的X射線檢測 面的方式設置而去除散射X射線的X射線濾線柵34 ；對X射線管33的管電壓進行控制的 X射線管控制部35 ；使X射線管33移動的X射線管移動機構(gòu)36 ；對該X射線管移動機構(gòu)進 行控制的X射線管移動控制部37 ；使FPD32移動的FPD移動機構(gòu)38 ；對該FPD移動機構(gòu)進 行控制的FPD移動控制部39 ；對由FPD32輸出的原始圖像PO進行頻率分析的云紋頻率導 出部41 ；對在原始圖像PO中所包含的缺損像素La的像素值進行預備補充且形成預備補充 圖像Pl的缺損像素預備補充部42 ；將在預備補充圖像Pl中寫入的云紋去除且形成云紋去 除圖像P2的云紋去除部43 ；對云紋去除圖像P2進行缺損像素再補充的缺損像素再補充部 45 ；顯示X射線透視圖像的顯示部46。另外，具體而言，缺損像素再補充部45是上述第一 缺損像素再補充部5或第二缺損像素再補充部24中的任一個。另外，在采用實施例1的結(jié)構(gòu)的情況下，實施例3所涉及的X射線攝像裝置30具 備圖像平滑化部44，該圖像平滑化部44通過對預備補充圖像Pl進行平滑化處理，從而形成 平滑化圖像P3。在采用實施例2的結(jié)構(gòu)的情況下，未必需要該結(jié)構(gòu)。另外，X射線攝像裝置30還具備主控制部47，該主控制部47對各控制部35、37及 39進行總括控制。該主控制部47由CPU構(gòu)成，且通過實行各種程序而實現(xiàn)各控制部35、 37及39的控制。另外，X射線管33及FPD32分別與本發(fā)明的X射線源、X射線檢測單元相 當。另外，云紋頻率導出部、缺損像素預備補充部、云紋去除部、圖像平滑化部及缺損像素再 補充部分別相當于云紋頻率導出單元、缺損像素預備補充單元、云紋去除單元、圖像平滑化 單元及缺損像素再補充單元。為了由實施例3所涉及的X射線攝像裝置30對X射線透視圖像進行攝像，首先在 臺板31上使被檢體M仰臥。然后，將FPD32和X射線管33移動到夾持被檢體M之關(guān)心部 位的位置。之后，對X射線管33進行控制以照射圓錐形X射線束。另外，該圓錐形X射線 束構(gòu)成脈沖狀。透過被檢體M的X射線，通過X射線濾線柵34，向FPD32入射。而且，在FPD32所 輸出的原始圖像PO中寫入有通過FPD32的檢測元件的排列間距和X射線濾線柵34的金屬 箔的排列間距彼此干涉所產(chǎn)生的云紋。該原始圖像PO經(jīng)由云紋頻率導出部41所進行的云紋頻率導出步驟Si、缺損像素 預備補充部42所進行的缺損像素預備補充步驟S2、云紋去除部43所進行的云紋去除部 S3、圖像平滑化部44所進行的圖像平滑化步驟S4、及缺損像素再補充部45所進行的缺損 像素再補充步驟，將云紋去除，并且被轉(zhuǎn)換為適合診斷的X射線透視圖像。在上述各實施例 中，對該圖像處理的情況已經(jīng)做了詳細的說明，因此省略其說明。這樣，使用實施例1及實 施例2所說明的云紋去除方法的X射線攝像裝置的X射線透視圖像的取得就結(jié)束。另外，在采用實施例1的結(jié)構(gòu)的情況下，缺損像素再補充部45的動作是進行在實 施例1中所說明步驟S5的動作。另外，在采用實施例2的結(jié)構(gòu)的情況下，缺損像素再補充 部45的動作是進行在實施例2中所說明步驟T4的動作。如上所述，根據(jù)實施例3的結(jié)構(gòu)，能夠提供一種X射線攝像裝置30，該X射線攝像 裝置30即使在FPD32中含有缺損像素a也可使缺損像素a滲入擴展的重影的產(chǎn)生得以抑 制并且確實對缺損像素a進行補充而形成適合診斷的X射線透視圖像。根據(jù)實施例3，由于具有去除散射X射線的X射線濾線柵34，因此在由FPD32檢測出的X射線中散射X射線已 被去除。因此，最終所得到的X射線透視圖像的對比度較高。而且，因為實施例3的結(jié)構(gòu)具 有云紋去除部43，所以從X射線透視圖像中可去除云紋。并且，實施例3的結(jié)構(gòu)具備缺損像 素預備補充部42。因此，云紋條紋的規(guī)則性在缺損像素中再現(xiàn)。而且，實施例3具備缺損像 素再補充部45。因此，缺損像素a的像素值向合適的像素值變化。如此，根據(jù)實施例3的 結(jié)構(gòu)，能夠提供一種X射線攝像裝置30，即使在FPD32中含有缺損像素a也可使缺損像素a 滲入擴展的重影之產(chǎn)生得以抑制并且確實對缺損像素a進行補充而形成適合診斷的X射線 透視圖像。本發(fā)明并不限于上述實施例，也可以進行如下的變形實施。(1)在上述的各實施例的缺損像素預備補充步驟中，參照從缺損像素在云紋的排 列方向(X方向)上按與云紋的一周期量相當?shù)乃膫€像素量隔離后的像素，對缺損像素進行 了置換，但是本發(fā)明并不限于此。如圖9(a)中所示，也可以參照在χ方向上按四個像素量 與缺損像素隔離后的多個像素bl、b2的像素值，并且將其平均值采用在缺損像素a中。(2)在上述的各實施例的缺損像素預備補充步驟中，對缺損像素a進行補充時所 參照的像素b，在云紋的延伸方向(y方向)上位于與缺損像素a同一位置，但是本發(fā)明并不 限于此。如圖9(b)中所示，也可以參照從缺損像素a在云紋的排列方向(y方向)上按一 個像素量隔離后的像素。另外，在本發(fā)明中能夠自由設定該y方向的隔離距離。(3)在上述的各實施例的缺損像素預備補充步驟中，在對缺損像素a進行補充時 所參照的像素b在云紋的排列方向(χ方向)上按云紋的一周期量從缺損像素a隔離，但是 本發(fā)明并不限于此。例如，也可以參照按云紋的兩個周期量從缺損像素a隔離后的像素。 即，在本發(fā)明中，可以將該χ方向的隔離距離設定為云紋的一周期量之整數(shù)倍。(4)在實施例2中所說明的缺損像素再補充步驟中，預備補充后的缺損像素g通 過參照像素h而被再補充，但是本發(fā)明并不限于此。也可以參照與預備補充后的缺損像素 g鄰接的多個像素對預備補充后的缺損像素g進行再補充。產(chǎn)業(yè)上的利用可能性如上所述，本發(fā)明適合于醫(yī)用范圍。
權(quán)利要求
一種X射線透視圖像中的云紋去除方法，其特征在于，具備云紋頻率導出步驟，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋的頻率進行求出；缺損像素預備補充步驟，其通過參照從缺損像素按所述云紋的一周期量之整數(shù)倍隔離后的像素，對所述缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；云紋去除步驟，其對所述第一中間圖像進行頻率分析，且將在所述第一圖像中所寫入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；圖像平滑化步驟，其對所述第一中間圖像進行圖像平滑化處理，且形成第三中間圖像；和缺損像素再補充步驟，其使所述第二中間圖像和所述第三中間圖像重合，且對所述缺損像素再次進行補充。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線透視圖像中的云紋去除方法，其特征在于，所述圖像平滑化步驟的圖像平滑化處理是使用規(guī)定矩陣的矩陣運算，所述矩陣的行數(shù) 是云紋的一周期量的像素數(shù)以上。
3.—種X射線透視圖像中的云紋去除方法，其特征在于，具備 云紋頻率導出步驟，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋的頻率求出；缺損像素預備補充步驟，其通過參照從缺損像素按所述云紋的一周期量之整數(shù)倍隔離 后的像素，對所述缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；云紋去除步驟，其對所述第一中間圖像進行頻率分析，且將在所述第一中間圖像中寫 入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；缺損像素再補充步驟，其在所述第二中間圖像中，參照在所述缺損像素預備補充步驟 中補充后的缺損像素所鄰接的像素，對所述補充后的缺損像素進一步進行補充。
4.一種X射線攝像裝置，其特征在于，具備(A)X射線源，其照射X射線束；(B)X射線檢測單元，其對所述X射線束進行檢測；(C)X射線濾線柵，其被設置在所述X射線檢測單元和所述X射線源之間所夾設的位置， 且將散射X射線去除；(D)云紋頻率導出單元，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋的頻率求出；(E)缺損像素預備補充單元，其通過參照從缺損像素按所述云紋的一周期量之整數(shù)倍 隔離后的像素，對所述缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；(F)云紋去除單元，其對所述第一中間圖像進行頻率分析，且將在所述第一中間圖像中 寫入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；(G)圖像平滑化單元，其對所述第一中間圖像進行圖像平滑化處理，且形成第三中間圖像；(H)第一缺損像素再補充單元，其使所述第二中間圖像與所述第三中間圖像重合，且對 所述缺損像素再次進行補充。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X射線攝像裝置，其特征在于，(Gl)所述圖像平滑化單元所進行的圖像平滑化處理是采用了規(guī)定矩陣的矩陣運算，所 述矩陣的行數(shù)是云紋的一周期量的像素數(shù)以上。
6.一種X射線攝像裝置，其特征在于，具備(A)X射線源，其照射X射線束；(B)X射線檢測單元，其對所述X射線束進行檢測；(C)X射線濾線柵，其被設置在所述X射線檢測單元和所述X射線源之間所夾設的位置， 且將散射X射線去除；(D)云紋頻率導出單元，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋之頻率求出；(E)缺損像素預備補充單元，其通過參照從缺損像素按所述云紋的一周期量之整數(shù)倍 隔離后的像素，對所述缺損像素進行補充，從而形成第一中間圖像；(F)云紋去除單元，其對所述第一中間圖像進行頻率分析，且將在所述第一中間圖像中 寫入的云紋去除，從而形成第二中間圖像；(I)第二缺損像素再補充單元，其通過將所述第一中間圖像所屬的被預備補充后的預 備補充像素之像素值置換為在所述第二中間圖像中的位于與所述預備補充像素同一位置 的像素所鄰接的鄰接像素之像素值，從而對所述第一中間圖像的預備補充像素進行再次補
全文摘要
本發(fā)明提供一種即使是具有缺損像素的X射線透視圖像也不會打亂云紋條紋之規(guī)則性而對缺損像素進行預備補充并且確實沒有產(chǎn)生缺損像素之痕跡和重影的X射線透視圖像的云紋去除方法。本發(fā)明所涉及的X射線透視圖像中的云紋去除方法具備云紋頻率導出部(1)，其將在X射線透視圖像中寫入的云紋的頻率求出；缺損像素預備補充部(2)，其形成預備補充圖像；云紋去除部(3)，其對預備補充圖像進行頻率分析而形成云紋去除圖像；圖像平滑化部(4)，其對預備補充圖像進行圖像平滑化處理并且形成在缺損像素的補充上更合適的平滑化圖像；第一缺損像素再補充部(5)，其使云紋去除圖像與平滑化圖像重合且對缺損像素再次進行補充。
文檔編號A61B6/06GK101925332SQ200980103310
公開日2010年12月22日 申請日期2009年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月22日
發(fā)明者馬場新悟 申請人:株式會社島津制作所