專利名稱：改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及醫(yī)療器械，尤其涉及一種醫(yī)學激光診斷儀，特別是涉及一種醫(yī)學激光診 斷儀中的弱光快速光譜分析組件0MA，具體的是一種改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組 件的恒溫裝置。
背景技術：
現(xiàn)有技術中，醫(yī)學激光診斷儀中的弱光快速光譜分析組件0MA的核心元件是光電二極管 陣列芯片，其外圍設置有金屬外殼，光電二極管陣列芯片在工作過程中會產(chǎn)生熱量，熱量會 影響芯片的工作特性，具體表現(xiàn)為，診斷儀在工作較長時間后，產(chǎn)生的熒光光譜曲線會變成 一條直線，影響診斷。發(fā)明內(nèi)容本實用新型為解決現(xiàn)有技術中的上述技術問題所采用的技術方案是提供一種改進的激光 診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，所述的這種改進的激光診斷儀中弱光快速光譜 分析組件的恒溫裝置由至少一個半導體制冷器和散熱器構成，所述的醫(yī)學激光診斷儀中弱光 快速光譜分析組件的外圍設置有一個金屬外殼，其中，所述的半導體制冷器的制冷面與所述 的金屬外殼連接，所述的半導體制冷器的散熱面與所述的散熱器連接，所述的金屬外殼的外 側(cè)包裹有保溫層。其中，所述的制冷器的制冷面與所述的金屬外殼的連接部設置有溫度傳感器。 其中，所述的溫度傳感器與一個溫度控制電路板連接。其中，所述的半導體制冷器與溫度控制電路板連接，所述的溫度控制電路板與一個電源 連接。本實用新型的工作過程是半導體制冷器通電工作時，半導體制冷器的制冷面吸收醫(yī)學 激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的熱量，半導體制冷器的散熱面將熱量傳遞到散熱器，。 溫度傳感器檢測金屬外殼的溫度，在溫度到達設定的上下限時，通過溫度控制電路板開啟或 關閉半導體制冷器。本實用新型與已有技術相對照，其效果是積極和明顯的。本實用新型通過半導體制冷器 吸收醫(yī)學激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的熱量。并利用溫度傳感器檢測金屬外殼的溫度，在溫度到達設定的上下限時，通過溫度控制電路板開啟或關閉半導體制冷器。本實用新 型適合解決診斷儀因弱光快速光譜分析組件溫度偏差而引起的光譜曲線的變異，防止出現(xiàn)診 斷誤差。


圖1是本實用新型的改進激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置的結(jié)構示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，由 至少一個半導體制冷器2和散熱器3構成，所述的醫(yī)學激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件7 的外圍設置有一個金屬外殼l，其中，所述的半導體制冷器2的制冷面與所述的金屬外殼1連 接，所述的半導體制冷器2的散熱面與所述的散熱器3連接，所述的金屬外殼1的外側(cè)包裹 有保溫層4。其中，所述的制冷器2的制冷面與所述的金屬外殼1的連接部設置有溫度傳感器5。 其中，所述的溫度傳感器5與一個溫度控制電路板6連接。其中，所述的半導體制冷器2與溫度控制電路板6連接，所述的溫度控制電路板6與一 個電源連接。
權利要求1.一種改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，由至少一個半導體制冷器和散熱器構成，所述的醫(yī)學激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的外圍設置有一個金屬外殼，其特征在于所述的半導體制冷器的制冷面與所述的金屬外殼連接，所述的半導體制冷器的散熱面與所述的散熱器連接，所述的金屬外殼的外側(cè)包裹有保溫層。
2. 如權利要求1所述的改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，其特征在于 所述的半導體制冷器與一個溫度控制電路板連接，所述的溫度控制電路板與一個電源連接。
3. 如權利要求1所述的改進的激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，其特征在于 所述的制冷器的制冷面與所述的金屬外殼的連接部設置有與所述的溫度控制電路板連接的 溫度傳感器。
專利摘要本實用新型公開了一種改進的用于醫(yī)學激光診斷儀中弱光快速光譜分析組件的恒溫裝置，由設置在弱光快速光譜分析組件外圍的金屬外殼、半導體制冷器和散熱器構成，半導體制冷器的制冷面與金屬外殼連結(jié)，半導體制冷器的散熱面與散熱器連接，金屬外殼的外側(cè)包裹有保溫層，半導體制冷器工作時，制冷面吸收弱光快速光譜分析組件的熱量，并將熱量傳遞到散熱器。溫度傳感器檢測金屬外殼的溫度，在溫度到達上下限時，通過溫度控制電路板開啟或關閉半導體制冷器。本實用新型可解決因溫度偏差而引起的光譜曲線的反常，防止診斷誤差的出現(xiàn)。
文檔編號A61B5/00GK201119872SQ20072007584
公開日2008年9月24日 申請日期2007年11月22日 優(yōu)先權日2007年11月22日
發(fā)明者林 裴, 蘭 黃 申請人:裴 林;黃 蘭